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図12 インデックスパルスの発生位置
14.2.2 サーボデータ
サーボデータの3種類 (SVDT 1,SVDT 2,SVDT 3) は,図10に示すとおり記録
する。
最外周のサーボトラック番号−6.5から−1.5までの6個のサーボトラックは,SVDT 1を記録する。
サーボトラック番号−0.5から+256.5に記録するSVDT 1,SVDT 2及びSVDT 3の各信号 (SVDT i) は,
次の式によってサーボトラック番号のトラックに記録する。
i=rem [(N+0.5) ,3] +1
ここに, N : サーボトラック番号 (−0.5,+0.5,······,+256.5)
rem (x,y) : xをyで割った整数除算の剰余。
SVDT 1SVDT 3の記録位置及びサーボ信号は,次による。
a) VDT 1は,SVID A又はSVID Bの記録終了後から1.5バイト長を消去し,18.5バイト長のサーボ信
号を記録し,以後46バイト長を消去する。
b) VDT 2は,SVID A又はSVID Bの記録終了後から23バイト長を消去し,18.5バイト長のサーボ信号
を記録し,以後24.5バイト長を消去する。
c) VDT 3は,SVID A又はSVID Bの記録終了後から44.5バイト長を消去し,18.5バイト長のサーボ信
号を記録し,以後3バイト長を消去する。
d) VDTのサーボ信号は,1 250 000ftpsで1磁束反転,625 000ftpsで73磁束反転,及び1 250 000ftpsで
1磁束反転を順次記録する。
――――― [JIS X 6227 pdf 26] ―――――
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図13 フレキシブルディスク(0面側)
――――― [JIS X 6227 pdf 27] ―――――
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図14 フレキシブルディスク(1面側)
図15 フレキシブルディスクの上部の詳細図(0面側)
――――― [JIS X 6227 pdf 28] ―――――
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図16 ディスク及びハブ
図17 フレキシブルディスクとディスク装置との接触断面図
――――― [JIS X 6227 pdf 29] ―――――
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附属書A(規定) 可とう性の測定方法
A.1 概要 この試験は,装置にフレキシブルディスクを挿入したとき,適正な平面が維持できることを調
べるために,フレキシブルディスクの規定の基準面を支持して,支柱に対応する点に力を加えて行う。
A.2 フレキシブルディスクの可とう性の測定点 測定点は,附属書A図1に示すa,b,c,dの4点とし,
その間隔 (l5) ,(lx) は,次による。
l5=80.0mm±0.2mm
lx=62.0mm±0.2mm
測定点a及びbは,それぞれ第1基準孔及び第2基準孔とする。
附属書A図1 測定点
A.3 可とう性試験装置 可とう性試験装置は,附属書A図2に示すように,平板上に垂直に立てた支柱
P1P5からなる。支柱P1,P2,P3,P4は,測定点a,b,c,dに対応した位置に設け,支柱P5は,平板上
の中央で駆動軸に対応した位置に設ける。
P1P5の寸法は,次による。
a) 1,P2の寸法 支柱P1及びP2の寸法は,附属書A図3及び次による。
d1=6.00mm±0.01mm
d2=3.00mm±0.01mm
h1≦1mm
h2≦2mm
b) 3,P4の寸法 支柱P3及びP4の寸法は,附属書A図3及び次による。
d5=6.00mm±0.01mm
c) 5の寸法 支柱P5の寸法は,附属書A図3及び次による。
――――― [JIS X 6227 pdf 30] ―――――
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