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X 6245 : 1999
LSB 最下位バイト (Least Significant Byte)
MSB 最上位バイト (Most Significant Byte)
NRZ 非ゼロ復帰 (Non Return to Zero)
NRZI 非ゼロ反転復帰 (Non Return to Zero Inverted)
OPC 最適パワー制御 (Optimum Power Control)
PBS 偏光ビームプリッタ (Polarizing Beam Splitter)
PCA パワー校正領域 (Power Calibration Area)
PE フェイズエンコーディング (Phase Encoding)
PI 内符号パリティ [Parity (of the) nner (code) ]
PLL 位相同期ループ (Phase-Locked Loop)
PO 外符号パリティ [Parity (of the) uter (code) ]
PUH ピックアップヘッド (Pick-Up Head)
RIN 相対ノイズ強度 (Relative Intensity Noise)
RMA 記録管理領域 (Recording Management Area)
RMD 記録管理データ (Recording Management Data)
RS リードソロモン符号 [Reed-Solomom (code) ]
RZ ゼロ復帰 (Return to Zero)
SYNC 同期符号 (Code Synchronization Code)
lsb 最下位ビット (least significant bit)
msb 最上位ビット (most significant bit)
7. ディスクの概要
この規格の主題である80mm及び120mmのディスクは,一つの記録層(片面ディ
スク)又は二つの記録層(両面ディスク)を内側に設けた基板2枚を接着層によって,は(貼)り合わせ
て構成する。ディスクの中心位置決めは,読取り側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプは,クラ
ンプゾーンで行う。ディスクは,記録層の数によって両面ディスクか又は片面ディスクとなる。両面ディ
スクは,各基板の内側に記録層をもつ。片面ディスクは,記録層を内側にもった1枚の基板と記録層をも
たないダミー基板とをもつ。未記録のDVD-Rディスクは,記録機によって非可逆的にデータを記録でき
る。記録されたディスクのデータは,ドライブの光ビームによって何回も読むことができる。記録された
DVD-Rディスクは,DVD再生専用ディスクと等価である
タイプ1S 基板,一つの記録層及びダミー基板から成り,記録層には一方向からのアクセス可能である。
容量の公称値は80mmディスクで1.23ギガバイト,120mmディスクで3.95ギガバイトであ
る。
タイプ2S 2枚の基板及び二つの記録層から成り,ディスクの一方向からは,これらの記録層の一方に
だけアクセス可能である。容量の公称値は80mmディスクで2.46ギガバイト,120mmディ
スクで7.90ギガバイトである。
図1に模式的にこれらのタイプを示す。
――――― [JIS X 6245 pdf 11] ―――――
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X 6245 : 1999
図1 ディスク外観
8. 一般要求事項
8.1 環境条件
8.1.1 測定環境条件
測定環境条件は,ディスク近傍の環境条件とし,規定がない限り次による。
a) 寸法測定用
温度 : 23℃±2℃
相対湿度 : 4555%
大気圧 : 86106kPa
b) )以外の測定用
温度 : 1535℃
相対湿度 : 4575%
大気圧 : 86106kPa
別に規定しない限り,すべての試験及び測定は,この測定環境条件で行わなければならない。
8.1.2 動作環境条件
8.1.2.1 記録済み及び未記録ディスク
この規格によって,規定した測定環境でのこの規格のすべての要
求事項を満たすディスクは,動作環境条件において環境パラメータの規定範囲にわたってデータ交換がで
きなければならない。
データ交換用ディスクは,動作状態のドライブに装着し,ディスク近傍で測定したとき,次の条件下で
動作しなければならない。
――――― [JIS X 6245 pdf 12] ―――――
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X 6245 : 1999
保存条件にさらされたディスクは,動作前に少なくとも2時間動作環境条件に放置してから使用する。
温度 : −2570℃
相対湿度 : 395%
絶対湿度 : 0.560g/m3
温度変動 : 最大15℃/h
相対湿度変動 : 最大10%/h
ディスクに結露があってはならない。
8.1.2.2 未記録ディスクの記録中の環境条件
保存条件にさらされたディスクは,動作前に少なくとも2
時間記録環境条件に放置してから使用する。
温度 : −555℃
相対湿度 : 1095%
絶対湿度 : 0.530g/m3
ディスクに結露があってはならない。
8.1.3 保存環境条件
保存環境条件はディスク近傍の環境条件とし,次による。
温度 : −2050℃
相対湿度 : 590%
絶対湿度 : 130g/m3
大気圧 : 75106kPa
温度変動 : 最大15℃/h
相対湿度変動 : 最大10%/h
記録済み及び未記録ディスクは,光劣化テストの後で,12.及び14.の規定を満たさなければならない(附
属書L参照)。
8.1.4 輸送
この規格は,輸送条件については規定しないが指針を附属書Tに示す。
8.2 安全性
ディスクは,情報処理システムにおいて意図された方法での使用時又は想定される使用時
に,IEC 60950の安全性に関する要求事項を満たさなければならない。
8.3 耐燃性
ディスクは,IEC 60950に規定しているように,HB材料の耐燃性クラス以上のクラスに適
合する材料で作る。
9. 基準測定装置
この規格に適合するために,光学特性の測定には,記録済みディスク及び未記録ディ
スクの基準測定装置を使用しなければならない。これらの装置の重要部品は,ここで定義する特性をもつ。
9.1 ピックアップヘッド (PUH)
9.1.1 記録済みディスク測定用PUH
――――― [JIS X 6245 pdf 13] ―――――
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X 6245 : 1999
図2 記録済みディスク測定用PUHの光学系
光学パラメータを測定する光学系を図2に示す。測定の精度に影響しないようにするために,その光学
系は,ディスク入射面から反射した検出光を最小化するものとする。偏光ビームスプリッタCを1/4波長
板Dと組み合わせることによって,入射光とディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリ
ッタCのP-S強度/反射率の比は,100以上とする。光学系Gは,非点収差の焦点合わせ及び読取りのた
めに,非点収差を生成してディスクFの記録層で反射した光をコリメートする。四分割ディテクタHの位
置は,対物レンズの焦点が記録層に合ったとき,光スポットが四分割ディテクタHの中心と一致する中心
をもつ円になるように調整する。そのようなフォトディテクタHの例を図2に示す。
PUHの特性は,次による
波長( : 650nm±5nm
偏光 : 円偏光
偏光ビームスプリッタ : 特に規定のない限り使用
開口数 : 0.60±0.01
対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度
: 半径方向は最大光強度の6070%,接線方向は最大光強度の90%以上
理想的な基板を通過した後の波面収差
: 最大0.033
レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)
10log[(交流光パワー密度/Hz)/直流光パワー]
: 最大−134dB/Hz
9.1.2 未記録ディスク測定用PUH
――――― [JIS X 6245 pdf 14] ―――――
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X 6245 : 1999
A : レーザダイオード,B : コリメータレンズ,C : 偏光ビームスプリッタ,D : 1/4波長板,
E : 対物レンズ,F : ディスク,G : 四分割ディテクタ,H1, H2, H3, H4 : 直流結合増幅器
Ia, Ib, Ic, Id : 四分割ディテクタ出力電流,I1, I2 : 増幅器出力電流
図3 未記録ディスク測定用PUHの光学系
特性測定を行う光学系を図3に示す。この光学系は,未記録ディスクの特性測定及びディスク測定に必
要な記録に使用する。図3の構成の機能と同じであれば,異なる部品及び部品の異なる配置をしてもよい。
光学系は,測定の精度に影響しないようにするために,ディスクの入射面から反射した検出光を最小化す
るものとする。偏光ビームスプリッタCを1/4波長板Dと組み合わせることによって,レーザダイオード
Aからの入射光とディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリッタCのP-S強度/反射率
の比は,100以上とする。
データの記録再生に用いられる集束光の特性は,次による。
波長( : 635nm±5nm
偏光 : 円偏光
開口数 : 0.60±0.01
対物レンズのひとみ(瞳)の縁での光強度
: 半径方向は最大光強度の35%以上,接線方向は最大光強度の50%以上
理想的な基板を通過した後の波面収差
: 最大0.033
レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN)
10log[(交流光パワー密度/Hz)/直流光パワー]
: 最大−130dB/Hz
9.2 測定条件
9.2.1 記録済みディスク及び未記録ディスク
チャネルビットレートが26.156 25Mbpsのときの走査速度
: 3.84m/s±0.3m/s
クランプ力 : 2.0N+0.5N
――――― [JIS X 6245 pdf 15] ―――――
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