JIS X 6230:2022 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―１２０ｍｍ単層（２５ギガバイト／ディスク）及び２層（５０ギガバイト／ディスク）ＢＤレコーダブルディスク

                                                                                   X 6230 : 2022

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 略語及び記号・・・・[8]
•  5 適合性・・・・[11]
•  5.1 光ディスク・・・・[11]
•  5.2 製造システム・・・・[11]
•  5.3 情報受領システム・・・・[11]
•  5.4 互換性表示・・・・[11]
•  6 慣例及び表記法・・・・[11]
•  6.1 グループのレベル・・・・[11]
•  6.2 数値表示・・・・[12]
•  6.3 整数計算法・・・・[13]
•  7 ディスクの概要・・・・[13]
•  8 一般要求事項・・・・[16]
•  8.1 環境条件・・・・[16]
•  8.2 安全性・・・・[18]
•  8.3 難燃性・・・・[19]
•  9 基準ドライブ・・・・[19]
•  9.1 一般・・・・[19]
•  9.2 測定条件・・・・[19]
•  9.3 光学システム・・・・[19]
•  9.4 光ビーム・・・・[20]
•  9.5 高周波(HF)読取りチャネル・・・・[20]
•  9.6 半径方向のプッシュプル(PP)読取りチャネル・・・・[21]
•  9.7 ディスクのクランプ・・・・[21]
•  9.8 ディスクの回転及び測定速度・・・・[21]
•  9.9 正規化サーボ伝達関数・・・・[22]
•  9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ・・・・[22]
•  9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ・・・・[25]
•  10 寸法特性・・・・[27]
•  10.1 一般・・・・[27]
•  10.2 ディスクの基準面及び基準軸・・・・[28]
•  10.3 全体寸法・・・・[29]

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――――― [JIS X 6230 pdf 1] ―――――

           X 6230 : 2022

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•  10.4 第1遷移領域・・・・[30]
•  10.5 保護リング・・・・[30]
•  10.6 クランプゾーン・・・・[31]
•  10.7 第2遷移領域・・・・[31]
•  10.8 情報領域・・・・[31]
•  10.9 リム領域・・・・[33]
•  11 機械的特性・・・・[34]
•  11.1 質量・・・・[34]
•  11.2 慣性モーメント・・・・[34]
•  11.3 ダイナミックインバランス・・・・[34]
•  11.4 軸方向の振れ量・・・・[34]
•  11.5 半径方向の振れ量・・・・[36]
•  11.6 カバー層の耐久性・・・・[38]
•  12 情報領域の光学的特性・・・・[38]
•  12.1 一般・・・・[38]
•  12.2 透過積層(TS)の屈折率・・・・[38]
•  12.3 透過積層(TS)の厚さ・・・・[39]
•  12.4 反射率・・・・[40]
•  12.5 複屈折・・・・[41]
•  12.6 角度偏差・・・・[41]
•  13 データフォーマット・・・・[42]
•  13.1 一般・・・・[42]
•  13.2 データフレーム・・・・[45]
•  13.3 エラー検出符号(EDC)・・・・[45]
•  13.4 スクランブルドデータフレーム・・・・[45]
•  13.5 データブロック・・・・[46]
•  13.6 LDCブロック・・・・[47]
•  13.7 LDC符号語・・・・[47]
•  13.8 LDCクラスタ・・・・[48]
•  13.9 アドレス及びコントロールデータ・・・・[51]
•  13.10 アクセスブロック・・・・[57]
•  13.11 BISブロック・・・・[57]
•  13.12 BIS符号語・・・・[58]
•  13.13 BISクラスタ・・・・[58]
•  13.14 ECCクラスタ・・・・[62]
•  13.15 記録フレーム・・・・[63]
•  13.16 物理クラスタ・・・・[64]
•  13.17 記録データのための17PP変調・・・・[64]
•  13.18 変調及びNRZI変換・・・・[67]

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•  14 物理データの配置及びリンキング・・・・[67]
•  14.1 一般・・・・[67]
•  14.2 記録ユニットブロック(RUB)・・・・[68]
•  14.3 ウォブルアドレスに対するデータの位置決め・・・・[71]
•  15 トラックフォーマット・・・・[72]
•  15.1 一般・・・・[72]
•  15.2 トラックの形・・・・[72]
•  15.3 トラックパス・・・・[73]
•  15.4 トラックピッチ・・・・[74]
•  15.5 HFMグルーブのトラック構成・・・・[74]
•  15.6 ウォブルグルーブのトラック構造・・・・[81]
•  15.7 ADIP情報・・・・[83]
•  15.8 ADIP予備フレームのディスク情報・・・・[89]
•  16 情報ゾーンの概要・・・・[131]
•  16.1 一般・・・・[131]
•  16.2 単層ディスクの情報ゾーンのフォーマット・・・・[131]
•  16.3 2層ディスクの情報ゾーンのフォーマット・・・・[131]
•  17 情報ゾーンの記録領域の構成・・・・[131]
•  18 内側ゾーン・・・・[134]
•  18.1 一般・・・・[134]
•  18.2 不変情報・制御データ(PIC)ゾーン・・・・[137]
•  18.3 内側ゾーン0の記録領域・・・・[140]
•  18.4 内側ゾーン1の記録領域・・・・[145]
•  19 データゾーン・・・・[147]
•  20 外側ゾーン・・・・[147]
•  20.1 一般・・・・[147]
•  20.2 外側ゾーンの記録領域・・・・[148]
•  21 物理アクセス制御クラスタ・・・・[150]
•  21.1 一般・・・・[150]
•  21.2 PACゾーンの構成・・・・[151]
•  21.3 PACクラスタの一般構成・・・・[151]
•  21.4 IS1 PAC及びIS2 PACクラスタ・・・・[155]
•  22 ディスク管理・・・・[156]
•  22.1 一般・・・・[156]
•  22.2 記録管理・・・・[156]
•  22.3 仮ディスク管理領域(TDMA)・・・・[157]
•  22.4 ディスク管理構造(DMS)・・・・[158]
•  22.5 未記録(ブランク)ディスク構造・・・・[168]
•  22.6 記録済み(クローズした)ディスク構造・・・・[171]

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           X 6230 : 2022

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•  23 論理セクタ番号(LSN)の割当て・・・・[174]
•  24 グルーブ領域の特性・・・・[175]
•  25 グルーブ領域の試験方法・・・・[175]
•  25.1 一般・・・・[175]
•  25.2 環境条件・・・・[175]
•  25.3 基準ドライブ・・・・[176]
•  25.4 信号の規定・・・・[176]
•  26 HFMグルーブの信号・・・・[178]
•  26.1 プッシュプルの極性・・・・[178]
•  26.2 プッシュプル信号・・・・[178]
•  26.3 ウォブル信号・・・・[178]
•  26.4 HFM信号のジッタ・・・・[178]
•  27 ウォブルグルーブからの信号・・・・[179]
•  27.1 位相深さ・・・・[179]
•  27.2 プッシュプル信号・・・・[179]
•  27.3 ウォブル信号・・・・[179]
•  27.4 HFM及びウォブルグルーブの遷移の要求事項・・・・[180]
•  28 記録層の特性・・・・[181]
•  29 記録層の試験方法・・・・[181]
•  29.1 一般・・・・[181]
•  29.2 環境条件・・・・[181]
•  29.3 基準ドライブ・・・・[181]
•  29.4 記録条件・・・・[182]
•  29.5 信号の規定・・・・[184]
•  30 記録領域からの信号・・・・[184]
•  30.1 HF信号・・・・[184]
•  30.2 変調振幅・・・・[184]
•  30.3 反射率-変調度積・・・・[185]
•  30.4 非対称性・・・・[186]
•  30.5 ジッタ・・・・[186]
•  30.6 読取耐久性・・・・[186]
•  31 局所欠陥・・・・[188]
•  32 使用者データの特性・・・・[188]
•  33 使用者データの測定方法・・・・[188]
•  33.1 一般・・・・[188]
•  33.2 環境条件・・・・[189]
•  33.3 基準ドライブ・・・・[189]
•  33.4 エラー信号・・・・[189]
•  34 記録情報の下限品質・・・・[190]

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――――― [JIS X 6230 pdf 4] ―――――

                                                                              X 6230 : 2022

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•  34.1 シンボルエラー率・・・・[190]
•  34.2 最大バーストエラー・・・・[191]
•  34.3 使用者記録データ・・・・[191]
•  35 BCA・・・・[191]
•  附属書A(規定)多層の場合の透過積層の厚さ・・・・[193]
•  附属書B(規定)反射率の測定・・・・[195]
•  附属書C(規定)カバー層のきず耐久性の測定・・・・[198]
•  附属書D(規定)カバー層の汚れはつ(撥)油性の測定・・・・[200]
•  附属書E(規定)ウォブル振幅の測定・・・・[203]
•  附属書F(規定)試験のための記録パルス波形・・・・[208]
•  附属書G(規定)ディスクの最適パワー制御(OPC)方法・・・・[219]
•  附属書H(規定)ジッタ測定のためのHF信号の前処理・・・・[223]
•  附属書I(規定)測定方法・・・・[231]
•  附属書J(参考)複屈折の測定・・・・[238]
•  附属書K(参考)カバー層及びスペーサ層の厚さの測定・・・・[240]
•  附属書L(参考)カバー層の衝突耐久性の測定・・・・[243]
•  附属書M(参考)グルーブ偏移及びウォブル振幅・・・・[245]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[247]

(pdf 一覧ページ番号 5)

――――― [JIS X 6230 pdf 5] ―――――

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