JIS K 7391:2008 非拘束形制振複合はりの振動減衰特性試験方法 | ページ 2

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b) 厚さ 基材の厚さは,0.8 mm1.5 mmとする。

5.2 標準試験片以外の試験片

  5.1に規定する寸法以外の試験片を用いる場合には,受渡当事者間の協定による。ただし,試験片の幅に
対する長さの比は10以上,基材の厚さに対する制振材料の厚さとの比は,3以下とする。

5.3 試験片の数

  試験片の数は,3本以上とする。

5.4 試験片の基材の加工精度

  基材の切断は,通常,切削加工又はレーザーカットによる。基材の加工精度は,次による。
a) 基材の寸法精度は,JIS B 0405の面取り部分を除く長さ寸法に対する許容差のf等級(精級)による。
b) 基材の真直度及び平面度は,JIS B 0419の真直度及び平面度の普通公差のH等級による。

5.5 基材と制振材料との接着

  試験片を作製する場合には,接着前に基材表面を脱脂処理し,制振材料も表面にほこりがないように目
視確認をした後,基材と制振材料とを接着する。制振材料が粘着層をもつときは,直接,粘着層を用いて
基材に接着し,接着面に空気が入らないように,接着後に加圧する。
  制振材料が粘着層をもたないときには,次による。
a) 熱融着可能な制振材料の場合には,規定の温度及び融着時間に従って接着する。
b) シアノアクリレート系瞬間接着剤を用いて接着する場合には,できるだけ薄く,かつ,均一に接着さ
    せ,測定温度は100 ℃以下の所定の温度とする。測定温度が100 ℃を超える場合には,エポキシ樹脂
    系接着剤など,耐熱性の高い接着剤を用いる。
c) 接着剤の膜厚をなるべく薄くするとともに,接着面に空気が入らないように,接着後に加圧する。
d) 接着剤の硬化時間は,接合すき間,塗付量,制振材料の材質及び温度によって異なることを考慮し,
    十分に乾燥及び硬化させた後,損失係数の測定を行う。

6 試験手順

6.1 片持ちはり法

6.1.1  試験装置
6.1.1.1  恒温槽
  恒温槽の寸法は,図2に例を示す試験装置を収めることができ,恒温槽内での作業をするのに十分な広
さをもつものとする。恒温槽内の温度制御は,測定温度±0.5 ℃の制御が可能なものとする。

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                                図2−片持ちはり法の試験装置の例
6.1.1.2  非接触電磁加振器
  非接触電磁加振器は,直流磁界を発生させる永久磁石及び励磁電流を流して試験片を加振するコイルか
ら構成されるものとする。非接触電磁加振器は,測定周波数帯域においてインピーダンスが大きく変化す
ることなく,一定の磁界が発生でき,かつ,試験温度範囲内で,十分な耐熱性をもつものとする。
6.1.1.3  非接触速度検出器
  非接触速度検出器は,測定周波数帯域において速度に比例した出力が得られるものとする。試験温度範
囲内で,十分な耐熱性をもつものとする。
6.1.1.4  周波数応答関数解析装置
  周波数応答関数解析装置は,二つの入力チャネルをもち,FFTアナライザ又は正弦波掃引方式のサーボ
アナライザの機能をもつものとする。
6.1.2  加振方法
  加振は,非接触電磁加振器を用いて定常加振を行う。
  非接触電磁加振器の上面は,試験片自由端面の中央に1 mm2 mmの間隔をおいて正対し,加振器中心
と試験片端面との相対位置は,試験片に働く電磁力を大きくするため,試験片の振動方向に1 mm2 mm
ずらす。
  試験片の伸縮又は反りのため,電磁加振器と試験片との位置関係がずれて,加振力の位相が反転するこ
とがあるので,伸縮又は反りがないように目視によって注意する。
6.1.3  応答検出方法
  応答検出装置は,非接触速度検出器を用いる。
  非接触速度検出器の位置は,試験片の固定端から,試験片有効長の10 %40 %離れた位置とする。
6.1.4  解析方法
  正弦波掃引信号又はランダム信号を発生させて,加振力と振動速度との周波数応答関数(モビリティ)
を求める。加振力は,電磁加振器に印加する電圧又は駆動電流を使用する。

――――― [JIS K 7391 pdf 7] ―――――

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  試験片の共振周波数付近で周波数応答関数を測定する場合,半値幅内に最低10個の測定点が得られる周
波数分解能で求める。
  FFTアナライザを用いてズーム分析を行う場合,FFTアナライザの信号出力はズーム分析を行う周波数
範囲内の帯域制限で行う。この場合,ノイズの影響を極力避けるために十分な平均化処理を行う。
6.1.5  測定方法
  損失係数の測定は,図3に示す共振周波数における振動モードで行う。
  損失係数は,2次5次の共振周波数で測定する。1次の共振周波数で得られた損失係数は,試験片の固
定部の影響を受けることがあるため,参考値とする。
  損失係数の測定温度は,±1 ℃に制御された恒温槽内で行う。この場合,恒温槽内での試験片の放置時
間は,1時間以上とする。
  損失係数の測定は,損失係数が最大となる温度付近及びその前後の±50 ℃において,5水準以上で測定
を行う。
                                          振動モード
                             図3−片持ちはり法の試験片の振動モード

6.2 中央加振法

6.2.1  試験装置
6.2.1.1  恒温槽
  恒温槽の寸法は,図4に例を示す試験装置を収めることができ,恒温槽内での作業をするのに十分な広
さをもつものとする。恒温槽内の温度制御は,測定温度±0.5 ℃の制御が可能なものとする。
6.2.1.2  動電形加振器
  動電形加振器は,永久磁石などの定常磁界の中に置いた駆動コイルに,加振電流を流すことによって駆
動力を得ることができる装置とする。中央加振法に用いる試験片の質量が,0.1 kg程度であることを考慮
して,0.1 kgの質量を 10 Hz10 kHzの周波数帯域において加速度3 m/s2以上で加振が可能で,かつ,最
大加振振幅(ピーク・ピーク)2 mm以上の加振性能をもつものとする。
6.2.1.3  インピーダンスヘッド
  インピーダンスヘッドは,中央加振法において,加振点の機械インピーダンスを測定するもので,力検
出器及び加速度検出器の二組のセンサーを一体化したものとする。インピーダンスヘッドは,恒温槽の中
に入れて使用するため,電荷感度(チャージ)形とし,力及び加速度センサーの感度が,それぞれ100 pC/N
以上,1 pC/ms−2以上のものとする。

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 注a) 動電形加振器は,恒温槽の外に出してもよい。
    b) デジタルマスキャンセルを行う場合は,マスキャンセルアンプを使用しない。
                                 図4−中央加振法の試験装置の例
6.2.1.4  マスキャンセルアンプ
  マスキャンセルアンプは,中央加振法において,試験片以外の不必要な質量の影響をアナログ的に除去
するための装置で,インピーダンスヘッドの力及び加速度の電荷出力を電圧に変換するチャージアンプ,
並びに力信号を加速度信号で減算する調節機能を備えるものとする。
6.2.1.5  周波数応答関数解析装置
  周波数応答関数解析装置は,二つの入力チャネルをもち,FFTアナライザ又は正弦波掃引方式のサーボ
アナライザの機能をもつものを用いる。
6.2.2  加振方法
  加振は,動電形加振器を用いて定常加振を行う。加振位置は,試験片の中央部とする。
6.2.3  応答検出方法
  応答検出装置は,インピーダンスヘッドを用いる。
  インピーダンスヘッドとコンタクトチップ及び動電形加振器との取付けは,図5による。
  コンタクトチップは,試験片の中央部に直角に取り付け,左右がアンバランスとならないようにする。
  コンタクトチップの先端はナイフエッジ形とし,ナイフエッジの厚さは試験片の長さの1/200以下とす
る。また,ナイフエッジの幅は試験片の幅以上とする。材質は,アルミニウム,ジュラルミンなどの軽量
で加工性のよい金属がよい。
  コンタクトチップのナイフエッジと試験片との接着は,シアノアクリレート系瞬間接着剤で固定する。
接着剤のはみ出しは,片側で0.5 mm以内となるようにする。
6.2.4  解析方法
  正弦波掃引信号又はランダム信号を発生させて,振動速度と加振力との周波数応答関数(機械インピー
ダンス)を求める。
  試験片の共振周波数付近で周波数応答関数を測定する場合,半値幅内に最低10個の測定点が得られる周
波数分解能で求める。

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  FFTアナライザを用いてズーム分析を行う場合,FFTアナライザの信号出力はズーム分析を行う周波数
範囲内の帯域制限を行う。この場合は,ノイズの影響を極力避けるために十分な平均化処理を行う。
  インピーダンスヘッドの振動加速度は,増幅器又は周波数応答関数解析装置で積分操作を行い,振動速
度に変換する。
                図5−試験片,コンタクトチップ及びインピーダンスヘッドの取付方法
6.2.5  測定方法
  損失係数の測定は,図6に示す反共振周波数における振動モードで行う。
  損失係数は,1次10次の共振周波数で測定する。
  損失係数の測定は,±1 ℃に制御された恒温槽内で行う。この場合,恒温槽内での試験片の放置時間は,
1時間以上とする。
  損失係数の測定は,損失係数が最大となる温度付近及びその前後の±50 ℃において,5水準以上で測定
を行う。
                                           振動モード
                              図6−中央加振法の試験片の振動モード
6.2.6  マスキャンセルの方法
  図5に従って,インピーダンスヘッドで力を測定すると,コンタクトチップなどの試験片以外の質量の
影響を受けて,正確な力とならない。したがって,損失係数を測定する場合には,試験片以外の質量の影
響を取り除くために,マスキャンセルを行う。マスキャンセルの方法は,次の二つの方法があり,いずれ

――――― [JIS K 7391 pdf 10] ―――――

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