JIS Z 2324-3:2020 非破壊試験―加工穴内径面自動検査装置―第３部：カメラ式検査装置の性能試験方法 | ページ 3

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                                  表2−芯ずれ試験結果の記載例
                                                                                     単位 mm
       画素寸法         Y方向の                         X方向の芯ずれ量
                         芯ずれ量   −0.5   −0.3  −0.1    0     +0.1   +0.3  +0.5
                          +0.5      /      /     /      /     /      /     /
                          +0.3      /      /     /      /     /      /     /
                          +0.1      /      /     /      /     /      /     /
 円周方向 :  mm
                           0         /      /     /      /     /      /     /
 軸方向 :  mm
                          −0.1      /      /     /      /     /      /     /
                          −0.3      /      /     /      /     /      /     /
                          −0.5      /      /     /      /     /      /     /
   試験結果は,スラッシュの左側に円周方向の長さを,及びスラッシュの右側に軸方向の長さを記載する。
       a) 連続性が途切れて検出された人工きず              b) 正常に検出された人工きず
            図6−連続性が途切れて検出された人工きず及び正常に検出された人工きずの例

11 検査時間試験

11.1 試験方法

  試験方法は,次による。
a) 生データは,標準試験片の内径面全体を取得する。
b) 検査時間は,早送り時間,データ取得時間及び早戻し時間の合計とする。ただし,判定処理時間が早
    戻し時間より長い場合には,早送り時間,データ取得時間及び判定処理時間の合計とする。検査時間
    の区分は,次による(図7参照)。
  − 早送り時間 プローブを待機位置から走査開始位置まで移動させる時間
  − データ取得時間 走査開始から走査終了までの時間
  − 判定処理時間 走査終了から判定結果が表示されるまでの時間
  − 早戻し時間 プローブを走査終了位置から待機位置まで戻す時間
c) 検査時間の測定は,自動測定(検査装置に内蔵のタイマーなどによる測定)又は手動測定(ストップ
    ウォッチなどの計測器による測定)のいずれでもよいが,採用した測定方法を記載しなければならな
    い。
d) 画素寸法は,次の条件A条件Cとする。
      なお,画素寸法は,受渡当事者間の協定によって変更してもよい。
  − 条件A 円周方向及び軸方向の画素寸法が0.1 mm
  − 条件B 円周方向及び軸方向の画素寸法が0.05 mm

――――― [JIS Z 2324-3 pdf 11] ―――――

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  − 条件C 円周方向及び軸方向の画素寸法が0.03 mm
e) 判定条件は,全ての人工巣及び人工きずを検出する設定とする。
f)   )の条件A条件Cの全ての画素寸法における検査時間をb)の区分ごとに1回ずつ測定する。
                  項目                                        時間 (秒)
  順番            検査時間
   0 検査開始
   1 1)待機位置 →2)走査開始位置
                                        (早送り時間)
   2 2)走査開始位置 →3)走査終了位置
                                                   (データ取得時間)
                                                                         (判定処理時間)
   3 3)走査終了位置 →4)待機位置
                                                                         (早戻し時間)
   4 検査終了
         プローブ
            プローブ
    標準試験片
       標準試験片
                  1)待機位置        2)走査開始位置      3)走査終了位置
                1) 待機位置       2) 走査開始位置     3) 走査終了位置       4) 4)待機位置
                                                                                 待機位置
                                      図7−検査時間の測定

11.2 試験結果の表し方

  試験結果は,秒で表し,小数点以下2桁まで測定してJIS Z 8401の規則Bによって小数点以下1桁に丸
める。

11.3 試験結果の記載例

  試験結果の記載例を,表3に示す。

――――― [JIS Z 2324-3 pdf 12] ―――――

                                                                                            11
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                                 表3−検査時間試験結果の記載例
                                                                                      単位 s
      条件    円周方向及び軸方向の      検査時間       データ取得時間     判定処理時間
                    画素寸法
                     (mm)
       A              0.1
       B              0.05
       C              0.03
     測定方法 : 自動測定,手動測定

12 外乱光試験

12.1 一般

  試験依頼者から要求があった場合には,外乱光に関する性能試験を行う。

12.2 試験方法

  試験方法は,次によるほか,9.1による。
a) 試験に用いる外乱光は,次による。
  1) 外乱光として,白色LEDを光源とする照明を用いる。
  2) 外乱光の照度は,標準試験片の内径周辺端面において10 000 lxを目安とする。ただし,受渡当事者
      間の協定によって変更してもよい。
  3) 外乱光の照度は,JIS C 1609-1に規定する一般形A級照度計又はこれと同等以上の照度計を用いて
      測定する。
b) 外乱光は,標準試験片の人工巣に向けて,おおよそ45°で照射する(図8参照)。
c) 外乱光がありの場合となしの場合との試験結果を比較する。
                             プローブ
                                                        LED光源
                                                   標準試験片
                                     図8−外乱光の照射方法

――――― [JIS Z 2324-3 pdf 13] ―――――

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12.3 試験結果の表し方

  試験結果の表し方は,9.2による。

12.4 試験結果の記載例

  試験結果の記載例は,表1による。外乱光の有無は,“あり”と記載する。

13 報告

  性能試験の報告には,次の事項を記載する。
a) 規格番号(JIS Z 2324-3)
b) 試験日時
c) 試験場所
d) 試験場所の温度及び湿度
e) 試験実施者の所属及び氏名
f) 標準試験片の種類の記号
g) 標準試験片の製品番号
h) 試験対象とした標準試験片の内径及び人工巣·人工きず,並びにそれらの代用特性値
i) 検査装置の種類及びその他の使用機材
j) 検査装置のソフトウェアの名称及びその版数
k) 検査条件
l) 試験結果
m) 試験中に認められた特記事項

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                                          附属書A
                                          (参考)
                               検査装置のきず検出の原理
A.1 きず検出の原理
  検査装置のきず検出の原理は,次による(図A.1参照)。
a) 検査対象となる検査面に光を照射し,検査面からの反射光を,カメラのイメージセンサで受光する。
b) 受光した光の強度をアナログ信号からデジタル信号に変換し,生データを得る。
c) 検査面にきずがある場合,健全部ときず部とでは明度に差が生じる。この差の度合いによってきずを
    検出する。
                                                 カメラ
                        イメージセンサ                レンズ
                                         反射光
                                    照射光                      検査面
                                             ミラー
                                図A.1−検査装置のきず検出の原理

――――― [JIS Z 2324-3 pdf 15] ―――――

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