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JIS X 6230:2017 規格概要
この規格 X6230は、記録容量25ギガバイト(GB)及び50GBの120mmレコーダブル光ディスクの機械的特性,物理的特性及び光学的特性を規定するとともに,そのディスクを用いての情報交換を可能にする記録及び未記録の信号品質,データのフォーマット及び記録方法について規定。
JISX6230 規格全文情報
- 規格番号
- JIS X6230
- 規格名称
- 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―120mm単層(25ギガバイト/ディスク)及び2層(50ギガバイト/ディスク)BDレコーダブルディスク
- 規格名称英語訳
- Information technology -- Digitally recorded media for information interchange and storage -- 120 mm Single Layer (25.0 Gbytes per disk) and Dual Layer (50.0 Gbytes per disk) BD Recordable disk
- 制定年月日
- 2017年6月20日
- 最新改正日
- 2017年6月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 35.220.30
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 2017-06-20 制定
- ページ
- JIS X 6230:2017 PDF [225]
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 適合性・・・・[2]
- 2.1 光ディスク・・・・[2]
- 2.2 製造システム・・・・[2]
- 2.3 情報受領システム・・・・[2]
- 2.4 互換性表示・・・・[2]
- 3 引用規格・・・・[2]
- 4 用語及び定義・・・・[3]
- 5 慣例及び表記法・・・・[7]
- 5.1 用語・・・・[7]
- 5.2 数値表示・・・・[8]
- 5.3 整数計算法・・・・[9]
- 5.4 英語名称・・・・[9]
- 6 略語・・・・[9]
- 7 ディスクの概要・・・・[12]
- 8 一般要求事項・・・・[14]
- 8.1 環境条件・・・・[14]
- 8.2 安全性・・・・[17]
- 8.3 難燃性・・・・[17]
- 9 基準ドライブ・・・・[17]
- 9.1 一般・・・・[17]
- 9.2 測定条件・・・・[17]
- 9.3 光学システム・・・・[17]
- 9.4 光ビーム・・・・[18]
- 9.5 高周波(HF)読取りチャネル・・・・[19]
- 9.6 半径方向のプッシュプル(PP)読取りチャネル・・・・[19]
- 9.7 ディスクのクランプ・・・・[19]
- 9.8 ディスクの回転及び測定速度・・・・[20]
- 9.9 正規化サーボ伝達関数・・・・[20]
- 9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ・・・・[21]
- 9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ・・・・[23]
- 10 寸法特性・・・・[25]
- 10.1 一般・・・・[25]
- 10.2 ディスクの基準面及び基準軸・・・・[25]
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――――― [JIS X 6230 pdf 1] ―――――
X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
pdf 目次
ページ
- 10.3 全体寸法・・・・[26]
- 10.4 第1遷移領域・・・・[27]
- 10.5 保護リング・・・・[27]
- 10.6 クランプゾーン・・・・[28]
- 10.7 第2遷移領域・・・・[28]
- 10.8 情報領域・・・・[28]
- 10.9 リム領域・・・・[30]
- 11 機械的特性・・・・[30]
- 11.1 質量・・・・[30]
- 11.2 慣性モーメント・・・・[31]
- 11.3 ダイナミックインバランス・・・・[31]
- 11.4 軸方向の振れ量・・・・[31]
- 11.5 半径方向の振れ量・・・・[32]
- 11.6 カバー層の耐久性・・・・[34]
- 12 情報領域の光学的特性・・・・[34]
- 12.1 一般・・・・[34]
- 12.2 透過積層(TS)の屈折率・・・・[34]
- 12.3 透過積層(TS)の厚さ・・・・[34]
- 12.4 反射率・・・・[36]
- 12.5 複屈折・・・・[36]
- 12.6 角度偏差・・・・[36]
- 13 データフォーマット・・・・[37]
- 13.1 一般・・・・[37]
- 13.2 データフレーム・・・・[40]
- 13.3 エラー検出符号(EDC)・・・・[40]
- 13.4 スクランブルドデータフレーム・・・・[40]
- 13.5 データブロック・・・・[41]
- 13.6 LDCブロック・・・・[42]
- 13.7 LDC符号語・・・・[42]
- 13.8 LDCクラスタ・・・・[43]
- 13.9 アドレス及びコントロールデータ・・・・[46]
- 13.10 アクセスブロック・・・・[51]
- 13.11 BISブロック・・・・[51]
- 13.12 BIS符号語・・・・[51]
- 13.13 BISクラスタ・・・・[52]
- 13.14 ECCクラスタ・・・・[55]
- 13.15 記録フレーム・・・・[56]
- 13.16 物理クラスタ・・・・[57]
- 13.17 記録データのための17PP変調・・・・[57]
(pdf 一覧ページ番号 2)
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
pdf 目次
ページ
- 13.18 変調及びNRZI変換・・・・[59]
- 14 物理データの配置及びリンキング・・・・[60]
- 14.1 一般・・・・[60]
- 14.2 記録ユニットブロック(RUB)・・・・[60]
- 14.3 ウォブルアドレスに対するデータの位置決め・・・・[63]
- 15 トラックフォーマット・・・・[63]
- 15.1 一般・・・・[63]
- 15.2 トラックの形・・・・[64]
- 15.3 トラックパス・・・・[65]
- 15.4 トラックピッチ・・・・[65]
- 15.5 HFMグルーブのトラック構成・・・・[66]
- 15.6 ウォブルグルーブのトラック構造・・・・[72]
- 15.7 ADIP情報・・・・[74]
- 15.8 ADIP予備フレームのディスク情報・・・・[80]
- 16 情報ゾーンの概要・・・・[117]
- 16.1 一般・・・・[117]
- 16.2 単層ディスクの情報ゾーンのフォーマット・・・・[117]
- 16.3 2層ディスクの情報ゾーンのフォーマット・・・・[117]
- 17 情報ゾーンの記録領域の構成・・・・[117]
- 18 内側ゾーン・・・・[120]
- 18.1 一般・・・・[120]
- 18.2 不変情報・制御データ(PIC)ゾーン・・・・[123]
- 18.3 内側ゾーン0の記録領域・・・・[126]
- 18.4 内側ゾーン1の記録領域・・・・[130]
- 19 データゾーン・・・・[131]
- 20 外側ゾーン・・・・[131]
- 20.1 一般・・・・[131]
- 20.2 外側ゾーンの記録領域・・・・[132]
- 21 物理アクセス制御クラスタ・・・・[134]
- 21.1 一般・・・・[134]
- 21.2 PACゾーンの構成・・・・[134]
- 21.3 PACクラスタの一般構成・・・・[135]
- 21.4 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ・・・・[138]
- 22 ディスク管理・・・・[139]
- 22.1 一般・・・・[139]
- 22.2 記録管理・・・・[139]
- 22.3 仮ディスク管理領域(TDMA)・・・・[140]
- 22.4 ディスク管理構造(DMS)・・・・[141]
- 22.5 未記録(ブランク)ディスク構造・・・・[150]
(pdf 一覧ページ番号 3)
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
pdf 目次
ページ
- 22.6 記録済み(クローズした)ディスク構造・・・・[153]
- 23 論理セクタ番号(LSN)の割当て・・・・[156]
- 24 グルーブ領域の特性・・・・[156]
- 25 グルーブ領域の試験方法・・・・[157]
- 25.1 一般・・・・[157]
- 25.2 環境条件・・・・[157]
- 25.3 基準ドライブ・・・・[157]
- 25.4 信号の規定・・・・[157]
- 26 HFMグルーブの信号・・・・[158]
- 26.1 プッシュプルの極性・・・・[158]
- 26.2 プッシュプル信号・・・・[159]
- 26.3 ウォブル信号・・・・[159]
- 26.4 HFM信号のジッタ・・・・[159]
- 27 ウォブルグルーブからの信号・・・・[159]
- 27.1 位相深さ・・・・[159]
- 27.2 プッシュプル信号・・・・[159]
- 27.3 ウォブル信号・・・・[160]
- 27.4 HFM及びウォブルグルーブの遷移の要求事項・・・・[161]
- 28 記録層の特性・・・・[161]
- 29 記録層の試験方法・・・・[161]
- 29.1 一般・・・・[161]
- 29.2 環境条件・・・・[161]
- 29.3 基準ドライブ・・・・[161]
- 29.4 記録条件・・・・[162]
- 29.5 信号の規定・・・・[164]
- 30 記録領域からの信号・・・・[164]
- 30.1 HF信号・・・・[164]
- 30.2 変調振幅・・・・[164]
- 30.3 反射率-変調度積・・・・[165]
- 30.4 非対称性・・・・[165]
- 30.5 ジッタ・・・・[165]
- 30.6 読取耐久性・・・・[166]
- 31 局所欠陥・・・・[167]
- 32 使用者データの特性・・・・[167]
- 33 使用者データの測定方法・・・・[167]
- 33.1 一般・・・・[167]
- 33.2 環境条件・・・・[168]
- 33.3 基準ドライブ・・・・[168]
- 33.4 信号の定義・・・・[168]
(pdf 一覧ページ番号 4)
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X 6230 : 2017 (ISO/IEC 30190 : 2016)
pdf 目次
ページ
- 34 記録情報の下限品質・・・・[169]
- 34.1 シンボルエラー率・・・・[169]
- 34.2 最大バーストエラー・・・・[169]
- 34.3 使用者記録データ・・・・[170]
- 35 BCA・・・・[170]
- 附属書A(規定)多層の場合の透過積層の厚さ・・・・[171]
- 附属書B(規定)反射率の測定・・・・[172]
- 附属書C(規定)カバー層のきず耐久性の測定・・・・[174]
- 附属書D(規定)カバー層の汚れはつ(撥)油性の測定・・・・[176]
- 附属書E(規定)ウォブル振幅の測定・・・・[179]
- 附属書F(規定)試験のための記録パルス波形・・・・[183]
- 附属書G(規定)ディスクの最適パワー制御(OPC)方法・・・・[194]
- 附属書H(規定)ジッタ測定のためのHF信号の前処理・・・・[198]
- 附属書I(規定)測定方法・・・・[205]
- 附属書J(参考)複屈折の測定・・・・[211]
- 附属書K(参考)カバー層及びスペーサ層の厚さの測定・・・・[213]
- 附属書L(参考)カバー層の衝突耐久性の測定・・・・[216]
- 附属書M(参考)グルーブ偏移及びウォブル振幅・・・・[218]
(pdf 一覧ページ番号 5)
――――― [JIS X 6230 pdf 5] ―――――
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JIS X 6230:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30190:2016(IDT)
JIS X 6230:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6230:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合