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5.1.3 保護接地
保護接地は,JIS C 8147-1の9.B及び9.Cによるほか,接地端子又は接地線には,そのもの(容易に取
り外せる接地用端子ねじを除く。)又はその近くに,容易に消えない方法で,接地用である旨の表示
( , ,P.E,E,G,アース,接地又は接地端子)がなければならない。
5.1.4 口出線
口出線は,JIS C 8147-1の附属書1の3.によるほか,次による。
a) 定格入力電圧又は定格二次電圧が300 V以下の屋外用の安定器には,JIS C 8147-1の附属書1の表1.2
の300 Vを超え600 V以下の欄に示す屋外用の電線を使用しなければならない。
b) 導体は,より線でなければならない。
c) 外箱外の長さは,150 mm以上でなければならない。ただし,器具内用は除く。
d) 安定器内部で接続する部分には,口出線を動かしたとき,直接力が加わらないようにしなければなら
ない。
e) 口出方向に20 Nの引張力を徐々に加えたとき,単独でこれに十分耐えるように取り付けてあり,かつ,
断線してはならない。屋外用のものは,外箱の一方向の口出線ごとに一括して自重に相当する引張力
(自重が2 kg以下のものは20 N,10 kgを超えるものは100 N)を徐々に加えたとき十分耐え,かつ,
断線してはならない。
5.1.5 コンデンサ
コンデンサは,JIS C 8147-2-9の4.1(コンデンサ及びその他の構成部品)によるほか,次による。
a) 安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えてランプを点灯し,安定した状態のとき,コンデンサの端
子電圧は,その定格入力電圧を超えてはならない。
b) 力率改善用コンデンサには,適切な放電装置を設け,電源回路が遮断されてから1分間以内に,コン
デンサの端子電圧が45 V以下となるようにしなければならない。ただし,安定器の回路特性上,この
時間内に45 V以下になるようなものは除く。
5.1.6 充電部との偶発接触からの保護
JIS C 8147-1の10.1によるほか,次による。
a) 充電部(口出線及び端子を除く。)及び鉄心部は,金属性の外箱の中に収めていなければならない。た
だし,器具内用のもので巻線を金属性の外被によって保護したものは,外箱がなくてもよい。器具内
用以外のものは,通常の使用状態で充電金属部に人が触れるおそれがあってはならない。
b) 外箱及び外被は,次に適合しなければならない。
1) 屋外用のものの外箱は,材料の公称厚さが0.8 mm以上でなければならない。ただし,絶縁性充て
ん物として熱硬化性樹脂を用いたものは,0.5 mm以上でもよい。
2) 屋内用のものの外箱,器具内用のものの外箱又は外被は,材料の公称厚さが0.5 mm以上でなけれ
ばならない。
5.1.7 電源からの絶縁
電源からの絶縁は,JIS C 8147-1の附属書1の1.(電源からの絶縁)による。
5.1.8 温度上昇
温度上昇は,6.2.2によって試験を行ったとき,表2に適合しなければならない。さらに,試験中には,
絶縁性充てん物などの流出があってはならない。
なお,tw(巻線の定格最高使用温度)及びtc(安定器の外部表面の最高許容温度)を表示する安定器は,
JIS C 8147-2-9の14.(安定器の温度上昇)による。
――――― [JIS C 8110 pdf 6] ―――――
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表2−温度上昇
単位 K
測定箇所 温度上昇a)
A種絶縁のもの 60以下
巻線 E種絶縁のもの 75以下
B種絶縁のもの 85以下
50以下
外郭
(55以下)
M表示のもの 30以下
Y表示のもの 35以下
コンデンサ表面
H表示のもの 40以下
Z表示のもの 45以下
コンデンサ表面の記号M,Y,H,Zは,JIS C 4908
に規定する最高許容温度の区分の記号による。
注a) 温度上昇で,数値に括弧の付いたものは,
器具内用のものに適用する。
5.1.9 絶縁抵抗
絶縁抵抗は,6.2.3によって試験を行ったとき,5 M 坎 上でなければならない。ただし,温度上昇試験
を行わない場合の冷間絶縁抵抗の値は,30 M 坎 上でなければならない。
5.1.10 耐電圧
耐電圧は,6.2.4によって試験を行ったとき,これに耐えるものでなければならない。
5.1.11 耐湿性及び絶縁性
耐湿性及び絶縁性は,JIS C 8147-2-9の11.(耐湿性及び絶縁性)によるほか,次による。
a) 6.2.4によって試験を行ったとき,これに耐えなければならない。
b) 表示の消失又は著しいさびの発生があってはならない。
5.1.12 沿面距離及び空間距離
充電部相互間及び充電部と非充電金属部との絶縁距離は,表3及び表4による。
表3−コンデンサの外部端子部の空間距離(沿面距離を含む)
空間距離 mm
極性が異なる充電部間 充電部と接地するおそれがあ
る非充電金属部との間
固定している部分 その他 固定している部分 その他
線間電圧又は対地電圧 V
であってじんあい の箇所 であってじんあい の箇所
が侵入しにくく,か が侵入しにくく,か
つ,金属粉が付着し つ,金属粉が付着し
にくい箇所 にくい箇所
50以下 1 1.2 1 1
50を超え 150以下 1.5 2 1.5 1.5
150を超え 300以下 2 2.5 2 2
300を超え 600以下 3 4 3 4
600を超え 1 000以下 4 5 4 5
注記 “線間電圧又は対地電圧”とは,使用中に継続的に発生する電圧又は無負荷の電圧の
うち,いずれか高いものをいう。また,“対地電圧”とは,接地式電路では,電線と対
地との間の電圧をいい,また,非接地式電路では,電線とその電路中の任意の他の電
線との間の電圧をいう。
――――― [JIS C 8110 pdf 7] ―――――
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表4−コンデンサ以外の充電部の空間距離(沿面距離を含む)
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空間距離 mm
0 : 2
電源電線の取付部 出力側電線の取付部 その他の部分
00
製造業者が 製造業者が 極性が異なる充電部間
使用者が接 使用者が接 製造業者が 製造業者が 使用者が接 使用者が接 充電部と接地するおそれが
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接続する端 接続する端
続する端子 続する端子 接続する端 接続する端 続する端子 続する端子 ある非充電金属部又は人が
部間 部と接地す 子部間 子部と接地 部間 部と接地す子部間及び 子部及び使 触れるおそれがある非金属
るおそれが するおそれ るおそれが使用者が接 用者が接続 部の表面との間
ある非充電 がある非充 ある非充電続器によっ 器によって 固定してい その他の箇 固定してい その他の箇
金属部又は 電金属部又 金属部又はて接続する 接続する端 る部分であ 所 る部分であ 所
線間電圧又は
人が触れる は人が触れ 人が触れる端子部間 子部と接地 って,じんあ って,じんあ
対地電圧 V
おそれがあ るおそれが おそれがあ するおそれ いが侵入し いが侵入し
る非金属部 ある非金属 る非金属部 がある非充 にくく,か にくく,か
の表面との 部の表面と の表面との 電金属部又 つ,金属粉が つ,金属粉が
間 の間 間 は人が触れ 付着しにく 付着しにく
るおそれが い箇所 い箇所
ある非金属
部の表面と
の間
50以下 − − − − 3 3 2 2 1.2 1.5 1.2 1.2
50を超え 6 6 3 2.5 6 6 3 2.5 1.5 2.5 1.5 2
150以下
150を超え 6 6 4 3 6 6 4 3 2 3 2 2.5
300以下
300を超え − − − − 10 10 6 6 4 5 4 5
600以下
600を超え − − − − 10 10 8 8 6 7 6 7
1 000以下
――――― [JIS C 8110 pdf 8] ―――――
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5.2 性能
5.2.1 二次電圧
二次電圧は,次による。
a) 定格二次電圧は,1 000 V以下とする。
b) 変圧式安定器の二次電圧は,定格二次電圧の90l10 %の範囲内になければならない。
5.2.2 始動電圧
始動電圧は,表5による。
表5−始動電圧
適合ランプによる区分 始動電圧
高圧水銀灯安定器 JIS C 8119の12.3.1による。
低圧ナトリウム灯安定器 JIS C 8119の13.3.1による。
メタルハライド灯安定器 JIS C 8119の14.3による。
高圧ナトリウム灯安定器 JIS C 8119の15.3による。
5.2.3 二次短絡電流
二次短絡電流は,JIS C 8147-1の附属書1の2.1(二次短絡電流特性)による。
5.2.4 ランプ電流,ランプ電力及びランプ電力変動率
ランプ電流,ランプ電力及びランプ電力変動率は,表6による。
なお,試験用安定器は附属書A,試験用ランプは附属書Bによる。
表6−ランプ電流,ランプ電力及びランプ電力変動率
適合ランプによる区分 ランプ電流 ランプ電力 ランプ電力変動率
高圧水銀灯安定器 JIS C 8119の12.1 JIS C 8119の12.1 JIS C 8119の12.1
による。 による。 による。
低圧ナトリウム灯安定器JIS C 8119の13.1 − −
による。
メタルハライド灯安定器JIS C 8119の14.1 JIS C 8119の14.1 JIS C 8119の14.1
による。 による。 による。
高圧ナトリウム灯安定器 − JIS C 8119の15.1 −
による。
5.2.5 ランプ電流波形
ランプ電流波形は,JIS C 8119の9.2(ランプ電流波形)による。
なお,試験用ランプは,附属書Bによる。
5.2.6 磁気遮へい
磁気遮へいは,JIS C 8119の箇条10(磁気遮へい)による。
なお,試験用ランプは,附属書Bによる。
5.2.7 入力電流及び入力電力
入力電流及び入力電力は,JIS C 8147-1の附属書1の2.2.2による。
なお,試験用ランプは,附属書Bによる。
5.2.8 入力電流波形
入力電流波形は,JIS C 8119の9.1(入力電流波形)による。
なお,試験用ランプは,附属書Bによる。
5.2.9 回路力率
回路力率は,JIS C 8119の箇条7(回路力率)による。
――――― [JIS C 8110 pdf 9] ―――――
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なお,試験用ランプは,附属書Bによる。
6 試験
6.1 一般的要求事項
JIS C 8119の附属書Cによる。
6.2 試験方法
6.2.1 構造及び表示試験
構造,端子,保護接地,口出線,コンデンサ,充電部との偶発接触からの保護,電源からの絶縁,沿面
距離及び空間距離,並びに表示の試験は,目視又は適切な測定器具によって行う。
6.2.2 温度上昇試験
安定器の周囲温度を3540 ℃に保ち,試験用ランプを負荷とし,安定器に定格周波数の定格入力電圧
を加え,各部の温度がほぼ一定になった後,5.1.8に規定する測定箇所の温度上昇を測定する。
巻線の温度は,抵抗法によって測定し,次の式によって温度上昇値を算出する。
なお,安定器は8時間以上通電せず,周囲温度t1は,t1±2 ℃に4時間以上放置しておかなければなら
ない。さらに,最終周囲温度t2の変化は,測定する前2時間において±1 ℃でなければならない。
R2 R1
T 2345. t1 t1 t2
R1
ここに, T : 温度上昇値(℃)
t1 : 最初の一定周囲温度(℃)
t2 : 最終周囲温度(℃)
R1 : t1 ℃における巻線の抵抗(
R2 : 温度が一定になったときの巻線の抵抗(
外箱又は外被及びコンデンサ表面の温度は,JIS C 1602に規定する熱電対を使用し,測温接点を測定面
に確実に接触させ,かつ,外気に影響されないよう,その部分を少量のパテなどで覆って測定する。
6.2.3 絶縁抵抗試験
絶縁抵抗試験は,温度上昇試験の直後に行い,一括した充電部と非充電金属部との間,及び絶縁形変圧
器の巻線相互間の絶縁抵抗を,JIS C 1302に規定する500 V絶縁抵抗計又はこれと同等以上の性能をもつ
測定器で測定する。
なお,7.3.1の受渡検査では,冷間で行う。
6.2.4 耐電圧試験
耐電圧試験は,絶縁抵抗試験の直後に行い,一括した充電部と非充電金属部との間,及び絶縁形変圧器
の巻線相互間にJIS C 8147-1の表1に示す50 Hz又は60 Hzの正弦波に近い電圧を1分間加えて試験する。
なお,受渡検査の場合は,同表の120 %の電圧を1秒間加えて試験してもよい。
屋外用安定器では,試験に先立ち,正規の取付状態で,約45度の傾斜の降雨状態で,任意の方向から清
水(抵抗率が10 k 地 鉗 を水量毎分約3 mmの割合で,一様に1時間注水した後,
試験する。ただし,この試験は,屋外において常温で行ってもよい。
7 検査
7.1 検査一般
検査は,形式検査及び受渡検査に区分し,いずれも箇条6によって試験したとき,箇条5に適合しなけ
ればならない。
――――― [JIS C 8110 pdf 10] ―――――
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JIS C 8110:2008の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 8110:2008の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1302:2018
- 絶縁抵抗計
- JISC1602:2015
- 熱電対
- JISC4908:2007
- 電気機器用コンデンサ
- JISC7604:2006
- 高圧水銀ランプ―性能規定
- JISC7610:1991
- 低圧ナトリウムランプ
- JISC7621:2011
- 高圧ナトリウムランプ―性能仕様
- JISC7623:2019
- メタルハライドランプ―性能仕様
- JISC8119:2008
- 放電灯安定器(蛍光灯を除く)―性能要求事項
- JISC8147-1:2017
- ランプ制御装置―第1部:通則及び安全性要求事項
- JISC8147-2-9:2011
- ランプ制御装置―第2-9部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)
- JISZ8113:1998
- 照明用語