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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
の中の−46.4 dBVは,13.5 mVppに相当する。)。
b) ステップ2 : 正規化していないプッシュプル信号の測定 次に,トラッキングサーボオフのプッシュ
プル信号(I1−I2) ppを測定する(25.4参照)。
この例では,30 mVppであったとする。
c) ステップ3 : 正規化ウォブル信号(NWS)の計算
WSmin 135.
NWSmin .045
I1 I2 pp 30
d) ステップ4 : ウォブルビートの決定 マーカMkr1の信号レベルは,最大ウォブル信号WSmaxのdBV
値を表す。
ウォブルビートは,次による。
WSmax−WSmin=6.8 dB又はNWSmax=2.2×NWSmin
e) ステップ5 : ウォブル信号のキャリアノイズ比の測定 25.3.4のトラッキング要求事項の下で,プッ
シュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザを使って測定する。
− 中心周波数 : 500 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 30 kHz
− ビデオ帯域幅 : 10 Hz
− 掃引時間 : ウォブル信号の幾つかのビートを見ることができるように選ぶ。
これらの条件下でスペクトラムアナライザは,時間に対しての500 kHzの帯域幅のノイズ信号の実
効値を示す(図E.2参照)。
Mkr1 1.27秒-75,4 dBV
Ref -60 dBV Atten 0 dB
Log
2 dB/
Mkr1
中心500 kHz スパン0 Hz
分解能帯域幅30 kHz ビデオ帯域幅10 Hz掃引時間1.767 秒
図E.2−ノイズ信号を示すスペクトラムアナライザの例
マーカMkr1の信号レベルは,ノイズ信号の信号レベルをdBV値で表している。
――――― [JIS X 6232 pdf 176] ―――――
171
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
ウォブルCNRは,このように簡単に計算でき,次のとおりになる。
WSmin−ノイズレベル=−46.4+75.4=29 dB(例の値の場合)
f) ステップ6 : SHD/SHLの測定 この測定は,27.3.4に従って行う。
25.3.4のトラッキングの要求事項の下で,プッシュプル信号を次の設定でスペクトラムアナライザ
を用いて測定する。
基本波レベルの測定は,次の設定とする。
− 中心周波数 : 956.5 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 10 kHz
− ビデオ帯域幅 : 1 Hz
− 掃引時間 : 約5秒
2次高調波レベルの測定は,次の設定とする。
− 中心周波数 : 1 913 kHz
− スパン : ゼロスパン
− 分解能帯域幅 : 10 kHz
− ビデオ帯域幅 : 1 Hz
− 掃引時間 : 約5秒
これらの条件下でスペクトラムアナライザは,時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の基
本波レベルの実効値を示す(図E.3参照)。
A-viewB-view
Ref-10dBm Atten10dB
Log FPZ3
10dB/
3dB
FDZ
中心956.5kHz スパン0Hz
分解能帯域幅10kHz ビデオ帯域幅1Hz 掃引時間5秒
図E.3−ウォブル基本波レベル測定の例
図E.3で下側の軌跡は,データゾーンの任意の記録領域で測定したFDZで示す基本波レベルを表す。
図E.3で上側の軌跡は,保護ゾーン3で測定したFPZ3で示す基本波レベルを表す。
FDZ及びFPZ3の値は,FDZ及びFPZ3の軌跡の平均値で決められる。
――――― [JIS X 6232 pdf 177] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
同様に,スペクトラムアナライザは,時間に対してのデータゾーン及び保護ゾーン3の2次高調波レベ
ルの実効値を示す(図E.4参照)。
A-viewB-view
Ref-10dBm Atten10dB
Log
10dB/
SDZ
-10.9dB
SPZ3
中心1913kHz スパン0Hz
分解能帯域幅10kHz ビデオ帯域幅1Hz 掃引時間5秒
図E.4−2次高調波レベルの測定例
図E.4で上側の軌跡は,データゾーンの任意の記録領域のSDZで示す2次高調波レベルを表す。
図E.4で下側の軌跡は,保護ゾーン3の任意の記録領域のSPZ3で示す2次高調波レベルを表す。
SDZ及びSPZ3の値は,SDZ及びSPZ3の軌跡の平均値で決められる。
SHD/SHLは,次による。
SHD
SPZ3 SDZ FPZ3 FDZ
SHL
例では,
SHD
( 10)9. )3( 139. dB
SHL
E.2 フィルタの校正
ノイズ測定の分解能帯域幅フィルタの形は,理想的には方形である。そのようなフィルタは実現できな
いため,実際のスペクトラムアナライザのフィルタは測定値に影響を与える。ノイズの真の実効値を決め
るために,補正係数を適用することが望ましい。そのような補正係数は,通常,測定器の製造業者から与
えられ実際のフィルタの形及びタイプに依存する。
――――― [JIS X 6232 pdf 178] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
附属書F
(規定)
試験のための記録パルス波形
F.1 記録パルス波形概要
この規格では,次に示す三つのタイプの記録ストラテジを規定する。
− 1x記録速度だけで用いるN−1記録ストラテジ(N−1記録ストラテジA)
− 1x及び2x記録速度で使用できるN−1記録ストラテジ(N−1記録ストラテジB)
− 1x及び2x記録速度で使用できるN/2記録ストラテジ(N/2記録ストラテジ)
これらの記録ストラテジの規定で,Nは,チャネルクロックサイクル(T)で表すNRZIパルスのラン長
を表している。
F.2規定のN−1記録ストラテジAは,低記録速度の応用だけに適している。パルス幅は,実際のマーク
長だけに依存している。
F.3規定のN−1記録ストラテジBは,高記録速度にも適している。パルス幅は,実際のマーク長だけで
なく前のスペース長にも依存している(熱バランスと呼ばれる特徴)。
F.4規定のN/2記録ストラテジは,記録パルスの幅広い分離が必要な(2T距離)高速記録層用に,特別
に設計されている。
F.2 N−1記録ストラテジA
NRZIデータ及びチャネルクロックによって得られた記録パルス波形の例を,図F.1に示す。それは,二
つのマルチパルス列で構成し,最初のマルチパルス列は,NRZI信号の高レベルを保存するマークを記録
し,2番目のマルチパルス列は,NRZI信号の低レベルを保存するスペースを記録(又は実際は消去)する。
NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移でパルス列は,“冷却レベル”(PC)と呼ばれるレベルでつな
げられる。
記録パルス列は,次による。
最初の記録パルスは,幅Ttopであり,その後に続く記録パルス(Nが3以上の場合)は,幅TMPである。
マーク長Nの最初の記録パルスは,NRZIパルスの開始位置より1T後の位置から相対的にdTtopの時間で
開始し,それに続く各記録パルスは,NRZIパルスの開始から2T,3T,.. (n−1) Tの位置で開始する。dTtop
は速度によって変えることができ,三つの記録速度について値がある。
記録パルスはパワーレベルPWとし,これらのパルスの間のバイアスパワーはPBWとする。最初の記録
パルスの前のパワーレベルは,PELとする。最後の記録パルス及び最初の消去パルスの間のパワーレベル
は,PCとする。
消去パルス列は,次による。
各クロック周期の消去パルスは,最初のパルスを除きPE1及びPE2の二つのレベルで構成される。PE1は,
TEの間維持され,PE2は残りのクロック周期維持される。
PE1は,PE2以上とすることができ,同様にPE2未満とすることもできる。
最初の消去パルスは,一つのレベルPEFで構成される。このパルスは,NRZIパルスの終わりから相対的
にdTEの時間で始まり,TW+dTEの幅である(図F.1の例では,dTEは,負の値をもつ。)。dTEは,速度に
――――― [JIS X 6232 pdf 179] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
よって変えることができ,三つの記録速度について値がある。
PEFは,PE1に等しくするか又はPE2に等しくする。
消去パルスの列の,最後のクロック周期の終わりと最初の記録パルスとの間のパワーレベルは,PELと
しPELは,PE1に等しくするか又はPE2に等しくする。
NRZI
チャネルビット
TW
TW
dTtop TMP TMP
Ttop
dTE TE TE
PW PBW
PEL PC PEF PE1 PE2 PEL
0 mW
図F.1−N−1記録ストラテジAの記録パルス波形
記録パルス幅は,次による。
パルス幅は,固定(ナノ秒で)か,若しくは実際のチャネルクロックTWに関連している(TW/16の倍数)
か,又は両方の組合せである。組合せは,連続的に速度が変わる(例えば,将来のバージョンのシステム
でCAV記録モードを許容する場合。)記録で,最適なパルス周期を規定することを意図している。
全ての許容される記録速度で許されるパルス幅は,次に示す値で構成する(図F.1のdTtopに示すとおり
正の値は進みで,dTEに示されるように負の値は遅れである。)。
dTtop=i×(TW/16)
ここに, i : −14,−13,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTtopは,2T,3T又は4Tマーク長以上の場合によって,異
なる値に設定できる。)
Ttop=j×(TW/16)+k×(1 ns)
ここに, j : 0,1,2,.. 又は15
k : 0,1,2,.. 又は15
Ttop : ≧2.5 ns
(Ttopは,2T,3T又は4T以上マーク長の場合によって,異な
る値に設定できる。)
TMP=p×(TW/16)+q×(1 ns)
ここに, p : 0,1,2,.. 又は15
q : 0,1,2,.. 又は15
TMP : ≧2.5 ns
dTE=u×(TW/16)
ここに, u : −16,−15,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTEは,2T,3T又は4Tマーク長以上の場合によって,異な
る値に設定できる。)
TE=v×(TW/16)+w×(1 ns)
ここに, v : 0,1,2,.. 又は15
w : 0,1,2,.. 又は15
――――― [JIS X 6232 pdf 180] ―――――
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JIS X 6232:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30192:2017(IDT)
JIS X 6232:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6232:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合