この規格ページの目次
4
Z 2324-2 : 2020
の階調差が著しい箇所を選択し,その箇所を芯出し調整用位置とする[図3 a)参照]。明度は,256階
調のグレースケールで表す。
f) 芯出し調整用位置における明度の階調が40以内となるよう,X·Y精密ステージを調整する[図3 b)
参照]。
g) 明度波形を確認し,明度がグレースケールの128付近で撮像されるように,レーザ光の強さを調整す
る[図3 c)参照]。この場合,明暗の中央値付近の階調は,128となる。
プローブ 標準試験片
X·Y精密ステージ
A矢視
Y(+)
X軸
X(−) X(+)
標準試験片
Y(−)
X·Y精密ステージ
人工巣の中心
A矢視図
図2−検査装置におけるプローブと標準試験片との位置関係
255
明
度 128
明度の階調差
0 0 180 360
回転角(度)
1) 芯出し調整用位置の明度波形グラフの例
a) 芯ずれ時の状態
図3−芯出し時における芯出し調整用位置の明度波形グラフ及び展開画像の例
――――― [JIS Z 2324-2 pdf 6] ―――――
5
Z 2324-2 : 2020
プローブ
芯出し
調整用
位置→
標準試験片
2) 展開画像の例[展開画像に縦じま(縞)状の明暗あり] 3) 芯ずれの状態
a) 芯ずれ時の状態(続き)
255
明
度 128
明度の階調差40
0 0 180 360
回転角(度)
1) 芯出し調整用位置の明度波形グラフの例
プローブ
芯出し
調整用
位置→
標準試験片
2) 展開画像の例(展開画像の明暗を均一に調整) 3) 芯出しが完了した状態
b) 芯出し完了時の状態
図3−芯出し時における芯出し調整用位置の明度波形グラフ及び展開画像の例(続き)
――――― [JIS Z 2324-2 pdf 7] ―――――
6
Z 2324-2 : 2020
255
明
度 128
明度の階調差40
0 0 180 360
回転角(度)
1) 芯出し調整用位置の明度波形グラフの例
2 1
1軸方向の人工きず
3 2
3
φ0.3の人工巣
φ0.5の人工巣
芯出し
4 5 4φ1.0の人工巣
5円周方向の人工きず
調整用
位置→
2) 展開画像の例(展開画像の明度を中央付近に調整)
c) レーザ光の調整完了時の状態
図3−芯出し時における芯出し調整用位置の明度波形グラフ及び展開画像の例(続き)
8 共通の試験手順
検査装置の性能試験方法の繰返し精度,芯ずれ,検査時間及び外乱光に対する共通の試験手順は,次に
よる(図4参照)。
a) Cのソフトウェアに検査条件を設定する。検査条件は,次による。
1) 測定条件は,芯出しが完了した状態で標準試験片の内径面全体の生データを取得できる設定とする。
2) 判定条件は,芯出しが完了した状態で標準試験片の内径面の全ての人工巣及び人工きずを検出でき
る設定とする。
3) プローブの待機位置は,標準試験片の端面から上方に10.0 mm±0.5 mmの位置とする。
b) プローブを,待機位置から走査開始位置となる標準試験片の端面へ移動させる[図4 a)参照]。
c) プローブの先端部から検査面に向けてレーザ光を照射し,反射光を得る[図4 b)参照]。
d) プローブを等速回転させながら,一定の送り量で検査面をレーザ光で走査し,生データを得る[図4 c)
参照]。
e) 設定した判定条件で生データを判定処理し,人工きずの長さを測定する。
f) プローブを待機位置に移動させる[図4 d)参照]。
なお,標準試験片は,試験が終了するまで取り外してはならない。また,測定の途中で,検査条件を変
えてはならない。
――――― [JIS Z 2324-2 pdf 8] ―――――
7
Z 2324-2 : 2020
a) b) c) d)
図4−検査装置の試験手順
9 繰返し精度試験
9.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 1回の測定で全ての人工巣及び人工きずについて,次の項目を測定する。
1) 人工巣における円周方向及び軸方向の長さ
2) 軸方向の人工きずにおける円周方向及び軸方向の長さ
3) 円周方向の人工きずにおける軸方向の長さ
b) 測定は,箇条8の試験手順に従って短時間のうちに30回繰り返す。
c) 画素寸法は,受渡当事者間の協定による。
9.2 試験結果の表し方
試験結果は,それぞれの人工巣及び人工きずごとに30回の測定結果をJIS Z 8401の規則Bによって小
数点以下2桁に丸め,標準偏差は小数点以下3桁に丸める。
9.3 試験結果の記載例
試験結果は,測定した人工巣及び人工きずごとに記載する。記載例を表1に示す。
表1−繰返し精度試験結果の記載例
単位 mm
外乱光 試験結果 試験結果のまとめ
の有無a) o. 円周 軸 No. 円周 軸 No. 円周 軸 項目 円周 軸
方向 方向 方向 方向 方向 方向 方向 方向
1 11 21 平均
2 12 22 標準偏差
3 13 23 最大(Lmax)
4 14 24 最小(Lmin)
なし,
5 15 25 代用
6 16 26 特性値b)(L)
あり
7 17 27 誤差c)(E)
8 18 28 (%)
9 19 29 画素寸法 − −
10 20 30 − − −
注a) 外乱光ありでの試験は,箇条12による。
b) IS Z 2324-1の7.4(代用特性値)による。
c) =[(Lmax+Lmin) /2−L] /L×100
――――― [JIS Z 2324-2 pdf 9] ―――――
8
Z 2324-2 : 2020
10 芯ずれ試験
10.1 試験方法
試験方法は,次による。
a) 箇条7のb) f)で芯出しした位置(原点)をX=0,Y=0とし,原点からプローブの軸心がX方向及
びY方向のプラスマイナスのそれぞれの方向に0.1 mm,0.3 mm及び0.5 mmの芯ずれ量となる全ての
組合せについて,X·Y精密ステージ(図2参照)を操作し,原点及びそれぞれの位置(計49か所)
において,全ての人工巣及び人工きずについて,次の項目を測定する。
なお,X方向及びY方向の芯ずれ量は,受渡当事者間の協定によって変更してもよい。
1) 人工巣における円周方向及び軸方向の長さ
2) 軸方向の人工きずにおける円周方向及び軸方向の長さ
3) 円周方向の人工きずにおける軸方向の長さ
b) 測定は,それぞれの芯ずれの位置(原点も含む。)において,少なくとも1回ずつ行う。
c) 画素寸法は,受渡当事者間の協定による。
10.2 試験結果の表し方
試験結果は,JIS Z 8401の規則Bによって小数点以下2桁に丸める。
10.3 試験結果の記載例
試験結果は,測定した人工巣及び人工きずごとに記載する。記載例を表2に示す。ただし,連続性が途
切れて検出された人工きずは,“測定不能”と記載する(図5参照)。
表2−芯ずれ試験結果の記載例
単位 mm
画素寸法 Y方向の X方向の芯ずれ量
芯ずれ量 −0.5 −0.3 −0.1 0 +0.1 +0.3 +0.5
+0.5 / / / / / / /
+0.3 / / / / / / /
+0.1 / / / / / / /
円周方向 : mm
0 / / / / / / /
軸方向 : mm
−0.1 / / / / / / /
−0.3 / / / / / / /
−0.5 / / / / / / /
試験結果は,スラッシュの左側に円周方向の長さを,及びスラッシュの右側に軸方向の長さを記載する。
a) 連続性が途切れて検出された人工きず b) 正常に検出された人工きず
図5−連続性が途切れて検出された人工きず及び正常に検出された人工きずの例
――――― [JIS Z 2324-2 pdf 10] ―――――
次のページ PDF 11
JIS Z 2324-2:2020の国際規格 ICS 分類一覧
JIS Z 2324-2:2020の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1609-1:2006
- 照度計 第1部:一般計量器
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2324-1:2018
- 非破壊試験―加工穴内径面自動検査装置―第1部:標準試験片
- JISZ8120:2001
- 光学用語
- JISZ9110:2010
- 照明基準総則