JIS X 6227:1997 ９０ｍｍフレキシブルディスクカートリッジ―記憶容量１０メガバイト | ページ 8

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                                                                 X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
                               附属書D図1 磁束反転間隔の分布
D.3.2 全トラックの磁束反転間隔 測定したt1t6の時間間隔は,次による。
   t×100%及び01tt×100%は,本体の11.5.1の磁束反転間隔に対応する。
   2
   t0
   t×100%及び03tt×100%は,本体の11.5.2の磁束反転間隔に対応する。
   4
   t0
   t×100%及び05tt×100%は,本体の11.5.3の磁束反転間隔に対応する。
   6
   t0
  t0は,公称値0.8             周期の平均ビットセル長とする。データブロック及びインデックスパルスの継ぎ
目での規定外の時間間隔は,無視する。

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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
                                    附属書E(参考)
                MFM記録の符号化解読のためのデータセパレータ
  この附属書(参考)は,MFM記録の符号化解読のためのデータセパレータについて記載するものであ
り,規定の一部ではない。
  MFM記録方式は,次に示す磁束反転間隔の公称値をもつ。
    111又は000パターンに対し,t
                                3
    100又は001パターンに対し, 2 t
    101パターンに対し,2t
  データセパレータは,0.8               が弁別できることが必要である。これを実行するには,データセパ
レータの発振器は,固定周期では,データ分離が不可能であり,ビットセル長の変動に追従して周期を変
化する必要がある。
  現在では,フェーズロック発振器に基づくデータセパレータによってデータ分離が行われている。

――――― [JIS X 6227 pdf 37] ―――――

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                                                                 X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
                         附属書F(参考)        EDCの生成方法
  この附属書(参考)は,EDCの生成方法について記載するものであり,規定の一部ではない。
  EDCを生成するシフトレジスタのフィードバック接続を,附属書F図1に示す。
  動作前に,すべてのレジスタに“1”をセットする。入力データをC15の出力と加算 (EXCLUSIVE-OR) し,
フィードバックの入力とする。
  このフィードバックをC4及びC11に加算する。シフトレジスタをけた送りして,EXCLUSIVE-ORの出
力を,それぞれC0,C5,C12に入力する。
  最後のデータビットが入力された後で,レジスタをもう一回けた送りする。このときのレジスタの内容
をEDCバイトとする。
  EDCバイトをけた送りして,出力(書込み)する間は,制御信号によってEXCLUSIVE-ORを制御する。
  読取り時には,データビットを書き込むときと全く同様な方法でシフトレジスタに入力して,誤りを検
出する。データに続くEDCバイトも,データと同様にシフトレジスタに入力する。最後のけた送り後,レ
ジスタの内容は,データに誤りがない場合,すべて0となる。
                                  附属書F図1 シフトレジスタ

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X 6227: 1997 (ISO/IEC 13422 : 1994)
                            附属書G(規定)         厚さゲージ
G.1 ゲージ ゲージは,クロムめっきを施した鋼鉄製などとし,内部の表面粗さは最大5                     ー
ジは,附属書G図1に示す。
G.2 ゲージの寸法 ゲージの寸法は,附属書G図1及び次による。
                        a≧96.0mm
                        b=91.0±0.1mm
                        c=8.50±0.01mm
                        d=3.80±0.01mm
                        e=4.20±0.01mm
                                   附属書G図1 厚さゲージ

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                   附属書H(規定)         ピークシフトの測定方法
H.1 概要 ピークシフトは,記録密度が高いトラックほど小さくしなければならない。このため,フレキ
シブルディスクシステムの分解能を高くする必要がある。しかし,分解能が高すぎると記録密度の低いト
ラックでは,疑似パルスが発生することがある。
  この試験は,再内周トラックで上限値と下限値を規定したピークシフトを測定する。
H.2 試験装置
H.2.1 ディスク装置 ディスク装置は,33 157ftpradに対応できなければならない。
H.2.2 測定回路 ピークシフトの測定回路及びタイムチャートは,附属書H図1及び附属書H図2による。
ここで,図中の信号a,b,c,······,gは,次による。
a) インデックスパルス トラックの始点及び終点を表す。
b) インデックスパルスタイマ インデックスパルスによって起動する1msのタイマで,記録電流がオフ
    になったとき不連続記録部のサンプリングを防ぐために用いる。
c) 再生信号 テストパターンの再生出力で,一対のビットの最初のビットの立ち上がりはフリップフロ
    ップ (LS 74) を起動し,立ち下がりはタイマ (LS 221) を起動する。
d) ビット周期ウィンド タイマ (LS 221) の出力で,再生信号の一対のビットの2番目のビットの立ち
    上がりとタイミングをとり,フリップフロップ (LS 74) をリセットする。
e) ビット周期 フリップフロップ (LS 74) の出力で,再生信号の一対の2ビット間の時間間隔T′を表
    す。
f)  サンプリング周期 インデックスパルスタイマをリセットした後の最初のビット周期ウィンドでセッ
    トし,次のインデックスパルスタイマによってセットした後の最初のビット周期ウィンドでリセット
    する。
g) 出力 ビット周期e)及びサンプリング周期f)の否定論理積で,時間間隔カウンタに送る。

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