この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 10360-1, ISO 10360-2, ISO 14253-1, ISO 14660-1, ISO/TS 23165, ISO/IEC Guide 99, および以下に記載されている用語と定義が適用されます。
3.1
画像プロービングシステム
イメージングシステムを使用して測定点を作成するプロービングシステム
注記 1: ISO 10360 のこのパートは、主にプロービング システムの軸に対して横方向の測定を可能にするイメージング プロービング システムに関するものです。
注記2:ビデオまたはビジョンプロービングシステムは、画像プロービングシステムです。
3.2
イメージングプローブCMM
イメージングプロービングシステムを搭載した三次元測定機
3.3
視野
視界
画像プロービングシステムによって表示される領域
注記1: FOVの測定限界またはサイズは、最終画像で再現される物体空間の限界として述べられています。
3.4
測定窓
測定点の決定に使用される FOV 内の関心領域
注記 1:測定ウィンドウの構成は、さまざまなイメージング プローブ CMM 間で、また同じイメージング プローブ CMM のさまざまな測定アプリケーションによって大きく異なる場合があります。
3.5
測定面 (イメージングプロービングシステムの)
画像プロービングシステムの FOV によって定義される 2 次元平面。
3.6
熱膨張係数
CTE
a
20 °C での材料の線熱膨張係数
3.7
通常の CTE 材料
CTE が 8 × 10 -6/°C ~ 13 × 10 -6/°C の材料
3.8
テストサークル
図 1 —画像プロービング システム
Key
| 1 | 測定対象の画像をキャプチャするためのカメラまたはその他のデバイス |
| 2 | イメージングプロービングシステムのさまざまな光学要素 |
| 3 | 測定対象 |
| 4 | FOV (オブジェクト) |
| 5 | FOV(画像) |
| 6 | 測定窓 |
| 7 | 測定点 |
3.9
双方向測長誤差
EB
校正された試験長さの両端に単一のプロービングポイント(または同等のもの)を持つイメージングプローブCMMを使用して、校正された双方向試験長さを測定するときの指示の誤差。
注記 1:EBは、3 次元空間測定が可能なイメージング プローブ CMM にのみ適用されますが、常にそうであるとは限りません。
3.10
双方向測長誤差の再現範囲
RB
校正された双方向試験長を測定するときに CMM によって測定される 3 つの繰り返される長さ測定誤差の範囲 (最大から最小)
3.11
一方向長さ測定誤差
EU
校正された試験長さの両端に単一のプロービングポイント(または同等のもの)を持つイメージングプローブCMMを使用して、校正された一方向試験長さを測定するときの指示の誤差。
注記 1:EUは、3 次元空間測定が可能なイメージング プローブ CMM にのみ適用されますが、常にそうであるとは限りません。
3.12
一方向測長誤差の再現範囲
RU
校正された一方向試験長を測定するときに CMM によって測定される 3 つの繰り返される長さ測定誤差の範囲 (最大から最小)
3.13
Z双方向測長誤差
EBZ
キャリブレーションされたテスト長の両端で単一のプロービングポイント(または同等のポイント)を使用して、イメージングプローブの測定面に名目上垂直なキャリブレーションされた双方向テスト長を測定するときの指示の誤差。
注記 1: ISO 10360 のこの部分では、機械の Z 軸が画像プローブの測定面に対して名目上垂直であると想定されています。そうでない場合は、別の命名法を使用する必要があります (例: EBXorEBY )
3.14
Z 一方向測長誤差
Euz
校正された試験長さの両端にある単一のプロービングポイント(または同等のもの)を使用して、イメージングプローブの測定面に名目上垂直な、校正された一方向の試験長さを測定するときの指示の誤差。
注記 1: ISO 10360 のこの部分では、機械の Z 軸が画像プローブの測定面に対して名目上垂直であると想定されています。そうでない場合は、別の命名法を使用する必要があります (例: EUXorEUY )
3.15
XY 双方向測長誤差
EBXY
キャリブレーションされたテスト長の両端で単一のプロービングポイント(または同等のもの)を使用して、イメージングプローブの測定面に公称平行であるキャリブレーションされた双方向テスト長を測定するときの指示の誤差。
注記 1: ISO 10360 のこの部分では、機械の XY 平面が画像プローブの測定平面と名目上平行であると想定されています。そうでない場合は、別の命名法を使用する必要があります (例: EBXZorEBYZ )
3.16
XY一方向測長誤差
E_
校正された試験長さの両端にある単一のプロービングポイント(または同等のもの)を使用して、イメージングプローブの測定面に公称平行である校正された一方向試験長さを測定するときの指示誤差。
注記 1: ISO 10360 のこの部分では、機械の XY 平面が画像プローブの測定平面と名目上平行であると想定されています。そうでない場合は、別の命名法を使用する必要があります (例: EUXZorEUYZ )
3.17
直角度誤差
Esq
イメージングプローブの測定面に対して名目上垂直であるイメージングプローブ CMM の運動軸と公称的に平行な運動面との間で測定された真直度と直角度(運動の垂直性)の複合影響の指示誤差。イメージングプローブの測定面
注記 1:想定される使用法は、Z 軸が画像プローブの測定面に対して名目上垂直であり、XY 平面が画像プローブの測定面に対して名目上平行である場合です。
3.18
イメージングプローブの双方向の長さ測定エラー
E_
画像プローブの視野内の任意の位置で、画像プローブの測定面に公称平行で、校正されたプローブの両端で単一のプローブポイント(または同等のもの)を使用して測定された、校正された双方向テスト長の表示の誤差。試験長
注記1:EBVの試験には、イメージングプローブCMMの動きは含まれません。
注記2:EBVは、イメージングプローブの視野内で測定を行うことができるイメージングプローブCMMにのみ適用されますが、常にそうであるとは限りません。
3.19
イメージング プローブの一方向長さ測定エラー
E_
画像プローブの視野内の任意の位置で、画像プローブの測定面に名目上平行で、較正されたプローブの両端で単一のプローブポイント(または同等のもの)を使用して測定された、較正された一方向のテスト長の表示の誤差。試験長
注記 1:EUVの試験には、イメージングプローブ CMM の動きは含まれません。
注記 2:EUVは、イメージング プローブの視野内で測定を行うことができるイメージング プローブ CMM にのみ適用されますが、常にそうであるとは限りません。
3.20
プローブエラー
PF2D
サイズの円形材料標準で測定された点の最小二乗フィットによって半径の範囲を決定できる指示誤差。連続するすべてのポイント間で CMM の動きを使用し、すべてのポイントがイメージング プローブの使用可能な視野全体に均等に分散された離散ポイント プロービング モード
3.21
イメージングプローブのプロービングエラー
PFV2D
サイズの円形材料標準で測定された点の最小二乗フィットによって半径の範囲を決定できる指示誤差。 CMM の動きがなく、すべてのポイントがイメージング プローブの使用可能な視野全体に分散されている
注記 1:PFV2Dは、イメージング プローブの視野内で測定を行うことができるイメージング プローブ CMM にのみ適用されますが、常にそうであるとは限りません。
3.22
双方向測長の最大許容誤差
E、MPE
仕様で許容される双方向の長さ測定誤差EBの極値
3.23
双方向繰り返し精度範囲の最大許容限界
R、MPL
仕様で許容される双方向測長誤差RBの再現性範囲の極値
3.24
一方向長さ測定の最大許容誤差
E、MPE
仕様で許容される一方向長さ測定誤差の極値EU 。
3.25
一方向繰り返し精度範囲の最大許容限界
R、MPL
仕様で許容される一方向長さ測定誤差RUの再現性範囲の極値
3.26
Z双方向測長の最大許容誤差
EBZ, MPE
仕様で許容される Z 双方向長さ測定誤差EBZの極値
3.27
Z一方向長さ測定の最大許容誤差
EUZ, MPE
仕様で許容される Z 一方向長さ測定誤差Euzの極値
3.28
XY 双方向長さ測定の最大許容誤差
EBXY, MPE
仕様で許容される XY 双方向の長さ測定誤差EBXYの極値
3.29
XY 単方向長さ測定の最大許容誤差
E、MPE
仕様で許容される XY 一方向長さ測定誤差EUXYの極値
3.30
最大許容直角度誤差
ESQ, MPE
仕様で許容される直角度誤差Esqの極値
3.31
イメージングプローブ双方向長さ測定の最大許容誤差
EBV, MPE
仕様で許容されるイメージングプローブの双方向測長誤差EBVの極値
3.32
イメージングプローブの一方向長さ測定の最大許容誤差
EUV, MPE
仕様で許容されるイメージングプローブの一方向長さ測定誤差EUVの極値
3.33
最大許容プロービング エラー
PF2D, MPE
仕様で許容されるプロービング誤差PF2Dの極値
3.34
イメージングプローブの最大許容プロービングエラー
PFV2D, MPE
仕様で許容される、イメージング プローブのプロービング エラーの極値PFV2D 。
参考文献
| [1] | ISO 3650, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 長さ規格 — ゲージ ブロック |
| [2] | ISO/TR 14638, 幾何学的製品仕様 (GPS) — マスター プラン |
| [3] | ISO/TS 1553, 幾何学的製品仕様 (GPS) — 座標測定機 (CMM): 測定の不確かさを決定するための技法 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 10360-1, ISO 10360-2, ISO 14253-1, ISO 14660-1, ISO/TS 23165, ISO/IEC Guide 99 and the following apply.
3.1
imaging probing system
probing system which creates measurement points through the use of an imaging system
Note 1 to entry: This part of ISO 10360 is primarily concerned with imaging probing systems that enable measurements in the lateral direction to the probing system axis.
Note 2 to entry: A video or vision probing system is an imaging probing system.
3.2
imaging probe CMM
CMM equipped with an imaging probing system
3.3
field of view
FOV
area viewed by the imaging probing system
Note 1 to entry: The measuring limits, or size, of the FOV are stated as the limits of the object space that is reproduced in the final image.
3.4
measuring window
region of interest in the FOV that is used in the determination of the measured point(s)
Note 1 to entry: Configurations of measuring windows may vary widely between various imaging probe CMMs and for different measuring applications on the same imaging probe CMM.
3.5
measuring plane (of the imaging probing system)
two-dimensional plane defined by the FOV of an imaging probing system
3.6
coefficient of thermal expansion
CTE
α
linear thermal expansion coefficient of a material at 20 °C
3.7
normal CTE material
material with a CTE between 8 × 10−6/°C and 13 × 10−6/°C
3.8
test circle
Figure 1—Imaging probing system
Key
| 1 | camera or other device for capturing an image of the measured object |
| 2 | various optical elements of the imaging probing system |
| 3 | measured object |
| 4 | FOV (object) |
| 5 | FOV (image) |
| 6 | measuring window |
| 7 | measured point |
3.9
bidirectional length measurement error
EB
error of indication when measuring a calibrated bidirectional test length using an imaging probe CMM with a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry:EB is applicable only to imaging probe CMMs that are capable of three-dimensional spatial measurements, which may not always be the case.
3.10
repeatability range of the bidirectional length measurement error
RB
range (largest minus smallest) of three repeated length measurement errors measured by a CMM when measuring a calibrated bidirectional test length
3.11
unidirectional length measurement error
EU
error of indication when measuring a calibrated unidirectional test length using an imaging probe CMM with a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry:EU is applicable only to imaging probe CMMs that are capable of three-dimensional spatial measurements, which may not always be the case.
3.12
repeatability range of the unidirectional length measurement error
RU
range (largest minus smallest) of three repeated length measurement errors measured by a CMM when measuring a calibrated unidirectional test length
3.13
Z bidirectional length measurement error
EBZ
error of indication when measuring a calibrated bidirectional test length that is nominally perpendicular to the measuring plane of the imaging probe using a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry: In this part of ISO 10360, it is assumed that the machine Z-axis is nominally perpendicular to the measuring plane of the imaging probe. If that is not the case, alternative nomenclature should be used (e.g. EBXorEBY).
3.14
Z unidirectional length measurement error
Euz
error of indication when measuring a calibrated unidirectional test length that is nominally perpendicular to the measuring plane of the imaging probe using a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry: In this part of ISO 10360, it is assumed that the machine Z-axis is nominally perpendicular to the measuring plane of the imaging probe. If that is not the case, alternative nomenclature should be used (e.g. EUXorEUY).
3.15
XY bidirectional length measurement error
EBXY
error of indication when measuring a calibrated bidirectional test length that is nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe using a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry: In this part of ISO 10360, it is assumed that the machine XY plane is nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe. If that is not the case, alternative nomenclature should be used (e.g. EBXZorEBYZ).
3.16
XY unidirectional length measurement error
EUXY
error of indication when measuring a calibrated unidirectional test length that is nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe using a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry: In this part of ISO 10360, it is assumed that the machine XY plane is nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe. If that is not the case, alternative nomenclature should be used (e.g. EUXZorEUYZ).
3.17
squareness error
Esq
error of indication of the combined influence of the straightness and squareness (perpendicularity of motion) measured between the axis of motion of the imaging probe CMM that is nominally perpendicular to the measuring plane of the imaging probe and the plane of motion that is nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe
Note 1 to entry: The expected usage is where the Z-axis is nominally perpendicular to the measuring plane of the imaging probe and the XY plane is nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe.
3.18
imaging probe bidirectional length measurement error
EBV
error of indication of a calibrated bidirectional test length measured in any position within the field of view of the imaging probe, nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe, and using a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry: Testing EBV does not involve motion of the imaging probe CMM.
Note 2 to entry:EBV is applicable only to imaging probe CMMs that are capable of making measurements in the field of view of the imaging probe, which may not always be the case.
3.19
imaging probe unidirectional length measurement error
EUV
error of indication of a calibrated unidirectional test length measured in any position within the field of view of the imaging probe, nominally parallel to the measuring plane of the imaging probe, and using a single probing point (or equivalent) at each end of the calibrated test length
Note 1 to entry: Testing EUV does not involve motion of the imaging probe CMM.
Note 2 to entry:EUV is applicable only to imaging probe CMMs that are capable of making measurements in the field of view of the imaging probe, which may not always be the case.
3.20
probing error
PF2D
error of indication within which the range of radii can be determined by a least-squares fit of points measured on a circular material standard of size, the measurements being taken on the test circle located anywhere in the measuring volume by an imaging probe CMM in the discrete-point probing mode using motion of the CMM between all successive points and with all points evenly distributed across the usable field of view of the imaging probe
3.21
probing error of the imaging probe
PFV2D
error of indication within which the range of radii can be determined by a least-squares fit of point measured on a circular material standard of size, the measurements being taken on the test circle by an imaging probe CMM in the discrete-point probing mode using no motion of the CMM and with all points distributed across the usable field of view of the imaging probe
Note 1 to entry:PFV2D is applicable only to imaging probe CMMs that are capable of making measurements in the field of view of the imaging probe, which may not always be the case.
3.22
maximum permissible error of bidirectional length measurement
EB, MPE
extreme value of the bidirectional length measurement error, EB, permitted by specifications
3.23
maximum permissible limit of the bidirectional repeatability range
RB, MPL
extreme value of the repeatability range of the bidirectional length measurement error, RB, permitted by specifications
3.24
maximum permissible error of unidirectional length measurement
EU, MPE
extreme value of the unidirectional length measurement error, EU, permitted by specifications
3.25
maximum permissible limit of the unidirectional repeatability range
RU, MPL
extreme value of the repeatability range of the unidirectional length measurement error, RU, permitted by specifications
3.26
maximum permissible error of Z bidirectional length measurement
EBZ, MPE
extreme value of the Z bidirectional length measurement error, EBZ, permitted by specifications
3.27
maximum permissible error of Z unidirectional length measurement
EUZ, MPE
extreme value of the Z unidirectional length measurement error, Euz, permitted by specifications
3.28
maximum permissible error of the XY bidirectional length measurement
EBXY, MPE
extreme value of the XY bidirectional length measurement error, EBXY, permitted by specifications
3.29
maximum permissible error of the XY unidirectional length measurement
EUXY, MPE
extreme value of the XY unidirectional length measurement error, EUXY, permitted by specifications
3.30
maximum permissible squareness error
ESQ, MPE
extreme value of the squareness error, Esq, permitted by specifications
3.31
maximum permissible error of imaging probe bidirectional length measurement
EBV, MPE
extreme value of the imaging probe bidirectional length measurement error, EBV, permitted by specifications
3.32
maximum permissible error of imaging probe unidirectional length measurement
EUV, MPE
extreme value of the imaging probe unidirectional length measurement error, EUV, permitted by specifications
3.33
maximum permissible probing error
PF2D, MPE
extreme value of the probing error, PF2D, permitted by specifications
3.34
maximum permissible probing error of the imaging probe
PFV2D, MPE
extreme value of the probing error of the imaging probe, PFV2D, permitted by specifications
Bibliography
| [1] | ISO 3650, Geometrical Product Specifications (GPS) — Length standards — Gauge blocks |
| [2] | ISO/TR 14638, Geometrical product specification (GPS) — Masterplan |
| [3] | ISO/TS 15530 (all parts), Geometrical Product Specifications (GPS) — Coordinate measuring machines (CMM): Technique for determining the uncertainty of measurement |