JIS R 3224-3:2018 建築用ガラス―複層ガラス―第３部：ガス濃度及びガス漏えい性試験方法 | ページ 4

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g) 9.1の操作の前後に,標準ガスサンプルの導入及び分離の操作を繰り返す。一定数のサンプルごとに,
    定期的に再校正し(例えば,サンプル数10ごと),均一性を確保する。
h) クロマトグラフの諸条件又は構成が変更されていない8時間以内に,標準ガスの測定を少なくとも2
    回行う。
i)  酸素,窒素及びアルゴン(O2,N2及びAr)のクロマトグラムを作成し,各成分のパーセントの積算
    値を記録する。

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R 3224-3 : 2018
                                          附属書B
                                          (規定)
   アプローチ2に用いるアルゴン,六ふっ化硫黄,及び空気以外のガスに
                                     ついての要求事項
B.1   ガスの耐久性と,複層ガラスの構成部材との相互作用
  用いるガスの耐久性については,アルゴン,六ふっ化硫黄及び空気と同等であることを確認する。
  ガスと複層ガラスの構成部材との相互作用についても,アルゴン,六ふっ化硫黄及び空気と同等である
ことを確認する。
B.2   断熱及び遮音に対する効果
  ガスの濃度に応じて,熱貫流率U値及び/又は重み付き音響透過損失Rw (C/Ctr) を決定する。
  熱貫流率及び重み付き音響透過損失は,複層ガラスの有効寿命の期間を通じて大きく変化してはならな
い。U値の増加は0.1 W/(m2・K) を超えてはならず,Rw (C/Ctr) の低下は1 dBを超えてはならない。
  熱貫流率及び重み付き音響透過損失は,次のa)   c) のいずれかの条件において決定する。
a) ガスの充によって,U値が最大0.4 W/(m2・K) 低下し,Rw (C/Ctr) が最大5 dB増大する場合,U値及
    びRw (C/Ctr) の公表値は,式(B.1)及び式(B.2)によって決定する。
                        Up  U ci, o (B.1)
                         Rw,p C/ CtrRw C/ Ctrci, o (B.2)
b) ガスの充によって,U値の低下が0.4 W/(m2・K) を超える場合,又はRw (C/Ctr) の増加が5 dBを超
    える場合,式(B.3)及び式(B.4)が成り立つことを確認する。
                        U cfi, U ci, o
                                    ≦0.1 W/(m2・K)  (B.3)
                         Rw C/ Ctrci, oRw C/ Ctrcfi,≦1 dB  (B.4)
      U値及びRw (C/Ctr) の公表値は,式(B.5)及び式(B.6)によって決定する。
                        Up  U ci, o (B.5)
                         Rw,p C/ CtrRw C/ Ctrci, o (B.6)
c)   ) の条件のいずれか,又は双方の条件が満たされない場合,式(B.7)及び式(B.8)によって計算する。
                        Up  U ci, o 0.1 W/(m2・K)  (B.7)
                         Rw,p C/ CtrRw C/ Ctrci, o 1 dB (B.8)
      ただし,
                        cfi,     5
                             ci, o  1 .022Li, m
                      ここに,   Li,m :  最大ガス漏えい率(体積分率)。この規格によって計測した値
                                        にその5 %を加算する。
      混合ガスを用いる場合,U値及びRw (C/Ctr) に最も影響が大きいガス(複数又は単数)だけを考慮
    する。
B.3   クリプトンガスを充する場合の評価
  クリプトンガス充の評価の例を,次に示す。
− 中空層の幅8 mm,厚さ4 mmのガラス2枚,そのうち1枚は放射率が0.1の皮膜を施している。

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− クリプトン濃度cKr,m : 90 %
− クリプトン漏えい率測定値LKr,m : 0.5% a−1(=1.05 LKr)
− アルゴン漏えい率LAr : 実証値 : 1.0 % a−1未満
  4.2.1への適合性については,ガス漏えい率は要求事項を満たしている。
  4.2.2,4.2.3及び4.2.4への適合性については,この例では,要求事項を満足するとみなす。
  B.1への適合性については,クリプトンの化学的反応はアルゴンと同様である。特別な調査は不要であ
る。
  B.2への適合性については,クリプトンガスの充によってU値の改善幅は0.4 W/(m2・K) を超えるが,
Rw (C/Ctr) の改善幅は5 dB未満である。
  B.2 a) の条件において,重み付き音響透過損失の公表値Rw (C/Ctr) は,Rw (C/Ctr)(cKr,o) に等しい。
  U値については,B.2 b) の条件に従って確認する。
− ガス濃度 : cKr,f=(90−5) (1−0.22×0.5)
                  =75.65
− U値の増分 : U(cKr,f)−U(cKr,o)=1.54−1.38
                              =0.16 W/(m2・K)
  この増分は0.1 W/(m2・K) より大きいため,B.2 c) の計算は,次による。
− 公表U値 : Up=1.54−0.1
                 =1.44 W/(m2・K)
                 =1.4 W/(m2・K)  小数第1位に丸める。

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R 3224-3 : 2018
                                          附属書C
                                          (参考)
        断熱性能及び遮音性能についての促進劣化と自然劣化との関係
  建物の窓に据え付けられて10年を経過した複層ガラスのガス漏えい率を測定した。測定値は,同じ構成
のユニットを促進劣化した場合の値と比べて1/10未満であった。一方,5.2の結果とこの促進劣化とを比
べると,ガス漏えい率には大きな差がなかった。
  この事例によって,この規格による促進劣化後のガス漏えい率Liが1.0 % a−1未満の複層ガラスが建物
に据え付けられた場合,25年の期間に失われるガスの割合は5 %未満と想定してもよい。この推定では,
安全側に考慮して,建物に据え付けた複層ガラスのガス漏えい率は10年ごとに倍となるとみなせる。アル
ゴンの公称濃度が標準的なcAr,o=90 %であり,実際の濃度が85 %とみなせる複層ガラスの場合,25年後
のガス濃度は80 %を超える。100 %アルゴン充によるU値の改善が0.4 W/(m2・K) と仮定すると,cAr,o
=90 %とした計算から,U値の増加ΔUは0.04 W/(m2・K) 未満である。最終評価では,U値は0.1 W/(m2・
K) の単位に丸められる。
  遮音性能についても同様に考えられ,この規格の要求事項を満たす複層ガラスは,遮音性能においても
促進劣化と自然劣化との間に同様の関係があると想定することができる。

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                                          附属書D
                                          (参考)
 アプローチ2のためのガスクロマトグラフィーによるガス漏えい率の決定
D.1 一般
  この試験方法は,5.2によるガス漏えい率測定方法の一例であり,その他の方法も用いることができる。
  この方法を用いる場合,正確な結果が得られるように厳密に手順を順守する。
D.2 測定原理
  1時間当たりのガス質量で表されるガス漏えい量miを測定し,5.2によって年間の体積分率(% a−1)で
表されるガス漏えい率Liを計算する。
  供試体又はそのエッジ部を密閉容器(コンテナ)に収める。密閉容器の内容積は,供試体の容積より僅
かに大きいものとする。規定時間内に供試体から漏れるガスは,ヘリウムの流れによって,熱伝導検出器
又は電子捕獲形検出器を介してガスクロマトグラフに運ばれ,漏えいガスの質量が測定される。
D.3 装置
D.3.1 フルコンテナ
  図D.1に示すフルコンテナは,次の部品から構成される。
a) 金属製の下面プレート部品
b) 銅製はく
c) 厚さ3 mm,供試体に応じた寸法の発泡プラスチック製マット
d) 金属製カバー
e) 締結部品
  下面プレート部品は,内側の底部が平らで,おおよその幅と長さは,360 mm×510 mmとする。フルコ
ンテナの寸法は,供試体の寸法に応じたものとし,供試体を設置した後の隙間ができる限り小さくなるよ
うにする。下面プレート部品の内側高さは,22 mmとする。下面プレートを構成する枠は供試体を固定す
るための縁を備えるものでよいが,供試体端部でのガスの流れに対する妨げとなってはならない。下面プ
レートを構成する枠には供給管用及びパージガス抽出用の二つの孔を備える。下面プレート部品には,保
護ガスの流れを補うために環状の溝を備えてもよい。

――――― [JIS R 3224-3 pdf 20] ―――――

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