JIS C 6703:2008 水晶フィルタ

                                                                                   C 6703 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 一般的事項・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[1]
•  1.3 優先順位・・・・[3]
•  2 用語及び一般的要求事項・・・・[4]
•  2.1 一般的事項・・・・[4]
•  2.2 用語及び定義・・・・[4]
•  2.3 定格及び特性の推奨値・・・・[11]
•  2.4 表示・・・・[11]
•  3 品質認証手順・・・・[12]
•  3.1 製造の初期工程・・・・[12]
•  3.2 構造上の類似部品・・・・[12]
•  3.3 外注の使用・・・・[12]
•  3.4 構成部品・・・・[12]
•  3.5 製造業者の認証・・・・[12]
•  3.6 認証手続・・・・[12]
•  3.7 能力認証の手続・・・・[13]
•  3.8 品質認証に関する手続・・・・[13]
•  3.9 試験の手続・・・・[13]
•  3.10 スクリーニング・・・・[14]
•  3.11 手直し及び修理・・・・[14]
•  3.12 試験成績証明書(出荷ロットの)・・・・[14]
•  3.13 出荷の有効性・・・・[14]
•  3.14 出荷・・・・[14]
•  3.15 未確認検査項目・・・・[14]
•  4 試験及び測定手順・・・・[14]
•  4.1 一般的事項・・・・[14]
•  4.2 試験及び測定条件・・・・[14]
•  4.3 目視検査・・・・[15]
•  4.4 寸法及び計測手順・・・・[15]
•  4.5 電気的試験手順・・・・[15]
•  4.6 機械的及び環境試験手順・・・・[20]
•  4.7 耐久試験手順・・・・[24]
•  附属書JA(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[25]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6703 pdf 1] ―――――

C 6703 : 2008

pdf 目次

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本水晶デバイス
工業会(QIAJ)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの
申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。これによ
って,JIS C 6703:2002は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 6703 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              C 6703 : 2008

水晶フィルタ

Crystal filters

序文

  この規格は,2000年に第4版として発行されたIEC 60368-1及びAmendment 1(2004)を基に,技術的
内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。ただし,追補(Amendment 1)については,編集し,一体
とした。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 一般的事項

1.1 適用範囲

  この規格は,水晶フィルタの品目別通則であって,水晶フィルタに対する試験方法及び一般的要求事項
について規定する。この規格は,IEC電子部品品質評価システム(IECQ)に基づく能力認証及び/又は
品質認証に適用できる。
    注記1 この規格は,水晶フィルタの特性について規定するものであるが,その特性にかかわる規定
            は,一般仕様のために示すものであり,この規格によって適合性評価を行うことは意図して
            いない。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 60368-1:2000,Piezoelectric filters of assessed quality−Part 1: Generic specification及び
            Amendment 1:2004 (MOD)
              なお,対応の程度を表す記号 (MOD) は,ISO/IEC Guide 21に基づき,修正していることを
            示す。

1.2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0025 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2: Tests−Test N: Change of
             temperature (MOD)
    JIS C 6701:2007 水晶振動子通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60122-1:2000,Quartz crystal units of assessed quality−Part 1: Generic
             specification (IDT)
    JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則

――――― [JIS C 6703 pdf 3] ―――――

2
C 6703 : 2008
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance (IDT)
    JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:1990,Environmental testing−Part 2: Tests−Tests A: Cold (IDT)
    JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)−試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:1974,Environmental testing−Part 2: Tests−Tests B: Dry heat
             (IDT)
    JIS C 60068-2-3 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-3:1969,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ca: Damp heat,
             steady state (IDT)
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:1995,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal) (IDT)
    JIS C 60068-2-7 環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-7:1983,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ga and guidance:
             Acceleration, steady state (IDT)
    JIS C 60068-2-13 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2: Tests−Test M: Low air
             pressure (IDT)
    JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test
             Q: Sealing (IDT)
    JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:1979,Environmental testing−Part 2: Tests−Test T: Soldering
             (IDT)
    JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:1999,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices (MOD)
    JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:1987,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ea and guidance:
             Shock (IDT)
    JIS C 60068-2-29 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-29:1987,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Eb and guidance:
             Bump (IDT)
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Db and guidance:
             Damp heat, cyclic (12+12-hour cycle) (IDT)
    JIS C 60068-2-32 環境試験方法−電気・電子−自然落下試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-32:1975,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ed: Free fall
             (Procedure 1) (IDT)
    JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

――――― [JIS C 6703 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                                   C 6703 : 2008
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and guidance:
             Immersion in cleaning solvents (IDT)
    JIS C 60068-2-52 環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶
        液)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-52:1996,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Kb: Salt mist,
             cyclic (sodium chloride solution) (IDT)
    JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はん
        だ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-58:1999,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test
             methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface
             mounting devices (SMD) (MOD)
    JIS C 60068-2-64 環境試験方法−電気・電子−広帯域ランダム振動試験方法及び指針
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-64:1993,Environmental testing−Part 2: Test methods−Test Fh:
             Vibration, broad-band random (digital control)   nd guidance (IDT)
    JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部 : 試験及び測定技術−第2節 : 静電気放電イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-2:1995,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and
             measurement techniques−Section 2: Electrostatic discharge immunity test. Basic EMC Publication,
             Amendment 1 (1998) (IDT)
    JIS Z 2911 かび抵抗性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-10:1988,Environmental testing−Part 2: Tests−Test J and guidance:
             Mould growth (MOD)
    JIS Z 8203 国際単位系(SI)及びその使い方
      注記 対応国際規格 : ISO 1000:1992,SI units and recommendations for the use of their multiples and of
             certain other units (IDT)
    IEC 60027-1,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General
    IEC 60368-4,Piezoelectric filters of assessed quality−Part 4: Sectional specification−Capability approval
    IEC 60642:1979,Piezoelectric ceramic resonators and resonator units for frequency control and selection−
        Chapter I: Standard values and conditions−Chapter II: Measuring and test conditions
    IECQ 01:2003,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Basic Rules
    IECQ 001002-2:1998,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of Procedure
        −Part 2: Documentation
    IECQ 001002-3:2005,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of Procedure
        −Part 3: Approval Procedures

1.3 優先順位

  何らかの理由で矛盾が生じた場合,規格類及び協定は,次に示す優先順位とする。
− 受渡当事者間の協定
− 品種別規格(IEC 60368-4)
− 品目別規格(この規格)
− 引用したその他の国際規格類(例えば,IEC規格などの)

――――― [JIS C 6703 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6