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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
d3=12.70mm±0.01mm
d4=3.98mm±0.01mm
03
.000
h3=2.20mm +
−.0mm
r=2.5mm±0.3mm
d) 1P4の上端面の平面度 支柱P1,P2,P3及びP4の上端面の高さの公差は,0.02mm以内とする。
附属書A図2 試験装置
附属書A図3 支柱の寸法
A.4 試験方法 フレキシブルディスクの測定点a,b,c,dを可とう性試験装置の支柱P1,P2,P3及びP4
上に置き,各測定点に対応する上部の4点にそれぞれ0.6Nの力を加えて,各支柱とフレキシブルディスク
とが接触しているかを調べる。
――――― [JIS X 6227 pdf 31] ―――――
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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
附属書B(規定) 光透過率の測定方法
B.1 概要 この附属書は,書込み禁止孔の光透過率とカバーの光透過率を測定する測定装置及び測定方法
について規定する。
光透過率は,サンプルを測定装置に入れたときの読取り値とサンプルを入れないときの読取り値との比
を百分率で表す。測定装置は,光源,シリコンホトダイオード,光学系及び測定回路で構成する。
B.2 測定装置
B.2.1 光源 光源は,次の特性をもつ赤外線発光ダイオード (LED) を用いる。
最大放射光の波長 : 940nm±10nm
半値幅 : ±50nm
B.2.2 受光器 受光器は,平たん(坦)なシリコンホトダイオードを用い,閉回路で動作させる。ダイオ
ードの受光面は,マスクの開口面積の100%120%とする。
B.2.3 光路(附属書B図1参照) 装置の光軸は,ケース1面に垂直とし,LEDの放射面からケースまで
の距離は,次の式による。
5.3
l1=
2 tan
ここに, l1 : LEDの放射面からケースまでの距離 (mm)
3.5 : 本体の8.1.7.2のl49の最小寸法 (mm)
懿 光軸上でLEDの最大光度の95%以上を得るために必要な角度
(rad)
開口部の厚さは,1.2mm1.4mmとし,寸法 (d,l2) は次による。
d= (2l2 tan愀
l2= (l1+1.5) m
開口部の表面は,黒色つや消しとし,装置全体を暗箱中に収めなければならない。
B.2.4 測定回路 測定回路部品は,次によって構成し,その推奨回路を附属書B図2に示す。
E : 出力電圧可変の安定化電源
R : 電流制限用抵抗器
LED : 赤外線発光ダイオード
Di : シリコンホトダイオード
A : 演算増幅器
Rf0,Rf1 : 帰還用抵抗器
S : 切換スイッチ
V : 電圧計
LEDに流す電流(発生する光の強度)は,出力電圧可変の安定化電源によって変化させる。シリコンホ
トダイオードは,閉回路で作動させる。
演算増幅器の出力電圧 (V0) は,光強度と直線関係にあり次の式による。
V0=lkRf
ここに, lkは,Diの閉回路電流
――――― [JIS X 6227 pdf 32] ―――――
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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
Rf0及びRf1は,許容差1%の温度変化特性のよい抵抗値とし,それらの抵抗値の比率は,次の式による。
Rf 0= 1
Rf1 50
B.2.5 測定方法 測定は,ケースを固定して行う。Sを0位置に設定し,シリコンホトダイオードの前で書
込み禁止孔を開く。Eの出力電圧を変えて,電圧計の読みをフルスケール(100%透過率)にする。次に,
書込み禁止孔を閉じ,Sを1位置に設定すると電圧計のフルスケールは,光透過率2%を意味し,このとき
の電圧計の振れから光透過率を求める。
附属書B図1 測定器
附属書B図2 測定回路
――――― [JIS X 6227 pdf 33] ―――――
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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
附属書C(規定) 実効トラック幅の測定方法
C.1 データトラック幅 7個のトラックの幅にわたり直流消去を行い,記録・再生ヘッドを消去した幅の
中央に位置決めし,625 000ftpsの周波数で記録する。次に,ヘッドを半径方向に0.005mmを超えないピッ
チで附属書C図1の左及び右へ再生信号が25%になるまで移動させる。附属書C図1のように1/2実効ト
ラック幅A及び1/2実効トラック幅Bをそれぞれ測定し,A及びBの和からトラック幅を求める。
なお,試験に使用するヘッドのギャップ幅は,実効トラック幅以上とする。
附属書C図1 実効トラック幅の測定方法
C.2 サーボトラックのトラック幅,すきま幅及びトラック間隔 サーボトラックのトラック幅,すきま幅
及びトラック間隔は,次による。
なお,試験に使用するヘッドのギャップ幅は,サーボデータの実効トラック幅以下とする。
C.2.1 トラック幅 磁気ヘッドを半径方向に0.005mmを超えないピッチで移動させ,附属書C図2に示す
とおり最大出力V1の1/2の点A1及びB1を求め,A1とB1の差からトラック幅を求める。
C.2.2 トラックすきま幅 同様に半径方向に隣接したサーボデータのA2及びB2を求め,B1とA2の差か
らすきま幅を求める。
C.2.3 トラック間隔 同様にA1とB1との中心値及びA2とB2との中心値の差からトラック間隔を求める。
附属書C図2 トラック幅,すきま幅及びトラック間隔の測定方法
――――― [JIS X 6227 pdf 34] ―――――
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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
附属書D(規定) 磁束反転間隔測定方法
D.1 概要 この附属書は,磁束反転密度33 157磁束反転/rad,データトラック255/面でMFM記録方式
を用いて両面に記録する90mmフレキシブルディスクの磁束反転間隔の試験装置及び測定方法について規
定する。
D.2 試験装置
D.2.1 ディスク装置 ディスク装置の回転数は,1回転の平均値で360.0rpm±3.6rpmとする。32
る平均回転角速度は,1回転の平均回転数の±0.2%を超えて変化してはならない。
D.2.2 ヘッド
D.2.2.1 分解能 ヘッドの分解能は,各面のトラック254で,60%65%の範囲とする。
なお,分解能は,副標準フレキシブルディスク (JRM 6227) を用い,試験記録電流で記録したときの値
とし,D.2.3.1に規定するリード増幅器の出力から求める。
ヘッドの共振周波数は,1 250kHz以上とし,分解能は,ヘッドの負荷インピーダンスを変えることによ
って調整してはならない。
D.2.2.2 オフセット角 オフセット角は,次のとおりとする。
d
=arcsin 0 5
Rn
ここに, d : 0.35mm
Rn : 本体の10.2.3.1に規定したトラック中心線の半径の公称値
(mm)
D.2.2.3 接触 フレキシブルディスクとの接触は,試験の間は良好に維持しなければならない。
D.2.3 リードチャネル
D.2.3.1 リード増幅器 リード増幅器の周波数特性は,10kHz937kHzの間で±1dB以内の平たん(坦)な
特性とし,飽和してはならない。
D.2.3.2 ピーク検出増幅器 ピーク検出増幅器は,微分・リミッティング増幅器又はそれと等価なピーク検
出回路をもつものとする。
D.2.4 時間間隔カウンタ 時間間隔カウンタは,2.5 鎖 湮 定ができ,その分解能は,5ns
以内とする。
D.3 測定方法
D.3.1 磁束反転間隔の測定 磁束反転間隔は,再生信号のピーク間の時間間隔をトラック当たり105回のラ
ンダムサンプリングによって測定し,附属書D図1に示すとおり,磁束反転間隔の分布を対数で表す。
測定は,D.2.3で規定したリードチャネルの出力で行う。
――――― [JIS X 6227 pdf 35] ―――――
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JIS X 6227:1997の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 13422:1994(IDT)