JIS H 1611:2008 チタン及びチタン合金―分析方法通則

                                                                                   H 1611 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 一般事項・・・・[2]
•  5 分析用試料の調製方法・・・・[2]
•  6 分析用試料の取扱い方・・・・[2]
•  7 分析試料のはかり方・・・・[2]
•  8 分析値のまとめ方・・・・[2]
•  8.1 空試験・・・・[2]
•  8.2 分析値の表示・・・・[2]
•  8.3 許容差を使った分析値の精確さの判定及び平均値の求め方・・・・[2]
•  9 安全衛生に関する注意・・・・[3]

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――――― [JIS H 1611 pdf 1] ―――――

H 1611 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本チタ
ン協会(JTS)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの
申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS H 1611:2001は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              H 1611 : 2008

チタン及びチタン合金−分析方法通則

Titanium and titanium alloys-General rules for chemical analysis

1 適用範囲

  この規格は,チタン及びチタン合金の分析方法に共通な分析用試料の調製方法,分析値のまとめ方など
の一般事項について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS H 1610 チタン及びチタン合金−サンプリング方法
    JIS H 2151 スポンジチタン
    JIS H 4600 チタン及びチタン合金の板及び条
    JIS K 0050 化学分析方法通則
    JIS K 0115 吸光光度分析通則
    JIS K 0116 発光分光分析通則
    JIS K 0119 蛍光X線分析方法通則
    JIS K 0121 原子吸光分析通則
    JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門)
    JIS Z 8401 数値の丸め方
    JIS Z 8402-1 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第1部 : 一般的な原理及び定義
    JIS Z 8402-2 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第2部 : 標準測定方法の併行精度及
        び再現精度を求めるための基本的方法
    JIS Z 8402-3 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第3部 : 標準測定方法の中間精度
    JIS Z 8402-4 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第4部 : 標準測定方法の真度を求め
        るための基本的方法
    JIS Z 8402-5 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第5部 : 標準測定方法の精度を求め
        るための代替法
    JIS Z 8402-6 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第6部 : 精確さに関する値の実用的
        な使い方

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS K 0211及びJIS Z 8402-1による。

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H 1611 : 2008

4 一般事項

  分析方法に共通する一般事項は,JIS K 0050,JIS K 0115,JIS K 0116,JIS K 0119及びJIS K 0121によ
る。

5 分析用試料の調製方法

  分析用試料の調製方法は,JIS H 1610による。

6 分析用試料の取扱い方

  分析用試料は,その表面に油などが付着しているおそれのあるときは,エタノール又はアセトンで洗っ
た後,デシケーター中に保存する。ただし,スポンジチタンの塩素,マグネシウム及びナトリウムを定量
する場合は,分析用試料を洗浄してはならない。
    注記 スポンジチタンの塩素,マグネシウム及びナトリウムの分析用試料の洗浄を行うと,試料中の
          塩素,マグネシウム及びナトリウムが溶出するため,実際より低い分析値となる。
            なお,JIS H 1610の6.3.3による分析用試料の調製には,油による汚染はない。

7 分析試料のはかり方

  分析試料のはかり方は,次による。
a) 分析試料をはかりとる場合には,よくかき混ぜて平均組成を表すことができるように注意し,また異
    物が混入していないことを確かめなければならない。
b) 分析試料のはかりとりには,通常,化学はかりを用い,各分析方法に規定するはかりとり量を,規定
    するけたまで正確にはかる。

8 分析値のまとめ方

8.1 空試験

  分析する場合には,全操作を通して空試験を行い,分析値を補正する。

8.2 分析値の表示

  分析値は,はかりとった分析試料の質量に対する質量分率(%)で表示する。表示するけた数は,JIS H
2151及びJIS H 4600による。
  なお,分析値は,表示するけた数の1けた下の位まで算出し,JIS Z 8401によって表示するけた数に丸
める。

8.3 許容差を使った分析値の精確さの判定及び平均値の求め方

8.3.1  許容差を使った分析値の精確さの判定
  各分析方法の規格本体に許容差を規定している場合に,この許容差を使って分析値の精確さの判定を行
うときには,JIS Z 8402-1JIS Z 8402-6によるほか,次による。
a) 真度の検討 分析試料と化学的特性が近似している1個の認証標準物質(以下,標準物質という。)を
    分析試料と併行して分析し,得た標準物質の分析結果と認証値との差の絶対値が,その分析方法の対
    標準物質許容差以下であれば,同時に分析して得た分析値の真度は満足できるものと判定する。
      なお,対標準物質許容差は,分析方法規格に室間許容差1) 計算式を規定している場合には,その室
    間許容差1) 計算式のD2又は2.8の代わりに2.0を用い,含有率の項に標準物質の認証値を入れて求め,
    また,室間許容差1) を一つの値(含有率)で規定している場合には,その値を用いる。

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                                                                                              3
                                                                                   H 1611 : 2008
      注1) 室間再現許容差としてもよい。
b) 中間精度2)の検討 同一試験室において,同一分析用試料を繰り返し2回分析し,得た2個の分析結
    果の範囲が,その分析方法規格に規定している室内許容差3) 以下であれば,分析用試料の2個の分析
    結果の間に異常な差はないものと判定する。
      なお,室内許容差3) は,分析方法規格に室内許容差3) 計算式を規定している場合には,その室内許
    容差3) 計算式のD2の値にJIS Z 8402-6の表1の値(例えば,n=2では,2.8である。)を入れて求め,
    また,室内許容差3) を一つの値(含有率)で規定している場合には,その値を用いる。
      注2) 室内再現精度としてもよい。
         3) 室内再現許容差としてもよい。
c) 室間再現精度の検討 二つの異なる試験室において,同一分析試料をそれぞれ繰り返し2回分析し,
    平均値の差の絶対値が,その分析方法規格に規定している室間許容差1) 以下であれば,この二つの試
    験室の分析結果の間に異常な差はないと判定する。
      なお,室間許容差1) は,分析方法規格に室間許容差1) 計算式を規定している場合には,その室間許
    容差1) 計算式のD2の値に,JIS Z 8402-6の表1の値(例えば,n=2では,2.8である。)を入れて求
    め,また,室間許容差1) を一つの値(含有率)で規定している場合には,その値を用いる。
8.3.2  平均値の求め方
  平均値の求め方は,次による。
a) 分析用試料の繰り返し2回の分析結果が,8.3.1 b)を,かつ,それと併行して分析した標準物質の分析
    結果が,8.3.1 a)を満足すれば,分析用試料の2個の分析結果を平均する。
b) 標準物質がない場合は,分析用試料についての繰り返し2回の分析結果が,8.3.1 b)を満足すれば,分
    析用試料の2個の分析結果を平均する。
c) 標準物質の分析結果が,8.3.1 a)を満足しない場合は,それと同時に行った分析用試料の結果を捨て,
    改めて分析をやり直す。
d) 分析用試料の繰り返し2回の分析結果が,8.3.1 b)を満足しない場合は,それらの分析結果をすべて捨
    て,改めて繰り返し2回の分析をやり直す。

9 安全衛生に関する注意

  原子吸光分析,ICP発光分光分析及び水素・炭素・酸素・硫黄の定量における高圧ガスの取扱い,原子
吸光分析におけるフレームの点火・消火,蛍光X線分析におけるX線の被ばく(曝),危険薬品(三酸化
二ひ素,ふっ化水素酸,有機溶媒など)の使用・廃棄処理などには十分注意し,災害の防止及び環境の保
全に努めなければならない。