JIS C 6710:2021 発振器の通則及び試験方法 | ページ 21

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C 6710 : 2021
附属書JD
(参考)
JISと対応国際規格との対比表
JIS C 6710 IEC 60679-1:2017,IEC 62884-1:2017,IEC 62884-2:2017,IEC 62884-3:2018,
IEC 62884-4:2019,(MOD)
a) ISの箇 b) 対応国際 c) 箇条ご d) ISと対応国際規格との技術的差異の e) ISと対応国際規格
条番号 規格の対 との評 内容及び理由 との技術的差異に対
応する箇 価 する今後の対策
条番号
規格名称 規格名称 変更 JISは試験方法を含めているので,他の水晶 −
デバイス関連規格に合わせて,規格名称を
“発振器の通則及び試験方法”とした。
1 IEC 60679-1 追加 IEC規格の改訂時に提案
一般事項を追加し,1適用範囲として,IEC
2 規格では箇条2に記載されている規格の優する。
先順位を注記1に移動した。
IECでは別規格である測定法の内容を,主我が国の事情のため,
IEC規格への提案は行わ
たる内容を本文に記載したので,対応国際
規格にIEC 62884-1,IEC 62884-2,IEC ない。
62884-3,IEC 62884-4を追加した。
2 IEC 60679-1 変更 IECでは参考文献としていた規格の中で,IEC規格の改訂時に提案
Bibliography する。
本文中に引用している規格を,引用規格に
移動した。
3 IEC 60679-1 削除 IEC規格の改訂時に提案
本文中に使用されていない用語を削除し,
3.2 附属書JC(参考)として追加した。 する。
追加 注釈に測定法規格の内容を追加した。 我が国の事情のため,
IEC規格への提案は行わ
ない。
4 IEC 60679-1 変更 JIS Z 8301に従って,定格及び特性の推奨
我が国の事情のため,
3.3 値を箇条4に変更した。 IEC規格への提案は行わ
追加 4.1.6に破壊試験の種類を追加した。 ない。
6 IEC 62884-1 変更 基本的測定法について,抜粋して記載した。 我が国の事情のため,
IEC規格への提案は行わ
ない。
IEC 62884-2 変更 6.5.33に,位相ジッタの測定法について,抜
我が国の事情のため,
粋して記載した。 IEC規格への提案は行わ
ない。
IEC 62884-3 変更 6.6.23に,周波数エージング試験について,
我が国の事情のため,
抜粋して記載した。 IEC規格への提案は行わ
ない。
IEC 62884-4 変更 6.5.31に,短期周波数安定度測定について抜
我が国の事情のため,
粋して記載した。 IEC規格への提案は行わ
ない。
附属書JA IEC 62884-2 追加 我が国の事情のため,
位相ジッタの測定法について,詳細内容を
追加した。 IEC規格への提案は行わ
ない。
附属書JB IEC 62884-3 追加 我が国の事情のため,
周波数エージング試験について,詳細内容
を追加した。 IEC規格への提案は行わ
ない。

――――― [JIS C 6710 pdf 101] ―――――

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C 6710 : 2021
a) ISの箇 b) 対応国際 c) 箇条ご d) ISと対応国際規格との技術的差異の e) ISと対応国際規格
条番号 規格の対 との評 内容及び理由 との技術的差異に対
応する箇 価 する今後の対策
条番号
附属書JC IEC 60679-1 追加 IEC規格の改訂時に提案
本文中に使用されていない用語を,附属書
3.2 に記載した。 する。
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味を,次に示す。
− 削除 : 対応国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 : 対応国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 : 対応国際規格の規定内容又は構成を変更している。
注記2 JISと対応国際規格との対応の程度の全体評価の記号の意味を,次に示す。
− MOD : 対応国際規格を修正している。

JIS C 6710:2021の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60679-1:2017(MOD)
  • IEC 62884-1:2017(MOD)
  • IEC 62884-2:2017(MOD)
  • IEC 62884-3:2018(MOD)
  • IEC 62884-4:2019(MOD)

JIS C 6710:2021の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 6710:2021の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC0617-2:2011
電気用図記号―第2部:図記号要素,限定図記号及びその他の一般用途図記号
JISC0617-3:2011
電気用図記号―第3部:導体及び接続部品
JISC0617-4:2011
電気用図記号―第4部:基礎受動部品
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-13:1989
環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
JISC60068-2-14:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
JISC60068-2-17:2001
環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-31:2013
環境試験方法―電気・電子―第2-31部:落下試験及び転倒試験方法(試験記号:Ec)
JISC60068-2-45:1995
環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
JISC60068-2-52:2020
環境試験方法―電気・電子―第2-52部:塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号:Kb)
JISC60068-2-58:2016
環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISC60068-2-64:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-64部:広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号:Fh)
JISC60068-2-7:1993
環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
JISC60068-2-78:2015
環境試験方法―電気・電子―第2-78部:高温高湿(定常)試験方法(試験記号:Cab)
JISZ8000-1:2014
量及び単位―第1部:一般