JIS M 8100:1992 粉塊混合物―サンプリング方法通則 | ページ 10

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M 8100-1992
                          附属書2図3 装置に対するフローシート(例)

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              附属書3      層別サンプリング及び系統サンプリングに
                               おける品位変動の調査方法

1. 適用範囲

 この附属書は,層別サンプリング及び系統サンプリングにおけるサンプリング方法を決め
るための品位変動を調査する方法を規定する。
2. 一般事項
2.1   品位変動 粉塊混合物を船倉又は荷役用具からサンプリングする場合には,層別サンプリング又は
系統サンプリングを,ベルトコンベヤの上又は落ち口からサンプリングする場合には,系統サンプリング
を適用することが多い。
  これらの層別サンプリング又は系統サンプリング方法を決めるためには,次に示す標準偏差を知ること
が必要である。
    層別サンプリング : 層内の標準偏差
    系統サンプリング : 採取間隔内のインクリメント間の標準偏差
  系統サンプリングではインクリメント採取間隔内の粉塊混合物を一つの層とみなす。上の二つの標準偏
差は,いずれも         
  品位変動は,各銘柄について調査しなければならない。
2.2   品質特性 品位変動を調査するための品質特性としては,般に代表成分を選ぶが,水分,粒度,そ
の他の品質特性も選ぶことができる。この場合,品位変動区分に対する基準をあらかじめ決めておかなけ
ればならない。
2.3   試料採取,試料調製及び測定 この調査のための試料採取,試料調製及び測定は,各規格で規定し
た方法によって行わなければならない。
2.4   調査の実施 この調査のためのサンプリングは,日常の検査作業に組み込むことが望ましい。
3. 調査方法 層別サンプリング及び系統サンプリングの両方に適用し得る層内の標準偏差 (           ‰
る手順を次に示す。
(1) 方法の区分 方法の区分は,次による。
  (a) 方法1 ロットから品位変動を求める場合 ロットをほぼ同じ質量の少なくとも10層に区切り,附
      属書3図1-1及び附属書3表1に示す方法で各層のインクリメントを集めて,一組の小口試料とす
      る。
  (b) 方法2 数ロットから品位変動を求める場合 調査対象のロットの質量は,ほぼ同じ質量のものと
      し,ロットの全体をほぼ同じ質量で少なくとも10層に区切り,附属書3図1-2及び附属書3表2に
      示す方法で各層のインクリメントを集めて,一組の小口試料とする。
  (c) 方法3 方法1又は方法2の調査が不経済で,ほぼ同じ質量の数多くのロットから品位変動を求め
      る場合 附属書3図1-3及び附属書3表3に示す方法で各ロットのインクリメントを集めて,一組
      の小口試料とする。
  (d) 方法4 インクリメントをすべての一次サンプリング単位(貨車など)から採取する場合 附属書3

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      図1-4に示す方法で各ロットのインクリメントを集めて,一組の小口試料とする。
(2) インクリメント数 この調査でロットから採取するインクリメント数は,原則として日常のサンプリ
    ングのインクリメント数と同じとする。しかし,日常のサンプリングを品位変動“小”で行っている
    場合,インクリメント数は,標準偏差を求めるには不十分であるので,インクリメント数を増加しな
    ければならない。
  (a) 方法1の場合,各規格で規定した方法によってインクリメント数を決め,そのインクリメント数を
      少なくとも10層に分け,各層から一組の小口試料を作る(附属書3図1-1参照)。
  (b) 方法2の場合,各規格で規定した方法によって各ロットから採取するインクリメント数を決める。
      各ロットを同じ質量の層に分け,各層から一組の小口試料を作る。各層から採取するインクリメン
      ト数は同数でなければならない(附属書3図1-2参照)。
  (c) 方法3の場合,各規格で規定した方法によって各ロットから採取するインクリメント数を決める(附
      属書3図1-3参照)。
  (d) 方法4の場合,各規格で規定した方法によってロットから採取するインクリメント数及び各一次サ
      ンプリング単位から採取するインクリメント数を決める(附属書3図1-4参照)。インクリメント数
      が奇数の場合は,偶数になるように1個増やす。
(3) 小口試料のまとめ方 小口試料のまとめ方は,次の手順による。
  (a) 一つの層のインクリメントに対し,採取順に連続番号を付ける。
  (b) 各層について,奇数番号のインクリメントを集めて小口試料A及び偶数番号のインクリメントを集
      めて小口試料Bの一組の小口試料とする(附属書3図2参照)。
  (c) 方法14のいずれでもk組の小口試料を作る。
    備考 各小口試料は,2個以上のインクリメントで作られなければならない。
                    附属書3図1-1 方法1の場合(1ロットを10層に分けた例)
              備考1. 矩形 は,1ロットを示し,破線で仕切った各区画は一つの層を示す。
                  2. ○印は小口試料を示す。
                  3. 備考1.及び備考2.は,附属書3図1-2及び附属書3図1-3にも適用する。
                    附属書3図1-2 方法2の場合(3ロットを12層に分けた例)

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                     附属書3図1-3 方法3の場合(1ロットを1層とした例)
              附属書3図1-4 方法4の場合(貨車積みロットの層別サンプリングの例)
                      備考1. 矩形  は,一次サンプリング単位を示す。
                          2. ○印は小口試料を示し,印はインクリメントを示す。
                         附属書3図2 小口試料のまとめ方(方法1の例)
                  備考1. 印は,インクリメントを示す。
                      2. 上図は,ある1ロットに対する調査例であり,各規格による最小
                         必要インクリメント数は100個で,各小口試料を5個のインクリ
                         メントで構成している10組の小口試料Ai及びBiを調製する
(4) 試験試料の調製及び測定 層ごとの小口試料Ai及びBiから試験試料を調製する。
      試験試料は必要とする品質特性の測定に供する(品質特性として化学成分,水分,粒度及び物理特
    性)。
(5) 調査数 調査数が少ないと標準偏差               な精度で推定することができないので,次のようにする。
  (a) 方法1及び方法2の場合,少なくとも5回の調査をする。

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  (b) 方法3及び方法4の場合,少なくとも10回の調査をする。
4. 層内標準偏差の計算
4.1   測定結果の記録 個々の試験試料について測定した化学分析,水分測定,粒度測定及び物理試験の
結果は,統一様式の用紙に記録する(附属書3表13参照)。
4.2   計算 層内標準偏差の推定値は,次の式によって計算する。
  対のデータの範囲 : 
                        R=|A−B|  (1)
                      ここに, A :  小口試料Aから調製した試験試料の品質特性のデータ
                                B :  小口試料Bから調製した試験試料の品質特性のデータ
  範囲の平均 : 
                         R      R   (2)
                            k
                      ここに, k :  Rの数
  対のデータの平均 : 
                            1
                         x   (A  B)   (3)
                            2
  層内の標準偏差 : 
                          *        R
                           w   ns       (4)
                                   d2
                      ここに,          w :  層内標準偏差の推定値
                                  n : s 各小口試料A又はBを構成するインクリメント数
                                  d2 :  1.128
    備考1. ロットについて日常の品質特性の決定値として式(5)から,そのロットの平均値 (x) を求め
            てもよい。
                         x     ix  (5)
                            k
         2. 式(4)から求めた    wは試料採取,試料調製及び測定を含めた標準偏差であり,         乙  問
            している。しかし,附属書3の6.において品位変動の分類をするためにこの値を使用しても
            よい(附属書3の5.参照)。試料調製の標準偏差        び測定の標準偏差            かっており,
                                    は,次の式によって計算しなければならない。
                                      2
                                  R        2     2
                          w   ns          P    M     (6)
                                  d2
5. 結果の表示
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(1) 方法1及び方法2の場合,一連の調査から求めた層内標準偏差の推定値 (           ‰       獗
                                                                                      すべての
    値の平方根で報告しなければならない。

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