JIS C 5961:2005 光ファイバコネクタ試験方法 | ページ 4

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b) 方法2 干渉計法 次の装置を用いる。
  1) 平面干渉計又は特定の波長で動作する非接触干渉計の光軸に平行なV溝又は非弾性スリーブ。斜め
      研磨光コネクタの場合は,フェルール先端面の角度に応じてV溝又は非弾性スリーブの軸方向を調
      整する。
    参考 IEC 61300-3-16ではV溝だけを規定しているが,我が国の実状を考慮して非弾性スリーブを規
          定した。
  2) 干渉計で観測した球状端面の干渉リングを表示するビデオカメラとモニタ。
  3) 少なくとも二つの干渉リングの直径と位置を計測する手動又は機械的測定手段。
c) 方法3 外形投影法 次の特性をもつ外形投影器を用いる。
  1) 倍率は20倍以上
  2) 上方及び下方の同時照明
  3) 角度測定台
  4) 方眼紙
  5) 測定するフェルール先端面の最大及び最小外形図
6.6.4 手順
a) 方法1 表面粗さ計法
  1) フェルールの先端面付近をV溝又は非弾性スリーブに固定する。V溝又は非弾性スリーブに接する
      フェルールの長さは,接触部分のフェルール直径の2倍とする。
  2) 表面粗さ計のプローブが,フェルールの中心軸に垂直になるようにプローブを調整する。
  3) 表面粗さ計のプローブの軌跡が,フェルールの中心軸を横切るように装置を調整する。
  4) 表面粗さ計でフェルール先端表面の軌跡を描き,長さの関数として移動量をレコーダに記録する(図
      6.6.2参照)。
  5) フェルールの最も高い点とこの点から等距離にある2点との間で,プローブの垂直方向の移動量を
      計算する。この2点は,直径300             囲を超える点を選ぶ。
    参考 IEC 61300-3-16では,直径500               囲を超える点を選ぶことと規定されているが,測定精
          度を考慮して,直径300             囲とした。
  6) 図6.6.3に示すように,弦の長さcと頂点の高さhから,曲率半径Rを求める。測定精度を高める場
      合,この軌跡から手順5)と異なる任意の2点を数値化し,求めた円に適合することを確認する。

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                                     図6.6.2 表面粗さ計法
                                   図6.6.3 曲率半径の求め方
    参考 IEC 61300-3-16に規定はないが,参考として曲率半径Rを求める式を規定した。
                                    2
                                 c
                            h2+
                                 2
                         R=
                               2h
b) 方法2 干渉計法
  1)   溝又は非弾性スリーブにフェルールを保持し,フェルール端面の中央穴の周囲に干渉リングを形
      成するように干渉計の焦点を合わせる。
  2)   番目及びm+p番目 (m      式から求める。
                        R= (Dm+p2−Dm2) /4p
        ここで,Rは計算から求めた曲率の半径,Dm+p及びDmは,各々m+p番目及びm番目のリングの
      直径である。測定にはどの2個のリングを用いてもよい。
    備考 測定精度を高める場合,3個又はそれ以上のリングの直径を測定し,任意の2個のリング直径
          のすべての組合せから平均半径を計算する。

――――― [JIS C 5961 pdf 17] ―――――

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                                       図6.6.4 干渉計法
c) 方法3 外形投影法
  1) 完全に組み立てた光コネクタを,光コネクタのキーを規定の位置に置いた状態で,角度調整台に取
      り付ける。
  2) スクリーン上で最適な視野が得られるように,投影器の照明と焦点位置を調整する。
  3) 光コネクタフェルール先端面の最小及び最大形状図を投影器のスクリーン上に取り付ける。
  4) スクリーンの回転ダイヤルを0に設定する。
  5) 角度調整台の微調整を用いて,図6.6.5 a)又は斜め研磨光コネクタの場合は同図 b)に示すように,
      フェルールの像を先端面形状図のx軸に合わせる。
  6)   軸方向に角度調整台を動かして,スクリーン上のフェルールの像と先端面形状図の方眼目盛とを
      比較する。
                                      図6.6.5 外形投影法

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6.6.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。
a) 試験方法
b) プローブの形(接触針の形状又は非接触針)(方法1)
c)   溝又は非弾性スリーブの仕様(方法1,方法2)
d) 斜め研磨光コネクタの場合のV溝又は非弾性スリーブ軸の傾き角度(方法1,方法2)
e) 単色光源の波長,又は白色光源干渉計を用いる場合は等価波長(方法2)
f) 顕微鏡の倍率(方法2)
g) 端面の表面仕上げ(方法2)
h) 投影器の形式(方法3)
i) 方眼紙(例 フェルールの半径,角度,直径)(方法3)
j) 光コネクタのキー位置(方法3)
k) 光コネクタ・フェルールの保持具(方法3)
l) 曲率半径の許容値
m) 本試験方法との差異

6.7 球面偏心量

6.7.1 目的 この試験は,フェルール中心軸と,この軸に平行で,かつ,球面研磨されたフェルールの球
面頂上を通る軸との距離を測定する試験方法について規定する。
6.7.2 概要 球面偏心量 (X) は,フェルール中心軸と球面研磨されたフェルールの球面頂上を通る軸との
距離で規定する(図6.7.1参照)。この規格では,ニュートンリング法と干渉リング法との2方法を規定す
る。両測定法とも,フェルールの中心と,ニュートンリング又は干渉リングの中心との距離測定から,直
接偏心量を求める。この偏心量は測定系の位置ずれ,特にフェルール中心軸と干渉じま(縞)の中心軸と
の角度ずれの影響を受けるので,測定系の位置精度を厳密に設定しなければならない。
 両測定法とも,フェルールをその軸の回りに回転させ,ニュートンリング又は干渉リングの中心の最大
移動距離を測定することで測定系の位置ずれによる測定誤差を低減できる。球面偏心量は,最大移動距離
の1/2である。
                                   図6.7.1 球面偏心量の定義
a) 方法1 ニュートンリング法(接触法) この測定法は,ガラス平板をフェルールの研磨面に,その
    中心軸に対して垂直に押し当て,ニュートンリングを顕微鏡で観測する。フェルールをその軸の回り

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    に回転させ,ニュートンリングの中心の移動距離を測定する。偏心量はこの最大移動距離の1/2であ
    る。
b) 方法2 干渉リング法(非接触法) この測定法では,干渉計とビデオカメラ付き顕微鏡とを用いる。
    参照光とフェルール端面からの反射光とで干渉光を発生させ,その干渉リングを観測する。フェルー
    ルをその軸の回りに回転させ,干渉リングの中心の移動距離を測定する。偏心量は,この最大移動距
    離の1/2である。
6.7.3 装置
a) 方法1 ニュートンリング法
  1) 微動台に取り付けたV溝又は非弾性スリーブなどのフェルール保持具(フェルール保持具は,規定
      の力でガラス平板を押し付けたフェルールを保持できること。V溝の推奨角度は,108度とする。)。
  2)   溝又は非弾性スリーブの軸に直角に取り付けたガラス平板
  3) 顕微鏡
  4) 光源(白色光)
b) 方法2 干渉リング法
  1) 微動台に取り付けたV溝又は非弾性スリーブ(V溝の推奨角度は,108度とする。)。
  2) 干渉計
  3) ビデオカメラ付き顕微鏡
  4) モニタ
  5) 光源(例 He-Neレーザ,単色光源)
6.7.4 手順
a) 方法1 ニュートンリング法
  1) フェルールをV溝又は非弾性スリーブに固定する。
  2) 微動台を調節してフェルール端面を顕微鏡の視野に映す。
  3) フェルール端面を規定の圧力でガラス平板に垂直に押し付ける。
  4) ニュートンリングを観測し,リングの中心位置を記録する(図6.7.2参照)。
  5) フェルールを180度回転させ,回転後のリングの中心位置を記録する。
  6) ニュートンリングの二つの中心位置の最長距離2Xを求める。球面偏心量は,この最長距離の1/2で
      ある[図6.7.3 a)及びb)参照]。

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