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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
試験後の結果は,次による。
附属書Hに規定するリミットイコライザモードに設定した回路の波形等化後で,L0層測定のジッタは,
10 %以下とする。
摩耗輪の取扱いは,次による。
摩耗輪の取扱いは,ASTM D1044[1]の規定に従うことが望ましい。
テーバ摩耗試験を行う前に,毎回両方の摩耗輪は,ST-11研磨石で表面を研磨することが望ましく,次
による。
− 新しい輪は,100回研磨する。
− 前に用いた輪は,25回研磨する。
――――― [JIS X 6232 pdf 171] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
附属書D
(規定)
カバー層の汚れはつ(撥)油性の測定
D.1 一般
この附属書は,ディスクの指紋に対する感度を決めるために,人工の指紋(AFP)をディスクに付ける
方法を規定する。図D.1は,基本的な方法を示している。
4.9Nで10秒 4.9 Nで10秒
シリコンゴムスタンプ
インクパッド テストされるディスクに テストされるディスク
スタンプにインクを付ける スタンピング AFP付き
図D.1−ディスクへのAFPの付着
AFP付着後,AFPを付けた領域の各物理クラスタのランダムSER(33.4参照)は,AFPを通して記録し
再生してL0層を測定した場合,4.2×10−3未満とする。各物理クラスタで40バイト長以上のバーストエラ
ー数は,8未満及びバースト長の総和は,800バイト以下とする。
D.2 スタンプの規格
シリコンゴムスタンプは,次による(図D.2参照)。
− 寸法 : スタンプの形状 : φ16 mm×φ12 mm×高さ20 mm
− スタンプ柱の固さ : A60
図D.2−スタンプの形及び準備
ランダムなきずがあるスタンプを作るために,#240番のサンドペーパで磨く。
――――― [JIS X 6232 pdf 172] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
サンドペーパは,ゆっくり一方向に10回20回の間動かす。サンドペーパに加える力は,4.9 Nと9.8 N
との間とする。
スタンプを,任意の角度回転させ前記の方法を繰り返す。
回転及び研磨は,少なくとも30回は繰り返す。
D.3 インクの準備
AFPを付けるインクは,次の成分によって構成する。
− M : メトキシプロパノール(M)。正確には,1−メトキシ 2−プロパノール
− T : トリオレイン(T)。純度は,少なくとも60 %とする。
− D : 標準ほこり(D)。JIS Z 8901の規定に従い,試験用粉体1の11種(関東ローム)を選ぶ。さらに,
詳細の情報は,一般社団法人日本粉体工業技術協会(http://www.appie.or.jp/)で入手する。
インクのクリーニング用としては,エタノールを用いる。
M,T及びDの成分は,質量比240 : 20 : 8で合成する。混ぜたものは,プラスチックの棒を使い手で少
なくとも15秒間かき混ぜる。
D.4 インクパッドの準備
スタンプに決まった量のインクが付くように,インクは,インクパッドの上にスピンコートされる。こ
こに,インクパッドは,ピット及びグルーブのパタンのないポリカーボネートの成形基板とする。インク
をディスクに付ける前に,基板は,例えば,超音波振動などで少なくとも30秒間十分にゆする。
基板をスピナー上で60回毎分で回転しながら,10秒間以内に少なくとも2 mlのインク液を概略12 mm
の半径位置に垂らす(図D.3参照)。
solution spreading
put on
基板に付けた
the solution
回転による
substrate 溶剤の広がり
by spinnig
溶剤
radius
半径
12 mm
12 mm
図D.3−インクパッドスピンコート
ディスクにインクを付けた後,回転速度100回毎分で1秒間回す。そして,回転速度を5秒間の間に直
線的に5 000回毎分に上げ,その速度で1秒間維持する(図D.4参照)。回転降下時間は,問題とならない。
――――― [JIS X 6232 pdf 173] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
5 000
回毎分
インク溶剤を
注ぐ
<100 100
回毎分回毎分
60回毎分
0.1秒~1秒 1秒 5秒 1秒
図D.4−インクパッドスピンコートの速度プロファイル
D.5 インクパッド及びスタンプの使用
スタンプにインクを付けるのは,半径30 mm辺りがよい。
スタンプは,ベンコットのような糸くずの出ないティシュできれいにできる。
スタンプは,最初にエチルアルコールでぬらしたティシュできれいにし,その後乾いたティシュで拭き
取ることができる。
――――― [JIS X 6232 pdf 174] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
附属書E
(規定)
ウォブル振幅の測定
E.1 測定方法
ウォブル信号及びプッシュプル信号は,測定前にフィルタを通す。ウォブル信号は8 MHzの低域通過フ
ィルタを通し,プッシュプル信号は30 kHzの低域通過フィルタを通す。
グルーブの変調及びウォブルビートのために,ウォブル信号を普通のオシロスコープを使って十分正確
に求めることは,非常に難しい。したがって,ウォブル信号をスペクトラムアナライザを使って測定する
方法(らせんグルーブを連続トラッキングしながら)の手順を,次に示す。
a) ステップ1 : 正規化していないウォブル信号の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で,プッシ
ュプル信号を次の設定で測定する。
− 中心周波数 : 956.5 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 30 kHz
− ビデオ帯域幅 : 100 Hz
− 掃引時間 : ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
この条件下で,スペクトラムアナライザは,時間に対しての入力信号の実効値を示す(図E.1参照)。
Mkr1 533 ms-39.6 dBV
Ref -32 dBV Atten 0 dBMkr2 367 ms-46.4 dBV
Log
2 dB/
Mkr1
Mkr2
中心956.5 kHz スパン0 Hz
分解能帯域幅30 kHz ビデオ帯域幅100 Hz掃引時間750 ms
図E.1−ウォブル信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr2での信号レベルは,最小ウォブル信号WSminのdBV値を表している。スペクトラムア
ナライザは,実効値を測定するため 2 2 の係数を乗じて,測定値を電圧の両ピーク値に変換する(例
――――― [JIS X 6232 pdf 175] ―――――
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JIS X 6232:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30192:2017(IDT)
JIS X 6232:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6232:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合