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(1) 機器の接続
(1.1) 反射板法 各機器の接続は,図6(a)に示すとおりとする。
(1.2) 透過法 各機器の接続は,図6(b)に示すとおりとする。
(2) 試験板の設定
(2.1) 反射板法 試験板は,4.7に示す反射板と支持具を用い,探触子の走査に対して適切な位置に設定す
る。
(2.2) 透過法 試験板は,4.7に示す固定装置によって固定し,探触子の走査に対して適切な位置に設定す
る。
(3) 気泡の除去 試験板の表裏面,探触子の前面及び反射板の表面に付着した気泡は,はけなどを用いて
除去する。
(4) 水距離の調整 4.5の(3)で測定した集束距離を用い,反射板法の場合には,反射板までの水距離が集
束距離と一致するように調整する。
透過法の場合には,試験板の板厚中心までの水距離が集束距離と一致するように調整する。
(5) 探触子の傾きの調整 超音波ビームが試験板の表面に垂直となるように探触子の傾きを調整する。反
射板法のときは,超音波ビームが反射板にも垂直となるように調整する。透過法のときは,それぞれ
の探触子のビーム中心軸が直線となるように調整する。
(6) 走査範囲 走査範囲は,原則として一画面に記録できるように設定する。試験板が大きくて,設定し
た走査ピッチで一画面に記録できない場合は,分割して走査し,それぞれ記録する。この場合,走査
範囲は,重なり合うように設定する。
(7) ゲートの設定 ゲートの設定は,反射板法の場合は反射板からのエコーを,透過法の場合は透過パル
スを選定し,ゲートの位置及び幅を適正に調整する。
(8) 探傷条件の設定 探触子の走査条件,表示,記録条件などの諸設定を行う。
――――― [JIS K 7090 pdf 6] ―――――
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図6 試験装置の接続
6.2 試験 所定の位置に試験板を設置した後,次の条件で探傷試験を行う。
(1) 探傷感度 探傷感度の測定は,次の反射板法又は透過法のいずれかによる。
(1.1) 反射板法 探触子を試験板の健全部と思われる位置に移動した後,探触子を1020mm移動して,
エコーの平均的な高さが (50±5)%になるようにゲイン調整器を調整する。さらに,これより12dB
ゲインを上げて,これを試験板の探傷感度とする。
(1.2) 透過法 探触子を試験板の健全部と思われる位置に移動した後,探触子を1020mm移動して,透
過パルスの平均的な高さが (50±5)%になるようにゲイン調整器を調整する。さらに,これより6dB
ゲインを上げて,これを試験板の探傷感度とする。
(2) 検出レベル 探傷試験の検出レベルをAスコープ表示の探傷図形で,縦軸目盛の50%に設定し,この
レベルより低下した走査範囲を,傷とする。
7. 装置の点検及び保守
7.1 装置の保守 装置の保守は,次による。
(1) 探触子及び探触子ケーブル内に水が浸入すると,コネクタでは接触不良などが発生し,また,内部の
――――― [JIS K 7090 pdf 7] ―――――
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K 7090-1996
導線の腐食によって正常に動作しなくなるので,試験終了後は,水中から上げておくか,水を除去し
ておく。
(2) 探触子の前面は,高周波で作動させるために保護されていないものがあるので,傷を付けたり,汚し
たりしないようにする。
(3) 走査器の回転部分は,製造業者が指定する手入れを行う。
(4) 水槽に使用する水は,適切な時期に交換する。
7.2 日常点検 日常点検は,対比試験板を用いて,通常使用する環境下で,初期の性能が維持されてい
ることを確認する。
7.3 定期点検 定期点検は,試験技術者によって定められた傷の検出限界を測定できる試験片を用いて,
6か月ごとに点検を行い,その結果を記録する。
8. 報告 試験結果は,Cスコープ表示の探傷図形で記録し,報告には必要に応じて,次の事項を記入す
る。
(1) 試験板の材質,寸法及び形状
(2) 試験装置の名称及び形式
(3) 試験条件
(a) 試験方法の区分
(b) 探触子の公称周波数,振動子の材質,大きさ及び水中における集束距離
(c) 走査範囲(X及びY方向のスケール)
(d) エコー高さの区分(Cスコープ表示の探傷図形においては階調)
(e) 探触子の実測周波数 (MHz)
(f) 探触子の実測集束距離 (mm)
(g) 試験の探傷感度 (dB)
(h) 試験板裏面と反射板表面との間隔 (mm),又は試験板とそれぞれの探触子の間隔 (mm)
(i) 水槽中の水の温度 (℃)
(j) その他必要な条件
(4) 試験板のCスコープ表示の探傷図形及び傷の有無
(5) 試験年月日
(6) その他特記すべき事項
関連規格 : JIS Z 2344 金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則
ASTM D 5300 Standard test method for Measurement of Resin Content and Other Related Properties
of Polymer Matrix Thermoset Prepreg by Combined Mechanical and Ultrasonic Methods
――――― [JIS K 7090 pdf 8] ―――――
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K 7090-1996
信頼性評価方法委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 宮 入 裕 夫 東京医科歯科大学医用器材研究所
(委員) 細 川 幹 夫 通商産業省基礎産業局
西 出 徹 雄 通商産業省基礎産業局
平 松 博 久 通商産業省生活産業局
倉 剛 進 工業技術院標準部
金 原 勲 東京大学工学部
越 出 慎 一 科学技術庁航空宇宙技術研究所
永 井 聰 工業技術院計量研究所
一 條 久 夫 工業技術院物質工学工業技術研究所
河 野 嗣 男 東京都立科学技術大学
中 村 孔三郎 電信電話株式会社境界領域研究所
松 山 格 東京都立工学技術センター
小 牧 和 夫 工学技術院大阪工業技術試験所
代 田 忠 代田技術事務所
大 庭 敏 之 日産自動車株式会社
天 城 滋 夫 株式会社日立製作所
三 好 一 雄 三菱電機株式会社
田 中 丈 之 日本油脂株式会社
町 田 邦 郎 株式会社ブリヂストン
目 崎 正 和 古河電気工業株式会社
竹 内 正 俊 住友化学工業株式会社
古 川 憲 一 株式会社日本触媒
犬 竹 紀 弘 石川島播磨重工業株式会社
山 内 啓 司 東邦レーヨン株式会社
伊 庭 功 明 富士写真フィルム株式会社
(事務局) 鹿 毛 紀久雄 財団法人高分子素材センター
新 鍋 秀 文 財団法人高分子素材センター
超音波試験方法分科会 構成表
氏名 所属
(分科会長) 越 出 慎 一 科学技術庁航空宇宙技術研究所
永 井 聰 工業技術院計量研究所
西 海 秀 夫 株式会社帝通電子研究所
吹 上 紀 夫 運輸省船舶技術研究所
佐 藤 明 良 日産自動車株式会社
宇田川 建 志 新日本製鐵株式会社
佐 藤 春 治 湘菱電子株式会社
宮 本 公 男 キヤノン販売株式会社
渡 辺 洋 株式会社トキメック
小 林 均 日本クラウトクレーマー株式会社
渡 辺 正 志 東邦レーヨン株式会社
宮 入 裕 夫 東京医科歯科大学医用器材研究所
小 林 勝 工業技術院標準部
(事務局) 鹿 毛 紀久雄 財団法人高分子素材センター
新 鍋 秀 文 財団法人高分子素材センター
JIS K 7090:1996の国際規格 ICS 分類一覧
- 83 : ゴム及びプラスチック工業 > 83.120 : 強化プラスチック
JIS K 7090:1996の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB0601:2013
- 製品の幾何特性仕様(GPS)―表面性状:輪郭曲線方式―用語,定義及び表面性状パラメータ
- JISK6900:1994
- プラスチック―用語
- JISK7072:1991
- 炭素繊維強化プラスチックの試料の作製方法
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2350:2002
- 超音波探触子の性能測定方法
- JISZ2351:2011
- 超音波探傷器の電気的性能測定方法