JIS Z 4514:2010 β線組織吸収線量測定器及び線量当量測定器の校正方法 | ページ 8

     (I)   JISの規定                 (II)       (III)国際規格の規定          (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条(V)   JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
4 β線標準4.1.6 β線放出率の減
ISO 6980-1 4 4.5 β線放出率の減少 変更 表1の106Ru+106Rhの核データ国際規格の修正を要求する。
場の生成 少 を訂正した。
(続き) 4.2 標準場の生成に 5 標準場の生成に適する核 一致
適するβ線放出核種 種
4.3 線源の特徴及び 6 線源の特徴及びその測定 一致
その測定
4.3.1 標準線源の基 6.1 標準場線源の基本的
本的な特徴 な特徴
4.3.1.1 標準線源の構 6.1.1 標準線源の構造

4.3.1.2 標準場の特徴 6.1.2 標準場の特徴の測定 変更 説明する言葉を追加した。ま 技術的差異はない。
の測定 た,JISでは標準場のシリーズ
名をシリーズA及びBとした。
4.3.1.3 不純物による 変更
6.1.3 不純物によるβ線の 技術的差異はない。
“他のエネルギーのβ線の混入
β線の混在 混在 が少なく”を追加した。
4.3.1.4 光子の混在 6.1.4 光子の混在 一致
4.3.2 β線標準場の特 6.2β線標準場の特徴 変更 JISでは標準場のシリーズ名を技術的差異はない。
徴 シリーズA及びBとした。
4.3.2.1 概要 6.2.1 概要
4.3.2.2 シリーズA標 6.2.2 シリーズ1標準場
準場
4.3.2.3 シリーズB標 6.2.3 シリーズ2標準場
準場
4.3.2.4 シリーズC標 − 追加 JISではEresを低下させた標準国内の標準供給体制を反映した。
準場 場に関する規定を設けた。
4.4 線源の校正 7 線源の校正 変更 JISでは標準場のシリーズ名を国内の標準供給体制を反映した。
シリーズA及びBとした。ま JIS特有のシリーズC標準場がか
Z4
たシリーズC標準場の規定を かわらない箇所には技術的差異は
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加えた。 ない。
: 2
0 10
7

――――― [JIS Z 4514 pdf 36] ―――――

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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
5
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
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番号
: 2
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
0
及び題名 番号 の評価
10
5 β線標準 ISO 6980-2
5.1 β線標準場の校正 4 β線標準場の校正及びト 変更 附属書JA及び附属書JBを参照 技術的差異はない。
場の校正 に関するトレーサビ レーサビリティ している。
方法 リティ
5.2 β線標準場校正の 5 β線標準場校正の一般原 変更 JISでは透過係数に関して概要測定器の校正に直接関係ないた
一般原理 理 だけを記載している。 め,概要だけを記載した。
5.2.1 概要 5.1概要
5.2.2透過性に関する 5.3透過性に関する標準場
標準場の特徴 の特徴
5.3 外挿電離箱を用 6 外挿電離箱を用いた校正 変更 JISでは外挿電離箱による測定測定器の校正に直接関係ないた
いた校正方法 方法 の説明及び平均質量電子阻止 め,概要だけを記載した。
5.3.1 一般 6.1 一般 能比について概要だけを記載
5.3.2 外挿電離箱を 6.2 外挿電離箱を用いた している。参照吸収線量率を測
用いた参照吸収線量 参照β線吸収線量率の決 定評価する場合の詳細な測定
率の決定 定 方法,補正係数の算出方法,不
確かさの算出などには触れて
いない。
5.4 他の測定装置に 7 他の測定装置による校正 変更 JISではTLD,熱刺激エキソ電 測定器の校正に直接関係ないた
よる校正方法 方法 め,概要だけを記載した。
子放出検出器,シンチレータに
よる校正方法には触れていな
い。
6 β線測定6.1 一般 ISO 6980-3 4 4.1一般 変更 JISでは“シリーズA標準場を 国内の標準供給体制を反映した。
器一般の 6.1.1線質 4.1.1線質 二次校正機関が利用できるこ
校正方法 とが望ましい。”とした。JIS
では標準場のシリーズ名をシ
リーズA及びBとした。
6.1.2吸収線量−線量 4.1.2吸収線量−線量当量一致
当量換算係数 換算係数
6.1.2.1一般 4.1.2.1一般

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     (I)   JISの規定                 (II)       (III)国際規格の規定          (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条(V)   JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
箇条番号 内容 番号 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
6 β線測定 ISO 6980-3
6.1.2.2 換算係数の決 4 4.1.2.2 換算係数の決定 変更 JISでは換算係数について説明技術的差異はない。
器一般の 定 文を加えた。
校正方法 6.1.2.3 換算係数のフ 変更
4.1.2.3 換算係数のファン JIS Z 4331の用語を用いた。 技術的差異はない。
(続き) ァントムによる違い トムによる違い
6.1.3 標準試験条件 4.1.3 標準試験条件 一致
6.1.4 影響量の変化 4.1.4影響量の変化
6.1.5試験点及び基準 4.1.5 試験点及び基準点

6.1.6 回転軸 4.1.6 回転軸
6.1.7 校正する線量 4.1.7 校正される線量計の
計の条件 条件
6.1.8 光子の影響の 4.1.8 光子の影響の測定
測定
6.2 校正定数及び補 4.2校正定数及び補正係数
正係数の決定 の決定
6.2.1 標準器による 4.2.1標準器による参照線
参照吸収線量率の決 量率の決定

6.2.2 基準校正定数 4.2.2基準校正定数の決定
の決定及び非線形レ 及び非線形レスポンスの
スポンスの補正 補正
6.2.2.1 個人線量当量 4.2.2.1個人線量当量(率)
(率)測定器の校正 測定器の校正定数
定数
6.2.2.2 方向性線量当 4.2.2.2方向性線量当量
量(率)測定器の校 (率)測定器の校正定数
Z4
正定数
5
6.2.2.3 組織吸収線量 − 追加 国内の標準供給体制を反映した。
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(率)測定器につい
: 2
ての校正定数
0 10
7

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(I) JISの規定 (II) (III)国際規格の規定 (IV) JISと国際規格との技術的差異の箇条(V) JISと国際規格との技術的差
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国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
14
番号
: 2
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
0
及び題名 番号 の評価
10
6 β線測定 ISO 6980-3
6.2.3 補正係数kE,αの 4 一致
4.2.3補正係数kE,αの決定
器一般の 決定
校正方法
(続き)
7 方向性 7.1 一般 5 5.1 一般 一致
線量当量 7.2 測定量 5.2 測定量
(率)測定
器の校正
方法
8 個人線 8.1 一般 6 6.1 一般 一致
量当量 8.2 測定量 6.2 測定量
(率)測定8.3 実験条件 6.3 実験条件
器の校正
方法
8.3.1 ファントムの 6.3.1 ファントムの使用 変更 技術的差異はない。
JIS Z 4331の用語を用いた。附
使用 属書JCを参照した。
8.3.2 拡散ビームに 一致
6.3.2 拡散ビームに関する
関する考慮 考慮
8.3.3 複数の線量計 変更
6.3.3 複数の線量計に対す JISでは,標準場のシリーズ名技術的差異はない。
に対する同時照射 る同時照射 をシリーズAとした。
9 組織吸 9.1 一般 − 追加 国内の標準供給体制を反映した。
収線量 9.2 測定量
(率)測定
器の校正
方法
10 校正結 7 7.1 結果の表し方 変更 技術的差異はない。
JIS Z 8401を参照した。d)で(例
果の記録 えば,シリーズ名)を追加した。
11 校正定 7.2 不確かさの記述 一致
数の不確
かさの求
め方

――――― [JIS Z 4514 pdf 39] ―――――

     (I)   JISの規定                 (II)       (III)国際規格の規定          (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条(V)   JISと国際規格との技術的差
国際規格 ごとの評価及びその内容 異の理由及び今後の対策
番号
箇条番号 内容 箇条 内容 箇条ごと 技術的差異の内容
及び題名 番号 の評価
附属書A 組織等価物質 ISO 6980-1 Anne 組織等価物質 一致
(参考) xA
附属書B 推奨される線源の特 Anne 一致
推奨される線源の特徴−β
(参考) 徴−β線源の構造の xB 線源の構造の例

附属書C 基準条件 ISO 6980-3 Anne 基準条件 追加 本体に記載されている内容を 技術的差異はない。
(規定) xB 説明のために追加した。
附属書D β線標準場の換算係 Anne β線標準場の換算係数 一致
(参考) 数 xC
附属書JA 校正の階層及びトレ 追加
(参考) ーサビリティ体系
附属書JB 校正に用いる器具の 追加
(参考) 性能
附属書JC 実用器の簡略化した 追加
(参考) 校正方法
JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : (ISO 6980-1:2006,ISO 6980-2:2004及びISO 6980-3:2006,MOD)
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
− 一致·················· 技術的差異がない。
− 追加·················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更·················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
Z4 514 : 2
0 10
7

JIS Z 4514:2010の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO 6980-1:2006(MOD)
  • ISO 6980-2:2004(MOD)
  • ISO 6980-3:2006(MOD)

JIS Z 4514:2010の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 4514:2010の関連規格と引用規格一覧