この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
序文
ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。
この文書の作成に使用された手順と、今後の維持のために意図された手順は、ISO/IEC 指令のPart 1 で説明されています。特に、さまざまなタイプの ISO 文書に必要なさまざまな承認基準に注意する必要があります。この文書は、ISO/IEC 指令のPart 2 の編集規則に従って起草されました (www.iso.org/directives を参照)
このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。文書の作成中に特定された特許権の詳細は、序文および/または受信した特許宣言の ISO リストに記載されます (www.iso.org/patents を参照)
このドキュメントで使用されている商号は、ユーザーの便宜のために提供された情報であり、保証を構成するものではありません。
規格の自発的な性質の説明、適合性評価に関連する ISO 固有の用語と表現の意味、および技術的貿易障壁 (TBT) における世界貿易機関 (WTO) の原則への ISO の準拠に関する情報については、以下を参照してください。 www.iso.org/iso/foreword.htm
この文書は、技術委員会 ISO/TC 172, 光学およびフォトニクス、小委員会 SC 5, 顕微鏡および内視鏡によって作成されました。
この初版は、統合され技術的に改訂された ISO 10934-1:2002 および ISO 10934-2:2007 を廃止し、置き換えます。
前作からの主な変更点は以下の通り。
- タイトルの更新;
- 光学顕微鏡の新しい用語を追加: 通常のチューブ レンズの焦点距離、対物視野数、ピクセル、ピクセル サイズ、エアリー ユニット、励起波長、励起波長帯域、検出波長帯域、OSTD を新しい用語として追加。
- 光学顕微鏡の高度な技術に新しい用語を追加: コヒーレント反ストークスラマン散乱顕微鏡、誘導ラマン散乱顕微鏡、構造化照明顕微鏡、超解像顕微鏡、局在化顕微鏡、誘導放出枯渇顕微鏡、超解像構造照明顕微鏡、ライトシート顕微鏡、デジタルホログラフィック顕微鏡法、光コヒーレンス顕微鏡法。
- 用語の修正：解像力の回折限界、解像度。
- 編集上改訂されました。
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee SC 5, Microscopes and endoscopes.
This first edition cancels and replaces ISO 10934-1:2002 and ISO 10934-2:2007, which have been combined and technically revised.
The main changes compared to the previous edition are as follows:
- update of the title;
- added new terms for light microscopy: focal length of normal tube lens, objective field number, pixel, pixel size, Airy unit, excitation wavelength, excitation wavelength band, detection wavelength band, OSTD added as new terms;
- added new terms for advanced techniques in light microscopy: coherent anti-stokes Raman scattering microscopy, stimulated Raman scattering microscopy, structured illumination microscopy, super-resolution microscopy, localization microscopy, stimulated emission depletion microscopy, super-resolution structured illumination microscopy, light sheet microscopy, digital holographic microscopy, optical coherence microscopy;
- terms amended: diffraction limit of resolving power, resolution;
- editorially revised.