JIS R 1604:2008 ファインセラミックスの高温曲げ強さ試験方法

                                                                                   R 1604 : 2008

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 装置及び器具・・・・[2]
•  4.1 試験機・・・・[2]
•  4.2 高温炉・・・・[2]
•  4.3 試験ジグ・・・・[2]
•  4.4 支持具・・・・[2]
•  4.5 マイクロメータ・・・・[5]
•  4.6 ダイヤルゲージ・・・・[5]
•  4.7 ノギス・・・・[5]
•  5 試験片・・・・[5]
•  5.1 試験片の形状及び寸法・・・・[5]
•  5.2 試験片のりょう(稜)の丸め又は面取り・・・・[6]
•  5.3 試験片上下面の粗さ・・・・[6]
•  5.4 試験片の数・・・・[6]
•  6 試験方法・・・・[6]
•  6.1 試験片の幅・厚さの測定・・・・[6]
•  6.2 外部支点間距離及び内部支点間距離の測定・・・・[6]
•  6.3 雰囲気・・・・[6]
•  6.4 温度測定・・・・[6]
•  6.5 昇温及び保持時間・・・・[7]
•  6.6 試験片への負荷・・・・[7]
•  7 計算・・・・[7]
•  7.1 曲げ強さの計算・・・・[7]
•  7.2 標準偏差の計算・・・・[7]
•  8 報告・・・・[7]
•  附属書JA(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[9]

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――――― [JIS R 1604 pdf 1] ―――――

R 1604 : 2008

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本ファ
インセラミックス協会(JFCA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日
本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS R 1604:1995は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

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――――― [JIS R 1604 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              R 1604 : 2008

ファインセラミックスの高温曲げ強さ試験方法

Testing method for flexural strength (modulus of rupture) f fine ceramics at elevated temperature

序文

  この規格は,2003年に第1版として発行されたISO 17565を基に作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,対応
国際規格の規定の一部を技術的に変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,機械部品,構造材料などの高強度材料として使用されるファインセラミックスの高温にお
ける3点曲げ強さ及び4点曲げ強さ試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 17565:2003,Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics)−Test method for
           flexural strength of monolithic ceramics at elevated temperature (MOD)
            なお,対応の程度を表す記号(MOD)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,修正していることを示
          す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメー
        タ
    JIS B 0621 幾何偏差の定義及び表示
    JIS B 7502 マイクロメータ
      注記 対応国際規格 : ISO 3611:1978,Micrometer callipers for external measurement (MOD)
    JIS B 7503 ダイヤルゲージ
    JIS B 7507 ノギス
    JIS C 1602 熱電対
    JIS Z 8401 数値の丸め方

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

――――― [JIS R 1604 pdf 3] ―――――

2
R 1604 : 2008
3.1
3点曲げ強さ
  試験片を一定距離に配置された2支点上に置き,支点間の中央の1点に荷重を加えて折れたときの最大
曲げ応力。
3.2
4点曲げ強さ
  試験片を一定距離に配置された2支点上に置き,支点間の中央から左右に等しい距離にある2点に分け
て荷重を加えて折れたときの最大曲げ応力。
3.3
試験ジグ
  曲げ強さ試験において,試験片を保持し,かつ,試験片に荷重を加えるための器具。
3.4
支持具
  試験ジグにおいて,試験片を支点で支え,かつ,荷重を加えるために,直接試験片に接触する部分。
3.5
高温
  測定時に試験片がクリープ変形を伴わず曲げ強さが測定可能な室温を超えた温度域。

4 装置及び器具

4.1 試験機

 試験機には,クロスヘッド移動速度を一定に保てる適切な材料試験機を用いる。この場合,
材料試験機の荷重指示の精度は,真の荷重の±1 %まで測定が可能なものとする。

4.2 高温炉

 高温炉は,所定の昇温速度で昇温でき,その温度で試験片の温度が均一に保てるものでな
ければならない。また,所定の均熱時間を経た後,支持具の内部支点間に入る部分において,試験片の温
度分布が温度測定装置による計測値で,試験温度の±0.5 %以内に保てるものでなければならない。さら
に,試験温度の時間変動量が,温度測定装置による計測値で試験温度の±0.5 %以内になるように自動制
御できるものでなければならない。

4.3 試験ジグ

 試験ジグは,3点曲げ強さ測定用と4点曲げ強さ測定用(図1参照)とに区分し,更に使
用する試験片(箇条5及び図2参照)によって外部支点間距離が30 mmと40 mmとに区分し, 4種類の
構造の試験ジグとする(表1参照)。
                         表1−曲げ方式,試験片,試験ジグ及び支点間距離
                                                                           単位 mm
             試験ジグ名     曲げ方式       試験片     外部支点間距離  内部支点間距離
            3p-30         3点曲げ方式   標準試験片I       30±0.1           −
            3p-40                       標準試験片II      40±0.1           −
            4p-30/10      4点曲げ方式   標準試験片I       30±0.1         10±0.1
            4p-40/20                    標準試験片II      40±0.1         20±0.1

4.4 支持具

 支持具は,次による。
a) 試験片を支点で支えるとともに,試験片に荷重を加える支持具は,左右同一形状で,試験片の幅を超

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                                                                                              3
                                                                                   R 1604 : 2008
    える長さをもつものを用いる。
b) 支持具の材質には,弾性率1.47×1011 N/m2以上をもち,途中で塑性変形及び破壊がなく,試験片とゆ
    着及び化学反応を生じない材料を用いる。
c) 支点及び荷重点における支持具の形状は,曲げ負荷による試験片の変形を妨げないように,測定中に
    回転可能な円柱状のものとする回転形[図1a),b)]が望ましい。
d) 試験片と接する支持具先端の曲率半径は2.03.0 mm(ピン形状の場合は直径4.06.0 mm)とし,そ
    の表面粗さはJIS B 0601に規定する0.40 μmRa以下とする。回転可能な構造をもつ支持具を用いる試
    験ジグの場合には,試験片と支持具との間に発生する摩擦力を緩和するためにだけ支持具が回転・移
    動する構造とし,測定途中で支持具の位置が大きく変動しない構造とする必要がある。支持具が固定
    され回転しない場合には,得られる測定値は,実際の材料強度よりも理論的に高くなるため,注意が
    必要である。
      なお,支持具が回転可能な構造をもつか否かを箇条8のe)で記載する。
                                                                                単位 mm
                   標準試験片に対する支点間距離      試験片幅 W=4.0±0.1
                    標準試験片I L=30±0.1           試験片厚さ t=3.0±0.1
                    標準試験片II L=40±0.1
                   支持具の直径  D : 46
                                   a) 回転形3点曲げ試験ジグ
                       図1−曲げ試験用試験ジグの構造(形状は一例を示す)

――――― [JIS R 1604 pdf 5] ―――――

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