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(15) 温度制御用ペルチェクーラを内蔵している場合に適用する。
備考1. 最大値,標準値及び最小値の欄で下線の部分は,通常記入する。
2. 試験条件での記号の説明
a) W ;連続動作
b) rd ;モニタ用フォトダイオード逆電圧
d) ;測定周波数
e) ;変調率
f) module ;リターンロス(ファイバからモジュールへの)
g) b ;バイアス電流
――――― [JIS C 5944 pdf 16] ―――――
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附属書2(参考)光伝送用半導体レーザモジュール環境試験及び耐久性試験
用個別仕様書の様式
1 環境試験及び耐久性試験
附属書2表 1 環境試験及び耐久性試験
適用 抜取方式
項目 試験条件 引用規格
(15) 検査水準 AQL
はんだ耐熱性 温度 _ ± _ ℃ JIS C 60068-2-20
温度サイクル 低温 _ ℃,高温 _ ℃ JIS C 0025
保持時間 _ min,
移動時間 _ min,回数 _ 回
熱衝撃 高温 _ ℃,保持時間 _ min, JIS C 0025
低温 _ ℃,保持時間 _ min,
移動時間 _ s,回数 _ 回
温湿度サイクル 高温 _ ℃,高温側相対湿度 _ %, JIS C 60068-2-38
保持時間 _ min,
低温 _ ℃ 低温側相対湿度 _ %,
保持時間 _ min,
移動時間 _ min,回数 _ 回
気密性 加圧圧力 _ Pa, JIS C 60068-2-17
加圧時間 _ h(必要がある場合)
自然落下 (1) 高さ _ cm,回数 _ 回 JIS C 60068-2-32
衝撃 (2) 方向 _ ,最高加速度 _ m/s2, JIS C 60068-2-27
パルス幅 _ ms,回数 _ 回
定加速度 方向 _ ,加速度 _ m/s2, JIS C 60068-2-7
パルス幅 _ ms,回数 _ 回
周波数 __ Hz,
振動 全振幅 又は 加速度 _m/s2, JIS C 60068-2-6
方向 _ ,時間 _ h
端子強度 荷重 _ N,回数 _ 回 JIS C 60068-2-21
塩水噴霧 時間 _ h JIS C 60068-2-11
高温保存 温度 _ ℃,時間 _ h JIS C 60068-2-2
低温保存 温度 _ ℃,時間 _ h JIS C 60068-2-1
動作寿命 ケース温度(又は周囲温度)_ ℃,
定光出力動作 光出力 _ mW,
時間 _ h
ピグテイル強度 引張力_ N, 曲げ半径_ cm
(pdf 一覧ページ番号 )
耐湿性 温度 _ ℃,相対湿度 _ %, JIS C 60068-2-3
時間 _ h
注(1) 合否判定基準を適用する項目に○印を記入する。
(2) 自然落下又は衝撃のいずれかを規定する。
(3) 光ファイバピグテイル形に適用する。
――――― [JIS C 5944 pdf 17] ―――――
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備考 . 試験条件の欄で下線の部分は条件値を記入する。
2 合否判定基準
附属書2表 2 合否判定基準
許容値 測定方法
項目 測定条件 単位
最小値 最大値 JIS C 5945
しきい値電流 算出方法 mA 6.5
動作電流(4) 光出力mW mA 6.1
ファイバ端光出力 電流mA mW 6.4
(pdf 一覧ページ番号 )
モニタ出力電流(5) 光出力 mW μA
モニタ用フォトダイオード
逆電圧V
モニタ用フォトダ モニタ用フォトダイオード μA
イオード暗電流(5) 逆電圧V
注(4) 動作電流又はファイバ端光出力のいずれか一方を適用する。
(5) モニタ用フォトダイオード内蔵形に適用する。
備考 モニタ用フォトダイオード内蔵形に適用する。
――――― [JIS C 5944 pdf 18] ―――――
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C 5944 : 2005
附属書3(参考)代表的特性
ある物理量に依存する特性のように,図で示すことで半導体レーザモジュールの性能の把握が容易にな
る特性に関して,製造業者は同一種類の半導体レーザモジュールについて平均的に得られる特性を,その
代表的特性として図示することが望ましい。
例 規定の光出力,ケース温度での平均寿命
代表的な光出力時の順電流値
クーラ電流の変化に対するサーミスタの応答特性
半導体レーザダイオード接合面とケース間の熱抵抗(クーラなしのモジュールの場合)
――――― [JIS C 5944 pdf 19] ―――――
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C 5944 : 2005
附属書4(参考)静電気破壊のおそれがあるデバイスへの表示
静電気によって破壊をするおそれがあり,取扱い上注意を必要とするデバイスであることを表示する記号
は,次による。
1 記号の使用 実用上適している内装が可能ならばデバイス上に表示するか,又はデータシート,保管
容器,特別な防護用の包みなどに表示する。
附属書4図2は,デバイス上に縮小して使用する場合に簡略化した記号である。
2 記号の色
附属書4表1
記号の種類 色
附属書4図1 下地は識別できれば,単一色で何色でもよい。 主に印刷によって表示する。
附属書4図2 ただし,赤色は,除く。 主にラベルによって表示する。
附属書4図3 下地は黄色とする。文字及び記号は,黒色と
する。
附属書4図 1 記号
附属書4図 2 縮小する場合の簡略化した記号
附属書4図 3 文字と組合せた記号
――――― [JIS C 5944 pdf 20] ―――――
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JIS C 5944:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 62007-1:1999(MOD)
JIS C 5944:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.01 : 光ファイバシステム一般
- 31 : エレクトロニクス > 31.260 : オプトエレクトロニクス.レーザー設備
JIS C 5944:2005の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC5945:2005
- 光伝送用半導体レーザモジュール測定方法
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-11:1989
- 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-38:2013
- 環境試験方法―電気・電子―第2-38部:温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号:Z/AD)
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISZ8202-0:2000
- 量及び単位―第0部:一般原則
- JISZ8202-1:2000
- 量及び単位―第1部:空間及び時間
- JISZ8202-2:2000
- 量及び単位―第2部:周期現象及び関連現象
- JISZ8202-3:2000
- 量及び単位―第3部:力学
- JISZ8202-4:2000
- 量及び単位―第4部:熱
- JISZ8202-5:2000
- 量及び単位―第5部:電気及び磁気
- JISZ8202-6:2000
- 量及び単位―第6部:光及び関連する電磁放射
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方