JIS X 6175:2006 情報技術―情報交換用12.7mm幅,384-トラック磁気テープカートリッジ―ウルトリウム1様式 | ページ 3

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X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)
SSRTは,日常校正に使用する第三次基準テープを校正するのに用いる。
4.54 サーボ取得領域 (servo acquisition region) サーボ信号記録に使用するテープ上の領域。
4.55 基準振幅 [standard reference amplitude (SRA) ] 主基準テープに密度TRD1で記録し,これを再生した
ときの出力電圧の平均値。基準振幅との偏差は,二次基準テープとともに供給する校正値表による。
4.56 シンボル (symbol) データの1バイト,データバイトの1列又は制御情報を圧縮アルゴリズムによ
って生成するビットの列。
4.57 同期コードワードクワッド [synchronized codeword quad (SCQ) ] RLLで符号化するコードワードク
ワッドへ同期パターンを挿入することによって形成する直列ビットストリーム。
4.58 試験記録密度 [test recording density (TRD) ] 特定の試験で実施する記録密度。試験記録密度は,TRD1,
TRD2及びTRD3の3種類がある(12.1参照)。
4.59 ラップ (wrap) 物理的順方向又は物理的逆方向に記録した一つのトラック群。
4.60 書込み等価 (write equalisation) 入力2進数の順序を別の2進数順序に線形変換するアルゴリズム処
理。
4.61 (1,7)RLL符号[(1,7)RLL code] “1”の間の“0”を1個以上7個以下で出力するランレング
スリミテッド(RLL)符号化手法。

5. 表記法

5.1 数字の表現

 数字の表現は,次による。
− 測定した値は,対応する規定値の最小有効数字に対応して丸める。すなわち,規定値が1.26,正の許
容誤差が0.01,負の許容誤差が0.02である場合,測定した値は,1.235以上1.275未満を許容する。
− 各ブロック及び各フィールドのバイトは,最上位バイト(バイト0)を最初に処理する。各バイト内
のビットは,最上位ビット(ビット7)を最初に処理し,最下位ビット(ビット0)を最後に処理する。
− 16進数は,丸括弧に数字及び英文字で表す。
− ビットの設定は,“0”又は“1”で表す。
− ビットの組合せ及び2進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,“0”及び“1”の列で表す。数列内
で,Xは,未定義ビットを示すために用いてもよい。

5.2 寸法

 図の寸法は,指定しない限りミリメートル表示とし,その公差は,±0.50 mmとする。

5.3 名称

 名称は,英語表記の場合の頭文字を規定しているもので,この規格では規定しない。

5.4 英数字文字列符号化

 規定がない限り,英数字文字列は,すべてJIS X 0201を用いて符号化する。

6. 略号

ACN   絶対CQシーケンス数 (Absolute CQ Sequence Number)
BOT テープの始端 (Beginning of Tape)
BBSNR 広帯域信号対雑音比 (Broad Band Signal-to-Noise Ratio)
BOW ラップマークの始端 (Beginning of Wrap ark)
CRC 巡回冗長検査文字 (Cyclic Redundancy Check character)
DSIT データセット情報表 (Data Set Information Table)
ECC 誤り訂正符号 (Error-Correcting Code)
EOD データの終端 (End of Data)
EOT テープの終端 (End of Tape)

――――― [JIS X 6175 pdf 11] ―――――

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X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)
EOW ラップマークの終端 (End of Wrap mark)
FID フォーマット識別データセット (Format Identification Data Set)
LPn 論理箇所 (Logical Point),ここに,n=07
LPOS 長手方向位置 (Longtitudinal Position)
lsb 最下位ビット (Least Significant Bit)
LSB 最下位バイト (Least Significant Byte)
msb 最上位ビット (Most Significant Bit)
MSB 最上位バイト (Most Significant Byte)
MSRT 主基準テープ (Master Standard reference Tape)
RLL ランレングスリミテッド (Run Length Limited)
RWW 記録時再生 (Read-While-Write)
SCQ 同期コードワードクワッド (Synchronised Codeword Quad)
SNR 信号対雑音比 (Signal-to-Noise Ratio)
SRA 基準振幅 (Standarad Reference Amplitude)
SSRT 二次基準テープ (Secondary Standard reference Tape)
TRD 試験記録密度 (Test Recording Density)

7. 環境条件及び安全性

 次によって規定する条件は,装置内部のカートリッジの近傍の環境とする。

7.1 カートリッジ及びテープの試験環境条件

 この規格の用件を検査するために,カートリッジ及びテ
ープの試験及び測定は,規定がない限り次の条件による。
温度 23 ℃±2 ℃
相対湿度 40 %60 %
試験前放置時間 24時間以上

7.2 カートリッジ使用環境条件

 データ交換カートリッジは,次の条件で使用できなければならない。
温度 10 ℃45 ℃
相対湿度 10 %80 %
湿球温度 26 ℃以下
備考 52 ℃を超えるテープ周囲温度は,永久的なテープの損傷を起こすことがある。カートリッジは,
保存時又は輸送時に使用環境条件を越えた場合,使用環境条件以外の環境条件に放置した時間
と同等以上使用環境条件に放置してから使用しなければならない。ただし,最大24時間として
もよい。カートリッジの内部及び表面は,結露してはならない。

7.3 カートリッジの保存環境条件

 カートリッジは,次の条件で保存しなければならない。
温度 16 ℃32 ℃
相対湿度 20 %80 %
湿球温度 26 ℃以下
周辺磁場は,テープ上のどの点でも4 000 A/mを超えてはならない。カートリッジの内部及び表面は,
結露してはならない。

7.4 テープ張力

 LP1とLP6との間のテープは,いかなる環境でも2.0 Nより大きい張力を掛けてはなら
ない。これ以外の部分のテープは,6.0 Nより大きい張力を掛けてはならない。

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X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)

7.5 安全性

 カートリッジ及びその構成部品は,情報処理システムで適正使用時又は予想可能な使用時
に,IEC 60950-1の要件を満たさなければならない。

7.6 燃焼性

 カートリッジ及びその構成部品の材料は,マッチなどの炎などによって着火してもよいが,
二酸化炭素中で燃焼し続けてはならない。

7.7 輸送

 カートリッジの輸送環境に対する推奨条件及び損傷を最小限にするための注意事項を,附属
書Gに参考として示す。

8. カートリッジの寸法及び機械的特性

8.1 カートリッジの要素

 テープカートリッジは,次の要素からなる。
− ケース
− 位置決めノッチ
− ハンドリングノッチ
− 書込み禁止機構
− 磁気テープ用リール
− リールロック機構
− リールのハブに巻かれた磁気テープ
− リーダピン
− リーダピン保持
− スライド扉
− カートリッジメモリ
− ハンドリング部
寸法特性は,カートリッジを使用するうえでの互換性及び交換性に必す(須)となるパラメータについ
て規定する。設計に自由度がある場合,その要素の機能上の特性だけを記載する。次の図面には,第三角
法で標準的な例を示している。
図1 : カートリッジの全体外観
図2 : 基準面A,基準面B及び基準面Cの外観
図3 : 底面
図4 : 上面
図5 : 後面
図6 : 前面
図7 : 右面
図8 : 扉が開いている状態の左面
図9 : リールのロック解除パッド部
図10 : 未装着時のハブ及びブレーキアセンブリの断面
図11 : 図10の部分拡大図
図12 : カートリッジを装置に装着したときのハブ及びブレーキアセンブリの断面
図13 : 歯を直径37.50 mmの位置で切り取り,リールの中心方向の外観の断面
図14 : 歯部分の断面
図15 : 側面及び上面から見たテープが付いた状態のリーダピンアセンブリ
図16 : 保持位置にあるリーダピンアセンブリ及び閉じた状態の扉の詳細

――――― [JIS X 6175 pdf 13] ―――――

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X 6175 : 2006 (ISO/IEC 22050 : 2002)
図17 : 保持位置にあるリーダピンアセンブリ及び開いた状態の扉の左面
図18 : LTO CMの位置
図19 : ハンドリンググリップ及びカートリッジ挿入方向の表示

8.2 ケースの基準面(図2)

寸法は,三つの直交する基準面A,基準面B及び基準面Cについて示す。装置内部のカートリッジの位置に関連する寸法は,P面を基準としてもよい。
三つの位置決め領域A1,A2及びA3は,基準面Aとする。基準面Bは,基準面Aに垂直で,位置決め
孔B1の中心及び位置決めスロットB2の中心線を通る面とする。基準面Cは,基準面A及び基準面Bに垂
直で,位置決め孔B1の中心を通る面とする。

8.3 ケースの寸法

 ケースの寸法は,7.1の試験環境で測定する。動作環境でのケースの寸法は,8.3で
規定する寸法にすることができる。
8.3.1 全体の寸法(図4,図6及び図8)
ケースの長さは,次による。
l1 = 102.00 mm±0.30 mm
ケースの幅は,次による。
l2 = 105.40 mm±0.30 mm
ケースの高さは,次による。
l3 = 21.50 mm±0.25 mm
スタック部の高さは,l3に含まない。
ケースの垂直及び水平の端には,曲面を付けることとする。
垂直方向の端の半径は,次による。
r1 = 2.00 mm±0.50 mm
水平方向の端の半径は,次による。
r2 = 1.00 mm±0.50 mm
他のすべての部分には,半径0.50 mm以下の曲面を付けることとする。
8.3.2 基準面の基準点(図3) 位置決め領域A1,A2及びA3は,カートリッジ底面と同一面とする。位
置決め領域A4は,自由状態で基準面Aから0.25 mm以内とする。これらの位置決め領域は,機構及びハ
ンドリング装置の基準点にカートリッジを正確に位置決めできるようにシボを付けてはならない。
位置決め領域A1,A2,A3及びA4の大きさ及び位置は,次による(図3参照)。
位置決め領域A1の中心は,基準面B及び基準面Cの交差する位置にあり,その位置は,次による。
l4 = 20.50 mm±0.20 mm
l5 = 11.45 mm±0.20 mm
その直径は,次による。
d1 ≧ 7.80 mm
位置決め領域A2は,だ円形で,その長さは,次による。
l6 ≧ 1.80 mm
だ円形の終端の半径は,次による。
r3 ≧ 3.80 mm
位置決め領域A2の中心は,基準面Bにあって,基準面Cからの距離は,次による。
l7 = 86.15 mm±0.25 mm
正方形の位置決め領域A3の位置は,次による。

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l8 ≧ 13.75 mm
l9 ≧ 4.75 mm
正方形の位置決め領域A4の位置は,次による。
l10 ≧ 13.75 mm
l11 ≧ 4.75 mm
位置決めのB1及びB2の基準面Bに対する位置は,次による。
B1は,位置決め領域A1の中心とし,四隅が最大半径1.00 mmの円弧で正方形の一辺は,次による。
l12 = 3.00 mm±0.08 mm
B2は,位置決め領域A2の中心とし,一辺のスロットは,次による。
l12 = 3.00 mm±0.08 mm
B1及びB2の深さは,次による。
l13 ≧ 5.00 mm
8.3.3 位置決めノッチ(図3,図6及び図7) カートリッジは,底面に3か所の位置決めノッチ及び前面
に一つの二次基準領域を設けなければならない。面にこう配がある場合,寸法は,注記しない限り基準面
Aで規定することとし,こう配の角度は,0°45′公称とする。
V形ノッチの中心は,次による。
l14 = 81.95 mm±0.15 mm
l15 = 15.47 mm±0.15 mm
V形ノッチの谷の半径は,次による。
r4 ≦ 1.50 mm
開口部の角度は,次による。
α1 = 60°±1°
V形ノッチの深さは,次による。
l16 ≧ 8.90 mm
V形ノッチの位置は,基準面Aから3.0 mmの位置で,3.50 mmの球状プローブを使って測る。
2か所の位置決めノッチの寸法は,次による。
l17 = 47.50 mm±0.15 mm
ノッチの長さは,次による。
l18 = 5.00 mm±0.15 mm
ノッチの幅は,次による。
l19 ≧ 2.80 mm
ノッチの深さは,次による。
l20 ≧ 8.70 mm
カートリッジ前面の二次基準領域は,次による。
l300 ≧ 8.00 mm
l301 ≦ 7.50 mm
l302 ≧ 13.50 mm
領域は,基準面Aからこう配が付いてもよく,基準面Aから3.0 mmの位置で球状プローブによって測
定したとき,基準面Bからの位置は,次による。
l303 = 20.36 mm±0.10 mm

――――― [JIS X 6175 pdf 15] ―――――

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  • ISO/IEC 22050:2002(IDT)

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