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Z 4511 : 2018
表B.34−単色光子エネルギーに対するスラブファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(0.07:E,α)
エネルギー 入射角度に対するhpK(0.07:E,α)
Sv/Gy
keV 0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
5 0.75 0.75 0.74 0.72 0.69 0.67 0.65 0.58 0.45 0.21
6 0.84 0.84 0.84 0.83 0.80 0.79 0.77 0.72 0.63 0.40
8 0.92 0.92 0.91 0.91 0.90 0.90 0.89 0.86 0.82 0.67
10 0.95 0.94 0.94 0.94 0.94 0.94 0.93 0.91 0.89 0.80
12.5 0.96 0.96 0.96 0.96 0.95 0.95 0.95 0.94 0.92 0.87
15 0.98 0.98 0.98 0.98 0.98 0.98 0.97 0.97 0.95 0.91
20 1.04 1.04 1.04 1.04 1.03 1.03 1.03 1.03 1.01 0.97
30 1.23 1.22 1.22 1.22 1.20 1.20 1.19 1.16 1.13 1.07
40 1.44 1.44 1.43 1.43 1.41 1.39 1.38 1.33 1.28 1.18
50 1.63 1.63 1.62 1.60 1.57 1.56 1.54 1.48 1.40 1.28
60 1.72 1.71 1.70 1.69 1.66 1.65 1.63 1.57 1.49 1.36
80 1.73 1.72 1.72 1.72 1.69 1.67 1.66 1.61 1.53 1.42
100 1.67 1.66 1.66 1.65 1.63 1.62 1.61 1.58 1.52 1.43
125 1.59 1.59 1.59 1.58 1.57 1.57 1.56 1.53 1.50 1.42
150 1.52 1.52 1.52 1.52 1.51 1.51 1.50 1.48 1.46 1.41
200 1.43 1.43 1.43 1.43 1.44 1.44 1.44 1.43 1.42 1.38
300 1.34 1.34 1.34 1.35 1.35 1.35 1.36 1.36 1.36 1.35
表B.35−蛍光X線及び線源に対するスラブファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(0.07:F,α) 及び
hpK(0.07:S,α)
線質 照射距離 dF 入射角度に対するhpK(0.07:F,α) 及びhpK(0.07:S,α)
m cm Sv/Gy
(9.2.3参照)0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
F-Zn 1.02.0 25 0.93 0.93 0.92 0.92 0.92 0.92 0.91 0.88 0.85 0.72
F-Ge 1.02.0 25 0.95 0.94 0.94 0.94 0.94 0.94 0.93 0.91 0.89 0.80
F-Zr 1.02.0 25 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.98 0.98 0.96 0.92
F-Mo 1.02.0 25 1.01 1.01 1.01 1.01 1.00 1.00 1.00 1.00 0.98 0.94
F-Cd 1.02.0 20 1.09 1.10 1.10 1.10 1.09 1.08 1.08 1.07 1.05 1.00
F-Sn 1.02.0 20 1.14 1.14 1.14 1.14 1.12 1.12 1.11 1.09 1.07 1.01
F-Cs 1.02.0 16 1.25 1.24 1.24 1.24 1.22 1.22 1.21 1.18 1.14 1.08
F-Nd 1.02.0 13 1.39 1.38 1.37 1.38 1.36 1.34 1.33 1.29 1.24 1.15
F-Sm 1.02.0 12 1.44 1.44 1.43 1.43 1.41 1.39 1.38 1.33 1.28 1.18
F-Er 1.02.0 11 1.62 1.62 1.61 1.59 1.56 1.55 1.53 1.47 1.39 1.27
F-W 1.02.0 11 1.72 1.71 1.70 1.69 1.66 1.65 1.63 1.57 1.49 1.36
F-Au 1.02.0 11 1.73 1.72 1.72 1.72 1.68 1.67 1.65 1.60 1.52 1.40
F-Pb 1.02.0 11 1.73 1.72 1.72 1.72 1.69 1.67 1.66 1.61 1.53 1.41
F-U 1.02.0 11 1.68 1.66 1.66 1.66 1.64 1.63 1.62 1.58 1.52 1.43
S-Am 1.02.0 11 1.72 1.71 1.70 1.69 1.66 1.65 1.63 1.57 1.49 1.36
――――― [JIS Z 4511 pdf 61] ―――――
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Z 4511 : 2018
表B.36−Lシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:L,α)
線質 照射距離 dF 入射角度に対するhpK(0.07:L,α)
m cm Sv/Gy
(9.2.3参照)0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
L-10 1.02.0 25 0.93 0.93 0.92 0.92 0.91 0.91 0.90 0.87 0.84 0.70
L-20 1.02.0 25 1.00 1.00 1.00 1.00 0.99 0.99 0.99 0.99 0.97 0.93
L-30 1.02.0 18 1.14 1.14 1.14 1.14 1.13 1.12 1.12 1.10 1.08 1.02
L-35 1.02.0 16 1.22 1.21 1.21 1.21 1.20 1.19 1.19 1.16 1.13 1.06
L-55 1.02.0 11 1.57 1.56 1.55 1.54 1.52 1.50 1.48 1.43 1.36 1.25
L-70 1.02.0 11 1.71 1.70 1.69 1.68 1.65 1.64 1.62 1.56 1.48 1.35
L-100 1.02.0 11 1.71 1.70 1.70 1.70 1.67 1.65 1.64 1.60 1.53 1.43
L-125 1.02.0 11 1.64 1.63 1.63 1.62 1.61 1.60 1.59 1.56 1.51 1.43
L-170 1.02.0 12 1.53 1.53 1.53 1.53 1.52 1.52 1.51 1.49 1.47 1.41
L-210 1.02.0 12 1.45 1.45 1.45 1.46 1.46 1.46 1.45 1.44 1.43 1.39
L-240 1.02.0 13 1.42 1.42 1.42 1.42 1.43 1.43 1.43 1.42 1.42 1.37
表B.37−Nシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:N,α)
線質 照射距離 dF 入射角度に対するhpK(0.07:N,α)
m cm Sv/Gy
(9.2.3参照) 0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
N-10 1.02.0 25 0.91 0.91 0.90 0.90 0.89 0.88 0.87 0.84 0.79 0.63
N-15 1.02.0 25 0.96 0.95 0.95 0.95 0.95 0.95 0.94 0.93 0.91 0.84
N-20 1.02.0 25 0.98 0.98 0.98 0.98 0.98 0.98 0.97 0.97 0.95 0.91
N-25 1.02.0 23 1.03 1.03 1.03 1.03 1.02 1.02 1.02 1.02 1.00 0.96
N-30 1.02.0 20 1.10 1.10 1.10 1.10 1.09 1.09 1.08 1.07 1.05 1.00
N-40 1.03.0 16 1.27 1.26 1.26 1.26 1.24 1.23 1.22 1.19 1.16 1.09
N-60 1.03.0 11 1.55 1.55 1.54 1.53 1.50 1.49 1.47 1.42 1.35 1.24
N-80 1.03.0 11 1.72 1.71 1.70 1.70 1.66 1.65 1.63 1.58 1.50 1.37
N-100 1.03.0 11 1.72 1.70 1.70 1.70 1.68 1.66 1.65 1.60 1.53 1.42
N-120 1.03.0 11 1.67 1.66 1.66 1.65 1.63 1.62 1.61 1.58 1.52 1.43
N-150 1.03.0 11 1.61 1.60 1.60 1.60 1.58 1.58 1.57 1.54 1.50 1.42
N-200 1.03.0 12 1.49 1.49 1.49 1.49 1.49 1.49 1.48 1.46 1.45 1.40
N-250 1.03.0 13 1.42 1.42 1.42 1.42 1.43 1.43 1.44 1.43 1.42 1.37
N-300 1.03.0 15 1.38 1.38 1.38 1.38 1.40 1.40 1.41 1.40 1.40 1.36
表B.38−Wシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:W,α)
線質 照射距離 dF 入射角度に対するhpK(0.07:W,α)
m cm Sv/Gy
(9.2.3参照) 0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
W-60 1.53.0 11 1.49 1.48 1.48 1.47 1.44 1.43 1.42 1.37 1.31 1.21
W-80 1.54.0 11 1.64 1.63 1.62 1.61 1.58 1.57 1.55 1.50 1.43 1.31
W-110 1.54.0 11 1.71 1.70 1.70 1.69 1.67 1.65 1.64 1.59 1.52 1.41
W-150 1.54.0 11 1.64 1.64 1.64 1.63 1.61 1.60 1.59 1.56 1.51 1.42
W-200 1.54.0 12 1.55 1.55 1.55 1.54 1.53 1.53 1.52 1.50 1.47 1.41
W-250 1.54.0 13 1.47 1.47 1.47 1.47 1.47 1.47 1.47 1.45 1.44 1.39
W-300 1.54.0 14 1.42 1.42 1.42 1.42 1.43 1.43 1.44 1.43 1.42 1.37
――――― [JIS Z 4511 pdf 62] ―――――
60
Z 4511 : 2018
表B.39−Hシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:H,α)
線質 照射距離 dF 入射角度に対するhpK(0.07:H,α)
m cm Sv/Gy
(9.2.3参照) 0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
H-10 1.53.0 25 0.89 0.89 0.88 0.88 0.86 0.86 0.84 0.80 0.74 0.56
H-20 1.53.0 25 0.95 0.95 0.95 0.95 0.94 0.94 0.94 0.92 0.90 0.81
H-30 1.53.0 20 1.01 1.01 1.01 1.01 1.00 1.00 1.00 0.99 0.97 0.92
H-60 1.53.0 12 1.29 1.29 1.29 1.28 1.27 1.26 1.25 1.22 1.18 1.10
H-100 1.54.0 12 1.58 1.57 1.57 1.56 1.53 1.52 1.51 1.46 1.39 1.28
H-200 1.54.0 12 1.62 1.62 1.62 1.61 1.59 1.59 1.57 1.54 1.49 1.40
H-250 1.54.0 14 1.56 1.56 1.56 1.56 1.55 1.54 1.53 1.51 1.47 1.40
H-280 1.54.0 14 1.51 1.51 1.51 1.51 1.51 1.50 1.50 1.48 1.46 1.40
H-300 1.54.0 15 1.51 1.50 1.50 1.50 1.50 1.50 1.50 1.48 1.45 1.39
――――― [JIS Z 4511 pdf 63] ―――――
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Z 4511 : 2018
附属書C
(参考)
二次電子平衡及び電子飛程の影響
C.1 二次電子平衡の概要
一般に物質の深部の厚さとその物質中の二次電子の電離電流との関係は,図C.1 a) の実線の曲線になる。
物質の深部の電離電流は,深部がゼロのときは,発生しない。深部が増加すると増大し,ある厚さで最大
(飽和)値を示し,それ以上の厚さになると吸収されて減少していく。この最大値の厚さが二次電子平衡
の厚さであり,物質に入射する光子エネルギーによって変わる。
実際には,物質周辺の空気中で発生した二次電子が目的とする物質の深部に入射し,深部の厚さを厚く
していくとその成分は減少してゼロになり,深部厚さにおける二次電子の電離電流となる。この全体の電
離電流は,図C.1 a) の点線の部分となる。図C.1 b) の実線は,7.1.2.2の図4に示す0.511 MeV以下の対
象外の放射線によって,深部厚さがゼロでも大きな値を示し,厚さと共に減少する。このため,R-Fの6.13
MeVの深部の電離電流曲線は,点線のようになる。
図C.1 a) 及びb) 両者の二次電子平衡の厚さは,この点線と実線とが交差する物質の深部厚さ,すなわ
ち,目的の光子エネルギーに対して,目的外の放射線による二次電子,外部の空気中で発生する二次電子
などを物質が吸収できる厚さと等価となる。
検出器の壁厚が二次電子平衡の厚さより薄いと,周辺の空気中で発生した二次電子,γ線源の周辺で発
生した二次電子及び目的外放射線で発生した二次電子が検出器内部に入射する。このため,校正時の感度
は,検出器の壁厚,校正距離などによって変化してしまう。したがって,検出器の壁厚を測定する光子エ
ネルギー領域の最大の二次電子を吸収する厚さより厚くすることで,線量に対する感度を一定にすること
ができる。
C.2 各光子標準場における電子飛程の影響
65 keV以上のエネルギーの電子は,ICRU組織の深さ0.07 mmまで到達する。深さ10 mmに対しては,
電子エネルギーが2 MeV以上となる。これは,これらのエネルギー以上の線質では,二次電子の飛程が重
要であることを意味している。電子の飛程が測定する深さ以上となった場合,0.07 mmの深さの線量当量
[以下,H(0.07)という。]又は10 mmの深さの線量当量[以下,H(10)という。]が二次電子平衡状態から
ずれることがある。
図C.1 a) 及びb) は,それぞれ,R-Ni又はR-F線質に対する深部の電離電流曲線を示した図である。こ
れらから,二次電子平衡は,約3 cmより厚い深さでないと成立しないことが分かる。γ線源と試験点との
間の深部線量曲線は,放射線源の性質及び物質の種類,形状にも依存するが,電子平衡の条件が満たされ
ていない限り,深さの増加と共に上昇又は低下がある。二次電子ビルドアップが完了しない限り,ほとん
どの放射線検出器は,電子平衡条件下で動作していない。
ビルドアップが達しているか否かに関係なく,ICRUが推奨する場及び個人のモニタリングのための測
定の深さは,0.07 mm及び10 mmである。したがって,ビルドアップされた荷電粒子平衡状態での換算係
数を常に用いることは,適切ではない。この問題の有効な解決方法の一例を次に記載する。
光子エネルギーが65 keV以上,及び2 MeV以上の基準放射線場では,H(0.07) 及びH(10) の取決め真値
は,試験点において測定される空気カーマ率から,附属書Bに記載の換算係数を用いて線量当量を求める。
――――― [JIS Z 4511 pdf 64] ―――――
62
Z 4511 : 2018
この空気カーマ測定時においては,荷電粒子平衡のためのビルドアップ板を用いる必要はない。附属書B
に示す換算係数は,二次荷電粒子平衡状態における値であるため,測定器の試験は,二次荷電粒子平衡下
で行う。もし測定器の検出部が荷電粒子平衡状態となる十分なビルドアップ物質で覆われていない場合は,
組織等価の物質から成る板を付加して,荷電粒子平衡状態とする。図C.2では,この目的のためにPMMA
板(ビルドアップ板)を採用している。
線量当量の取決め真値に関係する試験では,線量計の基準点の前にPMMA板を設置して測定する。
PMMA板は,30 cm×30 cmの大きさで,PMMA板の散乱及び吸収による光子場への影響は,附属書Bの
表B.8及び表B.21に示す補正係数kPMMAによって補正する。通常,ビルドアップ板は,線量計の直前に設
置する。しかし,角度特性の試験を実施する場合は,線量計とファントムとを組み合わせて回転させるた
め,実際には,ビルドアップ板をγ線源の方向に検出器からある程度離れた距離に,図C.2に示すように
設置する。こうすることによって,90度の角度範囲での荷電粒子平衡が成立し,全ての回転角に対して同
一の補正係数kPMMAを用いることができ,荷電粒子平衡状態か否かによらない校正結果が得られる。これ
は,PMMA板がない場合に,荷電粒子平衡状態において正しい線量測定が行えることを保証する。電子飛
程が測定する深さよりも長い高エネルギーの電子と光子との混在場では,正確な線量が測定できていると
は断定できない。このような場合の線量当量の正しい測定は,H(0.07) 及びH(10) に対して適したβ線標
準場における校正も必要である。これらに関しては,ISO 6980-1[1]が参考となる。
――――― [JIS Z 4511 pdf 65] ―――――
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JIS Z 4511:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 4037-1:1996(MOD)
- ISO 4037-2:1997(MOD)
- ISO 4037-3:1999(MOD)
- ISO 4037-4:2004(MOD)
JIS Z 4511:2018の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.240 : 放射線測定
JIS Z 4511:2018の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISZ4001:1999
- 原子力用語
- JISZ4331:2005
- 個人線量計校正用ファントム
- JISZ8103:2019
- 計測用語