JIS K 7350-4:2008 プラスチック―実験室光源による暴露試験方法―第4部:オープンフレームカーボンアークランプ | ページ 2

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X 波長 (nm)
Y 分光放射照度 (W/m2/nm)
図2−比較用のCIE No.85:1989の表4の昼光(◇)並びに代表的なフィルタ,タイプ1(□),
タイプ2(△)及びタイプ3(×)を通したオープンフレームカーボンアークランプ
の250 nm320 nmの分光放射照度(参考)

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4.1.2 デイライトフィルタ(タイプ1)を通したオープンフレームカーボンアークランプの分光放射照度
昼光をシミュレートするフィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの代表的なデータを,
表1に示す(CIE No.85:1989の表4参照)。
表1−デイライトフィルタ(タイプ1)を通したオープンフレームカーボンアークランプの
代表的な紫外部の分光放射照度分布a),b)
分光波長域 デイライトフィルタを通したオープ CIE No.85:1989の表4d),e)
ンフレームカーボンアークランプの
代表的な分布c)
%
λ : 波長 (nm) %
λ<290 0.05 ―
290≦λ≦320 2.9 5.4
320<λ≦360 20.5 38.2
360<λ≦400 76.6 56.4
注a) この表は,指定の波長域における放射照度を290 nm400 nmの放射照度に対する百分率で示す。デイライトフ
ィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの相対分光放射照度分布を求めるには,250 nm400
nmの分光放射照度を測定する。この測定は,通常2 nmごとに行う。次いで,個々の波長域の放射照度を集計
し,290 nm400 nmの放射照度で除す。
b) この表は,ほうけい酸ガラスのデイライトフィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの代表的な
値である。現在,デイライトフィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの仕様を決めるのに十分
な数のデータはそろっていない。
c) 波長域における個々の相対分光放射照度分布の百分率を合計すると,100 %になる。
d) IE No.85:1989の表4の値は,エアマス1.0,標準気圧での大気オゾン含有量0.34 cm,可降水量1.42 cm及び500
nmでの混濁係数0.1のときにおける水平面全天放射照度である。これらの値は比較のために示す。
e) IE No.85:1989の表4に代表される太陽光について,290 nm800 nmの放射照度との百分率で示すと,紫外放
射(290 nm400 nm)は11 %,可視放射(400 nm800 nm)は89 %である。オープンフレームカーボンアークラン
プ装置で暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は,暴露される試験片の数及び反射特性に
よって異なることがある。

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4.1.3 窓ガラスフィルタ(タイプ2)を通したオープンフレームカーボンアークランプの分光放射照度
窓ガラスフィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの代表的なデータを,表2に示す。
表2−窓ガラスフィルタ(タイプ2)を通したオープンフレームカーボンアークランプの
代表的な紫外部の分光放射照度分布a),b)
分光波長域 窓ガラスフィルタを通したオープン CIE No.85:1989の表4
フレームカーボンアークランプの代 に窓ガラス効果を加えた値d),e)
表的な分布 c)
λ : 波長 (nm) % %
λ<300 0.0 ―
300≦λ≦320 0.3 ≦1
320<λ≦360 18.7 33.1
360<λ≦400 81.0 66.0
注a) この表は,指定の波長域における放射照度を290 nm400 nmの放射照度に対する百分率で示す。窓ガラスフィ
ルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの相対分光放射照度分布を求めるには,250 nm400 nm
の分光放射照度を測定する。この測定は,通常2 nmごとに行う。次いで,個々の波長域の放射照度を集計し,
290 nm400 nmの放射照度で除す。
b) この表は,窓ガラスフィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの代表的な値である。現在,分光
放射照度の仕様を決めるのに十分な数のデータはそろっていない。
c) 波長域における個々の相対分光放射照度分布の百分率を合計すると,100 %になる。特定のカーボンアーク及び
窓ガラスフィルタの分光放射照度のデータは,試験装置の製造業者から入手する。
d) IE No.85:1989の表4に窓ガラス効果を加えた値は,CIE No.85:1989の表4の値に,米国及び欧州で使われて
いる代表的な窓ガラスの上限及び下限の透過率を乗じて得たデータである。これらの値は比較のために示す。
e) IE No.85:1989の表4に窓ガラスのデータを加えた値は,300 nm800 nmの放射照度との百分率で示すと,300
nm400 nmの紫外放射は7.7 %10.6 %まで,可視放射は89.4 %92.3 %までである。オープンフレームカ
ーボンアークランプ装置で暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は,暴露される試験片の
数及び反射特性によって異なることがある。

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4.1.4 紫外拡張フィルタ(タイプ3)を通したオープンフレームカーボンアークランプの分光放射照度
紫外拡張フィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプに要求されるデータを,表3に示す
(CIE No.85:1989の表4参照)。タイプ3に適した代表的なフィルタは,通常Corex 70581)として知られて
いる。
注1) orex 7058は,入手可能な製品の一例である。この情報は,この規格の利用者の便宜を図って
記載するもので,この製品を推奨するものではない。
表3−紫外拡張フィルタ(タイプ3)を通したオープンフレームカーボンアークランプの
紫外部の分光放射照度分布a),b)
分光波長域 最小値c) 最大値c) CIE No.85:1989の表4 d),e)
λ : 波長 (nm) % % %
λ<290 ― 4.9 ―
290≦λ≦320 2.3 6.7 5.4
320<λ≦360 16.4 24.3 38.2
360<λ≦400 68.1 80.1 56.4
注a) この表は,指定の波長域における放射照度を290 nm400 nmの放射照度に対する百分率で示す。フィルタを通
したオープンフレームカーボンアークランプがこの表の要求事項を満足するか否かを決めるには,250 nm400
nmの分光放射照度を測定する。この測定は,通常2 nmごとに行う。次いで,個々の波長域の放射照度を集計
し,250 nm400 nmの放射照度で除す。
b) この表の最小値及び最大値は,異なる製造ロット及び各種経時変化したフィルタを通した,製造業者の推奨する
オープンフレームカーボンアークランプでの測定数24の分光放射照度分布のデータを基にしている。最小値及
び最大値は,すべての測定値の平均値から少なくとも3 σ以内である。オープンフレームカーボンアークランプ
は,250 nm280 nmの間の波長域において,かなりの量の短波長の紫外放射を発生する。この短波長の紫外放
射の強度は,用いたカーボン棒の成分とともに紫外拡張フィルタの経時変化及び初期透過率によって変わる。カ
ーボン棒の成分は,製造ロット間及び製造業者間で異なるかもしれない。
c) 最小値及び最大値の欄は,測定値の最小値及び最大値を記載しているので,必ずしも100 %にはならない。個々
の相対分光放射照度分布の値は,この表の波長域で計算すると百分率の合計は100 %になる。個々の紫外拡張
フィルタを通したオープンフレームカーボンアークランプの各々の波長域における百分率は,指定の最小値と最
大値との間に入ることを確認する。許容範囲と異なる分光放射照度分布のカーボンアーク装置での試験結果は,
異なることが予想される。用いたカーボンアークランプ及びフィルタの分光放射照度分布のデータについては,
試験装置の製造業者から入手する。
d) IE No.85:1989の表4の値は,エアマス1.0,標準気圧での大気オゾン含有量0.34 cm,可降水量1.42 cm,500 nm
での混濁係数0.1のときにおける水平面全天放射照度である。これらの値は比較のため示す。
e) IE No.85:1989の表4に代表される太陽光について,290 nm800 nmの放射照度との百分率で示すと,紫外放
射(290 nm400 nm)は11 %,可視放射(400 nm800 nm)は89 %である。オープンフレームカーボンアークラン
プ装置で暴露される試験片上の紫外放射照度及び可視放射照度の割合は,暴露される試験片の数及び反射特性に
よって異なることがある。
4.1.5 次の事項は,オープンフレームカーボンアークランプの分光放射照度分布に影響する。
a) フィルタの成分及び厚さの違いは,透過する短波長の紫外放射の量に大きく影響する。
b) カーボンアークの放射によるフィルタの経時変化は,フィルタの短波長紫外部の透過をかなり減少さ
せる。その結果,フィルタを通る紫外放射が減少する。フィルタの経時変化は,ガラスの成分によっ
て影響を受ける。
c) フィルタに付く汚れ又はその他の残さは,フィルタの透過率に影響する。
d) カーボン棒に用いる金属塩の成分の違いは,分光放射照度分布に影響する。
4.2 試験槽

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試験槽は,試験片取付枠を装備し,温度調節のために試験片の面上に空気を流す装置を備える。試験片
取付枠は,カーボン棒取付ホルダの中心軸の周りを回転する。代表的な取付枠の直径は,96 cmである。
受渡当事者間の協定によって,他の直径のものを用いてもよい。試験片は,取付枠に直接固定するか又は
枠に取り付けた試験片ホルダに固定する。取付枠は,垂直形又は傾斜形とする。
上部及び下部のカーボン棒並びにフィルタは,装置の製造業者の指示に従って取り付ける。
装置は,その運転限界内で,暴露サイクルをプログラム制御する機能をもっていなければならない。
4.3 放射計
放射計を用いるときは,JIS K 7350-1:1995の5.2による。
4.4 ブラックスタンダード温度計又はブラックパネル温度計
温度計は,ブラックスタンダード温度計又はブラックパネル温度計とし,JIS K 7350-1の5.1.5による。
ただし,ブラックスタンダード温度計は,金属板の厚さが0.5 mmのものとする。
4.5 水噴霧及び湿度調整装置
4.5.1 一般
水噴霧若しくは凝縮によって,又は高い湿度中で試験片を水分に暴露する。手順の詳細及び試験条件を
試験報告書に記載する。
4.5.2 相対湿度の制御装置
相対湿度の制御装置を,試験槽に備える。試験片の面上を流れる空気の湿度は,受渡当事者間の協定に
よる。またその湿度は,試験槽内に挿入し,光源から遮へいした適切な装置によって測定する。
4.5.3 凝縮及び噴霧システム
試験槽は規定の条件下で試験片の表面に凝縮を間欠的に起すシステム,又は試験片の表面又は裏面に水
を間欠的に噴霧するシステムを備え,凝縮又は噴霧は試験片に均一に分布していなければならない。噴霧
システムは,用いる水を汚染しない耐食性材料で作る。
試験条件に凝縮が規定されている場合には,試験片の裏面又は試験片の裏あてに噴霧し,試験片を冷や
すように噴霧システムを作る。
試験片の表面への噴霧に用いる水は,試験片に目立った汚れや付着物がつかないものを用いる。要求さ
れる品質の水は,逆浸透膜とイオン交換樹脂との組合せで作ることができる。
注記 参考までに噴霧に用いる水の推奨する水質を示すと,電気伝導率5 μS/cm 未満,全固形分1 μg/g
未満及びシリカのレベル0.2 μg/g未満である。これらを測定する場合,JIS K 0101に規定する
測定方法を参照する。
4.6 試験片ホルダ
試験片ホルダは,試験片の裏面を開放した形又は試験片の裏面に裏あてをしたものでもよい。試験片ホ
ルダの材料は,試験結果に影響しない不活性なもの,例えば酸化を起こさないアルミニウム又はステンレ
ス鋼とする。黄銅,鋼又は銅は,試験片の近くで用いてはならない。裏あて及び裏あてと試験片との間の
すき間は(特に透明な試験片の場合),試験結果に影響を与えることがある。裏あての方法は,受渡当事者
間の協定による。
4.7 特性の変化を評価する機器
選択した特性は, JIS K 7362に規定する機器を用いて求める。

5 試験片

  試験片は,JIS K 7350-1による。試験結果を統計的に評価するためには,試験ごとに,各材料で少なく

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JIS K 7350-4:2008の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 4892-4:2004(MOD)
  • ISO 4892-4:2004/Technical Corrigendum 1:2005(MOD)

JIS K 7350-4:2008の国際規格 ICS 分類一覧

JIS K 7350-4:2008の関連規格と引用規格一覧