JIS Z 4721:2000 医用Ｘ線イメージインテンシファイア | ページ 3

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Z 4721 : 2000
                                      図4 輝度分布の測定
7.4.6  輝度分布と輝度不均一度の表示
a) 輝度分布は,出力像の1本以上の直径に沿った長さの関数として,相対輝度を表す曲線か又は数値の
    表として示す。測定値は,入射面有効面積の直径の90%を超える範囲にわたって示す。輝度の分布を
    一つの径についてだけ示す場合は,出力像の中で最大の輝度変化を示す直径についての値を示す。
b) 輝度不均一度は,7.4.5で計算された値(パーセント)を表記する。
7.5   X線遮へい試験 JIS Z 4701による。
7.6   像ひずみ(図5,図6参照)
7.6.1  一般条件 7.3.1を適用する。
7.6.2  X線ビーム 7.3.2a)   b)による。
7.6.3  像ひずみ測定用の試験器具 像ひずみ測定用試験器具は,次による(図5参照)
a) 試験器具は,入射面に平行に,かつ,できるだけ接近させて置く。入射面までの距離は,10mm以下
    とする。
b) 径方向局所的拡大率の測定のため,試験器具に設けられた目盛は入射野の中心を通らなければならな
    い。
c) 試験器具は,中心からの距離が測定でき,X線を吸収する目盛で作られていなければならない。
d) 入射野の中心の決定と径方向局所的拡大率を測定するために,水平方向,垂直方向に等距離の目盛を
    使用しなければならない。
e)   字ひずみの影響を受けないように積分拡大率を測定するために,円形の目盛を使用する。
f)  目盛間の距離は,10mmか入射面視野寸法の10%のどちらか小さい方を用いる。
g) 試験器具は,I. I. の中心を通ってそれに対称に置く。試験器具の中心軸からのずれは,公称入射面視
    野寸法の2%以下とする。
7.6.4  像ひずみの測定 像ひずみの測定は,次による。
a) 像ひずみ測定のための配置を図6に示す。
b)   . I. の出力面で光学的な手段を用いて試験器具の像寸法を測定する。像寸法は,目盛のついたマイク
    ロメータを用いて測定するのがよい。結果の全体の精度は,積分像ひずみの場合で絶対値で2%,径
    方向微分像ひずみの場合は,絶対値で3%以下でなければならない。
7.6.5  像ひずみの計算 像ひずみの計算は,次による。
a) 径方向微分像ひずみ (Vd)
                             ad  ac
                        Vd
                               ac
                      ここに,       ad= hd/Ld

――――― [JIS Z 4721 pdf 11] ―――――

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                                                                                   Z 4721 : 2000
                                     ac= hc/Lc
                                     hd :  微分像ひずみ用試験器具の出力像寸法 (mm)
                                     Ld :  微分像ひずみ用試験器具の長さ (mm)
                                     hc :  中心用試験器具の出力像寸法 (mm)
                                     Lc :  中心用試験器具の長さ (mm)
b) 積分像ひずみ (V1)
                            ai ac
                        Vi
                              ac
                      ここに,       ai= hi/Li
                                     ac= hc/Lc
                                     hi :  積分像ひずみ用試験器具の出力像寸法 (mm)
                                     Li :  積分像ひずみ用試験器具の長さ (mm)
                                     hc :  中心用試験器具の出力像寸法 (mm)
                                     Lc :  中心用試験器具の長さ (mm)
                                図5 像ひずみ測定用試験器具の例

――――― [JIS Z 4721 pdf 12] ―――――

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Z 4721 : 2000
                                      図6 像ひずみの測定
7.6.6  像ひずみの表示 像ひずみは,次による。
a) 像ひずみは,グラフ又は数値表で表す。
b) 径方向微分像ひずみは,入射面全面にわたり一つ以上の直径に沿って,入射面視野寸法の90%を超え
    るところまで測定した結果を表示する。可変視野形I. I. の場合は,最大視野の入射面視野寸法につい
    て測定した結果を表示する。この値は,入射面における距離の関数(絶対値又は相対値のどちらでも
    よい。)として表示する。
c) 積分像ひずみは,任意で示され,一つ以上の直径に沿って,入射面における距離(絶対値又は相対値
    のどちらでもよい。)の関数として表示する。

――――― [JIS Z 4721 pdf 13] ―――――

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7.7   コントラスト比及びベーリンググレア指数(図7参照)
7.7.1  一般条件 7.3.1を適用する。
7.7.2  X線ビーム X線ビームは,次による。
a) 7.3.2a),b),d),f)による。
b) 線質は,ピークX線管管電圧50±2kV,つまり,2.0±0.2mmのアルミニウムの半価層による線質でな
    ければならない。これは全付加フィルタがアルミニウムで約3mmと等価である。
c) 7.3.2e)で決定される線質を用いてもよい。
7.7.3  コントラスト比測定用の試験器具 コントラスト比測定用試験器具は,次による。
a) 試験器具は,入射面に平行に,かつ,入射面の中心にできる限り接近させて置く。入射面までの距離
    は,10mm以下とする。
b) 試験器具の種類 試験器具は円板で,次の1)及び2)の2種類とする。
  1) 10%面積コントラスト比用試験器具(鉛板の厚さ3mm以上)
        各入射面視野寸法に応じた試験器具を用いる。各入射面視野寸法によって決定された領域の10%
      ±0.5%の面積をもつような直径でなければならない。
  2) 10mm直径コントラスト比用試験器具(鉛板の厚さ3mm以上)
  試験器具の直径は10mm±0.5mmでなければならない。
7.7.4  コントラスト比の測定 コントラスト比の測定方法は,次による。
a) 輝度測定装置は,7.3.4の輝度測定装置 (             ) を用いる。公称像寸法の直径の3分の1の領域内を
    測定する。
b) 輝度計の非線形性は,1%を超えてはならない。
c) 輝度計の暗電流による誤差は,最小輝度を測定する場合の1%を超えてはならない。
d) 試験器具は,中心軸上に設置し,中心軸から試験器具の中心が5mm以上離れてはいけない。
e) 出力像の輝度の測定は,出力像の中心で行わなければならない。10mm直径コントラスト比測定用試
    験器具を用いた測定では,出力像の中心と輝度計の中心とのずれは0.1mm以内とし,10%面積コント
    ラスト比測定用試験器具を用いた測定では,出力像の中心と輝度計の中心とのずれは,1.0mm以内と
    しなければならない。
f)  コントラスト比測定用試験器具があるときの,I. I. の光学的出力面での出力像の中心輝度 (LD) を輝
    度測定装置を用いて測定する。試験器具を外し,X線強度が±3%以内になったことを確認してから,
    同じ部位で試験器具がないときの輝度 (LB) として同様に測定する。
7.7.5  コントラスト比及びベーリンググレア指数の計算 コントラスト比及びベーリンググレア指数の
計算方法は,次による。
                        CR=LB/LD
                        VGI=LD/LB
                      ここに,    CR :  コントラスト比
                                 VGI :  ベーリンググレア指数
                                  LB :  試験器具のないときの出力像の中心輝度 (cd/m2)
                                  LD :  試験器具のあるときの出力像の中心輝度 (cd/m2)
7.7.6  コントラスト比及びベーリンググレア指数の表示 コントラスト比及びベーリンググレア指数の
表示方法は,次による。
    例1. コントラスト比の表示

――――― [JIS Z 4721 pdf 14] ―――――

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Z 4721 : 2000
            10%面積コントラスト比 : 25      10mm直径コントラスト比 : 17
            (試験器具の直径と線質とを明記する)
    例2. ベーリンググレア指数の表示
            10%面積ベーリンググレア指数 : 0.04       10mm直径ベーリンググレア指数 : 0.06
            (試験器具の直径と線質を明記すること)
                                   図7 コントラスト比の測定
7.8   解像度(図8参照)
7.8.1  一般条件 7.3.1を適用する。
7.8.2  X線ビーム X線ビームは,次による。
a) 7.3.2a)   b)による。
b)   線ビームの広がりは,線源(焦点)から1 000mmの距離において,入射面視野寸法に等しくなるよ
    うに,X線絞りを,X線管装置に取り付ける。
c)   線管の焦点の呼びは,0.3以下とする。
d) 測定に用いる管電圧は,4050kVとして,X線管とI. I. の間には付加フィルタなしとする。管電流
    は,0.31.2mAとする。管電圧のリプル百分率は,10%以下とする。
      なお,可変視野形I. I. で拡大視野の場合には,出力面輝度が同程度になるように,照射線量率を調
    整する。
7.8.3  試験器具の位置 試験器具は,入射面に平行に置き,入射面までの距離は10mm以下とする。
7.8.4  試験器具の種類 JIS Z 4916に規定するX線用解像力チャートを用いる。ただし,これらのチャー
トでは,パターンのステップが粗すぎる場合には,板厚が鉛当量で50100     戰                   ターンのチャ
ートを用いてもよい。
7.8.5 解像度の測定 I. I. の出力面での解像力チャートの像を,光学的に拡大して目視によって測定する。
このとき,解像していると判定するパターンが方向によって値の異なる場合には,低い方の値(2)とする。
    注(2) 径方向解像度,接線方向解像度などを指す。
7.8.6  測定部位 中心解像度を1か所,周辺解像度を90°おきに4か所測定する。
7.8.7  解像度の表示 解像度の表示方法は,次による。
a) 解像度を表示する線対の単位,ミリメートル当たりの線対 (Lp/mm) で表す。

――――― [JIS Z 4721 pdf 15] ―――――

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