JIS X 6232:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―１２０ｍｍ単層（２５ギガバイト／ディスク）及び２層（５０ギガバイト／ディスク）ＢＤ書換形ディスク | ページ 41

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                                                                X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
                                  I8H  I8L  I2H I2L
                        非対称性     2         2
                                       I8H  I8L
I.6   トラッキングエラー信号測定(PPnorm測定方法)
  PPnormの測定は,25.3.3及び25.4に規定した信号を使って行う。
  PPnorm信号は,ディスク1回転中にDSOでサンプリングされる。測定は,図I.2の測定領域として示し
た場所で測定する。
  PPnorm信号は,ディスク1回転中少なくとも15波は出現するようにする。
  基準ドライブの調整は,フォーカスオフセット及び球面収差の調整(記録トラックのI8ppの振幅が最大
になるようにする。)の後に,PPnorm,recを測定する。
  次のステップとしてPPnorm,rec測定で得られたのと同じフォーカスオフセット及び球面収差の設定条件で,
未記録トラックでPPnorm,unrecを測定する。
  PPnormの値の測定は,次の方法を順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを,半径方向トラッキングオープンモード(フォーカスサーボオンで,半径方向サーボ
    オフ。)にする。
b)   SOのトリガに,1回転パルス(PPR)を使い1回転分のPPnorm信号を表示する。
c) 10トラック連続の,PPnorm振幅を決める(例えば,図I.2の測定領域1)。
d) 得られた10個の値の平均をとる。
e)   )で測定した場所の反対側(トリガをディスク1回転の半分遅らせる。)に位置する,10トラック連
    続のPPnorm振幅を決める(例えば,図I.2に示す測定領域2)。
f)  得られた10個の値の平均をとる。
g)   )及びf)の二つの値の平均をとる。
h)   )で得られたPPnorm信号の最大値及び最小値を決める。
           30
               )
               V
        プッシュプル(
           20
           10
                                                                                t(秒)
           0
              0           0.005         0.010         0.015         0.020          0.025
         −10
         −20
                       測定領域1                              測定領域2
         −30
                                    図I.2−PP測定領域の指示

――――― [JIS X 6232 pdf 201] ―――――

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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
I.7   軸方向トラッキングの残留エラー測定方法
  軸方向トラッキングの残留エラー測定は,11.4に規定したフィルタを通したフォーカスエラー信号を使
って行う。測定を行う前に,信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を
超える場合は,欠陥部の測定を避けるために,信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位
置を動かす。
  次に示す方法を,軸方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
    かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) 9.10に規定したとおりに,軸方向のトラッキング基準サーボの軸方向サーボ特性を調整する。
c) 11.4に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順で,ピーク値を測定する。
  − フィルタをLPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。
                        カットオフ周波数 : 1.6 kHz
  − トラックジャンプ領域を除き,1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
      得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を,次に示す方法で測定する。
  − フィルタをBPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。
                        カットオフ周波数 : 1.6 kHz & 10 kHz
  − 1回転分のエラー信号波形を表示する。
  − ノイズの実効値を,トラックジャンプ領域を除き,DSOの機能(積分時間20 msとする。)を使っ
      て測定する。
        注記 この値は,他の測定器でも測定できる。
I.8   半径方向トラッキング残留エラーの測定方法
  半径方向トラッキングの,残留エラー測定は,11.5に規定したフィルタを通した半径方向エラー信号を
使って行う。測定を行う前に信号にスパイクがあるかどうか検査をする。スパイクがあり規格値の上限を
超える場合は,欠陥部の測定を避けるために,信号を見ながらスパイクがなくなるまで半径方向に測定位
置を動かす。
  次に示す方法を,半径方向の残留エラー値測定に順番に用いることが望ましい。
a) 基準ドライブを,1トラックジャンプモード(ドライブは,フォーカス及びトラッキングサーボがか
    かり,1回転後にアクチュエータが1トラックジャンプバックする。)にする。
b) 9.11に規定したように,半径方向のトラッキング基準サーボの半径方向サーボ特性を調整する。
c) 11.5に規定した特性のフィルタを準備する。
d) 次の手順で,ピーク値を測定する。
  − フィルタをLPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。
                        カットオフ周波数 : 1.8 kHz
  − トラックジャンプ領域を除き,1回転にわたってピーク値を測定する。この測定を10回繰り返す。
      得られた10個の値を平均化する。
e) ノイズの実効値を,次に示す方法で測定する。
  − フィルタをBPFとし,カットオフ周波数を次のとおりに設定する。

――――― [JIS X 6232 pdf 202] ―――――

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                                                                X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
                        カットオフ周波数 : 1.8 kHz & 10 kHz
  − 1回転分のエラー信号波形を表示する。
  − ノイズの実効値を,トラックジャンプ領域を除き,DSOの機能(積分時間は20 msとする。)を使
      って測定する。
        注記 この値は,他の測定器でも測定できる。
I.9   ランダムSER測定
  測定条件は,33.4に規定されている。

――――― [JIS X 6232 pdf 203] ―――――

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X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
                                          附属書J
                                          (参考)
                                       複屈折の測定
J.1   測定の原理
  複屈折の測定には,偏光平行光が使用される。位相遅延は,反射光の偏光のだ円率を見ることによって
測定される。
  この規格では,複屈折を測定する特定の装置の指定はしないが,図J.1に例示する装置は,この測定に
適している。
  入力するレーザ光の二つの偏光の方位は,既知であると仮定する。
  透過積層中でのレーザ光の入射角は,θとする。この角度は,空気中でのレーザ光の入射角θ0と,次の
関係式で表される。
                        n×sin(θ)=sin(θ0)
                      ここに,    n :  平均の(面方向の)屈折率
                 レーザ
                                                                   フォトディテクタ
                                                                   コリメータレンズ
                   偏光子
                                                             回転アナライザ
                 1/4 波長板                 0
                 ディスク
                                図J.1−複屈折を測定する装置の例
J.2   測定条件
  上記に規定した複屈折の測定は,次の条件で測定することが望ましい。
− 測定モード :               反射で透過積層を通過するダブルパス
− レーザビームの波長(λ) :  405 nm±10 nm
− ビーム半径(FWHM) :       1.0 mm±0.2 mm
− 入射角θ0 :                25°60°
− ディスク設置方向 :         水平方向
− 温度及び相対湿度 :         8.1.1の規定による

――――― [JIS X 6232 pdf 204] ―――――

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                                                                X 6232 : 2017 (ISO/IEC 30192 : 2017)
J.3   測定方法の例
  複屈折の測定を行うためには,測定条件(J.2参照)が満たされている。
  複屈折の測定方法
  次に示す方法によって,複屈折が,ディスクの透過積層の中では均一であるという仮定のもとに,平面
方向複屈折Δn//及び垂直方向複屈折Δn⊥を明確に決めることができる。さらに,複屈折Δn//及びΔn⊥の絶対
値は,1よりも十分小さいと仮定する。
a) アナライザを,入力光のs偏光軸又はp偏光軸に平行に合わせる。1/4波長板を通過した光が,直線偏
    光となるように合わせる。
b) ディスクを,表面に垂直な軸の周りに,アナライザを通過した光が最小又は最大となるように回転す
    る。
c) この位置から,ディスクを45°回す。1/4波長板を45°回す。
d) アナライザ通過光が,再び最小又は最大となるように回転する。アナライザの回転角の変化幅Δφを,
    記録する(ラジアンで)。最小の通過Tmin及び最大の通過Tmaxを記録する。
e) 位相遅れRを得るために,次の式を計算する。
                             λ       Tmax Tmin
                         R      arcsin
                            4π       Tmax Tmin
f)  次の二つの式の中で,Rの値をΔφ及びθと組み合わせ,Δn//及びΔn⊥の値を,得る。
                              R
                         Δn//   cos 2 Δφ
                              d
                              R   cos θ
                         Δn        2    sin 2 Δφ
                              d  sin θ
                      ここに,    d :  透過積層の厚さ
  入射角は,平行方向及び垂直方向の両方の複屈折が正確に測定できるように選ぶことが望ましい。適し
た値は,Δn//及びΔn⊥の比による。
J.4   測定結果の互換性
  J.2の測定条件を基にしている場合は,他の種々の測定方法が可能であり使ってもよい。測定結果の互換
性を保証するために,次に示す影響を考慮することが望ましい。
  反射光の解析の際,カバー層の表面による反射光を考慮に入れる。
  表面による反射光の直接の影響を別にしても,表面の反射光及び記録層の反射光の干渉に起因する全反
射光の変動が起こる可能性がある。この反射光の変動が顕著なのは,ディスクのカバー層が非常に正確に
平たんであり,かつ,光源のコヒーレンスが高い場合だけである。

――――― [JIS X 6232 pdf 205] ―――――

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