この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書の目的上、ISO 10360-1, ISO 14253-1, ISO/IEC Guide 99 および以下に記載されている用語と定義が適用されます。
3.1
プロービングシステムの動作状態
メーカーが明示した性能仕様が適用されるプロービング システムの定格動作条件
注記 1:各プロービング・システムの動作条件は、それぞれの性能値を参照できる頭字語によって識別される場合があります。一般に、メーカーは各プロービング システムのプロービング システム動作条件を指定しますが、メーカーは 1 つのプロービング システムに対して複数のプロービング システム動作条件を自由に記述することができます。これには、以下が含まれる場合があります。
| A | 正の定数であり、マイクロメートルで表され、製造元によって提供されます。 | |
| K | メーカーによって提供される無次元の正の定数です。 | |
| L P | 参照球とテスト球の中心間の 3D 距離 (ユークリッド距離) です (ミリメートル単位) | |
| B | は、製造元が表明した最大許容誤差P Form.Sph.n×25::MPS,MPEで、マイクロメートル単位の正の定数として表されます。 |
3.11
最大許容マルチプルービングシステムサイズエラー
P サイズ.Sph.n×25::MPS,MPE
CMM の仕様で許容されるマルチプルービングシステムサイズ誤差の極値
注記 1:マルチプルービングシステムサイズ誤差の最大許容値P Size.Sph.n×25::MPS,MPEは、次の 3 つの形式のいずれかで表すことができます。
| A | 正の定数であり、マイクロメートルで表され、製造元によって提供されます。 | |
| K | メーカーによって提供される無次元の正の定数です。 | |
| L P | 参照球とテスト球の中心間の 3D 距離 (ユークリッド距離) です (ミリメートル単位) | |
| B | は、製造元が表明した最大許容誤差P Size.Sph.n×25::MPS,MPEで、マイクロメートル単位の正の定数として表されます。 |
3.12
最大許容マルチプルービングシステム位置エラー
L 径n×25::MPS,MPE
CMM の仕様で許容される複数のプローブ システムの位置誤差の極値
注記 1:複数プローブ・システムの位置誤差の最大許容値L Dia.n×25::MPS,MPEは、次の 3 つの形式のいずれかで表すことができます。
| A | 正の定数であり、マイクロメートルで表され、製造元によって提供されます。 | |
| K | メーカーによって提供される無次元の正の定数です。 | |
| L P | 参照球とテスト球の中心間の 3D 距離 (ユークリッド距離) です (ミリメートル単位) | |
| B | は、製造元が表明した最大許容誤差L Dia.Sph.n×25::MPS,MPEで、マイクロメートル単位の正の定数として表されます。 |
参考文献
| 1 | ISO 8015, 幾何製品仕様 (GPS) — 基礎 — 概念、原則および規則 |
| 2 | ISO 10360-2:2009, 幾何製品仕様書 (GPS) — 三次元測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト — Part 2: 直線寸法の測定に使用される CMM |
| 3 | ISO 10360-3:2000, 幾何製品仕様書 (GPS) — 三次元測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト — Part 3: 4 番目の軸として回転テーブルの軸を備えた CMM |
| 4 | ISO 10360-4:2000, 幾何製品仕様書 (GPS) — 座標測定機 (CMM) の受け入れおよび再検証テスト — Part 4: スキャン測定モードで使用される CMM |
| 5 | ISO/TR 14638, 幾何積物仕様 (GPS) — マスタープラン |
| 6 | ISO 1553, 幾何製品仕様 (GPS) — 三次元測定機 (CMM): 測定の不確かさを決定する技術 |
| 7 | ISO/TS 23165:2006, 幾何製品仕様 (GPS) — 三次元測定機 (CMM) のテストの不確かさの評価に関するガイドライン |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 10360-1, ISO 14253-1, ISO/IEC Guide 99 and the following apply.
3.1
probing system operating condition
rated operating conditions of a probing system for which the manufacturer’s stated performance specifications apply
Note 1 to entry: Each probing system operating condition may be identified by an acronym by which the respective performance values can be referred to. Generally, the manufacturer will specify probing system operating conditions for each probing system, but the manufacturer is free to state several probing system operating conditions for one single probing system. This may include
| A | is a positive constant, expressed in micrometres and supplied by the manufacturer; | |
| K | is a dimensionless positive constant supplied by the manufacturer; | |
| LP | is the distance in 3D (Euclidian distance) between the centres of the reference sphere and the test sphere, in millimetres; | |
| B | is the maximum permissible error PForm.Sph.n×25::MPS,MPE, expressed as a positive constant in micrometres, stated by the manufacturer. |
3.11
maximum permissible multiple probing system size error
PSize.Sph.n×25::MPS,MPE
extreme value of the multiple probing system size error permitted by specifications for a CMM
Note 1 to entry: The maximum permissible value of the multiple probing system size error, PSize.Sph.n×25::MPS,MPE, may be expressed in one of three forms:
| A | is a positive constant, expressed in micrometres and supplied by the manufacturer; | |
| K | is a dimensionless positive constant supplied by the manufacturer; | |
| LP | is the distance in 3D (Euclidian distance) between the centres of the reference sphere and the test sphere, in millimetres; | |
| B | is the maximum permissible error PSize.Sph.n×25::MPS,MPE, expressed as a positive constant in micrometres, stated by the manufacturer. |
3.12
maximum permissible multiple probing system location error
LDia.n×25::MPS,MPE
extreme value of the multiple probing system location error permitted by specifications for a CMM
Note 1 to entry: The maximum permissible value of the multiple probing system location error, LDia.n×25::MPS,MPE, may be expressed in one of three forms:
| A | is a positive constant, expressed in micrometres and supplied by the manufacturer; | |
| K | is a dimensionless positive constant supplied by the manufacturer; | |
| LP | is the distance in 3D (Euclidian distance) between the centres of the reference sphere and the test sphere, in millimetres; | |
| B | is the maximum permissible error LDia.Sph.n×25::MPS,MPE, expressed as a positive constant in micrometres, stated by the manufacturer. |
Bibliography
| 1 | ISO 8015, Geometrical product specifications (GPS) — Fundamentals — Concepts, principles and rules |
| 2 | ISO 10360-2:2009, Geometrical product specifications (GPS) — Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) — Part 2: CMMs used for measuring linear dimensions |
| 3 | ISO 10360-3:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) — Part 3: CMMs with the axis of a rotary table as the fourth axis |
| 4 | ISO 10360-4:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) — Part 4: CMMs used in scanning measuring mode |
| 5 | ISO/TR 14638, Geometrical product specification (GPS) — Masterplan |
| 6 | ISO 15530 (all parts), Geometrical product specifications (GPS) — Coordinate measuring machines (CMM): Technique for determining the uncertainty of measurement |
| 7 | ISO/TS 23165:2006, Geometrical product specifications (GPS) — Guidelines for the evaluation of coordinate measuring machine (CMM) test uncertainty |