JIS M 8100:1992 粉塊混合物―サンプリング方法通則

                                                                                    M 8100-1992

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ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 用語の定義・・・・[1]
•  3. 記号・・・・[3]
•  4. 一般事項・・・・[3]
•  4.1 試料採取及び試料調製の概要・・・・[3]
•  4.2 試料の取扱い・・・・[4]
•  4.3 平均品位の決定・・・・[4]
•  4.4 数値の丸め方・・・・[4]
•  4.5 その他の事項・・・・[4]
•  5. サンプリング方法・・・・[5]
•  5.1 ロットの大きさ・・・・[5]
•  5.2 特性及び精度・・・・[5]
•  5.3 品位変動・・・・[5]
•  5.4 サンプリングの実施時期・・・・[6]
•  5.5 サンプリングの種類・・・・[6]
•  5.6 インクリメント・・・・[6]
•  5.6.1 インクリメントの大きさ・・・・[6]
•  5.6.2 インクリメントの採取用具・・・・[6]
•  5.6.3 インクリメントの個数の決め方・・・・[8]
•  5.6.4 インクリメントの採取方法・・・・[9]
•  5.7 インクリメントのまとめ方及び総合精度・・・・[9]
•  5.8 試料の兼用と重用・・・・[12]
•  5.9 ベルトサンプリング・・・・[12]
•  5.10 貨車サンプリング・・・・[13]
•  5.11 容器サンプリング・・・・[13]
•  5.12 船倉サンプリング・・・・[13]
•  5.13 粒度用試料のサンプリング・・・・[13]
•  5.14 水分用試料のサンプリング・・・・[14]
•  6. 試料調製方法・・・・[14]
•  6.1 試料の調製・・・・[14]
•  6.2 調製精度・・・・[15]
•  6.3 試料の予備乾燥・・・・[16]
•  6.4 試料の粉砕・・・・[16]
•  6.5 試料の縮分・・・・[16]
•  6.5.1 縮分方法の種類・・・・[16]

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――――― [JIS M 8100 pdf 1] ―――――

M 8100-1992

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•  6.5.2 インクリメント縮分方法・・・・[17]
•  6.5.3 二分器による方法・・・・[18]
•  6.5.4 円すい四分方法・・・・[18]
•  6.5.5 交互ショベル方法・・・・[18]
•  6.5.6 縮分機による方法・・・・[18]
•  6.5.7 縮分基準・・・・[19]
•  6.6 成分試験試料の調製・・・・[19]
•  6.7 水分試験試料の調製・・・・[19]
•  6.8 粒度試験試料の調製・・・・[19]
•  7. 水分測定方法・・・・[20]
•  8. 粒度決定方法・・・・[21]

    付図1 インクリメント採取用スコップの寸法の一例  23
    付図2 手動によるインクリメント縮分方法の図解  24
    付図3 二分器の形式と寸法  26
    付図4 円すい四分方法  28
    付図5 交互ショベル法  28
    付表1 ふるいの種類,孔形及び目開き  29

•  附属書1 サンプリング方法の個別規格で 規定すべき項目・・・・[30]
•  附属書2 機械式試料採取・調製装置 の必要条件及び形式・・・・[32]
•  附属書3 層別サンプリング及び系統サンプリングに おける品位変動の調査方法・・・・[45]
•  附属書4 二段サンプリングにおける品位変動の調査方法・・・・[53]
•  附属書5 サンプリングの精度をチェックする実験方法・・・・[57]
•  附属書6 サンプリングの偏りをチェックする実験方法・・・・[74]
•  附属書7 縮分機の偏り及び精度をチェックする実験方法・・・・[82]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             M 8100-1992

粉塊混合物−サンプリング方法通則

Particulate materials−General rules for methods of sampling

1. 適用範囲

 この規格は,粉塊混合物のロットについて,その化学成分,水分,粒度,物理特性及びそ
の他の特性の平均値(以下,平均品位という。)を決定するための次の(1)(4)の方法の一般事項について
規定する。
(1) 試料を採取する方法
(2) 試験試料を調製する方法
(3) 水分測定方法
(4) 粒度測定方法
    備考1. この規格は,各種の粉塊混合物についてのサンプリング方法の規格を作成する際の指針を与
            えるものである(附属書1参照)。
         2. この規格は,規格が制定されていない粉塊混合物のサンプリングを行う場合についても準用
            することができる。
         3. この規格の引用規格を,次に示す。
    JIS Z 8401 数値の丸め方
    JIS Z 8801 標準ふるい
    JIS Z 8815 ふるい分け試験方法通則
         4. この規格の関連国際規格を,次に示す。
          ISO 3082 : 1987 Iron ores−Increment sampling and sample preparation−Mechanical method
          ISO 3084 : 1986 Iron ores−Experimental methods for evaluation of quality variation
          ISO 3085 : 1986 Iron ores−Experimental methods for checking the precision of sampling
          ISO 3086 : 1986 Iron ores−Experimental methods for checking the bias of sampling

2. 用語の定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,次のとおりとする。
(1) 粉塊混合物 粉状又は塊状のものの集合体,及びそれらの混合物。
(2) ロット 平均品位を決定しようとする,ある量の粉塊混合物。
(3) インクリメント ロットから試料採取器によって原則として1動作で採取した単位量の粉塊混合物。
(4) 小口試料 数個のインクリメントを集めた試料。
    備考 必要に応じて,インクリメントを個々に調製した後で,これらを数個集めた試料を小口試料と
          いうこともある。
(5) 大口試料 ロットから採取したインクリメント.又は小口試料の全部を集めた試料。

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M 8100-1992
    備考 必要に応じて,インクリメントごと又は小口試料ごとに調製した後で,これらを集めた試料を
          大口試料ということもある。
(6) ランダムサンプリング ロットを構成する単位体,又は単位量がいずれも同じ確率で取られるように
    インクリメントを採取すること。
    備考 ロット全体からランダムにインクリメントを採取すること。
(7) 層別サンプリング ロットを幾つかの層に分けて,各層からランダムにインクリメントを採取するこ
    と。
    備考 層の大きさに比例した個数のインクリメントを採ることを層別比例サンプリングという。
(8) 系統サンプリング ロットから,量的又は時間的に一定間隔でインクリメントを採取すること。
    備考 系統サンプリングにおいて,最初のインクリメントを,一番目の間隔からランダムに採取する
          ことをランダムスタートという(図1参照)。
                                     図1 系統サンプリング
(9) 二段サンプリング ロットを幾つかの部分(一次サンプリング単位)に分け,まず第一段としてその
    中の幾つかの部分をランダムに選び,次に第二段として選んだ部分の中から各々幾つかのインクリメ
    ント(二次サンプリング単位)をランダムに採取すること。
    備考 二段以上に何段にもわたってサンプリングすることを多段サンプリングという。
(10) ベルトサンプリング ロットがベルトコンベヤなどで運ばれるときに,ベルトコンベヤの上又は落ち
    口からインクリメントを採取する方法。
(11) 貨車サンプリング ロットが貨車又はトラックで受渡しされる場合,貨車又はトラックからインクリ
    メントを採取する方法。
(12) 容器サンプリング ロットが容器(袋,ドラム缶その他)で受渡しされる場合,それらの容器からイ
    ンクリメントを採取する方法。
(13) 船倉サンプリング ロットが船積みで受渡しされる場合,荷役中に船倉又は荷役用具からインクリメ
    ントを採取する方法。
(14) 試料調製 試料を,必要に応じ粉砕,縮分及び混合して,成分試験試料,水分試験試料,粒度試験試
    料,物理特性試験試料などを作ること。
(15) 縮分 試料の量を減らすこと。
(16) 成分用試料 成分分析のために採取した試料の総称。
    備考 成分用試料を調製し,分析に使用するものを成分試験試料という。
(17) 水分用飼料 水分測定のために採取した試料の総称。
    備考 水分用試料を調製し,水分測定に使用するものを水分試験試料という。
(18) 粒度用試料 粒度を測定するために採取した試料の総称。
    備考 粒度用試料を必要に応じ調製し,粒度測定に使用するものを粒度試験試料という。

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                                                                                    M 8100-1992
(19) 物理特性用試料 物理特性を測定するために採取した試料の総称。
    備考 物理特性用試料を調製し,物理特性の測定に使用するものを物理特性試験試料という。物理特
          性試験試料は,物理特性に代えて○○強度試験試料などということがある。
(20) 試料の兼用 試料を分割して2種類以上の特性の測定に使用すること。
(21) 試料の重用 ある特性の測定に使用した試料の全量又はその一部を他の特性を求める測定に使用する
    こと。
(22) 試料全量通過の粒度 試料の最大粒子の大きさ。
    備考 試料が全量通過する最小ふるい目の大きさで表す。
(23) 最大粒度 試料のふるい上残留率が5%に相当するふるい目の大きさ。
(24) 誤差 測定値と真の値との差。
    備考 サンプリングによって生じる誤差をサンプリング誤差,試料調製によって生じる誤差を調製誤
          差,測定によって生じる誤差を測定誤差という。
            また,誤差は通常,精度と偏りに分けられる。
(25) 精度 測定値のばらつきの程度。
(26) 偏り 測定値の分布の中心と真の値との差。

3. 記号

 この規格に用いる記号は,次による。
           ロットの特性の母平均
    x : 測定値の算術平均値
    R : 範囲(測定値における最大値と最小値との差)
    R : 範囲の平均値
   M : ロットを構成する一次サンプリング単位の数
    m : 二段サンプリングにおいて,第一段目にサンプリングする一次サンプリング単位の数
    n : ロットから採取するインクリメントの数
   nw : 二段サンプリングにおいて一次サンプリング単位から第二段としてサンプリングするインクリメントの数
   d2 : 範囲の平均値Rから標準偏差を求める係数
   D4 : 範囲の平均値Rから範囲に対する3シグマ上方管理限界を求める係数
          精度を標準偏差で表したもの
        拿  一次サンプリング単位間,又は層間のばらつきを標準偏差で表したもの
            一次サンプリング単位内,又は層内のインクリメント間のばらつきを標準偏差で表したもの
        槿  ロット内のインクリメント間のばらつきを標準偏差で表したもの
            サンプリング精度を標準偏差で表したもの
           調製精度を標準偏差で表したもの
           分析又は測定精度を標準偏差で表したもの
   CV : 変動係数
      拿  2      度
    K1 : 一次サンプリング単位1個をサンプリングする費用
    K2 : 二次サンプリング単位(インクリメント)1個をサンプリングする費用

4. 一般事項

4.1 試料採取及び試料調製の概要

 試料採取及び試料調製の概要は,次による(図2参照)。
(1) 対象ロットを決める。
(2) ロット全体から必要個数の所定の大きさのインクリメントをロットの移動中に系統的に又はランダム
    に採取する。

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