JIS H 1610:2008 チタン及びチタン合金―サンプリング方法

                                                                                   H 1610 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 一般事項・・・・[1]
•  4.1 試料の取扱い・・・・[1]
•  4.2 試料容器・・・・[1]
•  4.3 分析用試料の保管・・・・[1]
•  5 サンプリング方法の区分・・・・[1]
•  6 スポンジチタンのサンプリング方法・・・・[2]
•  6.1 試料採取及び試料調製の概要・・・・[2]
•  6.2 試料採取方法・・・・[3]
•  6.3 試料調製方法・・・・[4]
•  7 チタン及びチタン合金鋳塊のサンプリング方法・・・・[6]
•  7.1 試料採取位置・・・・[6]
•  7.2 試験室試料の採取方法・・・・[6]
•  7.3 分析用試料の調製方法・・・・[7]
•  8 チタン及びチタン合金の加工材のサンプリング方法・・・・[7]
•  8.1 試料採取位置・・・・[7]
•  8.2 試験室試料の採取方法・・・・[7]
•  8.3 分析用試料の調製方法・・・・[7]
•  9 チタン及びチタン合金鋳物のサンプリング方法・・・・[8]
•  9.1 試料の採取方法・・・・[8]
•  9.2 試験室試料の採取方法・・・・[8]
•  9.3 分析用試料の調製方法・・・・[8]

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――――― [JIS H 1610 pdf 1] ―――――

H 1610 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本チタ
ン協会 (JTS) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべき
との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS H 1610 : 2001は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              H 1610 : 2008

チタン及びチタン合金−サンプリング方法

Titanium and titanium alloys-Sampling methods

1 適用範囲

  この規格は,チタン及びチタン合金(スポンジチタン,鋳塊,加工材及び鋳物)の化学分析試験及びス
ポンジチタンのブリネル硬さ試験のサンプリング方法について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。 これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS H 0511 チタン−スポンジチタン−ブリネル硬さ測定方法
    JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門)
    JIS M 8100 粉塊混合物−サンプリング方法通則
    JIS R 6256 研磨ベルト

3 用語及び定義

  この規格で用いる用語及び定義は,JIS K 0211及びJIS M 8100による。

4 一般事項

4.1 試料の取扱い

  試料採取,試料調製及び測定の期間を通じて,試料を損失したり,変質させたりしないように注意しな
ければならない。また,試料に異物が混入しないよう,使用する器具は,十分に清浄にしなければならな
い。

4.2 試料容器

  各種試料の運搬,保管などの目的に用いる容器は,試料の全量が入り,清潔,堅ろう,かつ,確実にふ
た又は封ができるものでなければならない。

4.3 分析用試料の保管

  分析用試料を長期間保管する場合は,アルゴンガスを充てんした容器内に保管する。

5 サンプリング方法の区分

  サンプリング方法は,次による。
a) スポンジチタンのサンプリング方法 この方法は,スポンジチタンの化学成分分析用試料及びブリネ
    ル硬さ測定用試料に適用する。
b) チタン及びチタン合金の鋳塊のサンプリング方法 この方法は,チタン及びチタン合金の鋳塊の化学

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H 1610 : 2008
    成分分析用試料に適用する。
c) チタン及びチタン合金の加工材のサンプリング方法 チタン及びチタン合金の展伸材などの加工材の
    化学成分分析用試料に適用する。
d) チタン及びチタン合金の鋳物のサンプリング方法 チタン及びチタン合金の鋳物の化学成分分析用試
    料に適用する。

6 スポンジチタンのサンプリング方法

6.1 試料採取及び試料調製の概要

  試料採取及び試料調製の概要は,次による。その例を,図1に示す。
                                    ロット
                                                                                        試料採取
               インクリメント                    インクリメント
                                   大口試料
                                     縮分
                                                                                        試料調製
                       試験室試料 Aa)                                    試験室試料 Ba)
                                                                            圧縮成形
     非消耗電極式不活性ガスアーク溶解又はプラズマアーク溶解
                        円柱状試料                                         圧縮塊試料
                            切断
                                                                        切削又はドリリング
    表面切削        切断・研磨          研磨       切削又はドリリング
  ブリネル硬さ    水素,炭素,窒    蛍光X線分析       マンガンなど    ナトリウム,マグネシ
  測定用試料      素及び酸素分析    及び/又は        の分析用試料    ウム及び塩素分析用試
                  用試料            発光分光分析用                    料
                                    試料
    注a) 試験室試料は,縮分後のものとする。
                           図1−試料採取及び試料調製方法の概要の一例

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                                                                                   H 1610 : 2008
a) 対象ロットを決める。
b) ロット全体から必要個数の所定の大きさのインクリメントを,ロットがコンベヤによって移動中に系
    統的に採取し,大口試料とする。
c) 大口試料から,15 kgを縮分して試験室試料A,及び0.11 kgを縮分して試験室試料Bとする。
d) 試験室試料Aは,アルゴン雰囲気中で非消耗電極式不活性ガスアーク又はプラズマアークによって溶
    解し,得た円柱状試料を切断,切削,研磨,ドリリングなどを行ってブリネル硬さ測定用試料,水素・
    炭素・窒素・酸素の分析用試料,蛍光X線分析用試料及び/又は発光分光分析用試料並びにマンガン
    などの分析用試料とする。
e) 試験室試料Bは,圧縮成形して得た圧縮塊試料を,切削又はドリリングし,得た切粉をナトリウム,
    マグネシウム及び塩素の分析用試料とする。

6.2 試料採取方法

6.2.1  ロットの大きさ
  対象ロットの大きさは,通常,5 t以下とする。
6.2.2  インクリメントの大きさ
  インクリメントの大きさは,次の手順によって求める。
a) 試料を2 kg以上採取し,目開き19 mmのふるいを用いて,JIS M 8100の8.(粒度決定方法)によっ
    て,約3分間振とう後,試料量に対するふるい目上の残量を,質量分率 (%) で求める。
b) インクリメントの大きさは,a) で得た質量分率 (%) によって,次のいずれかとする。
  1) 5 %以下の場合は,インクリメントの大きさを500 g以上とする。
  2) 5 %を超える場合は,JIS M 8100の5.6.1(インクリメントの大きさ)によって実験を行い,ロット
      を代表するインクリメントの大きさを求める。インクリメントの大きさは,500 gから実験を始め,
      ロットの最大粒径の粒子が,ランダムにインクリメントに入るようにインクリメントの大きさを決
      める。インクリメントの大きさは,インクリメントごとに,そのばらつきが,変動係数として20 %
      未満となるように採取しなければならない。
6.2.3  インクリメントの個数
  1ロットから採取するインクリメントの最少必要個数は,80個とする。
6.2.4  インクリメントの採取器具
  インクリメントの採取器具は,次による。
a) 機械サンプリング装置 JIS M 8100の5.6.2(インクリメントの採取用具)の (2) による。
b) その他の試料採取器具
  1) インクリメントに偏りが入らないよう,JIS M 8100の5.6.2(インクリメントの採取用具)の (1) に
      規定するスコップを用いて試料を採取する。
  2) 6.2.2で規定する大きさ以上の容量のものとする。
6.2.5  インクリメントの採取方法
  インクリメントの採取方法は,次による。
a) ロットがベルトコンベヤによって移動するとき,ベルト上の特定の箇所又はその落ち口からインクリ
    メントを採取する。
b) ランダムスタートによる系統サンプリングを行う。この場合,インクリメントの数 (n) でロットの大
    きさNを除して,採取間隔を決定する。
c) ベルトコンベヤを止めて採取する場合には,ベルトの所定の位置で,6.2.2で規定するインクリメント

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