JIS X 6144:2000 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，ＤＡ－２様式 | ページ 12

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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)

14.4 LBOP

 LBOPは,PBOPに続いて記録し,400トラックのLBOPブロックからなる。すべてのLBOP
のBIDは,0に設定する。

14.5 データ領域

14.5.1 概要

 データ領域は,LBOPに続いて記録され,データブロック及びギャップブロックからなる。
ファイルマーク及びセットマークは,ホストからの要求で記録する。診断ブロックは,周期的にデータブ
ロックに記録してもよい。データブロック又はショートファイルマークブロックは,誤りがあるとき,再
書込みしてもよい。クラスタ内の任意の物理ブロックの再書込みが必要な場合,クラスタ内のすべての物
理ブロックは,再書込みする。再書込み物理ブロックのブロックヘッダは,テープ上の位置を示すPIDを
除いて元のブロックヘッダと同じとする。物理ブロックをテープ上にさらに再書込みできるかは,DBID
フィールドによって決まる。クラスタは,繰り返し再書込みしてもよい。

14.5.2 ショートファイルマーク

 ショートファイルマークは,1個のショートファイルマークブロックか
らなる。

14.5.3 ロングファイルマーク

 ロングファイルマークは,2トラックのギャップブロック,それに続く2
トラック以上のロングファイルマークブロック及びそれに続く2トラックのギャップブロックからなる。
ロングファイルマークブロックの最初のトラックは,トラック1で始まる。すべてのロングファイルマー
クブロックのBIDは,同じとする。すべてのデータブロックは,RBCによって照合し,ロングファイルマ
ークを書き込む前に再書込みする。

14.5.4 セットマーク

 セットマークは,2トラックのギャップブロック,それに続く2トラックのセット
マークブロック及びそれに続く2トラック以上のギャップブロックからなる。セットマークブロックの最
初のトラックは,トラック1で始まる。すべてのセットマークブロックのBIDは,同じとする。すべての
データブロックは,RBCによって照合し,セットマークを書き込む前に再書込みする。

14.6 EOD

 EODは,データ領域の直後に書き込む。EODは,2トラックのギャップブロック及びそれに
続く400トラックのEODブロックからなる。データ領域は,EODに重ね書きし,追記録してもよい。

14.7 PEOP

 PEOPは,テープ上に記録しない。PEOPは,パーティションの終端で,パーティションの
データを次のパーティションに重ね書きしないようにする。PEOPのPIDは,LBOPブロックに記録する。
PIDがPEOPのPIDに一致したとき,すべてのホストデータの書込みは終了する。PEOPのPIDに続いて,
追加の32トラックを書き込む。このトラックの内容は,規定しない。

――――― [JIS X 6144 pdf 56] ―――――

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                                                                X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
                  附属書A(規定) テープの光透過率の測定法
A.1 概要 この附属書は,テープの光透過率の測定装置及び測定法を示す。
  光透過率は,測定装置に試験片を入れないときの計測値と入れたときの計測値の比を百分率 (%) で表す。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は,次による。
  − 光源
  − 光検出部
  − 測定用マスク
  − 光学系
  − 測定回路
A.2.1 光源 光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
  波長     : 850 nm±50 nm
  半値幅  : ±50 nm
A.2.2 光検出部 光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクは,厚さを2mmとし,孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の
80%100%の大きさに設定する。
  表面は,黒のつや消しとする。
  試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。
A.2.4 光学系(附属書A図1) 光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離 (L) は,次の
式による。
                              d
                         L
                            2 tan
                      ここに,   d :  mm
                                   懿   光軸上の最大光量に対して95%以上の光量がある領域に設定
A.2.5 仕上げ 装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路(附属書A図2) 測定回路は,次による。
  E          : 出力電圧可変の定電圧電源
  R          : 電流制限用の抵抗器
  LED        : 赤外線発光ダイオード
  Di         : シリコンフォトダイオード
  A          : 演算増幅器
  Rf0, Rf1   : 帰還用の抵抗器
  S          : 増幅率切替えスイッチ
  V          : 電圧計
  LEDに流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧 (E) によって変化させる。
  Diは,回路を閉じて動作させる。
  演算増幅器の出力電圧は,次による。
                        V0=Ik×Rf

――――― [JIS X 6144 pdf 57] ―――――

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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
                      ここに, Ik :  Diの閉回路での電流
  出力電圧は,光量に比例する。
  Rf0及びRf1は,許容誤差1%で,温度による抵抗変化の小さい抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,次
の式による。
                         Rf   1
                         Rf1  20
A.3 測定法 測定法は,次による。
− スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。
− 試験片を取り付けないで,電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるようにLEDの供給電圧
    (E) を変化させる。
− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。このときの電圧計は,60%100%を示す。
− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このときの電圧計
    のフルスケールは,光透過率5%を示す。
                                   附属書A図1 光学系の構成
                                     附属書A図2 測定回路

――――― [JIS X 6144 pdf 58] ―――――

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                     附属書B(規定)         ビットシフトの測定法
B.1 記録装置 試験テープは,情報交換に使用する磁気テープ装置で記録する。
  テープは,システムの動作に支障がないように記録されているものを用いる。
B.2 読取り装置 トラックの直線性が6             囲内に保持されている磁気テープ装置によってテープを
読み取る。読取りヘッドの出力電圧の絶対値は,規定しない。ただし,読取りヘッド,前置増幅器,回転
トランス及びヘッドとテープの相対速度は,低い信号対雑音比に起因する問題が発生しないように選択す
る。ヘッド,トランス,前置増幅器及び関連する回路の周波数応答特性は,低周波の場合,トランスによ
る。高周波の場合,前置増幅器による。
  読取りヘッド
  − ギャップ長  : 0.20        0.02  
  − トラック幅  : 11.5        1.0  
  − 正アジマス  : 20.009°±0.200°
  − 負アジマス  : −9.991°±0.200°
  ヘッドとテープとの接触及び読取りチャネル ヘッド,回転トランス,前置増幅器及び等化器の総合周
波数応答特性と共に,信号を測定する間ヘッドとテープとを安定に接触させ,信号対雑音比を15 dB以上
にする。
B.3 測定方法 平均ビットセルの長さ (L) は,試験ゼロ交差点 (TZC) の両側にある二つの基準ゼロ交差
点 (RZC) の間隔から得る。基準ゼロ交差点は,少なくとも両側にそれぞれ2個以上のビット “1” のゼロ
交差点をもつようなビット “1” のゼロ交差点とし,その変化率を2%未満に保つため,40ビットセル以下
とする。
  12.2に規定したビットシフト値は,ユーザーデータが11.14.の規定によって記録した場合に適用する。
B.4 データ分析 二つの基準ゼロ交差点の間にあるビットセルの数をnとしたとき,平均ビットセル長は,
次による。
                            P3  P1
                         L
                              n
  最初の基準ゼロ交差点と試験ゼロ交差点との間にmビットの間隔がある場合,ビットシフトは,次によ
る。
                             mL   P2  P1
                         BS                  %
                                  L
                      ここに, BS :  ビットシフト
                                 L :  平均ビットセル長
                                 Pn :  n番目の “1” パターンのゼロ交差点

――――― [JIS X 6144 pdf 59] ―――――

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                                    附属書B図1 波形の測定

――――― [JIS X 6144 pdf 60] ―――――

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