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C 61000-4-5 : 2018 (IEC 61000-4-5 : 2014)
結合抵抗値及び結合容量値の算出 :
RC及びRD : 結合抵抗値は,並列の合成抵抗値が40 Ωになるように選択する。例えば,2ペアのポートを試験する
場合,二つの抵抗は各々80 Ωとする。4ペアのポートを試験する場合,四つの抵抗は各々160 Ωとする。
RA,RB,C1,C2,L1,L2及びL3 : 全ての素子は,サージ波形の要求事項に整合するように選択する。
図11−非シールド対称相互接続線のCN及びDNの例
コンデンサによるライン−グラウンド間結合
CDNの影響によってEUTにおける通常の機能が達成できない場合,製品規格で適切な運用を規定する
か,又はサージイミュニティ試験を実施しないことを規定することが望ましい。
6.4 CDNの校正
6.4.1 一般
CDNは,CDNの違いによって試験結果に差異が出ないように,定期的に校正する。校正は,次の手順
によって,CDNの最も重要な特性を測定する。CDNのEUTポートで測定する波形パラメータは,CWG
に依存する(CDNの校正には,6.2.3の要求事項に適合したCWGを用いる。)。試験した特定のCWGと
CDNとの組合せに対してだけ有効である。
CDNの校正に用いる測定装置は,CWGの校正と同じ要求事項を適用する(6.2.3参照)。
6.4.2 1相当たりの定格が200 A以下の交流及び直流電源ポート用CDNの校正
CDNの特性は,同じ試験電圧で,開回路(10 kΩ以上の負荷)及び短絡(0.1 Ω未満の負荷)の双方の
状態で測定する。
EUT及び電源を接続していない状態で,DNの交流及び直流電源ポートにおけるサージ印加する電源線
とグラウンドとの間の残留サージ電圧の測定値が,印加した試験電圧の最大値の15 %,又はCDNの最大
定格電圧の2倍のいずれか高い方を超えないことを確認する。
EUT及び電源を接続していない状態で,サージを印加していない電源ポート側の電源線とグラウンドと
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の間の不要なサージ電圧の測定値は,印加した試験電圧の最大値の15 %を超えないことを確認する。
注記 CDNの構成によって,ライン−グラウンド間への印加時に試験電圧がライン−ライン間電圧に
顕著に現れることがある。高いインピーダンスをもつEUTの場合,この電圧はライン−ライン
間の試験レベル以上に高くなることがある(7.3参照)。
交流及び直流電源ポート開放時のCDN出力は,6.3.2の表4表6の全ての特性を満たすことを確認す
る。
6.4.3 相互接続線用CDNの校正
6.4.3.1 一般
相互接続線のCDNについても,試験と同様の構成(同じ結合素子及び減結合素子)で校正することが,
望ましい。
EUT及びAEを外した状態で,CDNのAE側におけるサージ印加ラインとグラウンドとの間の残留サー
ジ電圧を,測定及び記録する。
6.4.3.2 非対称相互接続線用CDNの校正
測定は,サージを一度に1線ずつ印加して行う。
表7に従って,CDNの定格に従ったEUT出力ポートにおけるサージ電圧及び電流に対するピーク値,
フロントタイム及び持続時間を測定する。
EUT出力ポートにおけるサージ電圧及び電流を測定するために,DNのAE側入力は,PEと短絡する。
残留電圧の値は,実際に用いるAEの仕様に基づく。したがって,この規格では,規定しない。
表7−非対称相互接続線用CDNの校正方法の概要
項目 結合 測定 AE側 EUT側
EUT側サージ電圧 1線ずつ 1線ずつ 全てのラインをPE 開回路
ライン−PE間 ピーク電圧,フロントタ に短絡
イム及び持続時間
EUT側サージ電流 1線ずつ 1線ずつ 全てのラインをPE 短絡
ライン−PE間 ピーク電流,フロントタ に短絡
イム及び持続時間
EUT側サージ電圧 1線ずつ 1線ずつ 全てのラインをPE 開回路
ライン−ライン間 ピーク電圧,フロントタ に短絡
イム及び持続時間
EUT側サージ電流 1線ずつ 1線ずつ 全てのラインをPE 短絡
ライン−ライン間 ピーク電流,フロントタ に短絡
イム及び持続時間
AE側残留電圧 1線ずつ まとめたライン−PE間 開回路 開回路
(保護素子含む。) ライン−PE間 ピーク電圧
この校正方法の目的は,素子の適切な機能,減結合用チョークコイルの飽和,DNの減結合効果,並び
にCNの電流容量及び結合効果を確認することである。ここで規定する結合方法は,サージ電圧及び電流
波形に影響する。この校正のためのパラメータは,表8による。
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表8−非対称相互接続線用CDNのEUTポートにおけるサージ波形特性
結合方法 CWG CDNの 電圧フロント 電圧持続 CDNのEUT 電流フロント 電流持続
出力 EUT出力 タイム 時間 出力 タイム 時間
電圧 Voc Tf Td Isc Tf Td
a), b)
Tf=1.67×Tr Td=Tw Tf=1.25×Tr Td=1.18×Tw
±10 % ±30 % ±30 % ±20 % ±30 % ±30 %
ライン−PE間 4 kV 4 kV 1.2 s 38 s 87 A 1.3 s 13 s
R : 40 Ω
CD : 0.5 F
ライン−PE間 4 kV 4 kV 1.2 s 42 s 95 A 1.5 s 48 s
R : 40 Ω
CD : GDT
ライン−ライン間 4 kV 4 kV 1.2 s 42 s 87 A 1.3 s 13 s
R : 40 Ω
CD : 0.5 F
ライン−ライン間 4 kV 4 kV 1.2 s 47 s 95 A 1.5 s 48 s
R : 40 Ω
CD : GDT
注a) DNの校正は,CWGの設定を4 kVとする。CLD及びGDTによるスイッチングノイズの影響を最小限に抑
えるため,CDNの最大定格電圧が4 kVを超える場合,CDN校正は,最大定格電圧で行うことを推奨する。
CDNの最大定格電圧が4 kV未満の場合,校正は,CDNの最大定格電圧で行う。この表の値は,CWGの設定
を4 kVにしたときのものであるため,短絡ピーク電流は,最大定格電圧に応じて変える。例えば,最大定格
電圧が1 kVの場合,この表の短絡電流値を1/4とする。
b) ガスアレスタ,クランプ又はアバランシェ素子を通した結合は,サージ波形に幾つかのスイッチングノイズ
が見える。最大定格電圧での校正は,フロントタイム及び持続時間の測定に対するこれらのスイッチングノ
イズの影響を最小にできる。
6.4.3.3 対称相互接続線用CDNの校正
校正における測定は,CDNの定格最大電圧で,表9に従って行う。ピーク値,フロントタイム及び持続
時間は,表9に従って,CDNのEUTポートで測定する。
EUTポートのサージ電圧及び電流を測定する場合,AEポートは,PEに短絡する。
残留電圧の値は,実際に用いるAEの仕様に基づく。したがって,この規格では,規定しない。
ペア線ともう一つのペア線との間の開回路電圧も測定することを推奨する。ペア線間同士の電圧は,平
衡度が高く通信するよう設計したEUTを誤動作させる。この値の許容値はEUTの設計によって決まる。
したがって,この規格では,規定しない。
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表9−対称相互接続線用CDNの校正手順
項目 結合 測定 AE側 EUT側
EUT側のサージ電圧 全ライン−PE間 全ラインをまとめて接続 全ラインをPEに短絡 開回路
合成抵抗40 Ω a)
ピーク電圧,フロントタ 全ラインをまとめ
イム及び持続時間 て接続
EUT側のサージ電流 全ライン−PE間 全ラインをまとめて接続 全ラインをPEに短絡 全ラインをPEに
合成抵抗40 Ω a)
ピーク電圧,フロントタ 短絡
イム及び持続時間
AE側の残留電圧 全ライン−PE間 PE対して各ラインを順番 開回路 開回路
(保護素子含む。) 合成抵抗40 Ω a)
に測定
ピーク電圧
注a) 合成抵抗40 Ωというのは,伝送インピーダンスが常に40 Ωという意味である。例えば,2ペアのポートを試
験する場合,四つの抵抗が各々160 Ωである。4ペアのポートを試験する場合,八つの抵抗が各々320 Ωであ
る。例えば,2ペアのポートを試験する場合,二つの抵抗が各々80 Ωである。4ペアのポートを試験する場合,
四つの抵抗が各々160 Ωである。図11の例では,2ペアのポートを試験する場合,二つの抵抗は各々80 Ωで
ある。
この校正手順の目的は,素子の適切な機能,減結合用チョークコイルの飽和,DNの減結合効果,並び
にCNの電流容量及び結合効果を確認することである。ここで規定する結合方法は,サージ電圧及び電流
波形に影響する。この校正のためのパラメータは,表10による。
表10−対称相互接続線用CDNのEUTポートにおけるサージ波形特性
結合方法 CWG CDNの 電圧フロント 電圧持続 CDNの 電流フロント 電流持続
出力電圧 EUT出力 タイム 時間 EUT出力 タイム 時間
a), b)
Voc Tf Td Isc Tf Td
Tf=1.67×Tr Td=Tw Tf=1.25×Tr Td=1.18×Tw
±10 % ±30 % ±30 % ±20 % ±30 % ±30 %
コモンモー 2 kV 2 kV 1.2 s 45 s 48 A 1.5 s 45 s
ドCD c)
40 Ω経由
注a) DNの校正は,CWGの設定を2 kVとする。CLD及びGDTによるスイッチングノイズの影響を最小限に抑
えるため,CDNの最大定格電圧が2 kVを超える場合,CDN校正は,最大定格電圧で行うことを推奨する。
CDNの最大定格電圧が2 kV未満の場合,校正は,CDNの最大定格電圧で行う。この表の値は,CWGの設定
を2 kVにしたときのものであるため,短絡ピーク電流は,最大定格電圧に応じて変える。例えば,最大定格
電圧が4 kVの場合,この表の短絡電流値を2倍とする。
b) ガスアレスタ,クランプ又はアバランシェ素子を通した結合は,サージ波形に幾つかのスイッチングノイズ
が見える。最大定格電圧での校正は,フロントタイム及び持続時間の測定に対するこれらのスイッチングノ
イズの影響を最小にできる。
c) Dは,コンデンサ,ガスアレスタ,アバランシェ素子,又はEUTが正常に操作するための必要なデータ伝
送を阻害せず,この表のサージ波形のパラメータに適合する方法を用いることができる。
7 試験セットアップ
7.1 試験装置
試験セットアップには,次の装置を用いる。
− EUT
− AE(必要な場合)
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− ケーブル(指定の形式及び長さ)
− CDN
− CWG
− シールド線への試験に用いるための基準グラウンド面(RGP)(7.6及び図12参照)
注記 JIS C 61000-4-4に規定するRGPを用いた試験セットアップを用いることもできる。
7.2 試験装置の検証
試験装置の検証の目的は,試験セットアップが適切かどうかを確かめることにある。試験セットアップ
は,次の装置で構成する。
− CWG
− CDN
− 試験装置の相互接続線
システムが正しく機能することを確かめるために,次の信号を確認する。
− CDNの出力端子におけるサージ波形
システムにEUTを接続しない状態で,任意のレベルのサージ波形が発生していることを,適切な測定装
置(例えば,オシロスコープ)を用いて確かめる。
注記 試験所は,この検証手順において試験所独自の基準値を定めることができる。
7.3 EUTの電源ポートにサージを印加するときの試験セットアップ
1.2/50 sのサージは,容量性のCN(図5図8参照)を介して,EUTの電源端子に印加する。同じラ
インで電源の供給を受けているが,試験を行わない装置への影響を避け,かつ,試験するラインに規定の
サージを印加するために,サージに対し十分な減結合インピーダンスをもつDNを用いる。
CDNは,表4に規定するEUTの定格電流に適合するように選択する(例えば,定格電流が5 AのEUT
は,定格電流が16 AのCDNで試験する。)。表4の要求事項を満たしている場合,より高い定格電流のCDN
をそれよりも低い定格電流のEUTの試験に用いてもよい(例えば,定格電流が64 AのCDNが,定格電流
16 AのCDNの要求事項を満たす場合,このCDNを定格電流5 AのEUTの試験に用いることができる。)。
特に指定がない場合は,EUTとCNとの間の電源コードの長さは,2 m以下とする。
この規格では,交流電源又は直流電源の配電システムに直接接続された電源ポートを対象とする。
注記 電源配電システムに接続しない電源ポートに対して,6.3.2又は6.3.3に規定するCDNを用いた
試験を,製品規格に規定してもよい。
直流電源への試験は,ライン−ライン間(例えば,0 Vと−48 Vとの間)及び各ライン−グラウンド間
(例えば,0 Vとグラウンドとの間及び−48 Vとグラウンドとの間)を順次行う。
二重絶縁された製品(例えば,専用の接地端子をもたない製品など)には,ライン−グラウンド間の試
験を行わない。
PE以外の接地接続をもつ二重絶縁された製品に対して,ライン−グラウンド間の試験を,製品規格に規
定してもよい。
7.4 非シールド非対称相互接続線に印加するときの試験セットアップ
CDNは,試験する回路がもつ機能的条件に影響を及ぼさないようにする。CDNの例を,図9に示す。
特に指定がない場合,EUTとCNとの間の相互接続線の長さは,2 m以下とする。
二重絶縁された製品(例えば,専用の接地端子をもたない製品など)には,ライン−グラウンド間の試
験を行わない。
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JIS C 61000-4-5:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61000-4-5:2014(IDT)
JIS C 61000-4-5:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.100 : 電磁両立性(EMC) > 33.100.20 : イミュニティ
JIS C 61000-4-5:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60050-161:1997
- EMCに関するIEV用語