JIS X 6232:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―120mm単層(25ギガバイト/ディスク)及び2層(50ギガバイト/ディスク)BD書換形ディスク | ページ 40

190
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
H.5.3 スライサ
スライサは,−3 dB閉ループ帯域幅が10 kHzの1次の積分帰還形自動スライサとする。スライサの帰
還は,2値出力の平均デューティサイクルを50 %に制御する。
図H.7に,このようなスライサの例を示す。
+VS
Ci Ri
Ui
Ri
UO
CO
RO
RO
CO
図H.7−帰還自動スライサの例
H.6 測定条件
ジッタは,箇条9の条件及び附属書Hに規定した追加条件のもとで測定する。
全てサーボは,固定利得及び次に示すオフセット設定とする。
a) 半径方向のトラッキングサーボは,記録層上の光スポットの中心がトラックの中心から9 nm以内と
なる直流オフセットを与える。
b) フォーカスサーボは,対物レンズが,図H.8に示すとおり最適位置Dから最大でも0.03 μm以内とな
るような直流オフセットを与える。最適フォーカス位置Dは,ディスクのボトムジッタの位置に相当
する。

――――― [JIS X 6232 pdf 196] ―――――

                                                                                            191
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
フォーカスエラー
電圧
(S-カーブ)
m
0.03 m
0.03
対物レンズとディスクの
D 距離
最適フォーカス位置
ジッタ
ボトムジッタ
対物レンズ゛とディスクの
距離
最適距離
図H.8−最適フォーカスオフセットを含むジッタ曲線及びフォーカスS曲線の例
H.7 ジッタ測定
ジッタは,1トラック分を平均する。そして,前エッジと後エッジとを別々に測定する。
他に規定する場合を除き,ジッタは,全てのラン長のエッジを使って測定する。

――――― [JIS X 6232 pdf 197] ―――――

192
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
附属書I
(規定)
測定方法
I.1 一般
ディスクの品質を検証するために,この規格に,多くの規定がされている。BD書換形ディスクの品質
を決めるために,必要な測定の再現性を最大化するためにこの附属書に幾つかの測定方法を規定する。
I.2 基準ドライブの初期調整
BD書換形ディスクの評価の前に,基準ドライブを調整する。
幾つかの項目を調整する。
初期調整は,ディスクの各測定場所で行う。
調整順は,次による。
a) 球面収差
b) フォーカスオフセット
c) 半径方向の傾き
d) 接線方向の傾き
e) トラッキングサーボ利得(AGCがない場合だけ適用する。)
f) フォーカスサーボ利得
g) トラッキングオフセット
h) 自動スライサオフセット(任意)
上記のa) g)の調整の準備として,未記録ディスクに,29.4.3,29.4.4及び29.4.5の規定に従ってランダ
ムデータを11回記録する(ジッタ,クロス消去,及び記録速度違い上書きの,それぞれの準備として)。
そして,基準ドライブの初期設定条件で,a) c)の調整を,I8ppが最大になるまで繰り返す。
次に,記録ディスクを基準速度で読み取り,全てのエッジのジッタが最小になるように,a) h)の調整
を繰り返す。全てのエッジのジッタは,PLLクロックに対して測定し,チャネルクロック周期で正規化す
る。ジッタは,トラックジャンプの領域を除き,全ての連続したマーク及びスペースの期間を1回転分測
定する。
調整手順を,規定した順番でジッタの測定結果が前回よりも良くなることが0.1 %未満となるまで繰り
返す。
I.3 ジッタ測定
ジッタ測定を行うために,測定条件(附属書H参照)を満たす。
ジッタは,1トラック分を平均化し,前エッジと後エッジとを別々に測定する。
ほかに規定する場合を除き,ジッタは,全てのラン長のエッジで測定する。
ジッタ測定を行うために,次の方法を順番に行うのが望ましい。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) タイムインタバルアナライザ(TIA)を準備する。TIAの測定窓幅TWを,トラックジャンプ領域を除

――――― [JIS X 6232 pdf 198] ―――――

                                                                                            193
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
いた1回転に設定する。最小の測定窓幅は,次の式で計算できる。
2 πR
TW .0005 秒
Vref
ここに, Vref : 基準速度
R : 測定半径
0.005 : トラックジャンプ及びPLLのプルインの時間を表す。
TIAの取込み回数は,この測定期間を使い,次のとおりに計算できる。
TW
TIAの取込み回数 9
51.51 10
ここに, 51.51×10−9 : Vrefで1回転中のマーク又はスペースの平均時間を表す。
TIAのトリガ遅延は,各基準ドライブによる。適度な値に設定することが望ましい。
c) ジッタは,29.5の規定に従って,信号を供給して測定することが望ましい。
d) 前エッジの測定を行う。
e) 後エッジの測定を行う。
I.4 変調振幅測定
変調振幅測定を行うためには,測定条件(30.2参照)を満たす。
I.5 I2pp / I8pp及びI3pp / I8ppの解像度の測定
I.5.1 I2pp及びI8ppの測定方法
解像度の測定は,29.3.3の規定によって行う。I2ppは,スペクトラムアナライザを使って測定する。I8pp
は,デジタルストレージオシロスコープ(DSO)を使って測定する。スペクトラムアナライザ及びDSO
は,同じHF基準ドライブの出力を測定しケーブル終端を用いる。
次の測定方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) 2pp及びI8ppの測定条件
− スペクトラムアナライザの設定
− 中心周波数 : 16.5 MHz(2T)
− スパン : 500 kHz
− 分解能帯域幅(RBW) : 30 kHz
− ビデオ帯域幅(VBW) : 10 Hz
− 掃引時間(SWT) : 約5秒
− ディスク信号
− 信号 : I2単一周波数,I8ランダム信号
− トラック : 1トラック
− 測定方法
− I2ppは,単一周波数信号をスペクトラムアナライザを使って測定する(図I.1参照)。
− I8ppは,HF信号をデジタルストレージオシロスコープを使って測定する(図119参照)。

――――― [JIS X 6232 pdf 199] ―――――

194
X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
分解能帯域幅 30kHz
Marker1[T1]
ビデオ帯域幅 10Hz 11.21dBmV
Ref 47dBmV Att30dB 掃引時間 5秒 16.500000000MHz
40
A
SGL
30
20
1
10
0
-10
-20
-30
-40
-50
中心周波数16.5MHz 50kHz/ スパン500kHz
図I.1−スペクトラムアナライザを用いたI2変調度の測定例
スペクトラムアナライザで得られる,I2ppの単位はdBmVであり,一方,I8ppはmVの値が得られる。そ
こで,I2pp / I8ppは,次による。
I2pp dBmV
20
2 2 10
I2pp / I8pp
I8pp mVpp
I.5.2 I3pp / I8pp,I8pp / I8H及び非対称性の測定方法
I3pp / I8pp,I8pp / I8H及び非対称性の測定は,29.3.3に規定した条件を適用して行う。
I3pp / I8pp,I8pp / I8H及び非対称性の測定は,次の方法を順番に行う。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) スライサによって2値化したHFデータ信号は,デジタルストレージオシロスコープ(DSO)のトリ
ガ信号として用いる。
c) 2L,I2H,I3L,I3H,I8L及びI8Hの値を,DSO又はアナログオシロスコープで測定する。
d) SOを使う場合,各波形は,周内に均等に分散している1 000回測定分で平均化する。
e) 3pp / I8ppの値は,次による。
I3H I3L
I3pp/ I8pp
I8H I8L
f) 8pp / I8Hの値は,次による。
I8H I8L
I8pp/ I8H
I8H
g) 非対称性の値は,次による。

――――― [JIS X 6232 pdf 200] ―――――

次のページ PDF 201

JIS X 6232:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 30192:2017(IDT)

JIS X 6232:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6232:2017の関連規格と引用規格一覧