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JIS Z 4752-2-9:2008 医用画像部門における品質維持の評価及び日常試験方法―第２－９部：不変性試験―間接透視及び間接撮影用Ｘ線装置 | ページ 4

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Z 4752-2-9 : 2008 (IEC 61223-2-9 : 1999)
D.5 高コントラスト試験器具 高コントラスト試験器具は,次に示す線対 (LP) の解像度のグループを
もち,各グループが五つの線対で構成された50100           騰   守  のテストパターンである。
  0.50 LP/mm,0.56 LP /mm,0.63 LP /mm,0.71 LP /mm,0.80 LP /mm,0.90 LP /mm,1.00 LP /mm,
  1.12 LP /mm,1.25 LP /mm,1.40 LP /mm,1.60 LP /mm,1.80 LP /mm,2.00 LP /mm,2.24 LP /mm,
  2.50 LP /mm,2.80 LP /mm,3.15 LP /mm,3.55 LP /mm,4.00 LP /mm,4.50 LP /mm,5.00 LP /mm
D.6  補償フィルタ試験器具 補償フィルタ試験器具は,高コントラスト試験器具とともに用いる。その
材質は,例えばアルミニウムで,X線ビーム内に置いたときに,画像表示装置上での高コントラスト試験
器具の像が,低い管電圧を用いてもハレーションを起こして明るくなり過ぎることを防ぐように厚さを決
める。

――――― [JIS Z 4752-2-9 pdf 16] ―――――

JIS Z 4752-2-9:2008の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61223-2-9:1999(IDT)

JIS Z 4752-2-9:2008の国際規格 ICS 分類一覧

JIS Z 4752-2-9:2008の関連規格と引用規格一覧

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