この規格ページの目次
34
C 5954-3 : 2013
VSDHの最小値から最大値までの範囲内であることを確認する。
f) BをSOからPILとなるように可変光減衰器を調整し,アラーム出力電圧を記録する。アラーム出力電
圧が,供試受信部の個別性能規格に規定するVSDHからVSDLに変わる光入力パワーをPassertとして記録
する。
g) アラーム出力電圧が,PIL以下で,かつ,VSDLの最小値から最大値までの範囲内であることを確認する。
この結果として,PBとアラーム出力電圧との関係を表すヒステリシス曲線が得られる(図22参照)。こ
のヒステリシス曲線が,供試受信部のアラーム機能が動作する範囲である。
アラーム出力電圧
最大
VSDH
最小
最大
VSDL
最小
PIL Passert Pde-assert P i max
受信部光入力パワー(PB)
図22−受信部光入力パワーとアラーム出力電圧との関係
7.18.4 個別性能規格に規定する事項
個別性能規格に規定する事項は,次による。
a) 基準送信部への入力信号(伝送速度,波形及びPRBS信号の生成多項式)
b) 動作温度
c) 測定用光ファイバコードの仕様
d) アラーム信号の論理(正論理又は負論理)
7.19 送信部シャットダウン機能
7.19.1 目的
供試送信部のシャットダウン機能を,試験し,送信部がオフ状態での光出力パワーPoffを測定する。
注記 送信部のシャットダウン機能は,送信部の光出力を停止する機能であり,シャットダウン端子
への印加電圧(シャットダウン電圧,Vdis)を,高レベルから低レベルに変えることで実現でき
る。送信部シャットダウンはLaser disable又はTx(Transmitter又はTransmit)disableと呼ぶこ
ともある。
なお,入力信号の論理(正又は負)とシャットダウン動作との関係については,十分注意す
る。
7.19.2 送信部シャットダウン機能の試験及び測定回路
送信部シャットダウン機能の試験及び測定回路を,図23に示す。
――――― [JIS C 5954-3 pdf 36] ―――――
35
C 5954-3 : 2013
パルスパターン
発生器
データ クロック
測定用光ファイバコード
シャットダウン 光パワーメータ
供試送信部
VdisH又はVdisL
E : 直流電源
A
AA A : 直流電流計
E
図23−送信部シャットダウン機能の試験及び測定回路
7.19.3 送信部シャットダウン機能の試験及び測定方法
送信部シャットダウン機能の試験方法は,次による。
a) 供試送信部を通常の動作条件で動作させ,シャットダウン端子に高レベル電圧VdisHを印加する。
b) 供試送信部の信号入力端子に,パルスパターン発生器からの規定のPRBS信号(マーク率50 %)を加
え,光出力パワーがPaveの規定値の範囲内にあることを確認する。
c) シャットダウン電圧を高レベル電圧VdisHから低レベル電圧VdisLに変化させ,供試送信部をオフ状態に
し,光出力パワーを測定する。送信部の光出力パワーが,個別性能規格に規定するオフ状態での光出
力パワーPoff以下であることを確認する。
d) シャットダウン電圧を低レベル電圧VdisLから高レベル電圧VdisHに戻し,供試送信部の平均出力がPave
の規定値の範囲内にあることを確認する。
注記 光パワーメータによる光出力パワーの測定方法は,7.3.3を参照する。
7.19.4 個別性能規格に規定する事項
個別性能規格に規定する事項は,次による。
a) 送信部の入力信号(伝送速度,波形及びPRBS信号の生成多項式)
b) 動作温度
c) 測定用光ファイバコードの仕様
7.20 電気入出力インタフェース
7.20.1 目的
規定する状態で,送信部の電気入力インタフェース及び受信部の電気出力インタフェースを試験する。
7.20.2 レベルの高低
送信部の電気入力インタフェースの試験は,高レベル入力電圧(VIH),低レベル入力電圧(VIL),高レ
ベル入力電流(IIH)及び低レベル入力電流(IIL)を,測定することによって行う。また,受信部の電気出
力インタフェースの試験は,高レベル出力電圧(VOH)及び低レベル出力電圧(VOL)を測定することによ
って行う。
正論理送信部及び正論理受信部のレベル関係を,図24に示す。
――――― [JIS C 5954-3 pdf 37] ―――――
36
C 5954-3 : 2013
送信光出力 出力電圧
POH VOH
POL VOL
入力電圧 受信光入力
VIL VIH PIL PIH
a)正論理送信部 b)正論理受信部
図24−レベル関係
7.20.3 送信部の電気入力インタフェース及び受信部の電気出力インタフェースの測定回路
送信部の電気入力インタフェースの測定回路及び受信部の電気出力インタフェースの測定回路を,それ
ぞれ図25及び図26に示す。
恒温槽
IIH又はIIL 測定用光ファイバコード
VIi 供試送信部
光パワーメータ
VIH又はVIL
E : 直流電源
A
A : 直流電流計
E
図25−送信部の電気入力インタフェースの測定回路
光パワーメータ
PIH又はPIL
恒温槽
可変光減衰器
IOH又はIOL
基準送信部
A 供試受信部
VOH又はVOL
測定用光ファイバコード
A
A
E E : 直流電源 E
A : 直流電流計
注記 破線は,7.20.4.2 b)の接続状態を示している。
図26−受信部の電気出力インタフェースの測定回路
――――― [JIS C 5954-3 pdf 38] ―――――
37
C 5954-3 : 2013
7.20.4 送信部の電気入力インタフェース及び受信部の電気出力インタフェースの測定方法
7.20.4.1 送信部の電気入力インタフェース
送信部の電気入力インタフェースの測定方法は,次による。
a) 入力電圧(VIH又はVIL)の測定
1) 供試送信部を,規定の条件で駆動する。
2) 一つの供試送信部の入力端子に,送信光出力が規定の高レベル(POH)又は規定の低レベル(POL)
になるように,それぞれ高レベル入力電圧(VIH)又は低レベル入力電圧(VIL)を印加して,その他
の全ての入力端子に,それぞれ規定の電圧(VI i)を印加する。
なお,インタフェースの条件によっては,必要な端子を適切な終端抵抗で終端する。
3) 供試送信部の光出力が規定のレベルであるときの入力電圧(VIH又はVIL)を測定する。
4) この測定を,それぞれの入力端子に対して順次行う。
b) 入力電流(IIH又はIIL)の測定
1) 供試送信部を,規定の条件で駆動する。
2) 一つの供試送信部の入力端子に,送信光出力が規定の高レベル(POH)又は規定の低レベル(POL)
になるように,それぞれ高レベル入力電圧(VIH)又は低レベル入力電圧(VIL)を印加して,その他
の全ての入力端子に,それぞれ規定の電圧(VI i)を印加する。
なお,インタフェースの条件によっては,必要な端子を適切な終端抵抗で終端する。
3) そのときの入力端子から流入又は流出する入力電流(IIH又はIIL)を測定する。
4) この測定を,それぞれの入力端子に対して順次行う。
この測定方法は,正論理の場合について規定している。負論理の場合は,高レベル入力電圧(VIH)を低
レベル入力電圧(VIL)に,低レベル入力電圧(VIL)を高レベル入力電圧(VIH)に,高レベル入力電流(IIH)
を低レベル入力電流(IIL)に,及び低レベル入力電流(IIL)を高レベル入力電流(IIH)に,それぞれ読み
替えて,同様の手順で測定を行う。
7.20.4.2 受信部の電気出力インタフェース
受信部の電気入力インタフェースの測定方法は,次による。
出力電圧(VOH又はVOL)の測定は,次による。
a) 供試受信部を規定の条件で駆動する。
b) 可変光減衰器を調節して,光入力端子に出力電圧が高レベル又は低レベルになるように,規定の受信
光入力(PIH又はPIL)を入力する。
c) 出力端子から規定の出力電流(IOH又はIOL)を流出させる(出力形式によっては,流入させる)。ただ
し,インタフェース条件によっては,必要な端子を適切な終端抵抗で終端する。
d) そのときの出力電圧(VOH又はVOL)を,デジタルオシロスコープなどの波形観測装置を用いて測定す
る。
e) 受信部の信号出力が,差動出力の場合は,P(正相)からN(負相)の出力電圧を減算し,差動出力
電圧とする。オシロスコープのチャンネル間の演算機能を使用してもよい。
この測定方法は,正論理の場合について規定している。負論理の場合は,高レベル出力電圧(VOH)を
低レベル出力電圧(VOL)に,低レベル出力電圧(VOL)を高レベル出力電圧(VOH)に,高レベル出力電
流(IOH)を低レベル出力電流(IOL)に,及び低レベル出力電流(IOL)を高レベル出力電流(IOH)に,そ
――――― [JIS C 5954-3 pdf 39] ―――――
38
C 5954-3 : 2013
れぞれ読み替えて,同様の手順で測定を行う。
7.20.5 個別性能規格に規定する事項
個別性能規格に規定する事項は,次による。
a) 送信部の電気入力インタフェース
1) 動作温度
2) 供試送信部の駆動条件(電源電圧)
3) 供試送信部の送信光出力
4) 供試送信部の電気入力レベル
5) 測定用光ファイバコードの仕様
6) 供試送信部の空端子の取扱い
b) 受信部の電気入出力インタフェース
1) 動作温度
2) 基準送信部の送信光出力
3) 供試受信部の駆動条件(電源電圧)
4) 供試受信部の受信光入力及び波形
5) 供試受信部の電気出力電流
6) 測定用光ファイバコードの仕様
7) 供試受信部の空端子の取扱い
参考文献 JIS C 5954-1:2008 光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第1部 : 総則
JIS C 6115-2 pin-FETモジュール測定方法
IEC 62150-4:2009,Fibre optic active components and devices−Test and measurement procedures−
Part 4: Relative intensity noise using a time-domain optical detection system
ITU-T Recommendation G.957,SERIES G: TRANSMISSION SYSTEMS AND MEDIA, DIGITAL
SYSTEMS AND NETWORKS Digital transmission systems−Digital sections and digital line
system−Digital line systems, Optical interfaces for equipments and systems relating to the
synchronous digital hierarchy
IEEE 802.3:2008,IEEE Standard for information technology−Specific requirements−Part 3: Carrier
sense multiple access with Collision Detection (CSMA/CD) ccess Method and Physical Layer
Specifications
JIS C 5954-3:2013の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5954-3:2013の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1102-1:2007
- 直動式指示電気計器―第1部:定義及び共通する要求事項
- JISC61280-1-3:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第1-3部:中心波長及びスペクトル幅測定
- JISC61280-2-1:2018
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-1部:受信感度及びオーバロード測定
- JISC61280-2-2:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-2部:光アイパターン,光波形及び消光比測定