JIS C 7618-1:2017 片口金蛍光ランプ―第1部:安全仕様 | ページ 2

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3.6
定格値(rated value)
規格化した点灯条件におけるランプ特性のための数値。その数値及び条件は,この規格で規定する。規
格に規定しない場合は,製造業者又は責任ある販売業者が指定する。
3.7
設計試作時試験(検査)(design test)
関連する要求項目について,あるファミリー,種別,又は幾つかの種別の設計を確認するために行う試
験。
3.8
定期試験(検査)(periodic test)
その製品のばらつきが,設計の範囲内にあるかを定期的に繰り返し確認する一連の試験。
3.9
製造稼動時試験(検査)(running test)
(削除)
3.10
ロット(batch)
(削除)
3.11
全生産品(whole production)
(削除)
3.12
SoS値(SoS value)
ランプ電極で二つのリード線を通る二つの電流値の二乗和(Sum of the squares)の略称。
電流値は,実効値で測定される。一つの電極コイルでのリード線電流で,高い実効値をILH(lead high)
と呼び,低い実効値をILL(lead low)と呼ぶ。二つの電流値は二乗され,足される(SoS=ILH2+ILL2)。
3.13
実効紫外放射強度(specific effective radiant UV power)
ランプ照度に関連するランプの紫外放射強度。
注記1 実効紫外放射強度は,mW/klmの単位で表す。
注記2 実効紫外放射強度は,ランプの分光強度分布に,紫外放射傷害作用関数SUV(λ)を重み付けし
て算出する。相当する紫外放射傷害作用関数は,JIS C 7550に情報が与えられている。これ
は,人が暴露する紫外放射に関する傷害の可能性に関連するだけである。機械的ダメージ及
び退色のような材質への光学的放射の影響の可能性は,扱わない。
3.13A
大きさの区分
寸法及び点灯回路に互換性があるランプを区分する数字。JIS C 7618-2の附属書JCによる。

4 安全要求事項

4.1 一般

  ランプは,普通に使用されたとき,使用者及び周囲に対して危険を及ぼさないように設計及び製造され

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ていなければならない。
一般的に,合否判定は,規定の全ての試験を実施して行う。

4.2 表示

4.2.1  ランプの表示
ランプには,見やすく,容易に消えない方法で,次の事項を表示する。
a) 製造業者名若しくは責任ある販売業者名,又はその略号
b) 定格ランプ電力(W,watts又はワット)
c) 形式
d) 大きさの区分(形)(ただし,大きさの区分と定格ランプ電力が異なるものだけ)
4.2.2 ランプ表示の合否判定
ランプ表示の合否判定は,次による。
a) 目視によって,表示の有無,内容及び明瞭さを検査する。
b) 新品ランプで,表示の消えにくさを次の方法で試験する。
ランプ表示を,水でぬらした滑らかな布で15秒間(1秒1往復程度の速さ),手でこする。
この試験後,判読できなければならない。
4.2.2A 包装の表示
包装の表示は,附属書JAによる。

4.3 口金の機械的要求事項

4.3.1  構造及び接合
口金とガラス管とは,ランプの使用中に外れないような構造に組み立てられていなければならない。
G10q,GZ10q及び2GX13口金をもつランプの場合,附属書Aに記載するように回転できなければならな
い。
合否判定は,附属書Aの試験による。
口金には,試験の後,安全性を損なう損傷があってはならない。
4.3.2 口金の寸法要求事項
4.3.2.1 ランプには,JIS C 7709-1に規定する口金を使用しなければならない。
4.3.2.2 適合性はJIS C 7709-3に規定するゲージ,又はJIS B 7507に規定するノギス若しくこれと同等以
上の精度をもつ測定器によって確認する。表1に参照シートを示す。
4.3.3 口金ピンの接続及び誤使用防止構造
4.3.3.1 口金ピンの接続
4本ピン口金の場合,ピンとランプ電極との接続は,附属書Eによる。
合否判定は,関連するピンの導通試験及び/又は目視検査による。
4.3.3.2 誤使用防止構造
類似したランプの誤使用を防止するための口金及び/又はキー構造は,JIS C 7618-2に合致しなければ
ならない。附属書Fには,ある安定器で動作するランプを設計する場合に使用する口金及び/又はキーに
対する指針を示す。
合否判定は,適切な測定システム及び/又は目視検査による。
4.3.4 システム要求事項
ランプは,システム要求事項の情報を含むJIS C 7709-1の口金データシートに規定された制限値を超え
てはならない。

――――― [JIS C 7618-1 pdf 7] ―――――

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合否判定は,測定によって確認する。

4.4 絶縁抵抗

4.4.1  口金の金属部と,全てのピンをお互いに接続した部分との絶縁抵抗は,2 MΩ以上とする。
4.4.2 合否判定は,直流500 Vの適切な試験装置で測定して行う。
口金が絶縁性の材質でできている場合,この試験は,全てのピンをお互いに接続した部分と,金属はく
で覆った口金部分との間で行い,絶縁抵抗は,2 MΩ以上とする。
なお,金属はくは,JIS C 7709-2に示す最小寸法の受金に接続したときに人が触れるおそれがある口金
部分を覆う。

4.5 耐電圧

4.5.1  4.4に示す部分間での耐電圧試験中に,フラッシオーバ又は絶縁破壊が起こってはならない。
4.5.2 合否判定は,50 Hz又は60 Hzのほぼ正弦波の交流1 500 Vの電圧を,1分間印加し,判定する。最
初は半分以下の電圧を加え,その後速やかに規定電圧まで上げる。電圧降下を伴わないグロー放電は,不
良とはしない。

4.6 充電部の露出

4.6.1  充電部から絶縁されている金属部分に漏電してはならない。
4.6.2 ピン以外は,いかなる充電部も口金から突き出してはならない。
4.6.3 合否判定は,適切な測定システム及び/又は目視検査による。さらに,器材の定期的な日常点検及
び検査の有効性の確認を実施しなければならない。

4.7 耐熱性及び耐燃焼性

4.7.1  口金に使う絶縁材料は,耐熱性のものとする。
4.7.2 合否判定は,4.7.2.1及び4.7.2.2の試験による。
4.7.2.1 口金は,恒温槽で附属書Gに示す温度で168時間試験する。試験後,口金は,次の要求事項を満
足しなければならない。
a) 4.4及び4.5の規定を満足する。
b) 目視で確認できる口金ピンの緩み,亀裂,膨張又は収縮があってはならない。
c) 口金の寸法は,4.3.2の規定を満足しなければならない。
4.7.2.2 試料は,図G.1の装置によってボールプレッシャ試験を行う。試験する部分の表面を水平にして,
直径5 mmの鋼球を20 Nの力で押し付ける。試験する面が曲がる場合,この鋼球を押し付ける部分を水平
に保持する。
この試験は,恒温槽で125 ℃±5 ℃の温度で行う。
1時間後,鋼球を取り外して押し付けられたあとを測定する。その直径は2 mm以下でなければならな
い。
セラミック材質には,この試験は行わない。
4.7.3 口金の絶縁部材は,異常過熱に対する耐熱性及び耐燃焼性がなければならない。
4.7.4 合否判定は,次の試験による。
試験温度650 ℃でグローワイヤ(赤熱棒押付け)試験を行う。試験装置は,JIS C 60695-2-10の規定に
よる。
試験材料を保持具に鉛直に取り付け,1 Nの力でグローワイヤを押し付ける。試料の上端から15 mm以
上離れた場所が望ましい。グローワイヤは,試料の中へ7 mm以上入り込まないようにする。30秒後,試
料をグローワイヤから引き離す。

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試料のいかなる火炎又は赤熱も,グローワイヤから引き離して30秒以内に消えなければならない。燃焼
又は溶融した試料の小片で,試料の下200 mm±5 mmに水平に置いた5層からなる1枚の薄葉紙が発火し
てはならない。
グローワイヤの温度及び加熱電流は,試験開始前に1分間以上一定にしておく。この間,熱放射が試料
に影響を及ぼさないように配慮しなければならない。グローワイヤの温度は,被覆された細い線径の熱電
対を用いて測定する。熱電対の構造及び校正については,JIS C 60695-2-10による。
注記 次の危険に対し,試験員の安全及び健康に配慮する。
− 爆発又は火災
− 煙及び/又は毒性生成物の吸入
− 毒性残留物

4.8 口金の沿面距離

4.8.1  ピンと口金の金属部分(ある場合)との間の最小沿面距離は,JIS C 7709-0の要求事項に合致して
いなければならない。関連するJIS C 7709-1の口金シートNo.は,表1に示す。
4.8.2 合否判定は,最も沿面距離の短い位置での測定による。

4.9 ランプの口金温度上昇

4.9.1  ランプの周囲温度からの口金温度上昇値は,表B.1及び表B.2に規定する値を超えてはならない。
4.9.2 試験手順は,附属書Bに規定する。
4.9.3 (不採用)
4.9.4 例えば,同じ基本構造で,同じ口金をもつランプファミリーの中の一つのランプ種別の口金温度上
昇が最大であることが分かっている場合,このランプ種別についての試験だけで,その他の全ての同種の
口金付ランプファミリーに対する試験を省略することができる。
注記 口金温度上昇値は,附属書Cで与えられた口金表面の最高温度,及び附属書Iで与えられたラ
ンプ基準面に近い口金の側表面での1点の温度と相関がある。口金の側表面の箇所は,表I.1
に示す。その箇所での期待される最大温度は,表I.2による。附属書C及び附属書Iの温度測
定の位置の例を,図1に示す。

――――― [JIS C 7618-1 pdf 9] ―――――

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a 口金基準面
b 表I.1で与えられた距離x
c 口金基準面に平行で,距離x離れた口金側表面の外周線(附属書Iでの距離xの最も熱いと
ころの外周線を示す。)
d 口金表面の最高温度(附属書C参照)
図1−温度を測定する箇所

4.10 雑音防止用コンデンサ

4.10.1 一般
スタータ内蔵形ランプは,4.10.2及び4.10.3の要求事項を満足する雑音防止用のコンデンサを装備して
いなければならない。
4.10.2 耐湿性
コンデンサには,耐湿性がなければならない。合否判定は,次の試験による。
耐湿性試験を行う前に,コンデンサを次の耐湿性試験設定周囲温度の+4/0 ℃の温度範囲で4時間以上
放置しておかなければならない。
相対湿度91 %95 %及び周囲温度20 ℃30 ℃の任意の値で,±1 ℃の雰囲気に48時間置いた後,直
ちに直流2 000 Vを1分間印加し,絶縁破壊があってはならない。
試験電圧は,コンデンサの両極に印加し,初めは規定値の半分以下の電圧とし,徐々に規定値まで上げ
る。
4.10.3 耐火性
コンデンサには,耐火性がなければならない。
合否判定は,次の試験による。
コンデンサ単独で交流電圧を加え,絶縁破壊が起こるまで徐々に昇圧していく。これに用いる電源は,
短絡容量約1 kVAでなければならない。その後,コンデンサを,そのランプに適合した誘導形安定器に直

――――― [JIS C 7618-1 pdf 10] ―――――

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JIS C 7618-1:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61199:2011(MOD)
  • IEC 61199:2011/AMENDMENT 1:2012(MOD)
  • IEC 61199:2011/AMENDMENT 2:2014(MOD)

JIS C 7618-1:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 7618-1:2017の関連規格と引用規格一覧