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C 9730-2-5 : 2010
附属書
JIS C 9730-1の附属書A附属書Uによるほか,次による。
附属書H
(規定)
電子制御装置の要求事項
JIS C 9730-1の附属書Hによるほか,次による。
H.2 定義
JIS C 9730-1のH.2によるほか,次による。
H.2.5 構造に関する制御装置のタイプの定義
JIS C 9730-1のH.2.5によるほか,次による。
H.2.5.101 ハイブリッド回路
入出力点以外に可触電気的接続部がなく,すべての内部接続がリードフレーム又は他の一体構造部の一
部を構成している,厚膜,薄膜及び表面実装装置 (SMD) 技術を用いてセラミック基板上に構築された回
路。
H.7 情報
JIS C 9730-1のH.7によるほか,表7.2の一部を次に置き換え又は追加する。
表7.2−製造業者によって宣言された情報,適用箇条及び方法
情報 適用箇条 方法
52 適用しない。
58a 適用しない。
58b 適用しない。
60 適用しない。
追加の要求事項
H.26.2
121 H.26の試験結果に基づく,モータ,変圧器,バルブなど X
のソリッドステート出力への影響
H.11 構造要求事項
JIS C 9730-1のH.11によるほか,次による。
H.11.12 ソフトウェアを用いる制御装置
JIS C 9730-1のH.11.12によるほか,次による。ただし,H.11.12.6及びH.11.12.8.1はこの規格による。
H.11.12.1 JIS C 9730-1のH.11.12.1によるほか,次による。
表7.2の項目68のソフトウェア故障解析及びH.27のハードウェア解析によって,特定の制御機能が識
別された場合,その故障は,H.27.1.3.101に対する適合性を損ねる原因となるので,この制御機能は,ソ
フトウェアクラスCと分類される。
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H.11.12.2 JIS C 9730-1のH.11.12.2によるほか,次による。
ソフトウェアを使用するシステムは,ソフトウェアクラスC構造をもっていなければならない。ソフト
ウェアクラスC機能のモニタリングを行う場合は,試験済みモニタを用いる。
H.11.12.6 ソフトウェアを使用するシステムでは,製造業者がハードウェア開発段階で,表H.11.12.6の欄
に示された解析手法の組み合わせたもの (i-p) の一つを採用していなければならない。
H.11.12.8.1 ソフトウェアクラスC機能のエラーの検出によって,H.27.1.3.101で許可されている応答のい
ずれかが起動されなければならない。この応答を実行することのできる独立した手段が備えられていなけ
ればならない。
H.11.12.12 JIS C 9730-1のH.11.12.12によるほか,この規格の11.3.4による。
H.17 耐久性
JIS C 9730-1のH.17は,この規格では適用せず,この規格の17.16.101による。
H.26 電磁両立性 (EMC) 要求事項−イミュニティ
JIS C 9730-1のH.26による。ただし,H.26.2,H.26.5及びH.26.8H.26.12は,この規格による。また,
H.26.6及びH.26.13H.26.15はこの規格では適用しない。
H.26.2 適否は,H.26.5,H.26.8,H.26.9,H.26.11及びH.26.12の各項に記述されている基準に従って判定
する。
H.26.5 電源回路網中の電圧ディップ及び短時間停電の影響に関する試験
H.26.5.1 試験手順
システムは,JIS C 61000-4-11に従って試験する。
システムへの電源電圧は,表H.101に示す値に従って低下させなければならない。電圧ディップ,短時
間停電及び電圧変動は,商用電源周波数を基準とするランダムな位相において,次の各動作条件で3回行
わなければならない。
a) プレパージ又は待機時間中
b) 開始ロックアウト時間中
c) 作動位置において
d) ロックアウト位置において
電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動の間は,少なくとも10秒以上の待機時間が観察されなければな
らない。
H.26.5.2 電圧変動試験
システムは,電源内の電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動を許容できなければならず,それによっ
て,H.26.5.1に従って試験したとき,次のとおりでなければならない。
a) 表H.101,評価基準a)の値の場合 : この規格の要求事項に従って機能し続けなければならない。安全
停止若しくはロックアウトになったり,又はロックアウトから復帰してはならない。
b) 表H.101,評価基準b)の値の場合 : a)の場合と同じように動作するか,又は安全停止とそれに続くシ
ステム再起動,若しくは揮発性ロックアウトの場合はシステム再起動になってもよい。
注記 不揮発性ロックアウトの場合,システム再起動は除く。
電源が復旧したとき,システム再起動は始動シーケンスに関する要求事項に適合しなければならない。
要求事項b)は,停電が60秒未満であって,かつ,熱を要求してから60秒以内に発生することを条件と
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して,無視してもよい。電源の復旧時に,プログラムは中断されたところから続けてもよい。
例えば,停電が始動シーケンス後60秒以内に発生し,かつ,持続時間が60秒未満の場合,プレパージ
又は待機時間をとらない始動シーケンスのような短縮始動シーケンスが許される。
表H.101−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動
ΔU
評価基準 持続時間
30 % 60 % 100 %
a) 電源波形の0.5サイクル X
電源波形の1サイクル X
b) 50 ms X X X
500 ms X X X
1 000 ms X X X
試験は,H.26.5.1に従って実施する。
H.26.8 サージイミュニティ試験
H.26.8.1 試験値
H.26.8.1.101 システムは,商用電源及び信号端子上の電圧サージを許容できなければならず,それによっ
て,H.26.8.2に従って試験したとき,次のとおりでなければならない。
a) IS C 9730-1の表H.26.8.2の設置クラス2の値の場合,この規格の要求事項に従って機能し続けなけ
ればならない。安全停止若しくはロックアウトになったり,又はロックアウトから復帰してはならな
い。
b) IS C 9730-1の表H.26.8.2の設置クラス3の値の場合,a)の場合と同じように動作しなければならな
いが,安全停止とそれに続くシステム再起動,又は揮発性ロックアウトの場合はシステム再起動にな
ってもよい。
この細分箇条の試験の後,サージ保護部品が破壊されてはならない。
H.26.8.2 試験手順
試験は,JIS C 9730-1の表H.26.8.2に示す電圧値及び電流値を用いて,60秒以上の間隔でシステムにパ
ルスを5回かけて実施しなければならない。
JIS C 61000-4-5に規定するように,各極性(+,−)及び各位相角度の5回のパルスを,次の順序で適
用する。
a) システムをロックアウト位置にして,2パルス
b) システムを作動位置にして,1パルス
c) 始動シーケンス中に,ランダムに2パルス
製造業者がインタフェースケーブルの長さが10 mを超えてはならないと明確に規定している場合は,
このケーブルに対する試験を行わない。
H.26.9 電気的ファストトランジェント/バースト試験
この試験は,JIS C 61000-4-4に従って実施する。
H.26.9.1 試験及び動作条件
H.26.9.1.1 試験条件
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C 9730-2-5 : 2010
L1,L2,PE L1,L2,PE I/O I/O
動作条件 JIS C 61000-4-4に 電圧ピーク 繰返しピーク 電圧ピーク 繰返しピーク
よる試験レベル
kV kHz kV kHz
a) 2 1 5 0.5 5
b) 3 2 5 1 5
JIS C 9730-1の表H.26.9.2を適用する。
H.26.9.1.2 動作条件
システムは,商用電源及び信号線上の電気的ファストトランジェント/バーストを許容できなければな
らず,それによって,H.26.9.1.1に従って試験したとき,次のとおりでなければならない。
a) 動作条件a)の値の場合 : この規格の要求事項に従って機能し続けなければならない。安全停止若しく
はロックアウトになったり,又はロックアウトから復帰してはならない。
b) 動作条件b)の値の場合 : a)の場合と同じように動作しなければならないが,安全停止とそれに続くシ
ステム再起動,又は揮発性ロックアウトの場合はシステム再起動になってもよい。
試験は,システムが作動位置に達した状態で20サイクル実施しなければならないが,各サイクルで,こ
の作動位置を30秒間以上維持しなければならない。さらに,システムをロックアウト位置にして,また,
システムを待機位置にして,試験を2分間以上実施しなければならない。
H.26.10 リング波試験
(対応国際規格の規定は,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では採用しない。)
H.26.11 静電気放電試験
H.26.11.1 試験及び動作条件
この試験は,JIS C 61000-4-2に従って実施する。
H.26.11.2 試験条件
評価基準 試験レベル 接触放電 気中放電
a) 2 4 kV 4 kV
b) 4 8 kV 15 kV
システムは,次の条件のそれぞれで試験しなければならない。
− 開始位置
− 作動位置
− ロックアウト位置
H.26.11.3 動作条件/適否
システムは,静電気放電を許容できなければならず,それによって,JIS C 9730-1のH.26.11に従って試
験したとき,次のとおりでなければならない。
a) .26.11.2の試験レベル2の場合 : この規格の要求事項に従って機能し続けなければならない。安全停
止若しくはロックアウトになったり,又はロックアウトから復帰してはならない。
b) .26.11.2の試験レベル4の場合 : a)の場合と同じように動作しなければならないが,安全停止とそれ
に続くシステム再起動,又は揮発性ロックアウトの場合はシステム再起動になってもよい。
H.26.12 無線周波電磁界イミュニティ
H.26.12.1 伝導妨害の試験レベル
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C 9730-2-5 : 2010
表H.26.12.1−商用主電源及びI/Oラインにおける伝導妨害の試験レベル
周波数レンジ
150 kHz80 MHz
Uo
電圧レベル (e.m.f)
評価基準 試験レベル V
150 kHz80 MHz ISM及びCBバンド
a) 2 3 6
b) 3 10 20
ISM及びCBバンドにおけるレベルは,6 dB高い値を選択する。
ISM : 工業用,科学用及び医療用無線周波数機器 : 13.56±0.007 MHz,40.68±0.02 MHz
CB : シチズンバンド,27.125±1.5 MHz
製造業者がインタフェースケーブルの長さが1 mを超えてはならないと明確に規定している場合は,こ
のケーブルに対する試験を行わない。
H.26.12.2 試験手順
JIS C 9730-1のH.26.12.2.2によるほか,次による。
システムは,次の各位置において,少なくとも1回,全周波数範囲にわたって掃引を受けなければなら
ない。
− 開始位置
− 作動位置
− ロックアウト位置
システムは,指示された試験レベルにおいて,最小値から最大値までの周波数範囲に2回の掃引を受け
る。1回の掃引では,システムをロックアウト状態にしておき,もう1回の掃引は残りの動作シーケンス
の間に実施する。
H.26.12.3 適否
システムは,伝導性電磁界を許容できなければならず,H.26.12.1に従って試験したとき,次のとおりで
なければならない。
a) 表H.26.12.1,評価基準a)の値の場合 : この規格の要求事項に従って機能し続けなければならない。安
全停止若しくはロックアウトになったり,又はロックアウトから復帰したりしてはならない。
b) 表H.26.12.1,評価基準b)の値の場合 : a)の場合と同じように動作しなければならないが,安全停止と
それに続くシステム再起動,又は揮発性ロックアウトの場合はシステム再起動になってもよい。
H.26.12.4 放射電磁界イミュニティの評価
H.26.12.4.1 放射電磁界の試験レベル
――――― [JIS C 9730-2-5 pdf 30] ―――――
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JIS C 9730-2-5:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60730-2-5:2000(MOD)
- IEC 60730-2-5:2000/AMENDMENT 1:2004(MOD)
JIS C 9730-2-5:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 97 : 家庭用及び商業用設備.娯楽.スポーツ > 97.120 : 家庭用自動制御
- 27 : エネルギー及び熱伝達工学 > 27.060 : バーナ.ボイラ > 27.060.01 : バーナ及びボイラ一般
JIS C 9730-2-5:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC6575:1975
- 電子機器用筒形ヒューズ
- JISC8305:2019
- 鋼製電線管