180
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
NRZI チャネルビット
NRZI チャネルヒ゛ット
Ttop2TdTE2T
dTtop2T
2T
PW PC PE
0
Ttop3T dTE3T
dTtop3T
3T
PW PC PE
0
Ttop,even dTE,even
TLP,even
dTtop,even
4T
PW PBW PC PE
0
Ttop,odd TLP,odd dTE,odd
dTtop,odd
T/2
5T
PW PBW PC PE
0
Ttop,even TMP dTE,even
TLP,even
dTtop,even
6T
PW PBW PC PE
0
Ttop,odd TMP TLP,odd dTE,odd
dTtop,odd
7T T/2 T/2
PW PBW PC PE
0
Ttop,even TMP TMP dTE,even
TLP,even
dTtop,even
8T
PW PBW PC PE
0
Ttop,odd TMP TMP TLP,odd dTE,odd
dTtop,odd
9T T/2 T/2 T/2
PW PBW PC PE
0
図F.6−N/2記録ストラテジを表す記録パルス波形
各パワーレベルPW,PBW,PC及びPEは,1x記録速度の場合,継続時間は2.5 ns以上とし,2x記録速度
の場合,2.0 ns以上とする。
――――― [JIS X 6232 pdf 186] ―――――
181
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
図F.7に規定した全てのパルス幅の精度は,±0.2 nsよりも小さい。
図F.7に規定する,立上がり時間及び立下がり時間は,1x記録速度の場合2.0 nsを超えず,2x記録速度
の場合1.5 nsを超えない。
パラメタは,ディスクに依存し,最適値は15.8.3.5に示すとおりである。PW,PBW,PC及びPEは,OPC
アルゴリズムによって決定される(附属書G参照)。
F.5 パルス幅並びに立上がり時間及び立下がり時間の規定
立上がり時間及び立下がり時間は,実際の記録パワーの変化の10 %に等価なレベルから90 %に等価な
レベルまでにかかる時間,又はその逆の時間で規定する。
立上がり時間Trise及び立下がり時間Tfallを,図F.7に規定する。
いかなるオーバーシュートも10 %未満とする。
パルスの持続時間及びパルス間のスペースは,関連するパワー変化の50 %と等価のレベルで測定する
(図F.7参照)。
Twidth Twidth Twidth
P1 0.9P1 0.1P2
0.5P2
0.5P1
0.1P1
Trise P2 0.9P2
Tfall
図F.7−立上がり時間及び立下がり時間
――――― [JIS X 6232 pdf 187] ―――――
182
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
附属書G
(規定)
ディスクの最適パワー制御(OPC)方法
G.1 一般
この附属書では,最適パワーPWO,PBWO,PCO,PE1O及びPE2O(附属書F参照)並びにディスク情報(15.8.3.3,
15.8.3.4及び15.8.3.5参照)に含む関連するパラメタκ,PIND,mIND,ρ,εBW,εC,εE1及びεE2について,規
定する。
全ての記録ストラテジーが,二つのPEレベルを用いるわけではない。一つのレベルしか使用しない場合
には,次に示す二つのPE1O及びPE2Oの規定のうち一つはPEOと解釈し,他は無視できる。
G.2 記録パワーに対する変調度の関数の数学的モデル
HF信号の変調度は,m=I8pp / I8Hで規定する。記録パワーに対する変調度のカーブm(PW)は,図G.1に示
すような形となる。感度の高いOPCのために,変調度の測定は,変調度が飽和するレベルの前のパワー範
囲で行う。
この目的のために,次に示すPtargetを規定する。
PWO
target
P
ρ
ここに, ρ : PtargetからPWOを求めるための乗算係数
ρ≧1.15
m
PWO=Ptarget×ρ
PWO = Ptarget × ρ
P
Ptarget P
PWO 記録パワーPW
図G.1−記録パワーに対する変調度の関数
ランダムな測定エラー及びノイズの影響を最小にするために,記録パワーに対する変調度のカーブは,
次に示す関数で近似する。
1PPthr
m PW mmax
W
ここに, mmax : 最大変調度(飽和レベル)
Pthr : しきい値パワー
この(簡単にした)モデルで,関数f(PW)=PW×m(PW)は直線となり,次による。
PW×m(PW)=mmax×(PW−Pthr)
――――― [JIS X 6232 pdf 188] ―――――
183
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
PW ×m(P)
W
直線近似
Ptarget= κ×thr
P
Pthr Ptarget 記録パワーPW
図G.2−変調度に記録パワー乗じたもの 対 記録パワーの関数
κの値は,PtargetとPthrとの比で規定し,次による。
Ptarget
κ
Pthr
PWO,PBWO,PCO,PE1O及びPE2O,並びにその関係を決めるために必要なパラメタを,次に示す定義並び
に図G.1及び図G.2に示す。
− mIND : ディスク情報に,PINDの場合の変調度として示す。
− κ : 変調度カーブの中で,OPCを行うべきポイントを示すPW及びPthrのターゲット比
− PIND : ディスク情報中に示すPtargetの推定値
κにおける実際の記録ピークパワー
− Ptarget=κ×Pthr :
− ρ : PtargetからPWOを求めるための乗算係数
− PWO=ρ×Ptarget : 最適記録ピークパワーPWO
− εBW : 記録バイアスパワーと記録ピークパワーとの比
− PBWO=εBW×PWO : 最適記録バイアスパワーPBWO
− εC : 冷却パワーと記録ピークパワーとの比
− PCO=εC×PWO : 最適冷却パワーPCO
− εE1 : 消去パワーと記録ピークパワーとの比1
− PE1O=εE1×PWO : 最適消去パワーPE1O
− εE2 : 消去パワーと記録ピークパワーとの比2
− PE2O=εE2×PWO : 最適消去パワーPE2O
直線近似方法は,次による。
PBW=εBW×ρ×PIND,PC=εC×ρ×PIND,PE1=εE1×PWi及びPE2=εE2×PWiを使って異なる記録パワーPWi
でランダムデータを試験記録することによって,それに伴う変調度=miが求められる。
PW×m(PW)=mmax×(PW− Pthr)の直線を幾つかのポイント(PWi,mi×PWi)に当てはめることによって,こ
れらのポイントに対応するmmax及びPthrを簡単に決めることができる(モデルの正確度の限界から,mmax
は1よりも大となる可能性があることを,認識しておくことが望ましい。)。
G.3 ディスクのOPCパラメタを決める方法
メディア製造業者は,最初に,ディスクの最適パワーPWO,PBWO,PCO,PE1O及びPE2Oを決めなければ
ならない。これは,幾つかのPW,PBW,PC,PE1及びPE2の条件で試験記録をし,箇条30に従って記録パ
――――― [JIS X 6232 pdf 189] ―――――
184
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
ラメタの結果を測定することによってできる。記録及び測定は,箇条9に適合した基準ドライブを使用し,
T=23 ℃で行う。
最適記録パラメタとなるPW=PWO,PBW=PBWO,PC=PCO,PE1=PE1O及びPE2=PE2Oの組合せを選んだ後
に,εBW=PBWO / PWO,εC=PCO / PWO,εE1=PE1O / PWO及びεE2=PE2O / PWOの比が決められる。
次のステップでは,内側ゾーンのADIP予備フレームの中のディスク情報に規定する,他のパラメタ(κ,
PIND,mIND及びρ)を決める。メディア製造業者は,ターゲット記録パワーの推定指示値PINDを選び,こ
のPINDでの変調度mINDを測定する。乗算係数は,ρ=PWO / PINDとする。
κの値を決める方法は,次による。
PBW=PBWO,PC=PCO,PE1=εE1×PWi及びPE2=εE2×PWiを使って,0.9×PIND1.1×PINDの範囲で異なる
記録パワーPWiでランダムデータを記録した後に,その結果の変調度,miを測定する。記録及び変調度mi
の測定の両方を,基準ドライブを使いT=23 ℃で行う。
次に,G.1に従って,得られた測定ポイントに対して直線近似を行い,それによってPthrが決まり,κが
次のとおりに計算できる。
PIND
κ
Pthr
留意事項1 必ずしも全ての記録パラメタは,独立には最適化できないであろうことから,製造業者
のディスクに対しての記録パラメタの最適値の組合せを決めることは,製造業者に任せ
る。
留意事項2 変調度の測定は,値が小さい場合には幾分か不正確になるため,記録パワーの範囲(す
なわち,PIND)は,一番低いパワーでの変調度が30 %を超えるように選ぶことが望まし
い。さらに,変調度及び記録パワーの測定は,変調度が飽和レベルよりも十分に下のレ
ベルで行うことが望ましい。
留意事項3 上記の方法によって,κの値を決める前に,測定に用いるトラックは,PEパワー(PE1=
εE1×PWO及びPE2=εE2×PWO)だけを使用して一回照射することによって消去する。
G.4 記録パワー窓
ドライブ実装の,実際の正確性の要求事項に対して幾らかの余裕度を作るために,ディスクは,最適パ
ワー値からの記録パワーのずれ及び経時変化を許容することが望ましい。したがって,次に示す規格を満
たすことを推奨する。
εBW,εC,εE1及びεE2が15.8.3.3,15.8.3.4又は15.8.3.5に示す公称値で,記録パワーPWが0.85×PWO1.1
×PWOの範囲にあり,かつ,PBW=εBW×PW,PC=εC×PW,PE1=εE1×PW及びPE2=εE2×PWを適用した場合
に,ディスクは,0≦n≦1 000で,DOW(n)が全て規格を満たすように記録できることが望ましい。
――――― [JIS X 6232 pdf 190] ―――――
次のページ PDF 191
JIS X 6232:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30192:2017(IDT)
JIS X 6232:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6232:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合