JIS Z 2356:2006 黒鉛素材の超音波自動探傷検査方法

                                                                                   Z 2356 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本非破壊検査協会(JSNDI)/財団
法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業
標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
  JIS Z 2356には,次に示す附属書がある。
    附属書1(規定)黒鉛素材の超音波特性測定用対比試験片及び測定方法
    附属書2(規定)黒鉛素材の超音波伝搬特性試験方法

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Z 2356 : 2006

pdf 目 次

ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 検査の原理・・・・[3]
•  5. 試験体及び検出対象きず・・・・[3]
•  6. 技術者・・・・[3]
•  7. 超音波自動探傷装置の構成・・・・[4]
•  7.1 装置の基本構成・・・・[4]
•  7.2 超音波探傷器・・・・[4]
•  7.3 探触子・・・・[4]
•  7.4 走査装置・・・・[4]
•  7.5 画像表示・収録装置・・・・[5]
•  8. 超音波自動探傷試験の条件設定・・・・[5]
•  8.1 試験片・・・・[5]
•  8.2 水距離・・・・[5]
•  8.3 ビーム軸入射点・・・・[5]
•  8.4 探傷に必要な走査及び監視範囲・・・・[6]
•  8.5 距離振幅補償方法・・・・[6]
•  8.6 見かけのビーム幅の測定・・・・[6]
•  8.7 面走査におけるデータ収録点間隔の選定・・・・[7]
•  8.8 入射角走査におけるデータ収録点間隔の選定・・・・[7]
•  8.9 探傷感度補正量の評価・・・・[7]
•  9. 超音波自動探傷試験の手順・・・・[7]
•  9.1 試験体・・・・[7]
•  9.2 探傷の時期及び内容・・・・[8]
•  10. 超音波自動探傷試験・・・・[9]
•  10.1 試験準備・・・・[9]
•  10.2 一次探傷・・・・[9]
•  10.3 二次探傷・・・・[9]
•  11. 合否判定基準・・・・[10]
•  12. 記録・・・・[10]
•  12.1 試験実施成績書・・・・[10]
•  12.2 走査方法及びエコー収録ゲート・・・・[10]
•  12.3 探傷条件・・・・[10]
•  12.4 探傷データ・・・・[10]

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                                                                                   Z 2356 : 2006

•  附属書1(規定)黒鉛素材の超音波特性測定用対比試験片及び測定方法・・・・[11]
•  附属書2(規定)黒鉛素材の超音波伝搬特性試験方法・・・・[16]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              Z 2356 : 2006

黒鉛素材の超音波自動探傷検査方法

Method of automatic ultrasonic inspection for graphite ingot

1. 適用範囲

 この規格は,等方性黒鉛材料のあらゆる方位を向いた面状きずを,一探触子を使ったパル
ス反射法を利用して,水中で行う超音波自動探傷検査の方法について規定する。

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 2300 非破壊試験用語
    JIS Z 2305 非破壊検査−技術者の資格及び認証
    JIS Z 3070 鋼溶接部の超音波自動探傷方法

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 2300及びJIS Z 3070の3.(定義)によるほか,次
による。
a) 面走査 探触子の移動方向及び間隔を設定する方法のうち,試験体入射面に沿った二次元走査。二種
    の入射面に応じて3.b)のR−X走査又は3.c)のR−Z走査のいずれかを実施する。
b)   −X走査 面走査のうち,平面である試験体上下面からの入射のときに行う試験体回転−試験体径
    方向の走査(図1参照)。
c)   −Z走査 面走査のうち,曲面である試験体側面からの入射のときに行う試験体回転−試験体高さ
    方向の走査(図2参照)。
d) 入射角走査 探触子の移動方向及び間隔を設定する方法のうち,面走査のときの入射角を順次変更す
    る走査。入射面に対応してi1−i2走査又はi1−off走査のいずれかを,直交走査又は千鳥走査のいずれ
    かの方法で実施する。
e)   1−i2走査 入射角走査のうち,試験体上下面からの入射のときに行う上下角(探触子傾斜角)i1−水
    平角(探触子旋回角)i2の走査(図1参照)。それぞれの走査点(データ収録点)ごとにR−X走査を
    行う。
f)   1−off走査 入射角走査のうち,試験体側面からの入射のときに行う上下角(探触子傾斜角)i1−オフ
    セットoffの走査(図2参照)。それぞれの走査点(データ収録点)ごとにR−Z走査を行う。
g) 直交走査 入射角走査において,走査点が正方格子を描くような走査。
h) 千鳥走査 入射角走査において,走査点数削減のため,走査点が正六角格子を描き,互い違いの千鳥
    模様になるような走査(図3参照)。
i)  一次探傷 二段階の探傷の始めに行うもの。比較的大きな見かけのビーム幅に相当する走査ピッチで,
    比較的高い探傷感度で行い,二次探傷すべき部位を特定する。
j)  二次探傷 二段階の探傷の二番目に行うもの。一次探傷で特定された部位に対し,比較的小さな見か

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    けのビーム幅に相当する走査ピッチで,ビーム端補正だけ一次探傷より低い探傷感度で行い,試験体
    の合否判定を行う。
k) 2軸首振り走査 基準感度設定のため平底穴のエコー高さを測定するときに,黒鉛中を伝搬する超音
    波ビームの波頭の揺らぎを補償するため,入射角を2軸で走査し,最大エコー高さを求める走査。
l)  幾何学的屈折角 黒鉛中の平均音速を用いて,入射角からスネルの法則により計算した屈折角。ただ
    し,ここでの音速としては有効数字二けたの概略値を使用する。
m) 面方向ビーム幅 検出きず相当の平底穴に対して面走査を行ったとき,最大エコー高さより規定の強
    度低下内でエコーが出現する面方向の範囲。
                                   図1   R−X走査の模式図
                                   図2   R−Z走査の模式図

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