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b) 0.5 上の精度で校正した縁位置センサで,試験片のテープ基準縁の長さ250 mmにわたって0.25
mm間隔に1 001か所を測定する(図26参照)。
c) 1201の測定値で,線形回帰解析を用いて長さ50 mmのテープ基準縁位置の平均値を算出する(図
27参照)。
d) ) の201個の測定値の中で平均テープ基準位置からの最大偏差を求める(図27参照)。
e) 2202,3203続いて8011 001の測定値について,c) 及びd) を繰り返し算出する。
f) 801個の測定値から得た801個の最大偏差の平均値を,テープ縁の波形とする。
エッジ位置センサ
テープ フランジガイド
250 mm
0.050 N 0.050 N
図 26 テープ縁の波形の測定
テープ基準縁
最大偏差
算出基準縁位置
50 m
図 27 テープ縁の波形
9.4 連続性
テープは,PBOTとPEOTとの間に継ぎ目及び孔のような不連続があってはならない。
9.5 テープの厚さ
9.5.1 磁気テープの厚さ 磁気テープの厚さは,4.95.5 mとする。
9.5.2 クリーニングテープの厚さ クリーニングテープの厚さは,8.59.5 mとする。
9.5.3 リーダテープ及びトレーラテープの厚さ リーダテープ及びトレーラテープの厚さは,917 m
とする。
――――― [JIS X 6149 pdf 36] ―――――
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9.5.4 スプライシングテープの厚さ スプライシングテープの厚さは,20 m以下とする。
9.6 長手方向の湾曲
長手方向の湾曲は,曲率半径33 m以上とする。
試験方法は,次による。
a) 長さ1 mのテープを平面上に自然の状態で置く。
b) 1 mの弦からの偏差を測定する。
c) 偏差は,3.8 mm以下とする。この偏差は,33 mの曲率半径と一致する。
9.7 カッピング
カッピングは,平面からテープ幅方向での浮き上がり量とし,0.9 mm以下とする。
試験方法は,次による。
a) テープを長さ150 mm ± 10 mmに切り取る。
b) 磁性面を試験環境の雰囲気に露出するように垂らして3時間以上放置する。
c) 中心間35 mm離して水平に置いた2個の円筒型ガイドにテープを置く。
d) テープの両端に0.3 gのおもりを付ける。
e) テープの縁で決まる面とこの面からの最大偏差の距離を測定する。
9.8 磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度
磁性面の接着強度は,磁性面をテープのベース材料から
はがす力とし,0.10 N以上とする。
試験方法は,次による(図28参照)。
a) 長さ約380 mmのテープの試験片を採り,一方の端から125 mmの位置でテープ幅方向にけがき線を
ベース面に達するまで引く。
b) 磁性面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。
c) 試験片を180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254 mm/分で引っ
張る。
d) 磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が0.10 Nに達
する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は,別の種類の両面接着テープを使用する。
テープの裏面に塗布されている場合は,a) d) に準じ,裏面の試験を行う。
試験面
けがき線
125 mm 両面接着テープ
図 28 磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法
9.9 層間の粘着
層間の粘着は,次の試験方法によって試験したとき,試験片に粘着及び磁性面又は磁
気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。
――――― [JIS X 6149 pdf 37] ―――――
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a) 直径36 mmのガラス管の表面に,長さ1 mの試験片の端を付ける。
b) 1.1 Nの張力でガラス管にテープを巻く。
c) 巻かれた試験片を温度45 °C ± 3 °C,相対湿度80 %の環境の中に4時間放置する。
d) さらに,試験環境条件に24時間放置する。
e) 試験片の自由端に0.1 Nの力を加え,ゆっくりほどく。
9.10 引張強度
引張強度は,JIS K 7161の試験方法による。
テープの試験片の長さは,200 mmとする。リーダテープの試験片の長さは,50 mmとする。トレーラ
テープの試験片の長さは,50 mmとする。引張速度は,100 mm/分とする。
9.10.1 破断強度 破断強度は,テープが破断するまで負荷をかけたときとし,その値は,8 N以上とする。
9.10.2 降伏強度 降伏強度は,テープが5 %伸びるまで負荷をかけたときとし,その値は,4 N以上とす
る。
9.11 残留伸び
残留伸びは,元のテープの長さの0.04 %未満とする。
試験方法は,次による。
a) 0.20 N以下の張力で,約1 m長の試験片の初期の長さを測定する。
b) さらに,全断面に20.5 N/mm2の力を10分間加える。
c) 加えた力を取り除き,10分後にテープ長を測定する。
9.12 磁性面の電気抵抗
テープの磁性面の電気抵抗は,103 圀 下とする。
試験方法は,次による(図29参照)。
a) テープ試験片を,試験環境条件に24時間放置する。
b) 24 Kの金めっきを施した半径r =10 mmで粗さをN4(ISO 1302参照)で仕上げてある二つの半円の電
極に,記録面が接するように置く。これらの電極は,水平で,中心間の距離d = 8 mmとなるように平
行に置く。
c) 5 N/mm2の張力を発生させるために必要な力Fを試験片の両端に加える。
d) 電極に7 V ± 1 Vの直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。
この測定を一つのテープの試験片の5か所について行い,読み取った抵抗値を平均する。
試験片を電極に置くとき,電極間には,試験片以外の導電性のものがあってはならない。
備考 試験前に電極の表面を清掃する。
r r
d
F F
図 29 磁性面の電気抵抗試験法
――――― [JIS X 6149 pdf 38] ―――――
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9.13 テープの巻き方
テープの巻き方は,テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。
9.14 テープの光透過率
磁気テープ及びクリーニングテープの光透過率は,5 %以下とする。
リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は,60 %以上とする。
光透過率の測定方法は,附属書Aによる。
9.15 研磨性
テープの研磨性は,テープ走行系に対する磨耗度とし,附属書Bによって測定する。磁気
テープの場合,磨耗試験用バーに生じる磨耗パターンは,あってはならない(附属書B.3参照)。クリーニ
ングテープの場合,磨耗試験用バーに生じる磨耗パターンの長さは,8 1
10. 磁気的特性
磁気的特性の試験は,次による。
この試験を行うとき,出力信号又は残留信号の測定は,主基準テープ,供試テープともに同じ装置の同
じ走行系を使用し,記録時再生によって行う。
規定がない限り,正アジマストラックを使用して試験する。
10.1 試験条件
磁気的特性の試験条件は,次による。
テープの状態 : 記録密度3 704 ftpmm の平均信号振幅の2 %未満に交流消去
ヘッド/テープ速度 : 14.627 5 m/秒 ± 0.043 9 m/秒
テープ張力 : スキャナ(ドラム)入口で0.10 N 0.02 N
トラック幅 : 9.91 1.00
記録ヘッドのギャップ長 : 0.27 0.02
再生ヘッドのギャップ長 : 0.16 0.02
ギャップアジマス : 20.009゜ ± 0.200゜
記録電流 : 試験記録電流
記録波形 : 方形波
10.2 ティピカル磁界
ティピカル磁界は,基準磁界の80120 %とする。
主基準テープの基準磁界との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。
10.3 平均信号振幅
平均信号振幅は,記録密度3 704 ftpmmで記録したとき,主基準テープの平均信号振
幅の80130 %とする。
主基準テープの平均信号振幅との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。
10.4 分解能
分解能は,記録密度 3 704 ftpmmの平均信号振幅を1 447 ftpmmの平均信号振幅で除した値
とし,その値は,主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して80120 %とする。
主基準テープの分解能との関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。
10.5 信号対雑音比
信号対雑音比(SNR)は,平均実効リード信号振幅を平均雑音振幅の積分で除した値と
し,デシベル(dB)で表す。
要求事項
平均実効リード信号振幅
SNR 20 log dB
平均雑音振幅の積分
供試テープのSNR (SNRtape) は,主基準テープのSNR (SNRMSRT) より2 dB以上とする。
SNRMSRTとの関係付けは,二次基準テープの校正値によって保証される。信号対雑音比は,分解能3 kHz
のスペクトラムアナライザを使用して測定する。
試験方法は,次による。
a) 供試テープは,交流消去する。
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b) 3 704 ftpmmでテープに記録する。その記録周波数は,f1とする。
c) スペクトラムアナライザを使用して実効信号振幅を測定する。リードヘッドがテープに最初に接触し
て1 ms後測定を開始し,1 ms間測定する。各スィープで一回測定し,8回の平均値Stapeを算出する。
f1より2 MHz低い周波数f2で全体の雑音レベルを1 ms間測定する。同様に得る。各スィープで1
回測定し,100回の平均値Ntotalを算出する。
d) テープは装着せずにモータを回転させて,c) のように1 ms間周波数f2でリード実効チャネル雑音レ
ベルを測定する。各スィープで一回測定し,8回の平均値Nampを算出する。
e) この試験で信号対雑音比,20 log Stape/Ntape dBを算出する。
ここに,
Ntape N2total N2amp
Namp
は,0.7以下とする。
Ntape
f) 10回以上 c),d) 及びe) を繰り返す。10個の信号対雑音比の平均値からテープの信号対雑音比SNRtape
を求める。
g) 二次基準テープについてa) f) まで繰り返し,SNRMSRTを求める。信号対雑音比の特性は,SNRtape -
SNRMSRTdBとする。
10.6 消去特性
消去特性は,試験記録電流3 704 ftpmmで記録密度926 ftpmmの信号を記録した後,テー
プの長手方向に320 000 A/mの均一な磁界中を通過したとき,残留信号の信号振幅は,標準信号振幅の2 %
以下とする。消去磁界は,ソレノイドの中央部の磁界のように,均一でなければならない。また,測定は
バンドパスフィルタを通し,少なくとも第3高調波まで行う。
10.7 テープの品質
テープの品質は,次による。
10.7.1 ミッシングパルス ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損とし,再生信号の出力電圧の0 Vを
基準としたピーク値(0-P)が記録密度3 704 ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の40 %以下のときとする。
10.7.2 ミッシングパルスゾーン ミッシングパルスゾーンは,次による。
ミッシングパルスゾーンは,ミッシングパルスによって開始し,トラック方向に1 mmの長さに達した
とき終了する。ミッシングパルスが連続して1 mmを超えて発生したとき,次のミッシングパルスゾーン
とする。
一つのミッシングパルスゾーンは,次のトラックにまたがってはならない。
ミッシングパルスゾーンの発生頻度は,正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について5 × 106
の磁束反転当たり1個未満とする。
10.7.3 重ね書き 重ね書きは,低記録密度の信号を記録をした後に,高記録密度の信号を重ね書きし,残
留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。
主基準テープの重ね書きの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
試験方法は,次による。
a) テープを交流消去する。
b) 記録密度926 ftpmmの信号を記録し,平均信号振幅を測定する。
c) 記録密度3 704 ftpmmの信号を重ね書きし,残留した記録密度926 ftpmmの信号の平均信号振幅を測
定する。
d) 二次基準テープについて繰り返し測定する。
――――― [JIS X 6149 pdf 40] ―――――
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JIS X 6149:2003の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.220 : データ蓄積装備 > 35.220.23 : 磁気テープ用カセット及びカートリッジ
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