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Z 2345-2 : 2018
単位 mm
注a) 箇条9に規定する表示事項を刻印又は彫刻する。
図1−STB-A7963の形状,寸法及び目盛
――――― [JIS Z 2345-2 pdf 6] ―――――
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Z 2345-2 : 2018
6 試験片の音速
試験片の音速測定方法及び音速の許容値は,次による。
a) 試験片の縦波及び横波の音速を,附属書JAに規定する方法によって測定する。
b) 試験片の縦波及び横波の音速の測定頻度は,製造ロットごとに1回以上とする。
c) 音速測定の最大許容誤差は,±0.2 %とする。すなわち,測定値の誤差は,縦波について±12 m/s,横
波について±6 m/sである。
d) TB-A7963の縦波の音速は,5 920 m/s±30 m/s,横波音速は,3 245 m/s±15 m/sとする。
7 超音波測定
7.1 測定に用いる装置
試験片の測定に用いる装置は,表1による。
表1−測定装置
装置 仕様
超音波 周波数 必要とする周波数範囲を含む周波数切替え機能をもつ探傷器
探傷器 リジェクション 使用不可
種類 斜角探触子
振動子材料 セラミックス
超音波
周波数 MHz 5
探触子
振動子寸法 mm 10×10
屈折角 ° 70
接触媒質 JIS K 2238に規定するマシン油ISO VG10
探触子安定用おもり 測定精度を保つための適切な押付圧を与えるおもり
測定用基準片 性能が証明されているSTB-A7963
7.2 測定方法及び測定条件
試験片の測定方法及び測定条件は,表2による(以下,測定される試験片を単に“試験片”という。)。
表2−測定方法及び測定条件
項目 内容
反射源 R50面(半径が50 mmの円筒面)
基準感度 測定用基準片の反射面からのエコー高さを60 %80 %に調整
入射点位置 R50面のエコー高さが最大となるように探触子を前後走査し,最大エコー高さ
の位置に探触子を止め,探触子の入射点とR50面の中心との偏差測定。偏差符
号は,R50面の中心から前方(R50面に向かう方向)をプラス,後方をマイナ
ス。
測定回数 試験片及び測定用基準片について,それぞれ2回測定
読取りの単位 mm 0.2
再測定を必要とする2回の測定値0.4
の差 mm
8 合否の判定
a) c)の条件を満足する試験片をSTB-A7963とする。ただし,入射点の測定値は,2回の測定値の平均
値とする。
――――― [JIS Z 2345-2 pdf 7] ―――――
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Z 2345-2 : 2018
なお,2回の測定値に,表2の“再測定を必要とする2回の測定値の差”の欄に規定した値を超える差
がある場合には,再測定を行い,上記の規定値を超えない二つの測定値を用いる。
a) 試験片のR50面による入射点測定位置の測定値が,測定用基準片を基にして定めた基準値に対して±
1.0 mmである。
b) 試験片の寸法及び表面粗さが図1に示す値以内である。
c) 測定した音速が,箇条6 d)に示す値の範囲内である。
9 表示
測定値に基づく合否判定に合格した試験片には,図1に示す位置に刻印又は彫刻によって,次の内容を
表示する。
a) 製造業者の略称及びSTB-A7963記号
b) 試験片ごとの製造番号
例
XXXX-STB-A7963 No.0000
試験片ごとの製造番号
STB-A7963記号
製造業者の略称
10 適合の証明
製造業者は,それぞれの試験片に製造番号を付した上で,試験片ごとに文書によって次の証明をしなけ
ればならない。
a) TB-A7963が,この規格に適合していることの証明
b) 測定された縦波速度の値(箇条6参照)
c) 測定された横波速度の値(箇条6参照)
11 使用方法
11.1 時間軸の調整
時間軸を調整するには,繰返しエコーの立上り(左端)が,測定装置表示器の適切な目盛に一致するよ
うに調整を行う。
ビーム路程は,試験される材料における超音波の音速に依存する。
11.1.1 縦波垂直探触子による測定範囲50 mmまでの調整
探触子を,繰返しエコーが観察可能な面へ図2 a)のように配置する。図2 b)は,装置の測定範囲を50 mm
に調整するためのAスコープ表示を示している。
注記 使用する探触子の振動子寸法と周波数との組合せによって,試験片板厚の10倍以上の距離を校
正する場合,困難が生じることがある。
――――― [JIS Z 2345-2 pdf 8] ―――――
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単位 mm
a) 試験片上の探触子位置
b) 測定範囲を50 mmに校正するときのAスコープ表示
図2−縦波垂直探触子を用いた測定範囲50 mmの時間軸の調整
11.1.2 小型斜角探触子を用いた測定範囲100 mm又は125 mmの調整
測定範囲を125 mmに調整する場合には,小型横波斜角探触子を図3 a)の位置に配置し,また測定範囲
を100 mmに調整する場合には,探触子を図3 b)の位置に配置する。これらの二つの測定範囲調整におけ
るAスコープ表示を概略的に図3のa)及びb)に示す。
単位 mm
a) 測定範囲125 mm
b) 測定範囲100 mm
図3−小型斜角探触子の標準試験片上の位置
――――― [JIS Z 2345-2 pdf 9] ―――――
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11.2 感度調整及び探触子の点検
11.2.1 一般
感度調整には,多くの因子が影響を与える(A.2参照)。
11.2.2 縦波垂直探触子の感度調整
探触子を図4 a)の位置“a”に置き,繰返しエコーのAスコープ表示を感度調整の基準として用いる。
直径5 mmの穴からの反射も感度調整の基準として用いてよい。図4 b)の位置“b”のように,探触子を
エコーの振幅が最大になる位置に置く。
a) 位置“a” b) 位置“b”
図4−垂直探触子の感度調整
11.2.3 小型斜角探触子
11.2.3.1 感度調整
直径5 mmの穴からの最大エコーを感度調整の基準として用いる(図5の位置“a”参照)。
代わりに,円筒面からの反射を利用することも可能である。利用可能な円筒面の半径は,50 mm及び25
mmである。その場合,次の二つの方法が可能である。
a) はじめに円筒面エコーの振幅を表示器の80 %に合わせ,その後,望ましいレベルに調整する(図5の
位置“b”参照)。
b) 円筒面からの繰返しエコーを用いることもできる(図6参照)。
探触子を点検するときには,音響結合が重要な因子である。また,探触子を比較するときには,同じ接
触媒質を使用する。
図5−小型斜角探触子の感度調整
――――― [JIS Z 2345-2 pdf 10] ―――――
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JIS Z 2345-2:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 7963:2006(MOD)
JIS Z 2345-2:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.160 : 溶接,ろう付け及びはんだ付け > 25.160.40 : 溶接継手及び溶接部分
JIS Z 2345-2:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISG3106:2015
- 溶接構造用圧延鋼材
- JISG3106:2020
- 溶接構造用圧延鋼材
- JISG4051:2016
- 機械構造用炭素鋼鋼材
- JISK2238:1993
- マシン油
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2345-3:2018
- 超音波探傷試験用標準試験片―第3部:垂直探傷試験用標準試験片