JIS Z 8402-3:1999 測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)―第3部:標準測定方法の中間精度

JIS Z 8402-3:1999 規格概要

この規格 Z8402-3は、一つの試験室内で測定の条件(時間,校正,オペレータ,及び装置)が変わることによる4つの中間精度について詳細を述べる。これらの中間精度は,特定の試験室内での実験又は試験室間共同実験によって確定することができる。

JISZ8402-3 規格全文情報

規格番号
JIS Z8402-3 
規格名称
測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)―第3部 : 標準測定方法の中間精度
規格名称英語訳
Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results -- Part 3:Intermediate measures of the precision of a standard measurement method
制定年月日
1999年5月20日
最新改正日
2019年10月21日
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‐ 
対応国際規格

ISO

ISO 5725-3:1994(IDT)
国際規格分類

ICS

03.120.30, 17.020
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
‐ 
改訂:履歴
1999-05-20 制定日, 2005-03-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS Z 8402-3:1999 PDF [35]
                                                                  Z 8402-3 : 1999 (ISO 5725-3 : 1994)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。これによって,JIS Z 8402 : 1991は廃止され,この規格に置き換えられる。
今回の制定では,1994年に第1版として発行されたISO 5725-3を基礎として用いた。
JIS Z 8402-3には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定) JIS Z 8402で用いられる記号
附属書B(規定) 完全枝分れ実験の分散分析
附属書C(規定) スタッガード型枝分れ実験の分散分析
附属書D(参考) 中間精度評価実験の統計解析の例
附属書E(参考) 参考文献
JIS Z 8402 : 1999は,一般名称を“測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)”として,次の部に
よって構成される。
第1部 : 一般的な原理及び定義
(Part 1 : General principles and definitions)
第2部 : 標準測定方法の併行精度及び再現精度を求めるための基本的方法
(Part 2 : Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard
measurement method)
第3部 : 標準測定方法の中間精度
(Part 3 : Intermediate measures of the precision of a standard measurement method)
第4部 : 標準測定方法の真度を求めるための基本的方法
(Part 4 : Basic methods for the determination of the trueness of a standard measurement method)
第5部 : 標準測定方法の精度を求めるための代替法
(Part 5 : Alternative methods for the determination of the precision of a standard measurement
method)
第6部 : 精確さに関する値の実用的な使い方
(Part 6 : Use in practice of accuracy values)

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS Z 8402-3 pdf 1] ―――――

                                                                  Z 8402-3 : 1999 (ISO 5725-3 : 1994)

pdf 目次

  •  序文・・・・[1]
  •  1. 適用範囲・・・・[3]
  •  2. 引用規格・・・・[3]
  •  3. 定義・・・・[4]
  •  4. 一般的な要求事項・・・・[4]
  •  5. 重要な因子・・・・[4]
  •  6. 統計モデル・・・・[5]
  •  6.1 基本モデル・・・・[5]
  •  6.2 一般平均m・・・・[5]
  •  6.3 項B・・・・[6]
  •  6.4 項B0,B(1),B(2),など・・・・[6]
  •  6.5 誤差項e・・・・[7]
  •  7. 測定条件の選択・・・・[7]
  •  8. 試験室内評価実験と中間精度の解析・・・・[8]
  •  8.1 最も単純な方法・・・・[8]
  •  8.2 別な方法・・・・[8]
  •  8.3 測定条件の最終結果に与える影響・・・・[9]
  •  9. 試験室間共同実験と中間精度の解析・・・・[9]
  •  9.1 基礎になる仮定・・・・[9]
  •  9.2 最も単純な方法・・・・[10]
  •  9.3 枝分れ実験・・・・[10]
  •  9.4 完全枝分れ実験・・・・[10]
  •  9.5 スタッガード型枝分れ実験・・・・[11]
  •  9.6 枝分れ実験における因子の割り付け・・・・[11]
  •  9.7 枝分れ実験とJIS Z 8402-2に示した手順との比較・・・・[11]
  •  9.8 完全枝分れ実験とスタッガード型枝分れ実験との比較・・・・[12]
  •  附属書A (規定) JIS Z 8402で用いられる記号・・・・[13]
  •  附属書B(規定) 完全枝分れ実験の分散分析・・・・[16]
  •  B.1 3因子完全枝分れ実験・・・・[16]
  •  B.2 4因子完全枝分れ実験・・・・[17]
  •  附属書C(規定) スタッガード型枝分れ実験の分散分析・・・・[19]
  •  C.1 3因子スタッガード型枝分れ実験・・・・[19]
  •  C.2 4因子スタッガード型枝分れ実験・・・・[20]
  •  C.3 5因子スタッガード型枝分れ実験・・・・[21]
  •  C.4 6因子スタッガード型枝分れ実験・・・・[22]
  •  附属書D(参考) 中間精度評価実験の統計解析の例・・・・[24]

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――――― [JIS Z 8402-3 pdf 2] ―――――

Z 8402-3 : 1999 (ISO 5725-3 : 1994)
D.1 例1 : 特定の試験室内での特定の測定水準における,[時間+オペレータ]の異なる中間標準偏差,
  •  sI(TO) を求める・・・・[23]
  •  D.2 例2 : 試験室間共同実験によって,時間の異なる中間標準偏差を求める・・・・[24]
  •  附属書E(参考) 参考文献・・・・[31]
2

――――― [JIS Z 8402-3 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
Z 8402-3 : 1999
(ISO 5725-3 : 1994)

測定方法及び測定結果の精確さ(真度及び精度)−第3部 : 標準測定方法の中間精度

Accuracy (trueness and precision) f measurement methods and results−Part 3 : Intermediate measures of the precisionof a standard measurement method

序文

この規格は,1994年に第1版として発行されたISO 5725-3, Accuracy (trueness and precision)   f measurement
methods and results−Part 3 : Intermediate measures of the precision of a standard measurement methodを翻訳し,
技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
0.1 この規格では,測定方法の精確さを表すために“真度”と“精度”の二つの用語を用いている。“真
度”は,多数の測定結果の平均値と,真の値又は参照値との一致の程度を示すものである。“精度”は,測
定結果の間の一致の程度を示すものである。
0.2 これらの量の一般的な考察はこの規格の第1部で示されており,ここでは改めて記述しない。第1
部は基本的な定義と一般的な原理が示されているので,この部を含めて,他の部についても,第1部を合
わせて読まれることが望ましいということを強調したい。
0.3 同一と見なせる試料間の変動は別として,同じ測定方法による測定結果をばらつかせる多くの異な
る因子には,つぎのようなものがある。
a) オペレータ
b) 使用した装置
c) 装置の校正
d) 環境(温度,湿度,空気の汚染,など)
e) 試薬のバッチ
f) 個々の測定間の経過時間
異なるオペレータ及び/又は異なる装置によって得られた(測定結果間の)変動は,同一のオペレータ
が同一装置を用いて短い時間間隔のうちに実施して得られた(測定結果間の)変動よりも大きいのが常で
ある。

――――― [JIS Z 8402-3 pdf 4] ―――――

2
Z 8402-3 : 1999 (ISO 5725-3 : 1994)
0.4 多くの実際の場合に,併行条件と再現条件と名付けられた二つの精度の条件が必要であり,測定方
法のばらつきを記述するのに役に立つということが知られている。併行条件の下では,0.3にあげたa) f)
の因子は一定で変動には寄与しないが,一方,再現条件下では,これらは変化して測定結果の変動に影響
する。したがって,併行精度と再現精度は精度の両極であり,前者は最小,後者は最大の変動を表す。a)
f)の一つ以上の因子が変動し得るときには,これら二つの両極の精度の状況の間に中間条件を考えるこ
とができて,ある定められた状況の下では,この中間条件が用いられる。
精度は,通常の場合,標準偏差の形で表現される。
0.5 この規格のこの部は測定方法の中間精度に焦点をあてて述べている。この精度が中間と呼ばれるの
は,その大きさが,測定方法の精度の二つの両極の値である併行標準偏差及び再現標準偏差の間になるか
らである。
このような中間精度の必要性を説明するためには,製造工場に付属する現代の試験室の業務,例えば,
異なる装置を用いて異なるオペレータによって測定が行われる三交代制の作業システム,を考えてみれば
よい。このとき,オペレータや装置は測定結果のばらつきに寄与する因子である。測定方法の精度を評価
する際にはこれらの因子も考慮する必要がある。
0.6 この規格のこの部で定義する中間精度が有用となるのは,主として,これらを推定することが,試
験室内で用いられる測定方法を,開発し,標準化し,または管理することを目的とする手続きの一部とな
っているときである。これらの精度は特別に計画された試験室間の共同研究によっても推定できるが,1.3
及び9.1に示す理由で,その解釈と適用には注意が必要である。
0.7 測定方法の精度に最も影響を与える4つの因子は次のものである :
a) 時間 : 連続して行われる測定間の時間間隔が,短いかそれとも長いか。
b) 校正 : 連続して行われる測定群の間で,使用する装置が再校正をされるかそれともされないか。
c) オペレータ : 連続して行われる測定が,同一オペレータによって行われるか異なるオペレータによっ
て行われるか。
d) 装置 : 測定で,同一装置(同じバッチの試薬)が用いられるか又は異なる装置(異なるバッチの試薬)
が用いられるか。
0.8 そのため,試験室内での測定の条件変化(時間,校正,オペレータ,及び装置)を考慮に入れるた
めに,以下のM因子異なる中間条件 (M=1,2,3,4) を,導入するのがよい。
a) =1 : 4つの因子のうち,1個の因子だけが異なる;
b) =2 : 4つの因子のうち,2個の因子が異なる;
c) =3 : 4つの因子のうち,3個の因子が異なる;
d) =4 : 4つの因子の,すべてが異なる。
異なる中間条件による異なる中間標準偏差は,カッコの中に対応する条件を列挙したsI ( ) で表される。
例えば,sI(TO)は時間 (T) とオペレータ (O) を変えたときの中間標準偏差である。
0.9 中間条件の下で得られた測定値では,0.7に掲げた一つ以上の因子が変化する。併行条件の下ではこ
れらの因子は一定とみなされている。
併行条件の下で得られる測定結果の標準偏差は,中間条件の下で得られる測定結果の標準偏差より一般
的に小さい。化学分析では,一般的に,中間条件の下での標準偏差は併行条件の下での標準偏差の2ない
し3倍程度であろう。もちろん,これは再現標準偏差を上まわることはないはずである。
例えば,銅鉱石中の銅の定量において,35の試験室による共同実験では,電解重量法とNa2S2O3滴定法
のいずれにおいても,1因子異なる(オペレータと装置は同一で,時間が異なる)中間条件の下での標準

――――― [JIS Z 8402-3 pdf 5] ―――――

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