JIS X 6127:1992 ３．８１ｍｍ幅，ヘリカル走査記録情報交換用磁気テープカートリッジ，ＤＤＳ様式 | ページ 13

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X 6127 - 1992
                 附属書A(規定)        プリズムの光透過率の測定法
A.1. この附属書は,プリズムの光透過率の測定装置及び測定方法を示す。
  光透過率は,測定装置で読み取ったカートリッジのプリズムの値と,基準プリズムの値の比とする。カ
ートリッジのプリズムの光透過率は,次の式による。
                            Pc
                         P=    100
                            Pr
                      ここに,   P :  カートリッジのプリズムの光透過率 (%)
                                Pc :  カートリッジのプリズムの読み
                                Pr :  基準プリズムの読み
A.2. 光源 光源は,波長850±50nm,半値幅±50nmの赤外発光ダイオード (LED) を使用する。
A.3. 光検出部 光検出部は,シリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。
A.4. 光学系 光学系は,図A2による。すべての表面は黒のつや消し仕上げとする。両方の光学測定装置
は図A1で示す基準プリズムを用い校正する。
  すべての測定装置は暗室に入れる。
              図A1 基準プリズム                           図A2 カートリッジプリズム
A.5. 基準プリズム 基準プリズムの仕様は,次による。
        光透過率 : 波長850±50nmで95%
        寸法    : 図A3に示す。

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                  附属書D(規定) テープの光透過率の測定法
D.1. 概要 この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。光透過率は,テープ試験片を
入れないときを100%とし,入れたときの比を百分率 (%) で表す。
D.2. 測定装置 測定装置の構成は,次による。
      光源
      光検出部
      測定用マスク
      光学系
      測定回路
D.2.1 光源 光源は,波長850±50nm,半値幅±50nmの発光ダイオード (LED) を使用する。
D.2.2 光検出部 光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。
D.2.3 測定用マスク 測定用マスクは,厚さを2mm,孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の80
100%の大きさに設定する。表面は,黒のつや消しとし,試験片は,マスクの孔を覆い周りの光が漏れな
いようにマスクに固定する。
D.2.4 光学系 光学系は,図D1による。光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離 (L) は,
次による。
                              d
                         L=
                            2 tan
  光軸上の最大強度に対して,95%以上の強度がある領域に          定する。
                                      図D1 光学系の構成
D.2.5 仕上げ 仕上げは,装置全体をつや消しの黒いケースで覆う。
D.2.6 測定回路(図D2) 測定回路の構成は,次による。
             E :  出力電圧を変えられる定電圧電源
             R :  電流を制限するための抵抗器
          LED :  発光ダイオード
            Di :  シリコンフォトダイオード
            A :  演算増幅器
        Rf0, Rf1 :  帰還用の抵抗器
             S :  増幅率切替え用スイッチ
            V :  電圧計

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X 6127 - 1992
  LEDに流れる電流,すなわち照射力は,供給電圧 (E) によって変えられ,Diは閉回路で動作する。演
算増幅器の出力は,V0=Ik×Rfによって求める。Ikは,Diの閉回路での電流とする。
  ここで,Rf0及びRf1は,精度1%の温度変化特性の少ない抵抗とし,Rf1は,Rf0の20倍に設定する。
                                        図D2 測定回路
D.3. 測定法 測定法は,次による。
D.3.1 スイッチSを位置0にする。
D.3.2 試験片を取り付けないで,電圧計Vの指示がフルスケール (100%) になるように供給電圧 (E) を設
定する。
D.3.3 リーダ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。電圧計の指示は,60100%を示す。
D.3.4 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチSを位置1にする。電圧計のフルスケールは,
光透過率5%を示す。

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              附属書E(規定) 信号対雑音比 (S/N) 特性の測定法
  信号対雑音比の測定は,分解能10kHzのスペクトラムアナライザを用い,試験条件は,本体8.による。
E.1. テープを交流消去する。
E.2. テープに記録密度3 002ftpmmで記録する。
E.3. 平均信号振幅 (Stape) を測定する。
E.4. 全雑音 (Ntotal) は,3.7MHzで測定する。
E.5. 再生系の雑音 (Namp) は,テープを装着しないでモータを回転させて3.7MHzで測定する。
                         N 2total−N 2amp
      テープ雑音 :  N tape=
       N amp
           は,70%未満とする。
       N tape
                                     S tape
      信号対雑音比 (S/Ntape) は,20 log   で算出し,デシベル (dB) で表す。
                                     N tape
E.6. 64回以上の測定平均による。
E.7. 副標準テープについてもE.1E.6の測定を行い,標準テープの信号対雑音比S/NMSRT (dB) を求める。
供試テープの信号対雑音比S/N (dB) は,次の式によって算出する。
     S/N= (S/Ntape−S/NMSRT)

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X 6127 - 1992
       附属書F(規定) 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法
  記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は,本体8.による。
F.1. 記録レベルの公称値の決定法
F.1.1 信号振幅副基準テープの記録密度1 501ftpmmの信号を再生し,読み出した値を信号振幅基準テープ
によって校正する。
F.1.2 交流消去した副標準テープに,記録密度1 501ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増やし
ながら記録し,読み出した値がF.1.1で求めた校正後の値と等しくなるまで記録電流を増やす。
F.1.3 交流消去した供試テープに対し,F.1.2で求めた記録電流で記録密度1 501ftpmmの信号を記録する。
読み出した値を,記録密度1 501ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
F.1.4 記録密度83.4ftpmm,333.6ftpmm,500.4ftpmm及び1 001ftpmmの値を求めるために,F.1.1F.1.3を
同様に繰り返す。
F.2. 記録レベルの最大許容値の決定法
F.2.1 交流消去した副標準テープに,記録密度1 501ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増やし
ながら記録し,読み出した値を,F.1.1で求めた校正後の値の118.9%と等しくなるまで記録電流を増やす。
F.2.2 交流消去した供試テープに,F.2.1で求めた記録電流で記録密度1 501ftpmmの信号を記録する。読み
出した値を,記録密度1 501ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
F.2.3 記録密度333.6ftpmm,500.4ftpmm及び1 001ftpmmの値を求めるために,F.2.1F.2.2を同様に繰り
返す。
F.3. 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは,この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので,
互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は,次による。
  記録密度83.4ftpmmでは,記録レベルの公称値とする。
  記録密度333.6ftpmm,500.4ftpmm,1 001ftpmm及び1 501ftpmmでは記録レベルの最大許容値とする。
    参考 互換性確保のために,記録レベルは,記録密度333.6ftpmm,500.4ftpmm,1 001ftpmm及び1
          501ftpmmで記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。

――――― [JIS X 6127 pdf 65] ―――――

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