JIS X 6146:2001 8mm幅,ヘリカル走査記録,情報交換用磁気テープカートリッジ,AIT-1・MIC様式 | ページ 17

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X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)
1 1バイト
2 00000001 1バイト
3139 137バイト
140144 ボリューム0に設定 5バイト 72バイト
情報
145 テープ長とテープ厚 1バイト
146 フラグ 1バイト
147 最後のパーティション番号1バイト
148179 デバイス領域配置図 32バイト
180211 0に設定 32バイト
212781 570バイト
782797 16バイト
798845 パーティション0情報 48バイト
846861 16バイト
862909 パーティション1情報 48バイト
910925 16バイト
926973 パーティション2情報 48バイト
974989 16バイト
9901037 パーティション3情報 48バイト
10381053 16バイト
10541101 パーティション4情報 48バイト
11021117 16バイト
11181165 パーティション5情報 48バイト
11661181 16バイト
11821229 パーティション6情報 48バイト
12301245 16バイト
12461293 パーティション7情報 48バイト
12941309 16バイト
13101357 パーティション8情報 48バイト
13581373 16バイト
13741421 パーティション9情報 48バイト
14221437 16バイト
14381485 パーティション10情報 48バイト
14861501 16バイト
15021549 パーティション11情報 48バイト
15502048 メモリの最後から最小470バイト
図47 12パーティションの場合のMICの内容

――――― [JIS X 6146 pdf 81] ―――――

                                                                                             75
X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)
附属書A(規定) 光透過率の測定法
A.1 概要 この附属書は,テープ及びリーダの光透過率の測定装置及び測定法を示す。
光透過率は,測定装置に試験片を入れないときを100とし,入れたときの比を百分率 (%) で表す。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は,次による。
− 光源
− 光検出部
− 測定用マスク
− 光学系
− 測定回路
A.2.1 光源 光源は,次のパラメータをもつ赤外線発光ダイオード (LED) を使用する。
波長 : 850nm±50nm
半値幅 : ±50nm
A.2.2 光検出部 光検出部は,平らなシリコンフォトダイオードを用い,閉回路で動作する。
A.2.3 測定用マスク 測定用マスクは,厚さを2mmとし,孔の直径 (d) をフォトダイオードの受光領域の
80%100%の大きさに設定する。
表面は,黒のつや消しとする。
試験片は,マスクの孔を覆い,かつ,周りの光が漏れないようにマスクに固定する。
A.2.4 光学系(附属書A図1) 光は,マスクに垂直に入射し,光源からマスクまでの距離 (L) は,次の
式による。
d
L=
2 tan
光軸上の最大強度に対して95%以上の強度がある領域に設定する。
A.2.5 仕上げ 装置全体は,つや消しの黒いケースで覆う。
A.2.6 測定回路(附属書A図2) 測定回路は,次による。
E : 出力電圧可変の定電圧電源
R : 電流制限用の抵抗器
LED : 赤外線発光ダイオード
D1 : シリコンフォトダイオード
A : 演算増幅器
Rf0,Rf1 : 帰還用の抵抗器
S : 増幅率切替えスイッチ
V : 電圧計
LEDに流れる電流,すなわち,照射力は,供給電圧 (E) によって変化する。
D1は,閉回路で動作する。
演算増幅器の出力は,V0=Ik×Rfで与えられる。ここで,Ikは,Diの閉回路での電流とする。
出力電圧は,光の明るさに比例する。

――――― [JIS X 6146 pdf 82] ―――――

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X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)
Rf0及びRf1は,許容誤差1%で,温度による抵抗変化の少ない抵抗器とする。これらの抵抗値の比は,次
の式による。
Rf 0= 1
Rf1 20
A.3 測定法 測定法は,次による。
− スイッチ (S) を位置 (0) に設定する。
− 試験片を取り付けないで,電圧計 (V) の指示がフルスケール (100%) になるように供給電圧 (E)
を変化させる。
− リーダテープ又はトレーラテープをマスクに取り付ける。電圧計は,60%100%を示す。
− 磁気テープの試験片をマスクに取り付ける。スイッチ (S) を位置 (1) に設定する。このとき,電圧
計のフルスケールは,光透過率5%を示す。
附属書A図1 光学系の構成
附属書A図2 測定回路

――――― [JIS X 6146 pdf 83] ―――――

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X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)
附属書B(規定) 信号対雑音比の測定法
信号対雑音比の測定は,分解能10kHzのスペクトラムアナライザを用いる。試験条件は,特に規定がな
い限り,本体10.による。
B.1 テープを交流消去する。
B.2 テープに記録密度2 857.1ftpmmで記録する。その記録周波数をf1で表す。
B.3 信号振幅の実効値は,読取りヘッドが最初にテープに接触して1ms後から測定を開始し,1msの時間
にわたってスペクトラムアナライザを掃引して測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定
値とし,8回分の測定値の平均値を求める。これをStapeとする。
これらの8回の掃引の際,周波数f2で全雑音レベルの実効値を測定する。ここで,f2は,f1より2MHz
低い周波数とする。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし,100回分の測定値の平均値を求
める。これをNtotalとする。
B.4 周波数f2の再生系雑音レベルの実効値は,同じ1msの時間にわたって,テープを巻き付けずにモータ
を回転させて測定する。1回の掃引によって得た測定値を1回分の測定値とし,8回分の測定値の平均値を
求める。これをNampとする。
B.5 信号対雑音比は,次による。
Stape
20 log
Ntape
2 2
ここに, テープ雑音 : Ntape= −Namp
Ntotal
Namp
は,0.7未満とする。
Ntape
B.6 テープの信号対雑音比 (SNRtape) は,B.3B.5を10回以上繰り返し測定した平均値とする。
B.7 二次基準テープについてもB.1B.6の測定を行い,二次基準テープの信号対雑音比SNRMSRTを求める。
供試テープの信号対雑音比は,次による。
(SNRtape−SNRMSRT) dB

――――― [JIS X 6146 pdf 84] ―――――

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X 6146 : 2001 (ISO/IEC 18809 : 2000)

附属書C(規定) 記録レベルの公称値及び最大許容値の決定法(記録条件)

  記録レベルの公称値及び最大許容値の試験条件は,本体10.による。
C.1 記録レベルの公称値の決定法
C.1.1 信号振幅二次基準テープの記録密度3 809.5ftpmmの信号を再生し,読み取った値を信号振幅二次基
準テープによって校正する。
C.1.2 交流消去した二次基準テープに,3 809.5ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増やしなが
ら記録し,読み取った値がC.1.1で求めた値と等しくなるまで記録電流を増やす。
C.1.3 交流消去した供試テープに対し,C.1.2で求めた記録電流で3 809.5ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を,記録密度3 809.5ftpmmでの記録レベルの公称値とする。
C.1.4 記録密度1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmの値を求めるために,C.1.1
C1.3を同様に繰り返す。
C.2 記録レベルの最大許容値の決定法
C.2.1 交流消去した二次基準テープに,記録密度3 809.5ftpmmの信号を記録電流が小さい値から徐々に増
やしながら記録し,読み取った値がC.1.1で求めた校正後の値の120%になるまで記録電流を増やす。
C.2.2 交流消去した供試テープに対し,C.2.1で求めた記録電流で3 809.5ftpmmの信号を記録する。読み取
った値を,記録密度3 809.5ftpmmでの記録レベルの最大許容値とする。
C.2.3 記録密度1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmの値を求めるために,C.2.1
C2.2を同様に繰り返す。
C.3 記録レベルの限界値 極端な記録レベルは,この規格を用いた記録システムの動作に支障を来すので,
互換性が得られる記録レベルの限界値を決める必要がある。限界値は,次による。
記録密度1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm及び3 809.5ftpmmでは,記録レベルの最大許容値
とする。
参考 互換性確保のために,記録レベルは,記録密度1 428.6ftpmm,1 904.8ftpmm,2 857.1ftpmm及び
3 809.5ftpmmで,記録レベルの公称値を超えないことが望ましい。

――――― [JIS X 6146 pdf 85] ―――――

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JIS X 6146:2001の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 18809:2000(IDT)

JIS X 6146:2001の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6146:2001の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称