175
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
TE : ≧2.5 ns
注記 j及びk,p及びq,並びにv及びwの組合せは,一つの記録速度におけるパルス継続時間の“微
調整”の意図はない。事実,0.2 nsのパルス継続時間の精度は,そのような“微調整”の効果
の意味をなくしてしまう(TW/16及び1 nsの違いは,たった0.053 nsである。)。
図F.7に規定した,全てのパルス幅の精度は,±0.2 nsよりも小さい。
PC,PBW及びPE2を使う場合は,それらは全ての場合で少なくとも1 nsの期間維持する。
図F.7に規定する立上がり時間及び立下がり時間は1.0 nsを超えない。
パラメタは,ディスクに依存し,最適値は,15.8.3.3に示すようである。PW,PC,PBW及びPE1は,OPC
アルゴリズムによって決定される(附属書G参照)。
例 最小マーク,最小スペース,5Tマーク,及び5Tスペースの記録パルス波形の例を,図F.2に示
す。この例では,PE1は,2T 2T 5T 5T
マーク スペース マーク スペース
NRZI データ
図F.2−N−1記録ストラテジAのマルチパルス記録信号の例
N−1記録ストラテジAの制限は,次による。
この規格に基づくシステムでは,分離した冷却レベルは許容されない(PC=PBWであり,したがって,εc
はεBWに等しい。)し,パルスの形の消去は許さない(PE1=PE2であり,したがって,εE1はεE2に等しい。)。
図F.7に規定する,立上がり時間及び立下がり時間は,2.0 nsを超えない。
図F.3は,簡単にした記録ストラテジの例を示す。
2T 2T 5T 5T
マーク スペース マーク スペース
NRZI データ
PE PW PBW PC = PBW PE = P
E1
図F.3−N−1記録ストラテジAの記録信号の例
F.3 N−1記録ストラテジB
NRZIデータ及びチャネルクロックによって得られた記録パルス波形の例を,図F.4に示す。それは,記
――――― [JIS X 6232 pdf 181] ―――――
176
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
録マルチパルス列で構成し,NRZI信号の高レベルを保存するマークを記録する。これらのパルス列は,
NRZI信号の低レベルを保存するスペースを記録する(又は実際は消去),固定の消去レベル(PE)につな
がる。NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で,パルス列及び消去レベルは,“冷却レベル”(PC)
と呼ばれるレベルでつなげられる。
記録パルス列は,次による。
最初の記録パルスは,幅Ttopであり,最後の記録パルス(Nが3以上の場合)は幅TLPであり,その間の
記録パルス(Nが4以上の場合)は幅TMPである。マーク長Nの最初の記録パルスは,NRZIパルスの開
始位置よりも1T後の位置から相対的にdTtopの時間で開始し,それに続く各記録パルスは,NRZIパルスの
開始から2T,3T,.. (n−1) T後で開始する。
前に来るスペースの長さによって,最初の記録パルスの幅(Ttop)及び開始位置(dTtop)は,最適な熱バ
ランスになるように変えることができる。
記録パルスはパワーレベルPWとし,これらのパルスの間はバイアスレベルPBWとする。最初の記録パ
ルスの前のパワーレベルは,PEとする。最後の記録パルスと消去レベルとの間のパワーレベルは,PCとす
る。
消去レベルは,次による。
消去レベルPEは,NRZIパルスの終わりから相対的にdTEの時間で始まり,次に来る最初の記録パルス
まで継続する。
NRZI
チャネルビット
TW
TW
dTtop TMP TLP
Ttop
dTE
PW PBW PE
PC
0 mW
図F.4−N−1記録ストラテジBの記録パルス波形
記録パルス幅は,次による。
パルス幅は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連しているか若しくはTXに関連した
固定値(TX/16の整数倍で,1×記録速度の場合,TX=15.15 ns又は2x記録速度の場合,TX=7.58 ns)に関
連しているか,又はこれらの組合せである。組合せは,連続的に速度が変わる(例えば,将来のバージョ
ンのシステムでCAV記録モードを許容する場合。)記録で,最適なパルス周期を規定することを意図して
いる。
全ての許容される記録速度で許されるパルス幅は,次に示す値で構成する(図F.4のdTtopに示すとおり
正の値は進みで,dTEに示されるように負の値は遅れである。)。
dTtop=i×(TW/16)
ここに, i : −14,−13,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTtopは,2T,3T又は4T以上のマーク長並びにその前の2T,
3T,4T及び5T以上のスペースの場合によって,異なる値に
設定できる。)
――――― [JIS X 6232 pdf 182] ―――――
177
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
Ttop=j×(TW/16)+k×(TX/16)
ここに, j : 0,1,2,.. 又は30
k : 0,1,2,.. 又は30
0≦j+k≦i+15
k=0(この規格では)
(Ttopは,2T,3T又は4T以上のマーク長並びにその前の2T,
3T,4T及び5T以上のスペースの場合によって,異なる値に
設定できる。)
TMP=p×(TW/16)+q×(1 ns)
ここに, p : 0,1,2,.. 又は15
q : 0,1,2,.. 又は15
0≦p+q≦15
q=0(この規格では)
TLP=s×(TW/16)+t×(TX/16)
ここに, s : 0,1,2,.. 又は15
t : 0,1,2,.. 又は15
0≦s+t≦15
t=0(この規格では)
(TLPは,3T及び4T以上のマーク長の場合によって,異なる
値に設定できる。)
dTE=u×(TW/16)
ここに, u : −24,−23,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTEは,2T,3T又は4T以上のマーク長の場合によって,異
なる値に設定できる。)
パルスの幅は,次のとおりに制限を受ける。
− j+k,p+q,及びs+tの最小値は,1x記録速度の場合3となり,2x記録速度の場合5となる。
− j+k−i(3T以上)及びp+qの最大値は,1x記録速度の場合13となり,2x記録速度の場合11となる。
各パワーレベルPW,PBW,PC及びPEは,1x記録速度の場合,継続時間は2.5 ns以上とし,2x記録速度
の場合2.0 ns以上とする。
図F.7に規定した,全てのパルス幅の精度は,±0.2 nsよりも小さい。
図F.7に規定する,立上がり時間及び立下がり時間は,1x記録速度の場合2.0 nsを超えず,2x記録速度
の場合1.5 nsを超えない。
パラメタは,ディスクに依存し最適値は,15.8.3.4に示すとおりである。PW,PBW,PC及びPEは,OPC
アルゴリズムによって決定される(附属書G参照)。
例 最小マーク,最小スペース並びに5Tマーク及び5Tスペースの記録パルス波形の例を,図F.5に
示す。
――――― [JIS X 6232 pdf 183] ―――――
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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
2T 2T 5T 5T
マーク スペース マーク
NRZI データ スペース
PE PW PBW
P BW PC P
図F.5−N−1記録ストラテジBの記録信号の例
F.4 N/2記録ストラテジ
NRZIデータ及びチャネルクロックによって得られた記録パルス波形の例を,図F.6に示す。それは,記
録マルチパルス列で構成し,NRZI信号の高レベルを保存するマークを記録する。これらのパルス列は,
NRZI信号の低レベルを保存するスペースを記録する(又は実際は消去),固定の消去レベル(PE)につな
がる。NRZI信号の高レベルから低レベルへの遷移で,パルス列及び消去レベルは,“冷却レベル”(PC)
と呼ばれるレベルでつなげられる。
記録パルス列は,次による。
最初の記録パルスは幅Ttopであり,最後の記録パルス(Nが4以上の場合)は幅TLPであり,その間の記
録パルス(Nが6以上の場合)は幅TMPである。
マーク長Nの最初の記録パルスは,NRZIパルスの開始位置よりも1T後の位置から相対的にdTtopの時
間で開始し,それに続く各記録パルスは偶数ラン長(N=4,6又は8)の場合,NRZIパルスの開始から3T,
5T,.. (n−1) T後で開始し,奇数ラン長(N=5,7又は9)の場合,NRZIパルスの開始から3.5T,5.5T .. (n
−1.5) T後で開始する。
記録パルスはパワーレベルPWとし,これらのパルスの間はバイアスレベルPBWとする。最初の記録パ
ルスの前のパワーレベルは,PEとする。最後の記録パルスと消去レベルとの間のパワーレベルは,PCとす
る。
消去レベルは,次による。
消去レベルPEは,NRZIパルスの終わりから相対的にdTEの時間で始まり,次に来る最初の記録パルス
まで継続する。
パルス幅は,次による。
パルス幅は,実際のチャネルクロックTW(TW/16の整数倍)に関連しているか若しくはTXに関連した
固定値(TX/16の整数倍で,1x記録速度の場合TX=15.15 ns又は2x記録速度の場合TX=7.58 ns)に関連し
ているか,又はこれらの組合せである。
全ての許容された記録速度で許容されるパルス幅時間は,次に示す値で構成する(負の値は,図F.6で
示すとおり遅れである。)。
dTtop=i×(TW/16)
ここに, i : −16,−15,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTtopは,2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長
の場合によって,異なる値に設定できる。)
――――― [JIS X 6232 pdf 184] ―――――
179
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
注記 記録ストラテジの表記において,4T以上の偶数パルスのいずれか又は4T以上の奇数パルスの
いずれかに対して,同様の記録ストラテジを適用する場合に偶数及び奇数のパルスセットを[4T,
6T,8T],[5T,7T,9T]のように[]で囲う表記をしている。
Ttop=j×(TW/16)+k×(TX/16)
ここに, j : 0,1,2,.. 又は46
k : 0,1,2,.. 又は46
0≦j+k≦i+31
k=0(この規格では)
(Ttopは,2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長の
場合によって,異なる値に設定できる。)
TMP=p×(TW/16)+q×(TX/16)
ここに, p : 0,1,2,.. 又は31
q : 0,1,2,.. 又は31
0≦p+q≦31
q=0(この規格では)
TLP=s×(TW/16)+t×(TX/16)
ここに, s : 0,1,2,.. 又は31
t : 0,1,2,.. 又は31
0≦s+t≦32
t=0(この規格では)
(TLPは,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長の場合によ
って,異なる値に設定できる。)
dTE=u×(TW/16)
ここに, u : −31,−30,..,−1,0,1,2,.. 又は15
(dTEは,2T,3T,[4T,6T,8T]及び[5T,7T,9T]マーク長の
場合によって,異なる値に設定できる。)
パルスの幅は,次のとおりに制限を受ける。
− j+k,p+q,及びs+tの最小値は,1x記録速度の場合3となり,2x記録速度の場合5となる。
− j+k−i (4T以上)及びp+qの最大値は,1x記録速度の場合29となり,2x記録速度の場合27となる。
――――― [JIS X 6232 pdf 185] ―――――
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JIS X 6232:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30192:2017(IDT)
JIS X 6232:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6232:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合