ISO 10934:2020 顕微鏡—光学顕微鏡用の用語, 語彙 | ページ 5

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

3 用語と定義

このドキュメントでは、次の用語と定義が適用されます。

ISO と IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。

3.1 光学顕微鏡に関する用語と定義

3.1.1

アッベ試験板

顕微鏡(3.1.99) 対物レンズ( 3.1.106)の色収差(3.1.4.2 ) 及び 球面収差(3.1.4.7) を試験する装置。

注記 1:球面収差をテストする場合、対物レンズが最適に補正されるカバー ガラスの厚さもわかります。テストプレートは、異なる幅のグループに配置された平行なストリップの形で不透明な金属層に堆積されたスライドで構成されています。これらのストリップのエッジは、異常をより簡単に判断できるように不規則に鋸歯状になっています。元の最も一般的な形式では、スライドはくさび形のカバーガラスで覆われており、その厚さがスライド上にマークされています。カバーガラスなし、および/または反射ストライプ付きの追加バージョンも使用されています。

3.1.2

像形成のアッベ理論

顕微鏡(3.1.99) 画像(3.1.75) が形成されるメカニズムの説明

注記 1:コヒーレントな照明を想定しており、回折を含む 3 段階のプロセスに基づいています。
  • a)最初のステップ: オブジェクトは光源からの光を回折します。
  • b)第 2 ステップ: 対物レンズは、回折ビームの一部を収集し、幾何光学の法則に従って対物レンズの後焦点面に集束させ、物体の一次回折パターンを形成します。
  • c) 3 番目のステップ: 回折されたビームは途中で継続し、再結合されます。それらの干渉の結果は、顕微鏡の一次画像と呼ばれます。
これは、物体によって回折された最大数の光線が対物レンズによって収集される必要があるため、それらが画像に寄与する可能性があることを説明しています。回折する光線が画像に寄与しない場合、細かいディテールは解決されません。

3.1.3

収差

<材料および幾何学的形状> レンズ(3.1.87) の材料の特性または屈折面または反射面の幾何学的形状によって引き起こされる、光学系による完全な結像からのずれ。

3.1.4

収差

<光学系> 完全な 画像を生成するための光学系の故障 (3.1.75)

3.1.4.1

乱視

軸外 物体(3.1.104) 点と 光軸(3.1.107) を含む1つの平面内の光線を、それに直角な平面内の光線とは異なる距離で集束させる 収差(3.1.4) 。

3.1.4.2

色収差

レンズ(3.1.87) or プリズム(3.1.119) の 収差(3.1.4) 。これは、レンズの材料による 分散(3.1.47) による。

注記 1:この欠陥は、ガラスまたは分散の異なる他の材料で作られたレンズを組み合わせて使用​​することで修正できる場合があります。

3.1.4.2.1

軸上色収差

異なる波長の 光(3.1.88) が 光軸(3.1.107) に沿った異なる点に集束する 収差(3.1.4) 。

3.1.4.2.2

倍率色収差

倍率色差

収差(3.1.4) 。異なる波長の 光(3.1.88) によって形成される 像(3.1.75) が 光軸(3.1.107 )で同じ焦点(3.1.65) に来ることがあるが,それによって生じる収差(3.1.4)。 、サイズが異なる

3.1.4.3

昏睡

軸外点 物体(3.1.104)の像(3.1.75) が 変形して像が彗星のような形になる 収差(3.1.4)

3.1.4.4

像面湾曲

平面 物体視野( 3.1.54.5)から湾曲した像視野(3.1.54.4) をもたらす 収差(3.1.4) 。

グレード 1 ~ エントリ:像面の湾曲は、被写界深度が制限されている高倍率および大きな開口数の対物レンズで特に顕著です。追加の補正により大幅に解消される可能性があります。

3.1.4.5

ねじれ

像視野(3.1.54.4 )における光軸(3.1.107) からの距離に応じて 横倍率(3.1.90.8) が変化する 収差(3.1.4) 。

3.1.4.5.1

バレルディストーション

負の歪み

画像(3.1.75) の中央領域と周辺領域との間の 横方向倍率(3.1.90.8) の差。横方向倍率は周辺で小さくなる。

例:

したがって、フィールドの中央にある正方形のオブジェクトは、樽型 (つまり、側面が凸状) に見えます。

3.1.4.5.2

ピンクッション歪み

正の歪み

画像(3.1.75) の中央領域と周辺領域との間の 横方向倍率(3.1.90.8) の差。横方向倍率は周辺に向かって大きくなる。

例:

したがって、フィールドの中心にある正方形のオブジェクトは、糸巻き型 (つまり、側面が凹んでいる) に見えます。

3.1.4.6

単色収差

単色(3.1.123.2) 光(3.1.88 )に現れるガウス空間外のすべての 収差(3.1.4) の総称。

注記 1:単色収差とは、球面収差、コマ収差、非点収差、像面湾曲、および歪みです。

3.1.4.7

球面収差

収差(3.1.4) 光学系から出射する際に, 光軸(3.1.107) 上の 物体(3.1.104) の点から生じる波面の球面形状から生じる収差(3.1.4)。

注記1結果として,光軸上の物点から軸に対して異なる角度で発する光線,または光軸に平行であるがレンズからの距離が異なるレンズに入射する光線は,近軸光線によって形成される理想的な像点の前 (補正不足) または後ろ (補正過剰) の像空間。

3.1.5

無彩色

<レンズ要素> 軸上色収差(3.1.4.2.1) が2つの波長で補正されている レンズ(3.1.87) 。

例:

通常、補正は 500 nm 未満の波長と 600 nm を超える波長に対して行われます。

3.1.6

無彩色

<顕微鏡対物レンズ> 顕微鏡対物レンズ(3.1.99) 対物レンズ(3.1.106) で、 色収差 (3.1.4.2)が2つの波長で補正され、 球面収差(3.1.4.7) およびその他の開口に依存する欠陥がもう1つの波長で最小化されている通常約 550 nm の波長

例:

通常、補正は 500 nm 未満の波長と 600 nm を超える波長に対して行われます。

注記1この用語は像面湾曲の補正の程度を意味するものではない。コマ収差と非点収差は、色消し範囲内の波長で最小限に抑えられます。

3.1.7

エアリーパターン

無収差 レンズ の円形 開口(3.1.10) での 回折( 3.1.41)による 光(3.1.88 )の一次または二次 点光源(3.1.135.1) の 像(3.1.75) 。 (3.1.87) 、一連の同心の暗いリングと明るいリングに囲まれた明るい円盤の形をとる

3.1.7.1

エアリーディスク

回折ディスク

エアリー パターン (3.1.7) の最初の暗いリングに囲まれた中央領域

注記 1:エアリー ディスクには、エアリー パターンのエネルギーの 84% が含まれています。

3.1.7.2

エアリーユニット

AU

低 開口数 (3.1.10.4) 近似における エアリー パターン (3.1.7) の理論上の最初の最小値の直径

1年生から入園まで:
ここで、 λrefは参照波長、NA は開口数です。

3.1.8

異方性

プロパティの不均一な空間分布を持つ

注記1:偏光顕微鏡法では、これは通常、偏光の振動面に対する光学特性の優先的な配向を指します。

3.1.9

アパーチャメーター

顕微鏡(3.1.99) 対物レンズ(3.1.106 )の開口数(3.1.10.4) を測定する装置。

3.1.10

絞り

光(3.1.88) の通過に利用できる レンズ(3.1.87) の面積。

注記1顕微鏡法では、通常、開口数として表されます。

3.1.10.1

開口角

<顕微鏡法>レンズが正しい作業位置で使用されたとき、 物体視野(3.1.54.5) or 像視野(3.1.54.4) の中心で レンズ( 3.1.87)によって2つの反対側の周辺光線によって画定される最大平面角度。

注記 1:この用語は、それが参照するレンズの側によって修飾される場合があります (例: 物体側、照明側、像側)

3.1.10.2

コンデンサー絞り

照明絞り

照明開口ダイヤフラム(3.1.38.6) の直径によって定義される照明システムの 開口(3.1.10) 。

3.1.10.3

イメージングアパーチャ

画像システムの 絞り(3.1.10) 。

注記1:結像開口は一般に対物レンズの開口数によって定義される。

3.1.10.4

開口数

na

対物レンズ (3.1.106) と コンデンサー (3.1.28) に対してアッベによって最初に定義された数は、式n sin uで与えられます。ここで、 nはレンズ (3.1.106) 間の媒質の 屈折率 (3.1.125) です。 uはレンズの 開口角 (3.1.10.1) の 半分 です。

注記1 「像面」と明記されていない限り,この用語は物体面を指す。

3.1.11

無秩序な

球面収差 (3.1.4.7) と コマ 収差 (3.1.4.3) を補正

3.1.12

アポクロマート

<レンズ要素> 軸上色収差(3.1.4.2.1) が3つの波長で補正されている レンズ(3.1.87) 。

例:

約450nm, 550nm, 650nmの波長。

3.1.13

アポクロマート

<顕微鏡対物レンズ> 顕微鏡対物レンズ(3.1.99) 対物レンズ(3.1.106) で、3 つ以上の波長について色収差(3.1.4.2 ) が補正され、 球面収差(3.1.4.7) およびその他の開口に依存する欠陥が補正されている。 アクロマート (3.1.6) と同様に、約 550 nm で最小化

例:

約450nm, 550nm, 650nmの波長。

注記1:この用語は、像面湾曲の補正の程度を意味するものではありません。

注記 2:詳細については、ISO 19012-2 を参照してください。

3.1.14

非球面

球の表面の一部を形成しない

注記1:この用語は、球面収差やその他の収差を最小限に抑えるように設計された屈折面または反射面の形状を表すためにも使用されます。

3.1.15

ビームスプリッター

光のビーム (1/3/88) を 2 つ以上の別個のビームに分割できる手段

3.1.16

複屈折

n

複屈折( 3.1.48)による屈折率(3.1.125) の最大差の量的表現。

3.1.17

明視野

直接光(3.1.45) が 対物レンズ(3.1.106) の 開口部(3.1.10) を通過し, 画像(3.1.75) が見える背景を 照らす照明(3.1.73) 及び結像のシステム。

3.1.18

バルブ

ランプ(3.1.85) のエンベロープ。通常はガラスまたは石英ガラスでできている。

注記1この用語は,一般にランプ自体を表すために使用される。

3.1.19

カタディオプトリック

反射と屈折の両方によって機能する光学装置または光学要素を持つ

3.1.20

反射

反射によって動作する光学装置または光学要素を有する

3.1.21

センタリング望遠鏡

補助望遠鏡

接眼レンズ(3.1.52) の代わりに使用して、 対物レンズ(3.1.106) の 後焦点面(3.1.62.1) の 像(3.1.75) を検査できるように設計された 2 段階拡大鏡。

注記1:センタリング望遠鏡は主に顕微鏡照明システムの調整に使用され, 特に位相コントラストと変調コントラストを調整する.コノスコープ観察にも使用できます。

3.1.22

最小錯乱円

球面収差 (3.1.4.7) と 非点 収差 (3.1.4.1) が存在する場合に点 物体 (3.1.104) から形成される 最小像直径 (3.1.75) スポット

3.1.23

クリアフォーカシングスクリーン

写真や 顕微鏡写真(3.1.115 )でピント合わせ(3.1.67) に使用される透明なガラスまたはプラスチック材料のシートで、 画面(3.1.132) 上の図(たとえば、交差線)が 平面(3.1.117 )を定義するのに役立ちます ) 焦点拡大鏡(3.1.92.1 )で観察された 空中像(3.1.75.1 )が配置されている

3.1.24

粗調整

物体(3.1.104) と 対物レンズ(3.1.106 )との間の 光軸(3.1.107) に沿った距離を大きく急速に変化させるように設計された 焦点調節機構( 3.1.68)。

3.1.25

光学面のコーティング

反射および/または透過を減少または増加させる目的で、光学素子の表面に1つまたは複数の薄い誘電体および/または金属層を堆積させること。

例:

レンズ、ミラー、プリズム、フィルターなどの光学要素。

3.1.26

コレクション

レンズ(3.1.87 )は, 光源(3.1.135 )の適切なサイズの 像(3.1.75) を所定の 平面(3.1.117) に投影する[例えば,ケーラー照明(3.1.73.3)において開口に投影する]。 (3.1.117.1)コンデンサー(3.1.28)]

注記1: 「ランプコレクター」として知られることもある。

3.1.27

補償器

物体(3.1.104) 内の光路長差を測定するために使用される固定または可変 光路長差(3.1.108.1 )の 位相差板( 3.1.130)

注記 1: バビネ、ベレック、セナルモンなど、多くのタイプのコンペンセータが存在し、多くの場合、それらの作成者の名前で指定されています。

3.1.27.1

一次赤補償器

一次赤板

敏感な地紋

1 波長の 光路長差(3.1.108.1) を生成し、 1 次の赤(3.1.57) の典型的な色合いを持つ 干渉色(3.1.82) を生成する 遅延板( 3.1.130)。

3.1.27.2

半波補償器

半波長板

半波長の 光路長差(3.1.108.1 )を生成する 位相差板(3.1.130)

3.1.27.3

四分の一波補償器

四分の一波長板

波長の 4 分の 1 の 光路長差 (3.1.108.1 ) を生成する 位相差板 (3.1.130)

注記 1基準波長は用途に応じて選択され、個別に示される。偏光面に対して 45° に向けると、平面偏光を円偏光に、またはその逆に変換します。

3.1.27.4

クォーツウェッジ補償器

その長さに沿って 0 λと 3 λまたは 4 λの間で連続的に変化する 光路長差 (3.1.108.1) を生成する石英のくさび (または減算位置にある 2 つのそのようなくさび) からなる 遅延板 (3.1.130) 。

注記1:この特性により、くさびの長さに垂直なフリンジの形で一連の干渉色が生成されます。単色光では、色付きのフリンジは暗い帯と明るい帯が交互に現れるように見えます。

3.1.28

コンデンサー

顕微鏡(3.1.99) の照明系の一部で,1 つ又は複数の レンズ(3.1.87) (又は鏡)及びそれらのマウントから成り,通常は 絞り(3.1.38) を含み,集光,制御及び制御するように設計されている。 放射線(3.1.123) を照明 開口数(3.1.10.4 )に集中させる。

注記1:落射照明による明視野顕微鏡法では、対物レンズはそれ自体の集光器として機能します。

3.1.28.1

アッベコンデンサー

アッベによって導入された単純な設計の コンデンサー (3.1.28) 。 球面収差 (3.1.4.7 ) の補正 は限定的 (3.1.33) であり、 色収差 (3.1.4.2) の補正はありません。

3.1.28.2

アクロマティック アプラナティック コンデンサー

色収差(3.1.4.2 ) と 球面収差(3.1.4.7) が低減された コンデンサー(3.1.28)

注記 1:アクロマティック アプラナティック補正は、高開口数の油浸コンデンサーに特に有利です。

3.1.28.3

カーディオイドコンデンサー

透過光照明(3.1.73.6 )用の暗視野 コンデンサー(3.1.28.4) 。ここで、 球面収差(3.1.4.7) と コマ 収差(3.1.4.3)の 補正 (3.1.33)が反射面に対して計算されます。カーディオイド・オブ・レボリューションの形をした

注記 1実際には、真のカーディオイド面とは補正効果がわずかに異なる球面のゾーンを使用して補正が行われます。

3.1.28.4

暗視野コンデンサー

ダークアースコンデンサー

暗視野(3.1.35) 顕微鏡用に設計された コンデンサー(3.1.28)

注記1:透過光顕微鏡の場合、この集光器は別個の部品です。反射光顕微鏡の場合、通常は対物レンズのマウント内にあり、対物レンズのイメージング システムを取り囲んでいます。

3.1.28.5

膵臓コンデンサー

可変「ズーム」(パンクラティック) レンズ(3.1.87) を含む コンデンサー(3.1.28) 。これにより、 対象物(3.1.104 )での照明視野(3.1.54.3) のサイズを変更でき、照明 視野絞り を変更できます。 (3.1.38.5) 一定サイズのまま

注記1:照明開口部のサイズは、対象物での照明視野のサイズに反比例して変化し、両方のサイズの積は一定のままです。

3.1.28.6

位相差コンデンサー

対物レンズ(3.1.106) の 後焦点面(3.1.62.1) に ある 位相板(3.1.112) 上に適切なサイズの 像(コンデンサー の 前焦点面(3.1.62.2) に配置された ダイヤフラム(3.1.38) (一般に環状)の3.1.75 )。

3.1.28.7

サブステージコンデンサー

顕微鏡(3.1.99 )の ステージ(3.1.136) の下に収まるように設計された コンデンサー(3.1.28 )。

3.1.28.8

トップレンズコンデンサーをスイングアウト

コンデンサー(3.1.28) 。 上部の レンズ(3.1.87) を レバーを操作して光路から簡単に取り外すことができるように設計されている。低 倍率 (3.1.90 ) の対物レンズ (3.1.106) で使用するために、 照明視野 (3.1.54.3) の面積を縮小し、照明 開口数 (3.1.10.4) を減らします。

3.1.28.9

ユニバーサルコンデンサー

明視野(3.1.17) 、 暗視野(3.1.35) 、 位相コントラスト(3.1.32.4) 、 微分干渉コントラスト(3.1.32.2.1) 、 偏光 などの複数のコントラスト技術用に設計された コンデンサー(3.1.28) 光(3.1.88.1) および変調 コントラスト(3.1.32.3)

3.1.29

共役面

光軸(3.1.107 )に垂直な 平面(3.1.117) で,幾何光学の規則に従って別の平面上に結像されるもの。

3.1.30

コノスコープ図

光学的 異方性(3.1.8) 物体(3.1.104) が対物レンズ(3.1.8)の場合に、 対物レンズ(3.1.106) の 後焦点面(3.1.62.1) に形成される、等しい リターデーション(3.1.129) の点を結ぶ曲線の干渉パターン 交差極(3.1.118.2) または例外的に 平行極(3.1.118.3) の間に配置

3.1.31

コノスコピー

接眼レンズ(3.1.52) の 代わりにピンホール 絞り(3.1.38) または センタリング望遠鏡(3.1.21) を使用するか、 ベルトランレンズ(3.1 .87.2)

3.1.32

対比

明るさおよび/または色の違いによる 画像(3.1.75) の領域間の区別

3.1.32.1

干渉コントラスト

<term> 画像(3.1.75) の コントラスト(3.1.32) は、主に干渉によって引き起こされる

3.1.32.2

干渉コントラスト

<現象> 異なる 光路長(3.1.108) を有する特徴間の コントラスト(3.1.32) を高める

3.1.32.2.1

微分干渉コントラスト

対物面(3.1.117.5) or 像面 (3.1.117.3)に落ちる2つの波が 最小値 と同様の距離だけ横方向に離れている 二重ビーム干渉( 3.1.81.1)によるコントラスト(3.1.32) 。 解決可能な距離 (3.1.128.2)

注記 1この種のコントラストは、一方的な斜め照明の印象を特徴とします。表面レリーフ(反射光)または物理的厚さまたは屈折率(透過光)の勾配による光路長の変化は、画像のレリーフ コントラストとして現れます。

3.1.32.2.2

ノマルスキー微分干渉コントラスト

ノマルスキー プリズム (3.1.119.2 ) を使用した微分干渉 コントラスト (3.1.32.2.1) の形式

3.1.32.3

変調コントラスト

ホフマンによる 対物レンズ (3.1.106) の 後焦点面 ( 3.1.62.1) または後続の 共役面 (3.1.29) で変調器を使用する コントラスト (3.1.32) 技術、およびスリット 開口 (3.1 .10) コンデンサー (3.1.28) の 前部焦点面 (3.1.62.2) 内

注記 1:変調器は 3 つの領域で構成されるフィルターである: 暗い領域、コンデンサーのスリットが結像される灰色の領域、および明るい領域。変調器は、コントラストを高めるために、直接光と回折光に影響を与えます。

3.1.32.4

位相差

位相物体(3.1.111 )の像コントラスト(3.1.32) が、 位相(3.1.110) と振幅を変えることによって強化される、ゼルニケによる(最も広い意味での) 干渉コントラスト(3.1.32.2) の形 回折光 (3.1.40) に対する 直接光 (3.1.45) の差であり、 位相板 (3.1.112) の作用によって達成される。 対物レンズ(3.1.106 )の後焦点面(3.1.62.1 )(又はこれと 共役な次の平面 (3.1.29) 内)で, 前焦点面(3.1 .62.2) コンデンサー (3.1.28) の

注記 1:位相板には 2 つの特性があります: 直接光の位相を 90°シフトし、その強度の一部を吸収します。コントラストは、物体から出る光の位相差を画像の強度差に変換することによって実現されます。位相板の特性により2種類の位相差をご用意。正の位相コントラストでは、回折光の位相を少し遅らせたオブジェクトは背景よりも暗く表示されますが、負の位相コントラストでは明るく表示されます。

3.1.32.5

レリーフコントラスト

物体(3.1.104) 内の幾何学的又は 光路長差(3.1.108.1) の勾配を 画像(3.1.75) 内の輝度分布の形で表す コントラスト (3.1.32)の形式。 安堵の印象 (3.1.126)

注記1:この印象は,レリーフコントラスト画像の明るさの分布が,立体物を片側から照らした画像の光と影の分布に似ているために生じる。

3.1.33

修正

光学系の 収差(3.1.4) を最小化するプロセス

3.1.33.1

矯正クラス

光学系の 補正(3.1.33) の種類(色消し、プランなど)。

3.1.33.2

補正襟

一部の 対物レンズ (3.1.106) に設けられた機構で、 球面収差 (3.1.4.7) の 補正 (3.1.33) を適応させて、 カバー ガラス (3.1. 34) 培養チャンバーの壁および/または オブジェクト (3.1.104) と対物レンズの間の他の媒体

3.1.33.3

物体から一次像までの距離の補正

顕微鏡(3.1.99) の 対物レンズ(3.1.106 )の計算により、 一次像(3.1.80.2.2) までの所定の標準化された物体の補正を最適化する

3.1.33.4

過修正

球面収差(3.1.4.7 )の 補正(3.1.33) における誤差で、 画像(3.1.75) の コントラスト(3.1.32) の欠如につながる

注記 1:顕微鏡では、対物レンズの計算で想定される値よりも厚いカバー ガラスを使用するか、機械的なチューブの長さが長いことが原因である可能性があります。この用語は、色収差などの他の収差と関連して使用することもできます。

3.1.33.5

補正不足

球面収差 (3.1.4.7 ) の補正 (3.1.33) のエラーにより、 画像 (3.1.75) の コントラスト (3.1.32) が失われる

注記 1:顕微鏡検査では、対物レンズの計算で想定された値よりも薄いカバー ガラスを使用するか、機械的なチューブの長さが短いと、補正不足になる場合があります。この用語は、色収差などの他の収差と関連して使用することもできます。

3.1.34

カバーガラス

顕微鏡標本を覆うために使用される長方形または円形の薄いガラス片

注記1カバーガラスは、その厚み、屈折率、分散が計算や補正に影響を与えるため、設計上は対物レンズの一部とみなされます。 ISO 8255-1 で標準化されているように、その厚さ、屈折率、および分散の公差は、対物レンズの要求に関連して考慮する必要があります。

3.1.35

暗視野

直接光(3.1.45) が 対物レンズ(3.1.106) の 開口部(3.1.10) を通過するのを防止する 照明(3.1.73) および結像のシステム

注記 1:画像は物体の特徴によって散乱された光から形成されるため、暗い背景に対して細部が明るく見える。透過光または反射光の暗視野として認定される場合があります。

3.1.35.1

暗視野絞り

対物レンズ (3.1.10)の開口部(3.1.10) 内に入るすべての 直接光(3.1.45) を遮断するために、 コンデンサー(3.1.28) の 前部焦点面(3.1.62.2) で通常使用される中央の不透明なディスク。 .106)

3.1.36

被写界深度

<object space> 物体平面 (3.1.117.5) の両側の空間の軸方向深さ。この空間内で 物体 (3.1.104) を、 画像 (3.1.75) の鮮鋭度の検出可能な損失なしに移動できる。 像面 (3.1.117.3) と 対物レンズ (3.1.106) が維持されます。

注記 1: 3.1.37 の注を参照。

3.1.37

焦点深度

<image space> 物体平面 (3.1.117.5) と 対物レンズ (3.1.106) の位置が一致している間に、画像が許容できるほど鮮明に見える 画像 (3.1.75) の両側の空間の軸方向深さ。維持された

注記 1いくつかの刊行物では,「焦点深度」という用語が対象空間を指すのに使用されている。区別が重要な場合は、「被写界深度 (物体空間)」と「焦点深度 (画像空間)」という完全な用語を使用することをお勧めします。

3.1.38

横隔膜

光軸(3.1.107) に垂直な開口部の機械的制限。光学系の定義された場所で光路 (3.1.88) の断面積を制限し,サイズが固定または可変であってもよい、形状(通常は円形ですが)および位置

3.1.38.1

開口絞り

絞り 面(3.1.117.1 )のダイヤフラム( 3.1.38)

3.1.38.2

ベルトランダイヤフラム

コノスコープ像(3.1.30) が形成される 視野(3.1.54 )を制限するためにベルトランレンズ(3.1.87.2) の後に配置された 視野絞り(3.1.38.4)

3.1.38.3

コンデンサーダイヤフラム

絞り(3.1.38) 。 コンデンサー絞り(3.1.10.2) の有効なサイズと形状を制御し,通常は透過光で照明 絞り絞り(3.1.38.6) として機能する。

3.1.38.4

視野絞り

任意の 視野面(3.1.117.2) 内の ダイヤフラム( 3.1.38)

注記 1:視野絞りは通常、ランプコレクターの直後と接眼レンズに取り付けられます。

3.1.38.5

照光視野絞り

視野絞り(3.1.38.4) の 像(3.1.75) が 対象物(3.1.104 )で照明視野(3.1.54.3 )を定義する

3.1.38.6

照明開口絞り

照明系の 照明開口(3.1.10.2) 又は 瞳孔(3.1.122 )を定義する開口絞り(3.1.38.1) 。

注記 1:透過光の場合、これは通常コンデンサーの前側焦点面に組み込まれます。反射光顕微鏡では、対物レンズの後焦点面と共役な面の落射照明に見られます。一般的には単に「開口絞り」または「開口絞り」として知られています。

3.1.38.7

虹彩絞り

ダイアフラム (3.1.38) 通常は金属製の複数の葉で囲まれたもので、可変サイズの開口部を提供するように配置されており、制御装置によって調整可能である

3.1.38.8

視野絞り

視野( 3.1.54) を定義し、通常 接眼レンズ(3.1.52)内に含まれるダイヤフラム(3.1.38)

3.1.39

ダイクロイックミラー

ダイクロイックミラー

特殊なタイプの 干渉フィルター(3.1.55.8) は、 落射照明(3.1.73.2 )を使用する 蛍光顕微鏡(3.1.99.5) の必須部分として使用され、より短い波長の励起 放射線(3.1.123) を選択的に反射するように設計されています。より長い波長の 蛍光を透過します (3.1.58)

注記 1:可視光を反射しながら長波長の熱 (赤外線) 放射を透過させるために、同様の装置がランプの反射板としてよく使用されます。

3.1.40

回折光

物体(3.1.104 )で 回折 (3.1.41) を受け, 回折パターン(3.1.41.1) の一次,二次などの成分を生じさせる光(3.1.88)。

3.1.41

回折

波面が 物体(3.1.104) の不連続を通過するときの, 光(3.1.88) の伝播方向又は他の波動の方向のずれの現象。

3.1.41.1

回折パターン

物体(3.1.104) の幾何学的および光学的特性、 レンズ(3.1.87) の 収差(3.1.3) に依存する 回折 (3.1.41)による光(3.1.88) の分布射出 瞳の形状 (3.1.122) と光の波長

3.1.41.1.1

一次回折パターン

一次回折像

光源(3.1.135 )の複数の 像(3.1.75) の形をとる 物体(3.1.104 )の回折パターン( 3.1.41.1)

注記1:ケーラー照明では、対物レンズの後焦点面に形成される。

3.1.42

回折格子

照射されると、反射または透過によって、 回折(3.1.41) と干渉の結果として 強度(3.1.79) の最大値と最小値を生成する規則的に繰り返される構造のセット

注記1:これらの最大値と最小値は、波長によって位置が異なります。したがって、任意の波長の放射を複雑な放射から選択することができ、グレーティングを使用して単色光を生成することができる。

3.1.43

視度

メートル単位の レンズ(3.1.87 )の焦点距離(3.1.61) の逆数として表される屈折力の単位

3.1.44

屈折

レンズ(3.1.87) を使用して、屈折によって動作する光学装置または光学要素を記述する。

3.1.45

直接光

物体視野(3.1.54.5) を通過する際(透過光)又は物体の平面で鏡面反射する際に伝搬方向が変化せずに 対物レンズ(3.1.106) に入射する 光(3.1.88) 。光(反射光)の伝播方向に垂直に向けられた場。

3.1.46

分散

<波群>複雑な 放射の単色成分の分離を引き起こすある媒質から別の媒質に通過するときの波長(または周波数)の関数としての波群の位相速度の変化(3.1.123)

3.1.47

分散

〈屈折率〉複合 放射(3.1.123) の単色成分の分離を引き起こす媒質の 屈折率(3.1.125) の変化。

注記 1この特性を特徴付ける量は,媒質のアッベ数または分散力などの特別な名前を持つことがある.

3.1.47.1

分散曲線

所定の温度における波長または関連パラメータの関数としての媒質の 屈折率(3.1.125) のグラフ

3.1.48

複屈折

電磁波が互いに垂直な振動方向を持ち、異なる速度で伝播する 平面偏波 (3.1.88.1.2) 成分に分割される異方性の効果。

注記 1:複屈折は、構造、粒子の配向、またはひずみに起因する可能性があります。複屈折の量的な表現が複屈折です。

3.1.49

興奮

放射線(3.1.123) の放出をもたらす物質へのエネルギーの入力。

3.1.50

曝露

1秒当たりのルクスで測定される,感光性乳剤に当たることができる 光(3.1.88) の総量。

3.1.50.1

露出計

写真材料に必要な 露出(3.1.50) を決定するための装置。

3.1.51

絶滅

直交極(3.1.118.2) 間で観察したときに光学的に異方性の 物体(3.1.104) が暗く見える状態。

3.1.52

接眼レンズ

鏡筒( 3.1.144.6 )内に形成された 顕微鏡(3.1.99)の 最終 実像 (3.1.75.3)を拡大し,それを無限遠又は遠距離に投影する別のマウントの レンズ(3.1.87) システム。人間の目で見るのに快適

3.1.52.1

補償接眼レンズ

対物レンズ(3.1.106)の残留収差を補正するように設計された接眼レンズ(3.1.52) 、

例:

倍率の色差(3.1.4.2.2) or 非点収差( 3.1.4.1)の補正。

3.1.52.2

外部絞り接眼レンズ

視野絞り(3.1.38.4) がレンズ(3.1.87)の前にある 接眼 レンズ(3.1.52)

注記 1:このタイプの接眼レンズは目盛りの挿入に適しています。

3.1.52.3

フィラー接眼レンズ

マイクロメートルネジ接眼レンズ

マイクロメーターの接眼レンズ (3.1.52.9) で、 一次像面 (3.1.117.4) の基準マークをマイクロメーターのネジで調整することができ、結果として示された変位を使用して寸法を導き出します。

3.1.52.4

フォーカス可能な接眼レンズ

その中に取り付けられた 目盛り(3.1.70) or 視野絞り(3.1.38.4) に焦点を合わせる機構を備えた 接眼レンズ(3.1.52)

3.1.52.5

ハイアイポイント接眼レンズ

眼鏡の着用者による 顕微鏡(3.1.99) の使用を容易にするために、顕微鏡(3.1.122.2)の 射出瞳が 接眼レンズ(3.1.87.3.)から十分に離れているように計算された 接眼レンズ(3.1.52) 。または特別なアプリケーション用

3.1.52.6

ホイヘンス接眼レンズ

対物 レンズ ( 3.1.1 _ .106) とそれらの間に 視野絞り (3.1.38.4)

3.1.52.7

内部絞り接眼レンズ

視野絞り(3.1.38.4) が 視野レンズ(3.1.87.4) と 接眼レンズ(3.1.87.3) の間にある 接眼レンズ(3.1.52)

3.1.52.8

ウェイター接眼レンズ

フィールドレンズ(3.1.87.4) と 絞り(3.1.38) の間の距離、および 接眼 レンズ(3.1.87.3) から 顕微鏡の射出瞳までの距離( 3.1.122.2) 、両方とも増加

3.1.52.9

マイクロメータ接眼レンズ

測定に使用される フォーカス可能な接眼レンズ (3.1.52.4)

注記 1最も一般的な形式では、測定目盛が一次像面に取り付けられています。ステージマイクロメータに対して校正されています。

3.1.52.10

ポインタ接眼レンズ

一次像面(3.1.117.4) にポインタを含む 接眼レンズ( 3.1.52)

3.1.52.11

ラムズデン接眼レンズ

同じ 焦点距離(3.1.61) [ 視野レンズ(3.1.87.4) と 接眼レンズ(3.1.87.3) ]の2つの平 凸レンズ( 3.1.87)からなる 接眼レンズ (3.1.52)。レンズの焦点距離に等しい距離だけ離れている

3.1.52.12

広視野接眼レンズ

接眼レンズ(3.1.52) 同じ 倍率(3.1.90) の通常の接眼レンズよりも大きな 視野(3.1.54) を提供するように特別に計算された接眼レンズ(3.1.52)。

3.1.53

アイポイントの高さ

アイレリーフ

接眼レンズの最後の面 (3.1.52) から眼が位置する 顕微鏡の射出瞳 (3.1.122.2) までの 光軸 (3.1.107) に沿って測定された距離

注記 1:その値は、対物レンズと接眼レンズの間に挿入される光学系の影響を受ける可能性があります。

3.1.54

田畑

物体平面 (3.1.117.5) またはそれと 共役な他の平面 (3.1.29) の領域

注記1用語は,その位置(例,物体視野,像視野)又はその機能(例,照明視野,測光視野)によって限定されることがある。

3.1.54.1

接眼レンズ視野

接眼レンズ(3.1.52) の 視野絞り(3.1.38.4) によって定義される 一次像(3.1.75.2) の一部。

3.1.54.2

視野数

フィールド番号

FN

接眼レンズの視野 (3.1.54.1) を指定する数値で、 外部絞り接眼レンズ (3.1.52.2) の 視野絞り (3.1.38.4) のミリメートル単位の実際の直径、または 虚像の見かけの直径 ( 3.1.75.4) 視野絞り (3.1.38.4) の 内絞り接眼レンズ (3.1.52.7)

注記1:視野番号は現在、接眼レンズの標準マーキングの1つであり、顕微鏡の視野(物体視野)の直径を計算するために使用できます。

3.1.54.3

照らされたフィールド

照明(3.1.73 )を受ける物体視野(3.1.54.5) の部分。

3.1.54.4

画像フィールド

物体(3.1.104 )の像(3.1.75 )が形成される 視野 (3.1.54)

3.1.54.5

オブジェクト フィールド

顕微鏡視野

視界

によって定義される最終 画像(3.1.75) で再現される オブジェクト(3.1.104) の一部。
  • a) 接眼レンズ (3.1.52 ) の視野絞り (3.1.38.4 )、または
  • b)受信装置の寸法
物体と a) または b) の間にある光学要素の合計 倍率 (3.1.90) とともに

3.1.54.6

対象分野番号

OFN

対物レンズ(3.1.106) が使用されるように設計された 接眼レンズ(3.1.52) の最大 視野数(3.1.54.2) 。

3.1.55

フィルター

透過又は反射する 放射(3.1.123) の波長,色温度,振動方向及び/又は 強度(3.1.79) を選択的に制御するように設計された光学装置。

3.1.55.1

バリアフィルター

フィルタ(3.1.55) 。励起(3.1.49)に使用される 光(3.1.88) の波長の 画像(3.1.75) への通過を防止するが, 励起(3.1.49) によって生成される光を許容するように設計された,蛍光顕微鏡で使用されるフィルタ(3.1.55)。通過する 物体(3.1.104 )の蛍光(3.1.58)

3.1.55.2

ブロードバンドパスフィルター

広帯域フィルタ

フィルタ(3.1.55) 。所定の中心波長の周りの広い波長帯域(約 50 nm 以上)の 放射線(3.1.123) を通過させる。

注記 1: 「広帯域」帯域の概念は恣意的なものです。

3.1.55.3

カラーフィルター

選択した色(色度)または波長特性の 光(3.1.88) を通過さ せるフィルター(3.1.55)

3.1.55.4

色変換フィルター

変換フィルター

光源(3.1.135)から受け取った 光(3.1.88) の色温度を変更するために使用される フィルター( 3.1.55)

3.1.55.5

コントラストフィルター

オブジェクト(3.1.104) の特徴間またはオブジェクトと背景の間の 画像(3.1.75) の コントラスト(3.1.32) を調整するために使用される フィルタ(3.1.55)

3.1.55.6

エキサイターフィルター

蛍光(3.1.58) を励起する波長のみを通すように(理想的には)設計された蛍光顕微鏡で使用される フィルター(3.1.55 )。

3.1.55.7

ヒートフィルター

熱保護フィルター

赤外線または近赤外線範囲の 放射線(3.1.123) の通過を防ぐように設計された フィルター(3.1.55) 。

3.1.55.8

干渉フィルター

多重ビーム干渉(3.1.81.3) によってスペクトルの限られた部分を選択的に透過又は反射するように設計された フィルタ( 3.1.55)。

3.1.55.9

長波通過フィルター

ロングパスフィルター

フィルタ(3.1.55) 所定の限界よりも長い波長の 放射(3.1.123) を通過させるように設計されたフィルタ(3.1.55)。

3.1.55.10

狭帯域通過フィルター

狭帯域フィルター

フィルター (3.1.55) (しばしば 干渉フィルター (3.1.55.8) ) は、与えられた中心波長の周りの非常に狭い波長帯域内でのみ 放射線 (3.1.123) の通過を可能にする

注記1 「狭い」バンドの概念は恣意的である。

3.1.55.11

ニュートラルデンシティフィルター

NDフィルター

ニュートラルフィルター

フィルタ(3.1.55) 可視スペクトル全体にわたって 放射線(3.1.123 )の強度(3.1.79) をできるだけ等しく減少させるように設計されている

3.1.55.12

偏光フィルター

フィルタ(3.1.55) 特定の方向に振動する 光(3.1.88) を完全に又は部分的に吸収することによって 極性(3.1.118) として作用するフィルタ(3.1.55)。

3.1.55.13

短波通過フィルター

ショートパスフィルター

フィルタ(3.1.55) 所定の限界よりも短い波長の 放射線(3.1.123) を通過させるように設計されたフィルタ(3.1.55)。

3.1.56

微調整

物体(3.1.104) と 対物レンズ(3.1.106 )との間の 光軸(3.1.107) に沿った相対位置を小さく正確に変更するように設計された 集束機構( 3.1.68)。

注記 1:それが提供する位置決めの精度は、対物レンズの被写界深度よりも優れている必要があります。

3.1.57

一次赤

敏感な色合い

他の波長の 吸光(3.1.51) によって連続スペクトルの 光(3.1.88) から選択される特徴的な赤紫色の 干渉色(3.1.82) 。

3.1.58

蛍光

比較的短い波長(すなわち,比較的高いエネルギー)の 放射線(3.1.123) が物質によって選択的に吸収され,その結果,より長い波長(すなわち,より低いエネルギー)の放射線が放射される現象。 興奮の停止(3.1.49)

注記1:多光子励起の特殊なケースでは、より長い波長(より低いエネルギー)の放射線が、より短い波長の放射線の影響で蛍光を励起することがあります。

3.1.58.1

一次蛍光

自己蛍光

物体(3.1.104) の固有の特性によって示される 蛍光(3.1.58 )。

3.1.58.2

二次蛍光

蛍光 色素(3.1.60)で処理した後に 物体(3.1.104) が示す 蛍光(3.1.58)。

3.1.58.3

励起波長

蛍光抗体又は蛍光タンパク質などの 蛍光色素(3.1.60) を励起して,発光波長で光を放出するのに必要な 光(3.1.88) の特定の波長。

3.1.58.3.1

励起波長帯域

蛍光色素(3.1.60) を励起するために使用される 光(3.1.88) の特定の波長範囲。

3.1.58.4

検出波長帯域

光検出器によって収集される特定の波長範囲の 光(3.1.88) 。

3.1.59

蛍石

結晶性フッ化カルシウム (CaF 2 )

注記1:この材料または同様の光学特性を持つ他の材料は、色収差の補正およびより高い補正クラスの顕微鏡対物レンズの光透過率の改善のための追加のレンズ材料として使用されます。

3.1.60

蛍光色素

蛍光顕微鏡(3.1.99.5) によるその後の検査のために、標本内の構造に 蛍光(3.1.58) を付与するために使用される物質

3.1.61

焦点距離

for orf'

レンズ(3.1.87 )の主平面(3.1.117 )から適切な 焦点面(3.1.62) までの光軸に沿って測定された距離

3.1.62

焦点面

平行光線の束が理想 レンズ (3.1.87) によって一点に結ばれる面

例:

焦点面は、無限遠にある物体の像が形成されるレンズ (または鏡) の光軸に直角な面です。

3.1.62.1

後焦点面

〈収束レンズ〉 光(3.1.88) の通過方向から見て レンズ(3.1.87) の後ろにある 焦点面( 3.1.62)。

3.1.62.2

前焦点面

〈収斂レンズ〉 光(3.1.88) の通過方向から見たときにレンズ(3.1.87)の前方にある レンズ(3.1.62 )の焦点面( 3.1.62)。

3.1.63

焦点

ForF'

焦点面 (3.1.62) と 光軸 (3.1.107) との交点。光軸に平行な理想 レンズ (3.1.87) に入射する光線が光軸を横切る (収束レンズ) または(発散レンズ)に由来する

3.1.64

集中

<lens> レンズ (3.1.87) の 焦点 (3.1.63)

3.1.65

集中

<imaging> 最も鮮明な画像の状態

3.1.66

集中

<レイ トレーシング> 物体平面 (3.1.117.5) 内 の点。これらの光線は、光学系での屈折および/または反射の後、 画像平面 (3.1.117.3) でも交差して鮮明な 画像 ( 3.1.75) 共役点の

3.1.67

フォーカシング

<制御> 光学系の 焦点(3.1.65) を合わせる行為,すなわち,適切な 像面(3.1.117.3) に最も鮮明な 像(3.1.75) を形成する位置に光学系をもたらす行為。

注記1:これに使用される集束機構の性質に応じて、この単語は「粗い」または「細かい」という形容詞によって修飾される場合があります。

3.1.68

フォーカシング機構

物体(3.1.104) と 像(3.1.75) を形成する光学系との間の距離を変化させるために使用される機構。

注記1顕微鏡の場合, 焦点調節機構(3.1.68) はラックとピニオンによって媒介されることが多く,ノブの回転運動をいずれかの 光軸(3.1.107) に沿った直線運動に変換する 対物レンズ(3.1.106) ( チューブ(3.1.144) の有無にかかわらず)または ステージ(3.1.136) 。

3.1.69

フリーワーキングディスタンス

作動距離

WD

対物レンズ (3.1.106) の前面と カバーガラス (3.1.34) の表面または 対象物 (3.1.104) の 表面との間の距離。覆われていない、通常の動作条件下

3.1.70

自由

レチクル

測定、基準、位置合わせ、位置、計数または立体学的分析に使用される 物体平面(3.1.117.5) または 像平面(3.1.117.3) に配置された、その支持体とともにスケールまたはグリッドなどのパターン

3.1.71

すりガラス

機械的又は化学的手段によって表面を粗面化したガラスで,顕微鏡で通過又は入射する 光(3.1.88) の散乱又は拡散を提供するために使用される。

注記1実像を視覚化するためのスクリーンとして使用することができる。

3.1.72

ハロー

位相差顕微鏡(3.1.32.4) において, 画像(3.1.75) の特徴が暗い縁又は明るい縁に囲まれる現象。

3.1.73

イルミネーション

物体(3.1.104 )への光(3.1.88) の適用

3.1.73.1

軸方向照明

軸が 顕微鏡(3.1.99) の 光軸(3.1.107) と一致する光線束による 照明(3.1.73 )。

3.1.73.2

エピイルミネーション

同軸ライト

反射光

入射光

垂直照明

物体視野が観察される側と同じ側から 物体視野(3.1.54.5) に当たる 照明(3.1.73)

3.1.73.3

ケーラー照明

不均一な 光源(3.1.135 )から均一に照明されたフィールド(3.1.54.3) を提供する、微小 物体(3.1.104) を照明する方法。

注記1:光源の像は集光器によって集光器の前方焦点面にある開口絞りの面に投影される。次に、集光器は、集光器の開口部で照明された視野絞りの像を対物面に投影します。対物レンズが独自の集光器として機能する反射光顕微鏡では、開口絞りがリレー レンズによって対物レンズの後焦点面に結像され、照明視野絞りが対物レンズの面と共役な面になるように配置されます。コレクション。

3.1.73.4

斜め照明

軸が 顕微鏡(3.1.99) の 光軸(3.1.107) と角度をなす光線束を用いた 照明(3.1.73 )。

3.1.73.5

光源集束照明

クリティカルイルミネーション

照明 視野絞り (3.1.38.5) を運ぶことができる 光源 (3.1.135 ) の像 (3.1.75) が コンデンサー (3.1.28) によって投影される照明(3.1.73) の方法 物体面 (3.1.117.5)

注記均一な光源から均一な照明が得られる。

3.1.73.6

透過照明

透過照明

透過照明

物体視野が観察される側とは反対側から 物体視野(3.1.54.5 )を通過する照明(3.1.73) 。

3.1.74

イルミネーター

照明を提供するように設計された装置(3.1.73)

3.1.74.1

落射照明

反射光顕微鏡(3.1.99.11) の照明システムの一部で, 対物レンズ(3.1.106) [それ自体の 集光器(3.1.28) として機能する]と照明器具の間に置かれる。

注記 1:落射照明器は本体管に取り付けられているか、本体管に挿入されており、このようにしてこの管の一部を形成しています。リフレクター、または交換可能なリフレクターのセットがイルミネーターに含まれています。

3.1.74.2

光ファイバー照明器

光(3.1.88) が光ファイバーによって供給される照明システム。

3.1.75

画像

オブジェクト(3.1.104) 内の点に対応する、 レンズ(3.1.87) または他の画像システムによって形成される点の集まり

注記1:画像は、光の変調を引き起こす物体の特性を構造的に表現したものです。光の空間的および時間的状態を記述するすべてのパラメータを変調できます。これらの変調により、コード化された形式の光は、オブジェクトに関する情報を運びます。複合顕微鏡による顕微鏡検査では、一次画像と二次画像が形成され、二次画像は観察者の眼の網膜、写真材料、または別の表面に生成されます。

3.1.75.1

航空写真

実像 (3.1.75.3) 空間の 平面 (3.1.117) に存在し、通常肉眼では見えない

3.1.75.2

プライマリ イメージ

通常, 対物レンズ(3.1.106) によって形成された 物体(3.1.104) の 実像 (3.1.75.3),又は無限補正系では対物レンズとその 結像レンズ(3.1.87.10) によって形成された実像(3.1.75.3)。

注記1: 「一次像」は,アッベが述べた「一次干渉像」と混同してはならない。

3.1.75.3

実像

表面で受信できる 画像 (3.1.75)

例:

サーフェスは スクリーン (3.1.132) にすることができます。

3.1.75.4

虚像

像(3.1.75) で,表面上では受け取れないが,眼の光学系又は他の集束 レンズ(3.1.87) 系によって 実像(3.1.75.3) に変換できるもの。

3.1.76

画像空間

像(3.1.75) が位置する光学系のその側の空間。

注記1虚像の反射又は形成において,この空間は物体空間と一致することがある。

3.1.77

浸漬

液浸液の使用(3.1.78)

3.1.77.1

均一浸漬

液浸 液(3.1.78) と隣接する光学部品が同じ 屈折率(3.1.125) と 分散(3.1.47) (またはアッベ数)を持ち,屈折も反射も起こらない液浸(3.1.77)。液体と光学部品の間

注記1:現代の顕微鏡設計では、システムの補正を補助するために、対物フロントレンズ、液浸液、およびカバーガラスの間の屈折率の差が意図的に導入される場合があり、その結果、液浸は真に均一ではなくなります。

3.1.77.2

油浸

浸漬 液(3.1.78) is 浸漬油(3.1.78.1 )である浸漬(3.1.77)。

3.1.78

液浸液

液浸レンズ(3.1.87.6) の前面と 物体(3.1.104) の間の空間での使用に適していると指定された液体。

注記 1:液浸液は補正の計算ではレンズの一部であると見なされるため、その屈折率と分散 (またはアッベ数) は重要です。

例:

一般的に使用される液浸液は、 液浸油 (3.1.78.1) 、水、グリセロール、またはシリコンです。

3.1.78.1

イマージョンオイル

合成 液浸液(3.1.78)

注記 1:この用語は、以前はシダーウッドオイルなどの天然に存在する液浸液に適用されていました。

注記 2:液浸油は ISO 8036 に準拠しています。

3.1.79

強度

電磁波の振幅の二乗に比例する 放射(3.1.123) の強さの総称。

注記1測定の場合、この用語は最適な測光量または放射量に置き換える必要があります。

3.1.80

寸法のインターフェース

顕微鏡(3.1.99) レンズ(3.1.87 )の計算及び顕微鏡の設計の基礎となる 基準面(3.1.117.6) から測定された機械的又は光機械的距離であり,特定の部品の交換を容易にするもの。

注記 1:寸法には 2 つのカテゴリがあります。国際的に標準化されているものと、個々の製造業者によって内部標準として採用されているものです。

3.1.80.1

顕微鏡の機械的インターフェース寸法

いくつかの機械的 位置決め面(3.1.89) またはフランジ間の距離

3.1.80.2

顕微鏡の光学インターフェース寸法

焦点(3.1.63) 、 物体面(3.1.117.5) or 像面(3.1.117.3) から機械的 位置決め面(3.1.89) またはフランジまでの距離

3.1.80.2.1

対物レンズから主像までの距離

レボルバーの対物位置決め面(3.1.89.3) と 一次結像面(3.1.117.4 )との間の空中距離。

注記 1:対物レンズから主像までの距離は、光学インターフェース寸法の 1 つであり、一般に 150 mm または無限大のいずれかの値を持ちます。後者は、無限補正対物レンズ用に設計された顕微鏡に適用される仮説値です。

3.1.80.2.2

物体から一次像までの距離

対物面 (3.1.117.5) と 一次像面 (3.1.117.4) の間の空気中の距離

注記 1:物体から一次像までの距離は、顕微鏡設計で使用される基本的な光学インターフェース寸法であり、一般に 195 mm または無限大の値を持ちます。後者は、無限補正対物レンズ用に設計された顕微鏡に適用される仮説値です。

3.1.80.2.3

接眼レンズの同焦点距離

接眼レンズ (3.1.89.1) の位置決めフランジと、接眼 レンズ (3.1.52) が焦点を合わせる 面 (3.1.117 ) との間の距離。

注記 1:接眼レンズが焦点を合わせる面は、接眼レンズが鏡筒に取り付けられたときの顕微鏡の最終的な実像の面と一致します。接眼レンズの同焦点距離は、光学インターフェースの寸法の 1 つで、通常は 10 mm です。

3.1.80.2.4

対物レンズの同焦点距離

対物面(3.1.117.5) [すなわち, 対象物(3.1.104) の覆われていない表面]と 対物レンズの位置決めフランジ (3.1.89.4)との間の空気中の距離。 顕微鏡(3.1.99) がその中にあるとき。作業位置

注記 1:対物レンズの同焦点距離は、光学インターフェース寸法の 1 つです。

3.1.81

干渉

2つ以上のコヒーレント波列間の相互相互作用

注記 1:この現象は、物体内の光路長差を画像内の強度変化に変換してコントラストを提供するために使用することができます。

3.1.81.1

ダブルビーム干渉

2 つのコヒーレント 光線からの波列間の干渉 (3.1.88)

3.1.81.2

二重焦点干渉

二重光束干渉(3.1.81.1) 。2 つの 光(3.1.88) ビームが異なるレベルの 焦点(3.1.65) を持ち,一方のビームが 物体面(3.1.117.5) に集束し,他方のビームはその上に集束する。またはその平面の下

3.1.81.3

複数ビーム干渉

2 つ以上のコヒーレント 光線からの波列間の干渉 (1/3/88)

3.1.81.4

偏光干渉

複 屈折(3.1.48) の結果として,1 つの 平面偏光(3.1.88.1.2) ビームから 2 つの 光ビーム(3.1.88) ビームが生じる 二重ビーム干渉(3.1.81.1) 。相互に垂直な振動方向で、 アナライザーによって再結合されます (3.1.118.1)

3.1.81.5

せん断干渉

物体面(3.1.117.5) or 像面 (3.1.117.3)に当たる2つの 光(3.1.88) ビームが互いに横方向に分離される 二重ビーム干渉(3.1.81.1) 。

注記1:この分離により、研究できる特徴のサイズが制限されます。

3.1.82

干渉色

混色:スペクトルの1つまたは複数の部分の干渉によって引き起こされる 吸光(3.1.51) または部分的な吸光から生じる混色。

3.1.83

干渉法

光路長差の測定に適用される干渉現象 (3.1.108.1) 。そこから屈折率と厚さも導き出すことができる

3.1.84

瞳孔間距離

平行注視線で見たときの人の瞳孔の中心間の距離 (mm)

注記 1:双眼顕微鏡と双眼鏡筒には、さまざまな人々のさまざまな瞳孔間距離を考慮できるように調整機能が備わっています。

3.1.85

ランプ

放射線源(3.1.123)

3.1.85.1

フィラメントランプ

ランプ(3.1.85) からの 放射線(3.1.123) がフィラメント(通常はタングステン製)から放射され、電流の通過によって加熱される。

注記 1:放出されるスペクトルは連続的であり、黒体放射体のスペクトルに近似します。

3.1.85.2

ハロゲンランプ

エンベロープがハロゲン蒸気を含む フィラメントランプ(3.1.85.1)

注記1:ハロゲンがフィラメントからのタングステンの損失とエンベロープへのその堆積を減少させる循環プロセス。これにより、フィラメント温度が高くなり、その結果、同じ入力電力の従来のフィラメント ランプよりも輝度が高くなり、色温度が高くなり、動作寿命が長くなります。

3.1.85.3

水銀アークランプ

水銀蒸気を含む放電 ランプ(3.1.85) で,ランプ動作中はしばしば高圧である。

注記 1:低圧では、ランプは特徴的な線スペクトルを放射しますが、加熱すると、バックグラウンドを形成する強い連続スペクトルが生じます。このタイプのランプは、蛍光顕微鏡で頻繁に使用され、適切なフィルターを使用して、単色放射または紫外線放射の光源としても使用されます。

3.1.85.4

顕微鏡ランプ

ランプ(3.1.85) とその 集光器(3.1.26) 、鏡、ハウジング及び付属品

注記 1:顕微鏡ランプは顕微鏡スタンド自体に組み込むことも、別のユニットにすることもできます。

3.1.85.5

キセノンアークランプ

キセノンを含む放電 ランプ(3.1.85) で,ランプ動作中は高圧であることが多い。

注記 1:ランプは、高輝度、高色温度の光を放射し、紫外から赤外まで分布するスペクトルがほぼ連続的です。

3.1.86

レーザ

放射輝度のスペクトル濃度が高く,立体角が非常に小さいコヒーレント 放射(3.1.123) を放出する光源。

注記1: Light Amplification by Stimulated Emission of Radiationの頭字語。

3.1.87

レンズ

光線の方向を変更するために使用される、1つまたは複数の曲面を持つ透明な素材の部分 (3.1.88)

注記1:この用語は、原則として単一レンズとして機能するレンズのシステムにも使用できます。

3.1.87.1

非球面レンズ

非球面(3.1.14) 面で作られた レンズ(3.1.87)

3.1.87.2

ベルトランレンズ

アミチベルトランレンズ

対物レンズ(3.1.106)の 後焦点面(3.1.62.1) の 像( 3.1.75) を 一次像面(3.1.117.4 )に転送する中間レンズ( 3.1.87.7)

注記 1:バートランドレンズは、偏光顕微鏡におけるコノスコープ観察と、特に位相コントラストおよび変調コントラスト顕微鏡における顕微鏡照明システムの調整に使用されます。

3.1.87.3

アイレンズ

観察者の眼に最も近い 接眼 レンズ(3.1.52)の レンズ(3.1.87) 又はレンズ群。

3.1.87.4

フィールドレンズ

前のレンズの射出 瞳(3.1.122) を後続のレンズの入射瞳に適合させるために, フィールド平面(3.1.117.2)内 またはフィールド平面(3.1.117.2)の近くに配置された レンズ(3.1.87) 。

注記1:視野レンズを使用すると、画像のケラレが抑制され、より一般的には、関連する視野の均一な照明が得られます。この用語は、接眼レンズの視野レンズを説明するために、条件なしでよく使用されます。

3.1.87.5

勾配屈折率レンズ

屈折力の一部またはすべてが、屈折率(3.1.125 ) の軸方向、半径方向、または球面の変化に起因する レンズ(3.1.87)

3.1.87.6

液浸レンズ

液浸液(3.1.78) で動作するように設計された 対物レンズ(3.1.106) or コンデンサー(3.1.28 )。

3.1.87.7

中間レンズ

対物レンズ( 3.1.106) と 一次像(3.1.75.2) の間に位置するレンズ(3.1.87)は、一次像の位置および/または 横方向の倍率(3.1.90.8) を制御し、および/または確実にします。実際の 光学インターフェースの寸法 (3.1.80.2) が標準のものと異なる場合の正しい光学イメージングの条件

3.1.87.8

写真投影レンズ

顕微鏡写真用に特別に設計された 投影レンズ(3.1.121) (3.1.115)

3.1.87.9

リレーレンズ

像(3.1.75) を別の 平面(3.1.117 )に移すための レンズ( 3.1.87)

3.1.87.10

チューブレンズ

中間レンズ(3.1.87.7) は、 無限補正対物 レンズ(3.1.106.3)の不可欠な構成要素として機能するように設計されており、倍率と 補正(3.1.33) が考慮される場合、対物レンズ系の一部とみなされるべきである

3.1.87.10.1

通常のチューブレンズ

無限補正対物レンズ (3.1.106.3) が動作するように設計された特定 のチューブ レンズ (3.1.87.10)

3.1.87.10.2

通常の結像レンズの焦点距離

f_

この結像レンズ (3.1.87.10) で動作するように設計された 倍率 (3.1.90) と 対物レンズ (3.1.106) の焦点距離に関連する 焦点 距離 (3.1.61)

3.1.87.11

管長補正レンズ

中間レンズ (3.1.87.7) は、機械的なチューブの長さの公称値からの偏差を光学的に補正するために使用されます

3.1.88

ライト

視覚を直接引き起こすことができる電磁 放射(3.1.123) 。

3.1.88.1

偏光

振動が特定の瞬間に特定の方向で部分的または完全に抑制される 光 (1/3/88)

注記1振動のベクトルは、直線、円形、または楕円形を表す場合があります。

3.1.88.1.1

楕円偏光

振動ベクトルが楕円形を 描く偏光(3.1.88.1) 。

3.1.88.1.2

平面偏光

直線偏光

振動ベクトルが線形を 描く偏光(3.1.88.1)

3.1.88.2

迷光

物体(3.1.104) , レンズ(3.1.87) ,又は 光 路中の障害物による散乱又は反射から生じ, 像(3.1.75) の形成に寄与しない光(3.1.88)。画像の コントラスト (3.1.32) を下げます。

3.1.89

位置決め面

位置決めフランジ

交換可能な 2 つのコンポーネントが結合する面

注記 1:これらの面は光軸に垂直であり、光学要素と機械要素の正しい軸位置と中心を設定する役割を果たします。それらは、光インターフェイスの寸法の基準面と一致する場合があります。

3.1.89.1

接眼レンズの位置決めフランジ

鏡 筒(3.1.89.2)の接眼レンズ設置面で ある所定の高さに設置する 接眼レンズ(3.1.52) のフランジ。

注記 1:接眼レンズの位置決めフランジは、接眼レンズの同焦点距離の基準面の 1 つです。

3.1.89.2

鏡筒の接眼レンズ位置面

接眼レンズ (3.1.89.1) の位置決めフランジの高さを設定する ビューチューブ (3.1.144.6) の上端の面。

注記 1:鏡筒の接眼レンズ位置面は、機械的な鏡筒の長さを決定する基準面の 1 つです。

3.1.89.3

ノーズピースの対物レンズ設置面

対物レンズ(3.1.106) を所定の高さに配置し,対物レンズ(3.1.89.4) の位置決めフランジ と一致する ノーズピース(3.1.103) の表面。

注記 1:対物レンズ位置決め面は、機械的なチューブの長さ、対物レンズの同焦点距離、および対物レンズから主像までの距離を決定する基準面の 1 つです。

3.1.89.4

対物レンズの位置決めフランジ

対物肩

ノーズピース(3.1.89.3)の対物レンズ設置面である所定の高さに設置する対物レンズ(3.1.106)の表面 。

注記 1:対物レンズの位置決めフランジは、対物レンズの機械的なチューブの長さと同焦点距離を決定する基準面の 1 つです。

3.1.90

倍率

光学的技術によって 物体(3.1.104) の見かけの寸法を変化させる過程,又はその結果の数値表現。

注記 1目視または横方向などの倍率の種類は常に指定する必要があります。

注記 2:特定の動作条件下で光学系が視覚的な倍率と横方向の倍率を生成する能力の尺度としてのより一般的な用語である倍率は、このドキュメントでは「倍率」に置き換えられています。今期は実務で。

3.1.90.1

接眼レンズの倍率

ME

接眼レンズ(3.1.52 )によって一次像(3.1.75.2) から形成された 虚像 (3.1.75.4)での視倍率( 3.1.90.10)

注記1接眼レンズの倍率の値は,基準視距離と接眼レンズの焦点距離の比である。

どこ
ME接眼レンズの視覚倍率です。
fE接眼レンズの焦点距離 (mm) です。
250は、ミリメートル単位の基準視聴距離です。

3.1.90.2

実像を生成するために使用される顕微鏡の全体の倍率

Mデッドプロジェクト

実像(3.1.75.3)での横倍率( 3.1.90.8)

注記1目視観察用の通常の接眼レンズ又は写像投影レンズを用いて実像を形成するために使用される顕微鏡の総合倍率の値は,投影係数が計算されたものであり,倍率の積によって与えられる。対物レンズの総鏡筒係数、接眼レンズの倍率、投影係数、つまり

どこ
Mデッドプロジェクト顕微鏡の合計 (横) 倍率です。
MO対物レンズの倍率です。
Q総チューブ係数です。
ME接眼レンズの(視覚的な)倍率です。
Pは投影係数です。
注記2特別に設計された写真レンズを使用して実像を生成するために使用される顕微鏡の総合倍率の値は,対物レンズの倍率,全鏡筒係数及び写真投影レンズの倍率の積によって与えられる。 、つまり

どこ
Mデッドプロジェクト顕微鏡の合計 (横) 倍率です。
MO対物レンズの倍率です。
Q総チューブ係数です。
Mフォト写真投影レンズの(横方向の)倍率です。

3.1.90.3

目視観察に使用する顕微鏡の総合目視倍率

Mデッドヴィス

顕微鏡(3.1.99) によって形成された 虚像 (3.1.75.4)での視倍率( 3.1.90.10)

注記1顕微鏡の視覚的倍率の値は,対物レンズの倍率,全鏡筒係数及び接眼レンズの視覚的倍率の積によって与えられる。

どこ
Mデッドヴィス顕微鏡の合計 (視覚) 倍率です。
MO対物レンズの倍率です。
q総チューブ係数です。
ME接眼レンズの(視覚的な)倍率です。

3.1.90.4

一次像距離が有限の対物レンズの倍率

MO

対物レンズの設計で指定された 対物レンズ(3.1.106) からの距離に形成された 一次像(3.1.75.2 )での横倍率(3.1.90.8) 。

注記 1:MOは比例形式で表す必要があります (例: 10:1)

3.1.90.5

通常のチューブレンズと組み合わせた無限の一次像距離を持つ対物レンズの倍率

M

対物レンズ (3.1.106) と 通常のチューブ レンズ (3.1.87.10.1) (対物レンズが設計されているチューブ レンズ) の組み合わせによって生成される 実像 ( 3.1.75.3) での横倍率 (3.1.90.8) 動作します)

注記1:無限の一次結像距離に対して補正された対物レンズの倍率の値は,対物レンズの焦点距離に対する通常のチューブレンズの焦点距離の比によって与えられる。

どこ
M無限の一次像距離に対して補正された対物レンズの倍率です。
f_mm 単位の通常のチューブ レンズの焦点距離です。
f_対物レンズの焦点距離 (mm) です。
M×10 のように、乗算記号を含む数値形式で表す必要があります。

3.1.90.6

軸方向の倍率

像空間(3.1.76) における所与の軸方向距離と 物体空間(3.1.105) における対応する距離との比

3.1.90.7

空の倍率

有効 倍率(3.1.90.9) より大きい 倍率(3.1.90)

注記1:有用な倍率の範囲を超えると、オブジェクトに関する詳細な情報は得られませんが、シャープネスとコントラストが低下するように見えます。

3.1.90.8

横倍率

光軸(3.1.107) に垂直 な実像(3.1.75.3) の所与の距離と, 物体(3.1.104) の対応する距離との比。

注記 1この比率は、比例形式で表す必要があります (例: 10:1)

3.1.90.9

目視観察に有効な倍率範囲

物体(3.1.104) の細部が 画像(3.1.75) ではっきりと見える 全視覚倍率(3.1.90.3) の範囲。

注記 1この範囲の値は、通常、対物レンズの開口数の 500 倍から 1,000 倍の間であると見なされます。総合視覚倍率が下限を下回ると、対物レンズの解像力を十分に活用できなくなります。合計視倍率が上限を超えると、空倍率が発生します。この現象は、眼の解像特性によるもので、一般的には 2 分から 4 分のアークの間であると想定されています。

3.1.90.10

目視倍率

像(3.1.75) を拡大鏡で観察したときの 物体(3.1.104 )の視野角(3.1.147) のタンジェントと,肉眼で無限遠で観察したときの物体のタンジェントの比。 基準視聴距離 (3.1.124) (250 mm)

注記 1この比率は,×10 のように,乗法記号を付けた数値形式で表さなければならない。

3.1.91

倍率チェンジャー

一次像(3.1.75.2) の 横倍率(3.1.90.8 )を変更するための 中間レンズ( 3.1.87.7)

注記1倍率チェンジャーの効果はチューブファクターとして表され、段階的または連続的に変化させることができます。無限遠補正対物レンズの場合、チューブレンズを別の焦点距離のものに交換することで同じ効果が得られる場合があります。

3.1.92

拡大鏡

視野角(3.1.147) を拡大し,それによって眼の網膜上に拡大 像(3.1.75) を提供するために, 物体(3.1.104) と眼の間で使用される収束 レンズ(3.1.87) 。

3.1.92.1

ピント拡大鏡

写真及び 顕微鏡写真( 3.1.115)において画像(3.1.75 )の正確な 焦点合わせ(3.1.67) を助けるために使用される調節可能な 拡大鏡( 3.1.92)。

3.1.93

光学部品のマーキング

光学部品の光学特性、特定の特性の値、および部品の起源を示すために、光学部品に文字またはカラー バンドの形式でデータを書き込むこと

注記 1詳細は ISO 8578 に記載されている。

3.1.93.1

対物レンズのカラーマーキング

対物レンズ(3.1.106)の マーキング(3.1.93) は、 対物レンズ(3.1.93.1.1) の カラーコード に従って特性を示すために、色付きのリングおよび/または彫刻によって示される。

3.1.93.1.1

目的のカラーコード

対物レンズ ( 3.1.106)のマウントに取り付けられた、 倍率(3.1.90) の範囲およびその他の特性を示す色付きのバンドによる 、対物レンズ(3.1.93.1)のカラーマーキング システム

注記 1色は、ISO 8578 に詳述されているように、赤から紫までのスペクトルを介して黒から割り当てられ、白は倍率の増加を示すために割り当てられる場合があります。

3.1.94

顕微鏡写真

顕微鏡(1/3/99) によって形成された 画像(1/3/75) の記録

3.1.95

マイクロマニピュレーター

顕微鏡(3.1.99) で観察しながら手の動きを機械的に縮小することにより,調剤の成分を細かく操作できる器具(3.1.99)。

3.1.96

ミクロン

短い長さを測定するための装置

3.1.96.1

ステージマイクロメータ

顕微鏡(3.1.99) スライド(3.1.134 )上に自然な大きさで載せられた目盛りの形をした特別な 目盛り(3.1.70) 。顕微鏡測定システムを校正するための長さの絶対標準として使用される。

1997 年 1 月 3 日

顕微鏡写真

拡大(3.1.90) なしでは研究できない小さな 画像(3.1.75) を生成するように配置された,特に文書の写真。

グレード 1 からエントリー:顕微鏡写真と混同しないでください。

1998 年 1 月 3 日

マイクロプロジェクター

拡大 画像(3.1.75) を スクリーン(3.1.132) 上に実演又は描画用に投影するように設計又は適合された 顕微鏡(3.1.99) 。

1999 年 1 月 3 日

顕微鏡

視覚能力を拡張するように設計された器具, すなわち, 肉眼では見えない細部を見えるようにする.

注記1含まれる画像化が光によるものであることが文脈から明らかでない限り、単語は接頭辞(電子、X線、音響、電界イオンなど)によって修飾されます。

3.1.99.1

双眼顕微鏡

別々の 像(3.1.75) が観察者のそれぞれの目に同時に提示される 複合顕微鏡(3.1.99.3) 。

注記1双眼顕微鏡には、特殊な観察管とビームスプリッターを使用して両眼に同一の画像を表示する双眼顕微鏡と、実体顕微鏡の2種類があります。

3.1.99.2

比較顕微鏡

2つの 顕微鏡(3.1.99) のシステムで、それらの 画像(3.1.75) を1つの 視野(3.1.54) に提示するために光学的にリンクされている

注記 1像視野は通常分割されているので,各顕微鏡からの像は視野の対応する半分に見られ,例えば,2 つの類似した標本の細部を比較することができる。

3.1.99.3

複合顕微鏡

一次像(3.1.75.2) が 対物レンズ(3.1.106) 、または対物レンズと 結像レンズ(3.1.87.10) によって生成され、 接眼 レンズ(3.1.52)を通して観察される 顕微鏡 (3.1.99) )

3.1.99.4

解剖顕微鏡

解剖に使用される長い 自由作動距離(3.1.69) の低倍率 顕微鏡(3.1.99) 。

注記 1:これは今日では一般的に実体顕微鏡です。

3.1.99.5

蛍光顕微鏡

対象物(3.1.104) 自体及び/又は 蛍光色素(3.1 )からの 蛍光(3.1.58) によって放射される 光(3.1.88) によって 画像(3.1.75) が形成される 顕微鏡(3.1.99) 。 .60)

注記1:対象物は自発光と見なされる場合があり、放射される光はコヒーレントではありません。

3.1.99.6

赤外線顕微鏡

像(3.1.75) が 赤外線 (3.1.123.1)で形成され,写真又は電子装置によって表示される 顕微鏡(3.1.99) 。

注記1近赤外放射を用いた顕微鏡検査は,従来の顕微鏡で行うことができる。遠赤外線での顕微鏡検査には特別な装置が必要です。

3.1.99.7

倒立顕微鏡

対象物(3.1.104) を ステージ(3.1.136) の下から観察する 顕微鏡( 3.1.99)

3.1.99.8

光学顕微鏡

照明剤として 光(3.1.88 )を使用する顕微鏡(3.1.99) 。

注記 1:この用語は、紫外線顕微鏡と赤外線顕微鏡を含むように大まかに使用されることが多い。

3.1.99.9

単眼顕微鏡

像(3.1.75 ) を片目だけに 見せる顕微鏡(3.1.99) 。

3.1.99.10

偏光顕微鏡

顕微鏡(3.1.99) 偏光(3.1.88.1) 用に特別に設計された又は追加装備された顕微鏡

グレード 1 からエントリー:完全な形態では、偏光子、アナライザー、極間の歪みのないレンズ、回転角度を測定するためのスケールを備えた回転ステージ、ステージおよび/または対物レンズのセンタリング機構、および中心に配置された十字線を備えたフォーカス可能な接眼レンズ。ベルトラン レンズと、リターデーション プレートとコンペンセータを挿入するためのチューブ スロットもあります。反射光用の偏光顕微鏡は、「鉱石顕微鏡」と呼ばれることもあります。

3.1.99.11

反射光顕微鏡

落射照明(3.1.73.2 )を使用する顕微鏡(3.1.99 )

3.1.99.12

走査光学顕微鏡

対物面(3.1.117.5) or 像面(3.1.117.3) をラスターパターンで走査するように特別に設計された 顕微鏡(3.1.99) 。

注記1:離散的かつ均一な間隔での光信号が、光電センサーによって物体から受信され、画面に表示されるか、さらに処理するために保存されます。このようにして、イメージは連続的に構築されます。スキャンには 2 つの手法があります。1 つは物体が静止したままの照明ビームの動きに基づくもので、もう 1 つは物体の動きに基づいており、ビームは静止したままです。装置は、共焦点イメージングモードで操作することができます。

3.1.99.13

簡易顕微鏡

唯一の レンズ(3.1.87) 、 対物 レンズ(3.1.106)からなる 顕微鏡( 3.1.99)

3.1.99.14

実体顕微鏡

双眼顕微鏡(3.1.99.1) では、 対象物(3.1.104) がそれぞれの目でわずかに異なる角度から観察され、異なる 画像(3.1.75) の点が網膜の対応する点に結像され、立体視が生じます。感知

注記 1:グリノー顕微鏡には、正立像を与えるためにプリズムおよび/またはミラーを使用して、互いに特定の収束角度で傾斜した 2 つの完全に分離した光学系があります。最近のシステムでは、共通の主対物レンズを使用しており、対物レンズの後焦点面で瞳孔を分割することにより、光線の両方の経路の収束角が得られます。

3.1.99.14.1

グリノー顕微鏡

グリノーによる低 倍率実体顕微鏡 (3.1.99.14) のオリジナル設計。2 つの別個の 複合顕微鏡 (3.1.99.3) システムで構成され、軸が 10° から 15° の角度で収束するように取り付けられているため、共通の視野を観察できる。物体 視野 (3.1.54.4) および プリズム (3.1.119) および/またはミラーが取り付けられ、 像 (3.1.75) を正立させ、通常は 観察管 (3.1.144.6) を傾けます。

3.1.99.15

紫外線顕微鏡

画像(3.1.75) が 紫外線 (3.1.123.3)で形成され,写真又は電子装置によって表示及び記録される 顕微鏡(3.1.99) 。

注記1:紫外領域の透過率が高く、よく補正された従来の顕微鏡は、近紫外を使用して顕微鏡検査を行うことができます。遠紫外での顕微鏡検査には特別な装置が必要です。

3.1.100

顕微鏡ベース

顕微鏡(3.1.99) スタンドの一部で,作業台の上に置かれ,装置の他の部品が取り付けられる。

注記 1現代の計器では,ベースに照明システムの部品が含まれていることがある。

3.1.101

単色

波長による 焦点距離(3.1.61) の変化が補正されておらず, 収差(3.1.4) が 1 つの波長のみについて最小化されている レンズ(3.1.87) 。

注記1:この用語は通常、石英ガラス製の対物レンズを表すために使用され、紫外線の特定の波長で動作するように設計されています。

3.1.102

封入剤

対象物(3.1.104) または対象物を 顕微鏡(3.1.99) で調査するために配置する液体、合成樹脂、またはその他の媒体

注記 1:透過光顕微鏡の場合、この媒質は無色透明で指定された屈折率を持ち、スライドとカバーガラスの間に封入されています。反射光顕微鏡法では、封入剤は通常、研磨された切片を作成できるようにサンプルに含浸される樹脂です。

3.1.103

ノーズピース

対物レンズ(3.1.106 )を運ぶ本体チューブ(3.1.144.2) の部分

3.1.103.1

センタリングノーズピース

対物レンズ (3.1.106) の 光軸 (3.1.107) が 回転ステージ (3.1.136.7) の回転軸と一致するまで横方向に調整できるセンタリング機構を備えた ノーズピース ( 3.1.103)

3.1.103.2

回転ノーズピース

対物レンズ(3.1.106) の変更を容易にする回転タレットを備えた ノーズピース( 3.1.103)

3.1.104

オブジェクト

像(3.1.75) を形成するものすべて

3.1.104.1

オブジェクト マーカー

ノーズピース (3.1.103) に取り付けることができる付属品。移動して 対物レンズ (3.1.106) を交換すると、 対象物 (3.1.104) またはプレパレーションの関心領域をマークする

3.1.105

オブジェクト空間

物体(3.1.104) が配置されている光学系の側の空間。

注記1虚像の反射又は形成において,この空間は像空間と一致することがある。

3.1.106

目的

レンズ(3.1.87) ,そのマウント及び関連する部品から成る,撮像システムの最初の部分。単独で又は物体(3.1.104)と組み合わせて, 物体(3.1.104 )の 一次像(3.1.75.2) を形成する。 チューブレンズ (3.1.87.10)

3.1.106.1

ドライ対物レンズ

前面 レンズ(3.1.87) と カバーガラス(3.1.34) の間の媒体、またはカバーされていない 物体(3.1.104) が空気である 対物 レンズ(3.1.106)

3.1.106.2

有限一次像距離対物レンズ

対象物から一次像までの距離(3.1.80.2.2) が有限であるように補正され、単独で 一次像(3.1.75.2)を形成できる対物レンズ(3.1.106 )

3.1.106.3

無限補正対物レンズ

対物レンズ (3.1.106) は、 物体から一次像までの距離 (3.1.80.2.2) が無限になるように補正されているため、 チューブ レンズ (3.1.87.10) と共に使用されます。

注記 1:適切な焦点距離の通常のチューブ レンズと組み合わせると、このような対物レンズは公称倍率になります。

3.1.106.4

長作動距離対物レンズ

同じ 倍率 の従来の対物レンズ (3.1.90) よりも自由作動距離 (3.1.69) が長くなるように設計された 対物 レンズ (3.1.106)

3.1.106.5

計画の目的

フラットフィールド対物レンズ

(3.1.106) 他の 収差(3.1 )の 補正(3.1.33) に加えて、 一次像面(3.1.117.4) における像面(3.1.4.4)の対物レンズ 曲率の 平坦化が強調されるように補正される .4)

注記 1:この用語は、他の収差の補正の程度を意味するものではありません。

3.1.106.6

バネ仕掛けの対物レンズ

物体(3.1.104) 又は障害物と接触したとき,前部 レンズ(3.1.87) 及びそのマウントがばねに逆らって後退し,物体又は対物レンズの損傷を防止するように構成された 対物 レンズ(3.1.106)。

3.1.106.7

対物レンズねじ

顕微鏡 (3.1.99) の 対物レンズ (3.1.106) を ノーズピース (3.1.103) に接続するためのねじ山

注記1:寸法はISO 9345に記載されている。

3.1.106.7.1

RMS スレッド

対物レンズのねじ山 (3.1.106.7) は、もともと王立顕微鏡学会によって標準化されていました

3.1.106.8

設計による客観的な分光透過率

OSTD

分光透過率は、次の条件で計算されます。
  • a)軸上の 光路 (3.1.88) 。
  • b)材料メーカーの仕様による透明材料の内部吸収が含まれます。
  • c) 光学面(3.1.25)上の薄膜コーティング の公称値による反射率が含まれる。
  • d)浸漬媒体の内部吸収と表面反射率および試験片カバーは無視されます。

注記1:分光透過率の詳細については、ISO 19012-3 を参照してください。

3.1.107

光軸

光学系又は部分系の レンズ(3.1.87) 面の曲率中心を結ぶ仮想線。

3.1.108

光路長

光学距離

均質媒質中の光路の幾何学的長さとその光路を含む媒質の 屈折率(3.1.125) の積。

注記 1光路長は,長さの単位,または与えられた波長の分数または倍数で表される。媒質が不均一な場合、それは部品の幾何学的長さと屈折率の積の和または積分になります。

3.1.108.1

光路長差

OPD

幾何学的長さ、 屈折率(3.1.125) 、またはその両方の違いによる 2 つの光路間の 光路長(3.1.108) の差。 OPD は長さの単位または波長で表されます。

3.1.109

同焦点

対物レンズ(3.1.106) , チューブレンズ(3.1.87.10) 又は 接眼レンズ(3.1.52) となり得るセットのいずれかの レンズ(3.1.87) が 物体 に焦点を合わせられた状態を有する。 (3.1.104) または 画像(3.1.75) が正しいレベルになるように調整する場合、 顕微鏡(3.1.99) の一定の設定でこのレンズをそのセットの他のレンズと交換する場合、最小限の再調整のみシャープネスを復元するには フォーカス (3.1.65) が必要な場合があります

注記 1観察者の目の前で調整が行われる可能性があるため、わずかな再調整が必要になる場合があります。同焦点の公差は、ISO 9345 に記載されています。

3.1.110

段階

角度として表される周期運動または波動における相対位置。1 周期は 2π ラジアンまたは 360° に対応する

注記1: 「同相」という用語は,0ラジアンと2πラジアン(360°)の2つの発生の間の位相角またはこれらの整数倍に相当する。

3.1.110.1

位相差

位相(3.1.110) ある周期的な擾乱または波が、時間または空間において他のものより遅れる、または先行する波長の角度、分数、または数。

注記1:位相差は、次の式によって、光路長差OPDおよび波長λに関連付けられます。
位相差 = 2π LOPD/ λ
どこ
L_は 光路長差 (OPD) (3.1.108.1) です。
λは波長です

3.1.111

フェーズ オブジェクト

直接光(3.1.45) と 回折光(3.1.40) との間に 位相差(3.1.110.1 )を生成するが,振幅への影響は小さいか無視できる物体(3.1.104) 。

3.1.112

位相板

直接光(3.1.45) と 回折光(3.1.40) の 位相(3.1.110) と振幅に異なる影響を与える 位相差(3.1.32.4) 顕微鏡で使用される光学装置。

注記 1:位相板は対物レンズの後焦点面 (またはその後の像の面) に置かれ, 対物レンズの前焦点面に配置された絞り (通常は環状) の像を受け取る.コンデンサー。

3.1.113

マクロ撮影

1:1 から約 15:1 までの画像の複製比率で 対象物(3.1.104 )の写真画像(3.1.75) を作成すること。

3.1.114

顕微鏡写真

顕微鏡(1/3/99) によって形成された 画像(1/3/75) の写真記録

3.1.115

顕微鏡写真

顕微鏡(1/3/99) によって形成された 画像(1/3/75) の写真撮影による記録。つまり、顕微鏡による写真撮影

注記1:マイクロ写真と混同しないこと.

3.1.116

ピクセル

属性が割り当てられる デジタル画像(3.2.13) の最小要素。

3.1.116.1

ピクセルサイズ

オブジェクト空間(3.1.105) で測定された、1 つの ピクセルの中心(3.1.116) から隣接するピクセルの中心までの最短距離

3.1.117

予定

光軸に垂直な仮想面 (3.1.107)

3.1.117.1

開口面

瞳面

光学系の 瞳孔(3.1.122) と それと共役 な 平面(3.1.29) を含む平面(3.1.117)

注記 1:開口面に挿入された絞りは、開口絞りとして機能します。

3.1.117.2

フィールドプレーン

物体平面 (3.1.117.5) およびそれと 共役な平面 (3.1.29)

注記 1:フィールド面に挿入された絞りは、フィールド絞りとして機能します。

3.1.117.3

イメージ プレーン

像(3.1.75) が位置する 視野平面(3.1.117.2)

3.1.117.4

一次像面

一次像(3.1.75.2) が形成される 像面(3.1.117.3)

注記 1:一次像面は、光インターフェイスの寸法の基準面の 1 つとして重要です。

3.1.117.5

物体面

オブジェクト(3.1.104) が位置する フィールド平面(3.1.117.2)

注記 1:物体面は、光インターフェイスの寸法の基準面の 1 つとして重要です。

3.1.117.6

基準面

顕微鏡(3.1.99) 部品の表面又は顕微鏡の 光路( 3.1.88)内の平面(3.1.117) で, 光学インターフェース寸法(3.1.80.2) の 1 つの限界として使用される。

3.1.118

極地

自然 光( 3.1.88)から平面偏光(3.1.88.1.2) を選択する装置。

3.1.118.1

アナライザ

極 (3.1.118) 物体 (3.1.104) の後に使用され、物体が照らされる 光 (3.1.88) に対して、偏光またはその他の方法で生成される光学効果を決定するために使用される。

注記 1:通常、対物レンズと一次像面の間に配置されます。

3.1.118.2

交差した極

ポーラー (3.1.118) ( ポラライザー (3.1.118.4) と アナライザー (3.1.118.1) ) の偏光方向が互いに垂直である状態。

3.1.118.3

平行極

ポーラ(3.1.118) [ 偏光子(3.1.118.4) と 検光子(3.1.118.1) ]の偏光方向が平行な状態。

3.1.118.4

偏光子

オブジェクト(3.1.104) の前の 光(3.1.88) パスに配置された 極性( 3.1.118)

3.1.119

プリズム

光を分散させたり(3.1.88) 角度を変えたりするために使用される,少なくとも2つの交差する平面によって制限された透明な材料の塊。

3.1.119.1

ニコラス・プリズム

偏光プリズムの種類 (3.1.119.3)

3.1.119.2

ノマルスキープリズム

ウォラストン プリズム (3.1.119.4) の形式。ウェッジの 1 つの結晶軸が傾いている Nomarski によって導入されました。

注記 1:ノマルスキー プリズムには、2 つのビームの交点がプリズムの外側になるようにシフトする効果があります。実際、これによりビームの再結合が対物レンズの後焦点面で発生することが可能になりますが、プリズム自体はこの面の外にあります。同様の設計のプリズムもコンデンサーに使用できます。

3.1.119.3

偏光プリズム

二重 プリズム (3.1.119) :2 枚の複屈折材料から形成され、屈折と内部全反射によって、または屈折のみによって作用する。

例:

複屈折材料は、方解石、石英、またはこれらの 1 つとガラス片を接合したものです。

注記1偏光プリズムは,自然光のビームを,互いに垂直な振動方向を持ち,2 つの異なる方向に伝播する 2 つの平面偏光ビームに分割する。これらのビームの 1 つが吸収などによって除去されると、プリズムは極として機能します。それ以外の場合は、ビームスプリッタとして使用できます。多くの種類の偏光プリズムが存在しますが、そのほとんどはその創始者の名前で知られています。たとえば、Glan-Thompson, Nicol です。

3.1.119.4

ウォラストンプリズム

二重 プリズム (3.1.119): 複屈折材料の 2 つの部分から形成され、方解石または石英であり、屈折によって作用し、 平面偏光光 (3.1.88.1.2) の 1 つのビームを 2 つの平面ビームに分割します。互いに直交する振動方向を持つ偏光で、2 つの異なる方向に伝搬する光。

3.1.120

投影係数

p

対象物(3.1.104) の 実像(3.1.75.3) をカメラの写真乳剤などの検出装置上に形成するとき に,顕微鏡(3.1.90.2)の総合倍率 が変化する係数。

注記 1:画像はさまざまな方法で形成できます。
  • a)目視観察用の通常の接眼レンズと、無限遠に焦点を合わせた無限補正カメラ レンズを使用すると、投影係数の値は次の式で与えられます。

どこ
p投影係数です。
fPROJはカメラ レンズの焦点距離 (mm) です。
250参考視聴距離です。
  • b)目視観察用の通常の接眼レンズのみを使用した場合、投影係数の値は次の式で与えられます。

どこ
p投影係数です。
aは、接眼レンズの後焦点面から投影された画像までの距離 (mm) です。
250参考視聴距離です。
  • c)投影レンズの使用。投影レンズには、特定の平面に実像を生成するための倍率を割り当てることができます。投影レンズの倍率の値MPHOTは、実像を生成するために使用される顕微鏡の全体の倍率を計算するために使用されます。

3.1.121

投影レンズ

レンズ(3.1.87) は, 顕微鏡(3.1.99)の 一次像(3.1.75.2) の 実像 (3.1.75.3)を有限距離で形成し,投影,描画, 顕微鏡写真(3.1. 115) およびビデオの目的

注記1投影レンズは,
  • 一次画像と投影画像の間に配置された正または収束レンズ、
  • 両方の画像の前に配置された正または収束レンズ、
  • 両方の画像の前に配置された負または発散レンズ。

3.1.122

レンズ(3.1.87) の 物体空間(3.1.105) (入射瞳)と 像空間(3.1.76) (射出瞳)の両方におけるすべての光線束の最小共通断面積。

注記1:この用語は、絞りまたは絞りの像を指すことがある。

3.1.122.1

顕微鏡の瞳孔入口

対物 空間(3.1.105) における 対物レンズ(3.1.106)の 開口絞り(3.1.38.1) の無限遠(特定の低倍率対物レンズの場合を除く)の 像(3.1.75) 。

注記1顕微鏡に照明系がある場合,顕微鏡の入射瞳と共役な面は,顕微鏡全体の入射瞳とも呼ばれる。

3.1.122.2

顕微鏡の射出瞳

アイポイント

観察者側の 接眼レンズ(3.1.52) から数ミリメートル後方の 平面(3.1.117) に ある 領域 。接眼レンズと 中間レンズ (3.1.87.7)

注記 1:顕微鏡の射出瞳は重要である。なぜなら、その位置とサイズが、観察者の目の瞳孔の位置と、カメラなどの後続の光学系の性質を決定するからである。

3.1.123

放射線

電磁波または粒子の形のエネルギー

3.1.123.1

赤外線

成分の波長が可視 光(3.1.88) よりも長く,約 1 mm 未満の 放射線(3.1.123) 。

3.1.123.2

単色放射線

単一波長のみからなる 放射線(3.1.123) 。中心波長を引用した非常に狭い波長帯域のみからなる放射線。

3.1.123.3

紫外線

成分の波長が可視 光(3.1.88) の波長より短く,約100nmより長い 放射線(3.1.123) 。

3.1.124

参考視聴距離

オブジェクト(3.1.104) と目の角膜の頂点との間の250 mmの国際的に合意された標準化された距離

注記 1:この用語は、光学計算における古い「明確な視力の最も近い距離」に取って代わります。

3.1.125

屈折率

norn '

真空中の 光速 (3.1.88) (より正確には位相速度) と特定の媒質中の光速の比。

3.1.126

安心

<surface> 平面の彫刻など、表面の高さの違い

注記1片側から照らされたとき,そのような物体は特徴的な光と影の分布を示し,観察者は物体の三次元形状を認識することができる。

3.1.127

安心

<コントラスト法> 斜め照明(3.1.73.4) 、 レリーフコントラスト(3.1.32.5) 、 微分干渉コントラスト(3.1.32.2.1) or 変調コントラスト (3.1.32.1)などの方位法を用いた顕微鏡で現れる 光(3.1.88) 分布。 32.3) 幾何学的 レリーフ (3.1.126) が存在しない場合でも、異なる 光路長 (3.1.108) を持つ オブジェクト (3.1.104) 要素の境界面

注記 1この場合、配光は本物のレリーフによって生成されるものと同様に見える。光路長の違いを幾何学的なものと誤解しないように注意してください。救済のさらなる誤解は、反転によって引き起こされる可能性があります。

3.1.128

解決

画像の細部を表示した結果 (3.1.75)

注記1: 「分解能」という用語は、その定量的表現である分解能距離を指す場合があります。

注記 2:限定せずに使用される場合、この用語は、光軸に直角な距離を指します。

3.1.128.1

横解像度

光軸(3.1.107 )に垂直な 分解能( 3.1.128)

3.1.128.2

最小解像距離

画像(3.1.75) 内で別個のものとして認識できる 物体(3.1.104) 内の点の最小間隔

注記1顕微鏡では,これは通常長さの単位(μmまたはnm)で表される。

3.1.128.3

解決距離

最小解像距離以上の距離 (3.1.128.2)

3.1.128.4

解像力

オブジェクト(3.1.104) 内で近接している点または線を 画像(3.1.75) 内で区別できるようにする能力

注記1:分解能が高いということは、分解能が小さいことを意味します。

3.1.128.5

軸方向分解能

光軸 方向 (3.1.107)の分解能( 3.1.128)

3.1.128.4.1

分解能の回折限界

回折限界

収差(3.1.4) ではなく, 回折( 3.1.41)の現象のみによってシステムの 解像力(3.1.128.4) に課せられる基本的な制限。

3.1.129

遅滞

2 つの相互に垂直な 平面偏光(3.1.88.1.2) 波の間の波長,長さの単位又は位相角で表される 光路長(3.1.108) の差。

3.1.130

位相差板

補償器

相互に垂直な 平面偏光 間に特定の 光路長差(3.1.108.1) を生成するために対角位置で 交差極(3.1.118.2) の間に挿入された、平面を有する光学 異方性(3.1.8) 材料の小片。 光 (3.1.88.1.2) 波

3.1.131

スケール バー

顕微鏡写真(3.1.94) 上に描かれた計算された長さの線で、 対象物(3.1.104) の指定された長さの顕微鏡写真の長さを示す

3.1.132

画面

実像(3.1.75.3) が形成され観察される反射面又は半透明面。

3.1.133

セミアポクロマート

蛍石対物

対物レンズ (3.1.106) 補正 ( 3.1.33) の中間であり、 アクロマート (3.1.6) と アポクロマート ( 3.1.13) の構成の複雑さ

3.1.134

滑り台

顕微鏡検査用の 物体(3.1.104) が取り付けられた長方形のガラス板。

注記 1コンデンサーの計算と補正については、コンデンサーはコンデンサーの一部と見なされるため、その厚さ、屈折率、および分散は、コンデンサーの要求に適合させる必要があります。これらのパラメータは、長さと幅とともに ISO 8037-1 で定義されています。

3.1.135

ソース

放射線源(3.1.123)

3.1.135.1

点源

放出された 放射線(3.1.123) が非常に高度なコヒーレンスを持つように十分に小さい寸法の光源。

3.1.136

ステージ

顕微鏡ステージ

顕微鏡(3.1.99 )の光軸(3.1.107) に直角なプラットフォーム。 対象物(3.1.104) を担持し、しばしば 機械式ステージ(3.1.136.6 )のように機械的な動きが取り付けられている ) ] x軸とy軸でのオブジェクトの配置、およびz軸に沿った移動と回転を簡単に行うことができます。

3.1.136.1

センターステージ

回転軸を 顕微鏡(3.1.99) の 光軸(3.1.107) と一致させるための設備を備えた 回転ステージ( 3.1.136.7)。

3.1.136.2

冷却段階

対象物(3.1.104) の温度を下げるための手段を備えた ステージ(3.1.136 )。

3.1.136.3

滑空ステージ

可動 ステージ(3.1.136) 。2 枚の平板で構成され、その上部は、 スタンド(3.1.138) に固定された下部プレート上でx - y平面内のあらゆる方向にスムーズに移動できます。

注記 1:動きやすさは、2 つのプレートを接続するために使用されるグリースの層の粘度によって調整されます。

3.1.136.4

加熱ステージ

対象物(3.1.104) の温度を上げる手段を備えた ステージ(3.1.136 )。

3.1.136.5

レベリングステージ

顕微鏡(3.1.99 )の光軸(3.1.107)に対して 表面が垂直になるように研磨切片を保持するように設計された ステージ(3.1.136 )。

3.1.136.6

メカニカルステージ

対象物(3.1.104) のx方向とy方向の正確な並進運動を補助するネジまたはラック機構を備えた ステージ(3.1.136) 。

注記 1:ステージは、手動またはモーターで操作でき、取り付け可能であるか、顕微鏡スタンドに組み込まれている場合があります。コンピュータ制御の顕微鏡では、モーターを使用してステージを駆動します。

3.1.136.7

回転ステージ

顕微鏡(3.1.99 ) の 光軸(3.1.107) に対して 対象物(3.1.104) を回転させる手段を備えた台(3.1.136)。回転角

3.1.136.8

スキャニングステージ

電子的または電気的に制御されて 対象物(3.1.104) をラスター方式で段階的または連続的に移動させる 機械的ステージ(3.1.136.6) 。

3.1.136.9

ユニバーサルステージ

回転ステージ (3.1.136.7) に取り付けられ、 オブジェクト (3.1.104) の移動のためのジンバル機構を備えた装置。 これにより、 照明 (3.1.73) または観察の任意の方向で光学異方性の効果を調べることができます。

注記 1:移動には、顕微鏡ステージの通常の移動に加えて、(ステージのタイプに応じて) 3 つまたは 4 つの軸を中心とした較正された傾斜と回転が含まれます。

3.1.137

ステージクリップ

スライド(3.1.134) を 顕微鏡(3.1.99) ステージ(3.1.136) と接触させて保持するために使用される板ばね。

注記 1:ステージ クリップを使用すると、指でスライドを正確に動かすことが容易になります。

3.1.138

立っていた

顕微鏡スタンド

顕微鏡(3.1.99) の機械部品および光学部品を搭載するシャーシ

3.1.139

止まる

ダイヤフラム (3.1.38) 、通常は固定サイズ

注記 1:この用語はしばしば大ざっぱに使われる.

3.1.140

ストレインフリー

偏光顕微鏡(3.1.99.10) で使用するための レンズ(3.1.87) の特性。歪による 複屈折(3.1.48) が最小になるように構成部品を慎重に選択して取り付けることによって製造される。

3.1.141

サブステージ

ステージ(3.1.136 )の前に透過光 顕微鏡(3.1.99) の スタンド(3.1.138) に取り付けられた機械部品と光機械部品のアセンブリで、 コンデンサ(3.1.28) とそのキャリア、 、オプションで、 フィルター(3.1.55) トレイ、キャリア付き 偏光子(3.1.118.4) および/またはキャリア付き補助 レンズ(3.1.87)

3.1.142

時間分解能

連続 するデジタル画像(3.2.13) or 電子画像(3.2.14) の間の最小の時間間隔。そこから独立した情報を得ることができる。

3.1.143

試験対象

顕微鏡(3.1.99) システムの性能を評価するために設計された 対象物(3.1.104) ,例えば, アッベ試験板(3.1.1) ,珪藻標本

3.1.144

チューブ

対物レンズ(3.1.106) と 接眼レンズ(3.1.52 )を接続する顕微鏡(3.1.99) の部分。

注記1初期の顕微鏡では、チューブは、一方の端に対物レンズを配置する面、もう一方の端に接眼レンズを配置する面を持つ中空の円筒の形をしていた。最近の設計の顕微鏡では、チューブが 2 つ以上のセクションまたはハウジングに分割され、1 つ以上がスタンドに取り付けられている場合があります。ハウジングは円筒形ではありませんが、付属のオプトメカニカル要素を最も便利に操作できるように形作られています。反射光顕微鏡の場合、レボルバと一次像面の間にある落射照明の部分は、チューブの一部と見なされます。

3.1.144.1

双眼鏡筒

両眼視用に 2 つの 接眼レンズ (3.1.52) を受け入れるように設計された 観察管 (3.1.144.6)

3.1.144.2

ボディチューブ

チューブ(3.1.144) の一部で、 スタンド(3.1.138) に固定または組み込まれ、片側に ノーズピース(3.1.103) を含み、 中間チューブ(3.1.144.3) or ビューイングチューブ(3.1. 144.6) 一方

注記 1:特定の目的のために、ボディ チューブには、中間レンズ、ビーム スプリッター、倍率変換器、リフレクターまたは落射照明器、ベルトラン レンズ、フィルターを操作するための機構、遅延板などの光学的または光学機械的要素が含まれる場合があります。無限補正対物レンズを使用する場合は、チューブ レンズが含まれている場合があります。

3.1.144.3

中間チューブ

スタンド(3.1.138) と一体型または交換可能なハウジングである チューブ(3.1.144) のオプション部分で、チューブの一部を形成し、いくつかの光学機械要素を含む

例:

倍率チェンジャー、フィルタートレイ、ベルトランレンズ、アナライザー、位相差板保持用スロット、ビームスプリッターなど

3.1.144.4

単眼チューブ

1 つの 接眼レンズ (3.1.52) のみを受け入れるように設計された ビューイング チューブ ( 3.1.144.6)

3.1.144.5

三眼鏡筒

双眼視用の 2 つの 接眼レンズ (3.1.52) を受け入れるように設計された 視鏡筒 (3.1.144.6) と、3 番目の接眼レンズまたは他の レンズ (3.1.87) を使用して、 画像 (3.1 .75)

3.1.144.6

観覧管

1 つまたは複数の 接眼レンズ (3.1.52) を運ぶために装備された 管 (3.1.144) の部分で、一方の端が 接眼レンズの位置決め面 (3.1.89.2) によって制限され、もう一方の端が鏡 筒 (3.1.144.2) によって制限されている。 位置決め面 (3.1.89)

注記 1:無限補正対物レンズで使用する場合、チューブ レンズが含まれる場合があります。

3.1.145

チューブの長さ

顕微鏡(3.1.99 )のチューブ(3.1.144 )内の機械的及び/又は光学的表面又は平面(3.1.117) 間の距離。

3.1.145.1

機械管の長さ

レボルバの対物レンズ設置面と鏡筒の接眼レンズ設置面との間の空気中の距離。

注記 1:これは、有限の一次像距離に対して補正された対物レンズ用の中間レンズを含まない最も単純な形式のチューブの長さです。

注記 2一般に 160 mm の値である。 ISO 9345 を参照してください。

注記 3:無限補正対物レンズの場合、機械的なチューブの長さは仮説的に無限であると見なされます。

3.1.145.2

光学チューブの長さ

対物レンズ(3.1.106) の 後焦点面(3.1.62.1 )と 一次像面(3.1.117.4) の間の距離

注記 1:この距離は、顕微鏡の光学インターフェース寸法の 1 つではなく、有限の一次像距離対物レンズを取り付けたチューブにのみ関連します。

3.1.146

チューブファクター

q

一次像(3.1.75.2 )での横倍率(3.1.90.8) が、 対物 レンズ(3.1.106)とレンズの間に挿入された 中間レンズ(3.1.87.7) or レンズ(3.1.87) システムによって変化する係数。プライマリ イメージ

注記 1:中間レンズは、固定、交換可能、または独自のチューブ係数を持つ付属品と関連付けることができます。総チューブ ファクターは、中間レンズの個々のファクターの積です。無限一次像距離用に補正された対物レンズの場合、対物レンズが動作するように設計されている通常のチューブ レンズの代わりに使用されるチューブ レンズのチューブ ファクターの値は、その焦点距離とその焦点距離の比によって与えられます。通常のチューブ レンズの

どこ
q総チューブ係数です。
ftlmm 単位のチューブ レンズの焦点距離です。
f_は、通常のチューブ レンズの焦点距離 (mm) です。

3.1.147

視野角

物体(3.1.104) 又は 視野(3.1.54) が眼に向ける角度。

3.1.147.1

画角

<接眼レンズ> 接眼レンズ (3.1.52) の視野 絞り (3.1.38.8) の縁の反対側の点から来て 、顕微鏡の射出瞳の 中心 (3.1.122.2) を通過する 2 つの主光線の間の角度。

注記1:像が覆う網膜の範囲は、この角度によって支配される。

3.1.148

ズーム

焦点距離(3.1.61) 及び 倍率(3.1.90) が, 物体面 の位置を変えずに単一の レンズ(3.1.87) 又はレンズの群を動かすことによって限界間で連続的に変化できることを意味する光学系の特性。 (3.1.117.5) or イメージ プレーン (3.1.117.3)

3.2 光学顕微鏡の高度な技術に関する用語と定義

3.2.1

音響光学変調器

結晶内の音響誘起 回折格子(3.1.42 )によってレーザー(3.1.86) の方向および/または 強度(3.1.79) を制御するために使用される電子的に調整可能なデバイス。

3.2.2

音響光学チューナブルフィルター

AOTF

結晶内の音響誘起 回折格子(3.1.42) によって波長を選択するための電子同調 フィルタ(3.1.55) 。

3.2.3

エイリアシング

低すぎる周波数 (つまり、ナイキスト周波数よりも低い周波数) でのサンプリングによって引き起こされる現象で、情報の損失および/または誤った情報の作成を引き起こします。

3.2.4

オートフォーカス

対象物(3.1.104) を自動的に 焦点(3.1.65) に合わせる方法。対象物の位置を検出するイメージング ソフトウェア アルゴリズムおよび/またはハードウェア デバイスによって制御されます。

3.2.5

バックグラウンド減算

オブジェクト(3.1.104) が存在しない場合に存在する信号のその部分を除去して、下にある 画像(3.1.75) 情報を明らかにする

3.2.6

ビニング

隣接する ピクセル(3.1.116) の電荷が蓄積され、単一の値として読み出されるイメージ センサーの動作モード。

3.2.7

共焦点

理想的には、 物体視野(3.1.54.5) 内の点が 光 の回折限界スポット(3.1.88)によって照らされ、この点から発せられる光が集束され、より小さな領域から検出される顕微鏡状態。後続の フィールド面(3.1.117.2) の対応する位置にある 回折ディスク(3.1.7.1) の中央領域

3.2.8

チャネル

1 種類の 画像 (3.1.75) 情報を含む特定の信号経路

3.2.9

共同ローカリゼーション

同じ オブジェクト(3.1.104 )に対応する ピクセル(3.1.116) の一致による デジタル画像(3.2.13) のオーバーレイ 異なる情報を含むポイント

3.2.10

共焦点顕微鏡

理想的には、 物体面 (3.1.117.5) 内 の点が回折限界の 光 スポット (3.1.88) によって照らされ、この点から発せられる光が集束され、より小さな領域から検出される顕微鏡技術。後続の フィールド面(3.1.117.2) の対応する位置にある 回折ディスク(3.1.7.1) の中央領域

注記1対象物を走査するか,照射スポットと検出スポットを同時に走査することにより,拡張領域の画像が形成される。

注記2:共焦点の原理により、焦点外の面からの光が抑制されるため、軸方向の分解能が向上します。

3.2.10.1

レーザー走査型共焦点顕微鏡

光源(3.1.88) が レーザー(3.1.86 )である共焦点顕微鏡(3.2.10 )。

3.2.10.2

マルチビーム共焦点顕微鏡

複数の照射スポットと検出スポットを同時に使用する 共焦点顕微鏡法(3.2.10)。

3.2.10.3

ニポウ円板共焦点顕微鏡

ニポウディスク(3.2.10.3.1) を用いて照射及び検出スポットの 走査(3.2.41) を 行う共焦点顕微鏡(3.2.10 )。

3.2.10.3.1

ニポウディスク

アルキメデスのらせん状に配置された、理想的には同一の、多くの小さな穴がある不透明なディスク

3.2.10.3.2

タンデム走査型共焦点顕微鏡

照明 光(3.1.88) と検出光が別々の穴を通過する ニポウ円板共焦点顕微鏡(3.2.10.3) 。

3.2.10.4

分光共焦点顕微鏡

物体(3.1.104) の空間位置に対応するスペクトルが記録される 共焦点顕微鏡(3.2.10 )。

3.2.10.5

シータ共焦点顕微鏡

2つの 対物レンズ(3.1.106) が互いに角度θで配置され, 焦点(3.1.63) が 物体(3.1.104) 内で一致する 共焦点顕微鏡(3.2.10) が使用される。それぞれ 興奮(3.1.49) とコレクション

3.2.10.6

白色光共焦点顕微鏡

照明(3.1.73) 光源(3.1.135) 及び可視スペクトル全体で動作する検出器を使用する 共焦点顕微鏡(3.2.10) 。

3.2.10.7

共焦点広がり関数

共焦点顕微鏡(3.2.10) における照明及び検出光学系の 点広がり関数(3.2.34) の積。

3.2.10.8

共焦点ボリューム

共焦点顕微鏡(3.2.10 )で像(3.1.75) を生じさせる 物体(3.1.104) の各点の周りの有効体積。

3.2.10.9

4pi 共焦点顕微鏡

物体(3.1.104) 内 で 焦点(3.1.63) が一致する2つの対向する 対物(3.1.106) レンズを使用して, 像(3.1 .75) 信号が導出され、さらに処理する ことで、デジタル (3.2.13) or 電子画像 (3.2.15) が生成され、 軸方向の解像度が向上します (3.1.128.5)

3.2.11

デコンボリューション

<microscopy>逆フィルタリング技術によって空間ドメインまたは周波数ドメインで実行される、ぼやけを減らすための数学的手法

注記 1:デコンボリューションが測定値ではなく理論のみに基づいている場合、それはブラインド デコンボリューションとして知られています。

3.2.12

デジタル的に強化されたコントラスト

コントラスト(3.1.32) デジタル画像(3.2.13) の強度及び/又は色値の操作によって強化されたもの。

3.2.13

デジタル画像

イメージ (3.1.75) で、情報がバイナリまたは別のマシン コードの形式である

3.2.14

電子画像

情報が電気信号の形である 画像(3.1.75)

3.2.15

拡大被写界深度顕微鏡

点像分布関数(3.2.34) が拡張された焦点範囲にわたって実質的に不変になるように既知の方法で変更され、さらに処理することによって デジタル(3.2.13) or 電子画像(3.2.14 )が得られる顕微鏡法 ) 拡張された 被写界深度 (3.1.36)

3.2.16

拡張フォーカス画像

<画像処理> 画像スタック(3.2.27.1) を介した投影で ピクセル(3.1.116) の強度値を合計することによって得られる二次元 デジタル画像(3.2.13 )。

3.2.17

蛍光相関顕微鏡

共焦点体積(3.2.10.8) 内で発生する時間依存 強度(3.1.79) 変動を用いて蛍光分子の移動度を計算する顕微鏡検査。

3.2.18

蛍光in situハイブリダイゼーション顕微鏡法

in situハイブリダイゼーションによって染色体または染色体内の特定の位置を蛍光標識できる顕微鏡法

3.2.19

蛍光寿命イメージング顕微鏡

フリム

特徴的な 蛍光(3.1.58) 減衰率の識別に基づく画像化技術

3.2.20

光退色後の蛍光回復

フラップ

物体(3.1.104) の領域を照射してその 蛍光(3.1.58) を枯渇させ、その後の照射領域の蛍光の回復を測定する技術

3.2.21

蛍光共鳴エネルギー移動

フェルスター共鳴エネルギー移動

フレット

近接した 2 つの蛍光体間のエネルギーの非放射移動

3.2.22

フレーム平均化

同一条件下で記録された連続 デジタル(3.2.13) or 電子画像(3.2.14) からの ピクセル(3.1.116) 値の平均

注記1:信号対雑音比を高めるために使用される。

3.2.23

イメージインテンシファイア

検出器の範囲と一致するように信号のダイナミック レンジを拡大するデバイス

3.2.24

リニアアレイセンサー

感知素子の列の形をした検出器

3.2.25

最大強度画像

<画像処理> 画像スタック(3.2.27.1) による投影における最大 ピクセル(3.1.116) 強度値から導出された二次元 デジタル(3.2.13) or 電子画像( 3.2.14)。

3.2.26

マイクロチャンネルプレート

検出器アレイの前に配置されたデバイスで、入射光子束を二次放出で乗算します

3.2.27

多次元画像データセット

デジタル(3.2.13) or 電子画像(3.2.14) のデータで、例えば三空間次元、波長、時間、偏光などのいくつかのパラメータを使用してサンプルからデータを記録することによって生成される

3.2.27.1

画像スタック

物体(3.1.104) の三次元領域から取得した 多次元画像データセット( 3.2.27)。

3.2.27.2

フォーカスシリーズ

Zスタック

異なる焦点位置で取得した 画像スタック (3.2.27.1)

3.2.28

マルチモードファイバー

複数の横電磁モードを維持できる光ファイバー

3.2.29

多光子蛍光

蛍光(3.1.58) 複数のコヒーレント光子の同時吸収による 励起(3.1.49) 。

3.2.29.1

多光子蛍光顕微鏡

画像(3.1.75) が 多光子蛍光(3.2.29) によって形成される顕微鏡法

注記1:十分な励起強度は限られた焦点体積でのみ達成されるため、多光子蛍光は共焦点ピンホールを必要とせずに光学セクショニングをもたらします。また、より長い波長による励起も可能です。

3.2.29.1.1

二光子蛍光

コヒーレントな光子のペアによって励起された蛍光

3.2.30

光学部

厚い 物体(3.1.104) 内の厚さが光学系の 軸方向分解能(3.1.128.5) によって定義される薄い領域からの 画像(3.1.75) 。

3.2.31

写真の漂白

光(3.1.88) による分子の蛍光特性の破壊で,試料の 蛍光(3.1.58) が減少する。

3.2.32

ピンホール

<共焦点顕微鏡> 対象物(3.1.104 )と共役な平面 (3.1.29)に位置する 絞り(3.1.38) 。 対象物平面(3.1.117.5)内 の照射されるおよび/またはそこからの領域を制限する 光(3.1.88) が集められる

3.2.33

ポイント検出

画像(3.1.75) の制限された点のような領域から集められた 光(3.1.88) の検出。

3.2.34

点広がり関数

PSF

<顕微鏡システム> 点光源(3.1.135.1) の 像(3.1.75) における 光(3.1.88) の振幅または 強度(3.1.79) の分布の数式。

3.2.34.1

強度点広がり関数

点光源(3.1.135.1) の 像(3.1.75) における 光(3.1.88) 強度(3.1.79) の分布の数式。

3.2.34.2

振幅点広がり関数

点光源(3.1.135.1) の 像(3.1.75) における 光(3.1.88) 振幅の分布の数式。

3.2.35

ラマン顕微鏡

画像 (3.1.75) 情報源としてラマン散乱を利用した顕微鏡法

3.2.35.1

コヒーレントアンチストークスラマン散乱顕微鏡

CARS顕微鏡

分子振動を誘発するために複数の光子を使用し、コヒーレント信号を生成して 画像を形成する顕微鏡法 (3.1.75)

注記 1:属性の 1 つは、信号が自発ラマン放出よりも桁違いに強いことです。

3.2.35.2

誘導ラマン散乱顕微鏡

SRS顕微鏡

振動遷移の誘導ラマン励起によって生じる 励起(3.1.49) ビームの 強度(3.1.79) 変調を検出する顕微鏡技術。

注記1: SRS顕微鏡法の重要な特徴は、非共鳴バックグラウンド信号なしでより高いコントラストのイメージングを提供することです。

3.2.36

レシオイメージング

2つの 画像(3.1.75) の対応するピクセル値を割ることによって ピクセル(3.1.116) 値が得られる デジタル画像(3.2.13) を形成する

3.2.37

リアルタイムイメージング

収集された速度と同じ速度で画像を表示または分析する

注記 1:この速度は通常、試料内で観察され、連続的であると目で認識されるプロセスのダイナミクスにも比例します。

3.2.38

関心領域

ROI

個別の観察が適用される 画像(3.1.75) の部分。

3.2.39

スキャンレート

単位時間あたりに完了したスキャン サイクルの数

3.2.40

スキャンされたフィールド

オブジェクト空間(3.1.105) におけるスキャンされた領域の寸法

3.2.41

走査

物体(3.1.104) 内の領域の順次 照射(3.1.73) 又は検出。

注記1:スキャンは、対象物、照明ビーム、対物レンズ、または検出器を移動させることによって行うことができます。

3.2.41.1

デスキャン中

撮像ビームが 走査(3.2.41) 機構を介して照明ビームの経路をたどり,静止ビームを生成するプロセス。

3.2.41.2

ラインスキャン

単一の線に沿って スキャン (3.2.41)

3.2.41.3

スキャンされていない検出

NDD

デスキャン (3.2.41.1)を行わずに 走査型顕微鏡(3.2.42) で 画像(3.1.75) 信号を取得する技術。

注記 1:多光子蛍光顕微鏡で広く使用されています。

3.2.41.4

ポイントスキャン

光 のスポット(3.1.88)を使用して領域を スキャン(3.2.41) する

3.2.41.5

ラスタースキャン

線のパターンによる領域の 走査(3.2.41)

3.2.41.6

スリットスキャン

光 の棒(3.1.88)でエリアを スキャン( 3.2.41)

3.2.41.7

ステージスキャン

ステージ(3.1.136) を動かし、それによって 物体(3.1.104) を動かすことによって実行される スキャン( 3.2.41)

3.2.42

走査型顕微鏡

画像(3.1.75) が 走査(3.2.41) によって形成される 顕微鏡( 3.1.99)

3.2.42.1

ディスク走査型顕微鏡

照明(3.1.73) および/または観察経路内で回転する穴あきディスクによって走査が行われる 走査型顕微鏡(3.2.42) 。

3.2.42.2

レーザー走査型顕微鏡

対象物(3.1.104) が レーザー(3.1.86) ビームによって走査される 走査型顕微鏡(3.2.42)

3.2.42.3

走査型近視野顕微鏡

走査型顕微鏡(3.2.42) 。小型の発光プローブが 対象物(3.1.104) を至近距離で走査する(またはその逆)。

注記 1:プローブの直径が Airy ディスクよりも小さい場合、超解像が達成される場合があります。

3.2.43

第二高調波発生顕微鏡

SHG顕微鏡

励起(3.1.49) 光(3.1.88 )の第 2 高調波を使用して追加の 画像(3.1.75) 情報を提供する顕微鏡法

3.2.44

シェーディング補正

照明システム又は検出システムの不均一性によって生じる, デジタル画像(3.2.13) or 電子画像(3.2.14) の強度レベルを調整する方法。

3.2.45

シングルモードファイバー

単一の横電磁モードのみを維持できる光ファイバー

3.2.46

スペクトルイメージング顕微鏡

オブジェクトの空間位置に対応するスペクトルが記録される顕微鏡法(3.1.104)

3.2.47

構造化照明顕微鏡

SIM

対象物(3.1.104) を空間的に変化するパターンで照明して合成 画像(3.1.75) を生成し、そこから デジタル画像(3.2.13) を横方向および 軸方向の解像度(3.1.128.5) を向上させる顕微鏡技術。生産されるかもしれません

3.2.47.1

格子像顕微鏡法

対象物(3.1.104) が格子のパターンによって照明される 構造化照明顕微鏡法(3.2.47)

3.2.48

超解像顕微鏡

回折限界(3.1.128.1) によって与えられるよりも高い分解能を達成する顕微鏡技術。

3.2.48.1

ローカリゼーション顕微鏡

個々のマーカーの位置をローカライズし、それらの決定された空間分布のグラフィック表現を生成することにより、マークされた標本の 超解像顕微鏡 (3.2.48) デジタル (3.2.13) or 電子画像 (3.2.14) を作成する手法

注記 1:この画像の横方向の解像度は、各マーカーの位置特定プロセスの精度によってのみ制限されます。

注記2:マーカーは通常、光活性化または光スイッチ可能な蛍光プローブです。グラフィック表現を生成するために、通常、複数の画像が連続してキャプチャされます。

3.2.48.2

誘導放出枯渇顕微鏡法

STED顕微鏡

励起(3.1.49) 焦点(3.1.65) の空間分布の外側領域における励起分子の誘導放出によって 解像度(3.1.128) の向上が達成される,蛍光顕微鏡における超解像技術。音量

注記1:より高い解像度を達成するためには、誘導放出プロセスを可能な限り完全にする必要があります。すなわち、誘導放出は飽和する必要があります。

3.2.48.3

超解像構造化照明顕微鏡

優れた解像度

超解像SIM

構造化された照明顕微鏡法(3.2.47) では、回折限界によって与えられるよりも高い分解能で デジタル画像(3.2.13) を計算するために、パターン解像度が光学系の 回折限界(3.1.128.1) に近い ( 3.1.128.1)

注記 1:線形応答を使用する SIM は、最大で分解能限界の 2 倍を達成できますが、非線形応答を使用すると、分解能限界の 2 倍以上を達成できます。

3.2.49

タイムラプスイメージング

一定期間にわたって間隔をあけて 画像(3.1.75) を取得することに基づく画像化

3.2.50

全反射蛍光顕微鏡

TIRFM

蛍光(3.1.58) が、内部全反射によって生成されるエバネッセント波によって薄層で励起される顕微鏡法。

3.2.51

ホワイトバランス

対象物(3.1.104) の白色領域を画像内で白色として表示するための デジタル画像(3.2.13) or 電子画像(3.2.14) の色レベルの調整。

3.2.52

三次元再構築

オブジェクト(3.1.104) の三次元構造を表現するための二次元 デジタル(3.2.13) or 電子画像(3.2.14) の処理及び表示。

3.2.53

ライトシート顕微鏡

照明(3.1.73) が観察面内でのみ実現される顕微鏡技術

注記 1:ライト シート顕微鏡法は、ライト シートと標本を相対的に移動させることにより、固有の光学セクショニングを使用して 3D 画像を生成する機能を備えています。利点は、標本の露光量が減ることです。

3.2.54

デジタルホログラフィック顕微鏡

DEM

物体(3.1.104) から発生する波面情報がホログラムとしてデジタル的に記録され、そこから数値再構成アルゴリズムを使用して物体像が計算される顕微鏡法。

注記 1通常,信号波と参照波との干渉を利用して振幅情報と位相情報,ひいてはホログラムを得る。

3.2.55

光コヒーレンス顕微鏡

OCM

対象物内の反射面の相対的な深さを決定するために部分コヒーレント狭 走査(3.2.41) ビームを使用して、対象 物(3.1.104) の断面画像を取得するための光干渉測定技術。

注記 1:横方向の解像度は、走査光路内の光学系の特性であり、軸方向の解像度とは切り離されています。

注記 2:断面画像は、通常、集束ビームをサンプル全体にわたって横方向に走査することによって取得されます。ボリュメトリック画像は、一般に一連の断面画像によって取得されます。

[出典: ISO 16971:2015, 3.1, エントリに注記 1 と 2 を追加し、略語 OCM を追加するように修正。]

参考文献

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[2]ISO 8037-1, 光学および光学機器 — 顕微鏡 — スライド — Part 1: 寸法、光学特性およびマーキング
[3]ISO 8038, 顕微鏡 — 対物レンズおよび関連するノーズピースのねじ山
[4]ISO 8255-1, 顕微鏡 — カバーガラス — Part 1: 寸法公差、厚さ、および光学特性
[5]ISO 8578, 顕微鏡 — 対物レンズと接眼レンズのマーキング
[6]ISO 9345, 顕微鏡 — イメージング コンポーネントのインターフェース寸法
[7]ISO 16971, 眼科用器具 — 人間の目の後眼部の光コヒーレンストモグラフ
[8]ISO 19012-1, 顕微鏡 — 顕微鏡対物レンズの指定 — Part 1: 視野/平面の平面度
[9]ISO 19012-2, 顕微鏡 — 顕微鏡対物レンズの指定 — Part 2: 色補正
[10]ISO 19012-3, 顕微鏡 — 顕微鏡対物レンズの指定 — Part 3: スペクトル透過率
[11]Bradbury S, Evennett PJ, Haselmann H, Piller H 光学顕微鏡の RMS ディクショナリオックスフォード大学出版局および王立顕微鏡学会、1989 年
[12]科学C.辞書 T. 1991. チェンバーズ、エジンバラ & ニューヨーク。 ISBN 0-85296-151-, 0-85296-150-3 (ハードカバー)
[13]Inoue Shinya, Spring Kenneth R., Video Microscopy, the Fundamentals , 1997 Plenum Press, New York, NY 10013. ISBN 0-306-45531-5
[14]Pluta M.、 Advanced Light Microscopy 、3 巻、1988 年、1989 年、1992 年。Elsevier, オランダ、アムステルダム。 ISBN 83-01-07606-2

3 Terms and definitions

For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.

ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:

3.1 Terms and definitions relating to light microscopy

3.1.1

Abbe test plate

device for testing the chromatic (3.1.4.2) and spherical aberration (3.1.4.7) of microscope (3.1.99) objectives (3.1.106)

Note 1 to entry: When testing for spherical aberration, the cover glass thickness for which the objective is best corrected is also found. The test plate consists of a slide on which is deposited an opaque metal layer in the form of parallel strips arranged in groups of different width. The edges of these strips are irregularly serrated to allow the aberrations to be judged more easily. In its original and most common form, the slide is covered with a wedge-shaped cover glass, the increasing thickness of which is marked on the slide. Additional versions without the cover glass and/or with reflective stripes are also in use.

3.1.2

Abbe theory of image formation

explanation of the mechanism by which the microscope (3.1.99) image (3.1.75) is formed

Note 1 to entry: It assumes coherent illumination and is based on a three-step process involving diffraction.
  • a) First step: the object diffracts light coming from the source.
  • b) Second step: the objective collects some of the diffracted beams and focuses them, according to the laws of geometrical optics, in the back focal plane of the objective to form the primary diffraction pattern of the object.
  • c) Third step: the diffracted beams continue on their way and are reunited; the result of their interference is called the primary image of the microscope.
This explains the necessity for the maximum number of rays diffracted by the object to be collected by the objective, so that they may contribute to the image. Fine detail will not be resolved if the rays it diffracts are not allowed to contribute to the image.

3.1.3

aberration

<material and geometric form> deviation from perfect imaging by an optical system, caused by the properties of the material of the lenses (3.1.87) or by the geometric forms of the refracting or reflecting surfaces

3.1.4

aberration

<optical system> failure of an optical system to produce a perfect image (3.1.75)

3.1.4.1

astigmatism

aberration (3.1.4) which causes rays in one plane containing an off-axis object (3.1.104) point and the optical axis (3.1.107) to focus at a different distance from those in the plane at right angles to it

3.1.4.2

chromatic aberration

aberration (3.1.4) of a lens (3.1.87) or prism (3.1.119) , due to dispersion (3.1.47) by the material from which it is made

Note 1 to entry: This defect may be corrected by using a combination of lenses made from glasses or other materials of different dispersion.

3.1.4.2.1

axial chromatic aberration

aberration (3.1.4) by which light (3.1.88) of different wavelengths is focused at different points along the optical axis (3.1.107)

3.1.4.2.2

lateral chromatic aberration

chromatic difference of magnification

aberration (3.1.4) by which the images (3.1.75) formed by light (3.1.88) of different wavelengths, although they may be brought to the same focus (3.1.65) in the optical axis (3.1.107) , are of different sizes

3.1.4.3

coma

aberration (3.1.4) in which the image (3.1.75) of an off-axis point object (3.1.104) is deformed so that the image is shaped like a comet

3.1.4.4

curvature of image field

aberration (3.1.4) resulting in a curved image field (3.1.54.4) from a plane object field (3.1.54.5)

Note 1 to entry: Curvature of the image field is particularly obvious with objectives of high magnification and large numerical aperture, which have a restricted depth of field. It may largely be eliminated by additional correction.

3.1.4.5

distortion

aberration (3.1.4) in which lateral magnification (3.1.90.8) varies with distance from the optical axis (3.1.107) in the image field (3.1.54.4)

3.1.4.5.1

barrel distortion

negative distortion

difference in lateral magnification (3.1.90.8) between the central and peripheral areas of an image (3.1.75) such that the lateral magnification is less at the periphery

EXAMPLE:

A square object in the centre of the field thus appears barrel shaped (i.e. with convex sides).

3.1.4.5.2

pincushion distortion

positive distortion

difference in lateral magnification (3.1.90.8) between the central and the peripheral areas of an image (3.1.75) such that the lateral magnification is greater towards the periphery

EXAMPLE:

A square object in the centre of the field thus appears pincushion shaped (i.e. with concave sides).

3.1.4.6

monochromatic aberrations

collective term for all aberrations (3.1.4) outside the Gaussian space which appear for monochromatic (3.1.123.2) light (3.1.88)

Note 1 to entry: The monochromatic aberrations are: spherical aberration, coma, astigmatism, curvature of image field and distortion.

3.1.4.7

spherical aberration

aberration (3.1.4) resulting from the spherical form of the wavefront arising from an object (3.1.104) point on the optical axis (3.1.107) , on its emergence from the optical system

Note 1 to entry: As a consequence, the rays emanating from an object point on the optical axis at different angles to the axis, or rays entering the lens parallel to the optical axis but at differing distances from it, intersect the optical axis in the image space before (undercorrection) or behind (overcorrection) the ideal image point formed by the paraxial rays.

3.1.5

achromat

<lens element> lens (3.1.87) in which the axial chromatic aberration (3.1.4.2.1) is corrected for two wavelengths

EXAMPLE:

Usually the correction is made for a wavelength below 500 nm and for a wavelength above 600 nm.

3.1.6

achromat

<microscope objective> microscope (3.1.99) objective (3.1.106) in which chromatic aberration (3.1.4.2) is corrected for two wavelengths and spherical aberration (3.1.4.7) and other aperture-dependent defects are minimized for one other wavelength which is usually about 550 nm

EXAMPLE:

Usually the correction is made for a wavelength below 500 nm and for a wavelength above 600 nm.

Note 1 to entry: This term does not imply any degree of correction for curvature of image field; coma and astigmatism are minimized for wavelengths within the achromatic range.

3.1.7

Airy pattern

image (3.1.75) of a primary or secondary point source (3.1.135.1) of light (3.1.88) which, due to diffraction (3.1.41) at a circular aperture (3.1.10) of an aberration-free lens (3.1.87) , takes the form of a bright disc surrounded by a sequence of concentric dark and bright rings

3.1.7.1

Airy disc

diffraction disc

central area bounded by the first dark ring of the Airy pattern (3.1.7)

Note 1 to entry: The Airy disc contains 84 % of the energy of the Airy pattern.

3.1.7.2

Airy unit

AU

diameter of the theoretical first minimum of the Airy pattern (3.1.7) in the low numerical aperture (3.1.10.4) approximation

Note 1 to entry:
Where λref is the reference wavelength and NA the numerical aperture.

3.1.8

anisotropic

having a non-uniform spatial distribution of properties

Note 1 to entry: In polarized light microscopy, this usually refers to the preferential orientation of optical properties with respect to the vibration plane of the polarized light.

3.1.9

apertometer

device for measuring the numerical aperture (3.1.10.4) of microscope (3.1.99) objectives (3.1.106)

3.1.10

aperture

area of a lens (3.1.87) which is available for the passage of light (3.1.88)

Note 1 to entry: In microscopy, it is usually expressed as the numerical aperture.

3.1.10.1

angular aperture

<microscopy>maximum plane angle subtended by a lens (3.1.87) at the centre of an object field (3.1.54.5) or image field (3.1.54.4) by two opposite marginal rays when the lens is used in its correct working position

Note 1 to entry: The term may be qualified by the side of the lens to which it refers (e.g. object side, illumination side, image side).

3.1.10.2

condenser aperture

illuminating aperture

aperture (3.1.10) of the illuminating system which is defined by the diameter of the illuminating aperture diaphragm (3.1.38.6)

3.1.10.3

imaging aperture

aperture (3.1.10) of the imaging system

Note 1 to entry: The imaging aperture is generally defined by the numerical aperture of the objective.

3.1.10.4

numerical aperture

na

number originally defined by Abbe for objectives (3.1.106) and condensers (3.1.28) , which is given by the expression n sin u, where n is the refractive index (3.1.125) of the medium between the lens (3.1.87) and the object (3.1.104) and u is half the angular aperture (3.1.10.1) of the lens

Note 1 to entry: Unless specified by “image-side”, the term refers to the object side.

3.1.11

aplanatic

corrected for spherical aberration (3.1.4.7) and coma (3.1.4.3)

3.1.12

apochromat

<lens element> lens (3.1.87) in which axial chromatic aberration (3.1.4.2.1) is corrected for three wavelengths

EXAMPLE:

Wavelengths of about 450 nm, 550 nm and 650 nm.

3.1.13

apochromat

<microscope objective> microscope (3.1.99) objective (3.1.106) in which the chromatic aberration (3.1.4.2) is corrected for three or more wavelengths and the spherical aberration (3.1.4.7) and other aperture-dependent defects are minimized for about 550 nm as with achromats (3.1.6)

EXAMPLE:

Wavelengths of about 450 nm, 550 nm and 650 nm.

Note 1 to entry: This term does not imply any degree of correction for curvature of image field.

Note 2 to entry: For more information see ISO 19012-2.

3.1.14

aspherical

not forming part of the surface of a sphere

Note 1 to entry: This term is also used to describe the shape of a refracting or a reflecting surface designed to minimize spherical aberration and some other aberrations.

3.1.15

beam splitter

means whereby a beam of light (3.1.88) may be divided into two or more separate beams

3.1.16

birefringence

Δn

quantitative expression of the maximum difference in refractive index (3.1.125) due to double refraction (3.1.48)

3.1.17

bright field

system of illumination (3.1.73) and imaging in which the direct light (3.1.45) passes through the objective (3.1.106) aperture (3.1.10) and illuminates the background against which the image (3.1.75) is seen

3.1.18

bulb

envelope of a lamp (3.1.85) , which is usually out of glass or fused silica

Note 1 to entry: This term is commonly used to describe the lamp itself.

3.1.19

catadioptric

having optical arrangements оr optical elements which operate by both reflection and refraction

3.1.20

catoptric

having optical arrangements оr optical elements which operate by reflection

3.1.21

centring telescope

auxiliary telescope

two-stage magnifier, designed for use in place of the eyepiece (3.1.52) to enable an image (3.1.75) of the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) to be inspected

Note 1 to entry: The centring telescope is used principally for adjustment of the microscope illuminating system, especially with phase contrast and modulation contrast. It may also be used for conoscopic observation.

3.1.22

circle of least confusion

smallest diameter image (3.1.75) spot formed from a point object (3.1.104) when spherical aberration (3.1.4.7) and astigmatism (3.1.4.1) are present

3.1.23

clear focusing screen

sheet of clear glass or plastic material used for focusing (3.1.67) in photography and photomicrography (3.1.115) in which a figure on the screen (3.1.132) (e.g. cross lines) serves to define the plane (3.1.117) in which the aerial image (3.1.75.1) observed with a focusing magnifier (3.1.92.1) is located

3.1.24

coarse adjustment

focusing mechanism (3.1.68) designed to make large and rapid alterations in the distance along the optical axis (3.1.107) between the object (3.1.104) and the objective (3.1.106)

3.1.25

coating of optical surfaces

deposit of one or more thin dielectric and/or metallic layers on a surface of an optical element for the purpose of decreasing or increasing reflection and/or transmission

EXAMPLE:

Optical elements such as a lens, mirror, prism, or filter.

3.1.26

collector

lens (3.1.87) which serves to project a suitably sized image (3.1.75) of the source (3.1.135) into a given plane (3.1.117) [e.g. in Köhler illumination (3.1.73.3) into the apertureplane (3.1.117.1) of the condenser (3.1.28)]

Note 1 to entry: Sometimes known as the “lamp collector”.

3.1.27

compensator

retardation plate (3.1.130) of fixed or variable optical path length difference (3.1.108.1) used to measure the optical path length differences within an object (3.1.104)

Note 1 to entry: Many types of compensator exist, often designated by the name of their originator e.g. Babinet, Berek, Senarmont.

3.1.27.1

first-order red compensator

first-order red plate

sensitive tint plate

retardation plate (3.1.130) producing an optical path length difference (3.1.108.1) of one wavelength, giving rise to the interference colour (3.1.82) having the typical tint of the first-order red (3.1.57)

3.1.27.2

half-wave compensator

half-wave plate

retardation plate (3.1.130) producing an optical path length difference (3.1.108.1) of half a wavelength

3.1.27.3

quarter-wave compensator

quarter-wave plate

retardation plate (3.1.130) producing an optical path length difference (3.1.108.1) of a quarter of a wavelength

Note 1 to entry: The reference wavelength is selected according to the application and is individually indicated. When oriented at 45° to the plane of polarization, it changes plane-polarized light into circularly-polarized light and vice versa.

3.1.27.4

quartz-wedge compensator

retardation plate (3.1.130) consisting of a wedge of quartz (or two such wedges in the subtraction position) producing optical path length differences (3.1.108.1) continuously variable between 0 λ and 3 λ or 4 λ along its length

Note 1 to entry: This property results in the production of a series of interference colours in the form of fringes perpendicular to the length of the wedge. With monochromatic light, the coloured fringes are seen as alternating dark and bright bands.

3.1.28

condenser

part of the illuminating system of the microscope (3.1.99) which consists of one or more lenses (3.1.87) (or mirrors) and their mounts, usually containing a diaphragm (3.1.38) , and designed to collect, control and concentrate radiation (3.1.123) into the illuminating numerical aperture (3.1.10.4)

Note 1 to entry: In bright field microscopy by epi-illumination, the objective serves as its own condenser.

3.1.28.1

Abbe condenser

condenser (3.1.28) of simple design introduced by Abbe, in which there is only limited correction (3.1.33) for spherical aberration (3.1.4.7) and none for chromatic aberration (3.1.4.2)

3.1.28.2

achromatic-aplanatic condenser

condenser (3.1.28) in which chromatic aberrations (3.1.4.2) and spherical aberrations (3.1.4.7) have been reduced

Note 1 to entry: Achromatic-aplanatic correction is particularly advantageous for high numerical aperture, oil immersion condensers.

3.1.28.3

cardioid condenser

dark-field condenser (3.1.28.4) for transmitted-light illumination (3.1.73.6) , in which the correction (3.1.33) for spherical aberration (3.1.4.7) and coma (3.1.4.3) is calculated for a reflecting surface with the shape of a cardioid of revolution

Note 1 to entry: In practice, the correction is achieved by using a zone of a spherical surface which differs imperceptibly in its corrective effect from a true cardioid surface.

3.1.28.4

dark-field condenser

dark-ground condenser

condenser (3.1.28) designed for dark-field (3.1.35) microscopy

Note 1 to entry: For transmitted-light microscopy, this condenser is a separate component; for reflected-light microscopy, it is generally within the mount of the objective, surrounding the imaging system of the objective.

3.1.28.5

pancratic condenser

condenser (3.1.28) containing a variable “zoom” (pancratic) lens (3.1.87) which allows the size of the illuminated field (3.1.54.3) at the object (3.1.104) to be varied while the illuminated field diaphragm (3.1.38.5) remains of constant size

Note 1 to entry: The size of the illuminating aperture varies inversely with that of the illuminated field at the object, and the product of both sizes remains a constant.

3.1.28.6

phase-contrast condenser

condenser (3.1.28) designed for phase contrast (3.1.32.4) microscopy which forms on the phase plate (3.1.112) in the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) a suitably sized image (3.1.75) of a diaphragm (3.1.38) (generally annular) positioned in the front focal plane (3.1.62.2) of the condenser

3.1.28.7

substage condenser

condenser (3.1.28) designed to fit beneath the stage (3.1.136) of a microscope (3.1.99)

3.1.28.8

swing-out top lens condenser

condenser (3.1.28) designed so that its top lens (3.1.87) can conveniently be removed from the optical path by operating a lever, thus increasing the condenser’s (3.1.28) focal length (3.1.61) in order to increase the area of the illuminated field (3.1.54.3) and decrease the illuminating numerical aperture (3.1.10.4) for use with objectives (3.1.106) of low magnification (3.1.90)

3.1.28.9

universal condenser

condenser (3.1.28) designed for multiple contrast techniques such as bright field (3.1.17) , dark-field (3.1.35) , phase contrast (3.1.32.4) , differential interference contrast (3.1.32.2.1) , polarized light (3.1.88.1) and modulation contrast (3.1.32.3)

3.1.29

conjugate planes

planes (3.1.117) perpendicular to the optical axis (3.1.107) which are imaged onto another in accordance with the rules of geometrical optics

3.1.30

conoscopic figure

interference pattern of curves linking points of equal retardation (3.1.129) , formed in the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) when an optically anisotropic (3.1.8) object (3.1.104) is placed between crossed polars (3.1.118.2) or, exceptionally, parallel polars (3.1.118.3)

3.1.31

conoscopy

observation of the conoscopic figure (3.1.30) by means of a pinhole diaphragm (3.1.38) or a centring telescope (3.1.21) in place of the eyepiece (3.1.52) , or by means of a Bertrand lens (3.1.87.2)

3.1.32

contrast

distinction between regions in an image (3.1.75) due to differences in brightness and/or colour

3.1.32.1

interference contrast

<term> contrast (3.1.32) in the image (3.1.75) caused mainly by interference

3.1.32.2

interference contrast

<phenomenon> enhancing the contrast (3.1.32) between features having different optical path lengths (3.1.108)

3.1.32.2.1

differential interference contrast

contrast (3.1.32) due to double-beam interference (3.1.81.1) in which two waves which fall on the object plane (3.1.117.5) or image plane (3.1.117.3) are separated laterally by a distance similar to the minimum resolvable distance (3.1.128.2)

Note 1 to entry: This kind of contrast is characterized by an impression of unilateral oblique illumination. Variations in optical path length due to gradients in surface relief (reflected light) or in physical thickness or refractive index (transmitted light) appear as relief contrast in the image.

3.1.32.2.2

Nomarski differential interference contrast

form of differential interference contrast (3.1.32.2.1) using Nomarski prisms (3.1.119.2)

3.1.32.3

modulation contrast

contrast (3.1.32) technique due to Hoffman which uses a modulator in the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) or in a succeeding conjugate plane (3.1.29) , and a slit aperture (3.1.10) in the front focal plane (3.1.62.2) of the condenser (3.1.28)

Note 1 to entry: The modulator is a filter composed of three regions: a dark region, a grey region onto which the slit in the condenser is imaged and a bright region. The modulator influences the direct light and diffracted light in order to increase contrast.

3.1.32.4

phase contrast

form of interference contrast (3.1.32.2) (in its widest sense) due to Zernike, in which the image contrast (3.1.32) of a phase object (3.1.111) is enhanced by altering phase (3.1.110) and amplitude of the direct light (3.1.45) with respect to those of the diffracted light (3.1.40) and which is achieved by the action of a phase plate (3.1.112) , usually in the form of an annulus, placed in the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) (or in a succeeding plane conjugate (3.1.29) with this) conjugate with an appropriate illuminating aperture diaphragm (3.1.38.6) in the front focal plane (3.1.62.2) of the condenser (3.1.28)

Note 1 to entry: The phase plate has two properties: it shifts the phase of the direct light by 90° and absorbs some of its intensity. Contrast is achieved by conversion of phase differences within the light leaving the object into intensity differences in the image. Two kinds of phase contrast are available, depending on the characteristics of the phase plate; in positive phase contrast, objects which retard the phase of the diffracted light by a small amount appear darker than the background, while in negative phase contrast they appear brighter.

3.1.32.5

relief contrast

form of contrast (3.1.32) which presents gradients of geometrical or optical path length differences (3.1.108.1) in the object (3.1.104) in the form of a distribution of brightness in the image (3.1.75) which gives an impression of relief (3.1.126)

Note 1 to entry: This impression occurs because the distribution of brightness in a relief contrast image is similar to the distribution of light and shadow in the image of a three-dimensional object illuminated from one side.

3.1.33

correction

process whereby the aberrations (3.1.4) of an optical system are minimized

3.1.33.1

correction class

type of correction (3.1.33) of an optical system (achromatic, plan, etc.)

3.1.33.2

correction collar

mechanism provided on some objectives (3.1.106) in order to adapt their correction (3.1.33) for spherical aberration (3.1.4.7) to compensate for deviations from correct optical path length (3.1.108) in the cover glass (3.1.34) , wall of culture chamber and/or other media between the object (3.1.104) and the objective

3.1.33.3

correction for object to primary image distance

calculation of a microscope (3.1.99) objective (3.1.106) to optimize its corrections for a given standardized object to primary image (3.1.80.2.2) distance

3.1.33.4

overcorrection

error in the correction (3.1.33) of spherical aberration (3.1.4.7) , leading to lack of contrast (3.1.32) in the image (3.1.75)

Note 1 to entry: In microscopy it may be caused by the use of a cover glass thicker than, or a mechanical tube length longer than, the values assumed in the computation of the objective. The term may be used also in connection with other aberrations, e.g. chromatic aberration.

3.1.33.5

undercorrection

error in correction (3.1.33) of spherical aberration (3.1.4.7) , leading to lack of contrast (3.1.32) in the image (3.1.75)

Note 1 to entry: In microscopy, undercorrection may be caused by the use of a cover glass thinner than, or a mechanical tube length shorter than, the values assumed in the computation of the objectives. The term may be used also in connection with other aberrations, e.g. chromatic aberration.

3.1.34

cover glass

rectangular or circular piece of thin glass used to cover a microscopical preparation

Note 1 to entry: Because its thickness, refractive index and dispersion affect calculation and correction, the cover glass is regarded as part of the objective for the purpose of design. The tolerances of its thickness, refractive index and dispersion should be considered in relation to the demands of the objective, as standardized in ISO 8255-1.

3.1.35

dark-field

system of illumination (3.1.73) and imaging in which the direct light (3.1.45) is prevented from passing through the aperture (3.1.10) of the objective (3.1.106)

Note 1 to entry: The image is formed from light scattered by features in the object, the detail thus appearing bright against a dark background. It may be qualified as transmitted-light or reflected-light dark-field.

3.1.35.1

dark-field stop

central opaque disc usually used in the front focal plane (3.1.62.2) of a condenser (3.1.28) to occlude all the direct light (3.1.45) which would fall within the aperture (3.1.10) of the objective (3.1.106)

3.1.36

depth of field

<object space> axial depth of the space on both sides of the object plane (3.1.117.5) within which the object (3.1.104) can be moved without detectable loss of sharpness in the image (3.1.75) , while the positions of the image plane (3.1.117.3) and of the objective (3.1.106) are maintained

Note 1 to entry: See Note to 3.1.37.

3.1.37

depth of focus

<image space> axial depth of the space on both sides of the image (3.1.75) within which the image appears acceptably sharp, while the positions of the object plane (3.1.117.5) and of the objective (3.1.106) are maintained

Note 1 to entry: In some publications, the term “depth of focus” is used to refer to object space. It is recommended that, when the distinction is important, the full terms “depth of field (in object space)” and “depth of focus (in image space)” be used.

3.1.38

diaphragm

mechanical limitation of an opening normal to the optical axis (3.1.107) which restricts the cross-sectional area of the light (3.1.88) path at a defined place in an optical system and which may be fixed or variable in size, shape (although usually circular) and position

3.1.38.1

aperture diaphragm

diaphragm (3.1.38) in any aperture plane (3.1.117.1)

3.1.38.2

Bertrand diaphragm

field diaphragm (3.1.38.4) placed after a Bertrand lens (3.1.87.2) to restrict the field (3.1.54) from which a conoscopic figure (3.1.30) is formed

3.1.38.3

condenser diaphragm

diaphragm (3.1.38) which controls the effective size and shape of the condenser aperture (3.1.10.2) and which normally functions as the illuminating aperture diaphragm (3.1.38.6) in transmitted light

3.1.38.4

field diaphragm

diaphragm (3.1.38) in any field plane (3.1.117.2)

Note 1 to entry: Field diaphragms are usually fitted just after the lamp collector and in the eyepiece.

3.1.38.5

illuminated field diaphragm

field diaphragm (3.1.38.4) whose image (3.1.75) defines the illuminated field (3.1.54.3) at the object (3.1.104)

3.1.38.6

illuminating aperture diaphragm

aperture diaphragm (3.1.38.1) which defines the illuminating aperture (3.1.10.2) or the pupil (3.1.122) of an illuminating system

Note 1 to entry: For transmitted light, this is usually incorporated in the front focal plane of the condenser; in reflected-light microscopes it is found in the epi-illuminator in a plane conjugate with the back focal plane of the objective. It is commonly known simply as the “aperture diaphragm” or the “aperture stop”.

3.1.38.7

iris diaphragm

diaphragm (3.1.38) bounded by multiple leaves, usually metal, arranged so as to provide an opening of variable size, which is adjustable by means of a control

3.1.38.8

visual field diaphragm

diaphragm (3.1.38) which defines the field (3.1.54) of view and which is usually contained within the eyepiece (3.1.52)

3.1.39

dichromatic mirror

dichroic mirror

special type of interference filter (3.1.55.8) used as an essential part of a fluorescence microscope (3.1.99.5) using epi-illumination (3.1.73.2) and which is designed to reflect selectively the shorter wavelength exciting radiation (3.1.123) and transmit the longer wavelength fluorescence (3.1.58)

Note 1 to entry: A similar device is often used as a lamp reflector, in order to transmit the longer wavelength heat (infrared) radiation while reflecting the visible light.

3.1.40

diffracted light

light (3.1.88) which has undergone diffraction (3.1.41) at the object (3.1.104) and which gives rise to the first-order, second-order, etc. components of the diffraction pattern (3.1.41.1)

3.1.41

diffraction

phenomenon of deviation of the direction of propagation of light (3.1.88) or other wave motion when a wavefront passes any discontinuity in an object (3.1.104)

3.1.41.1

diffraction pattern

distribution of light (3.1.88) due to diffraction (3.1.41) , which depends on the geometrical and optical properties of the object (3.1.104) , the aberrations (3.1.3) of the lens (3.1.87) and the shape of its exit pupil (3.1.122) , and the wavelength of the light

3.1.41.1.1

primary diffraction pattern

primary diffraction image

diffraction pattern (3.1.41.1) of an object (3.1.104) which takes the form of multiple images (3.1.75) of the source (3.1.135)

Note 1 to entry: In Köhler illumination it is formed in the back focal plane of the objective.

3.1.42

diffraction grating

set of regularly repeating structures which, when illuminated, produce, by reflection or transmission, maxima and minima of intensity (3.1.79) as a consequence of diffraction (3.1.41) and interference

Note 1 to entry: These maxima and minima vary in position according to wavelength. Radiation of any given wavelength may thus be selected from complex radiation allowing the grating to be used for producing monochromatic light.

3.1.43

dioptre

unit of refractive power expressed as the reciprocal of the focal length (3.1.61) of a lens (3.1.87) in metres

3.1.44

dioptric

describing optical arrangements or optical elements which operate by refraction, i.e. using lenses (3.1.87)

3.1.45

direct light

light (3.1.88) which enters the objective (3.1.106) after undergoing no change in direction of propagation on passing through the object field (3.1.54.5) (transmitted light), or on specular reflection at a flat surface in the object field oriented normally to the direction of propagation of the light (reflected light)

3.1.46

dispersion

<wave group> change in phase velocity of a wave group as a function of its wavelength (or frequency) when passing from one medium to another which causes a separation of the monochromatic components of a complex radiation (3.1.123)

3.1.47

dispersion

<refractive index> variation in refractive index (3.1.125) of a medium which causes a separation of the monochromatic components of a complex radiation (3.1.123)

Note 1 to entry: The quantity characterizing this property may have a special name, e.g. the Abbe number, or the dispersive power, of the medium.

3.1.47.1

dispersion curve

graph of refractive index (3.1.125) of a medium as a function of wavelength or a related parameter, at a given temperature

3.1.48

double refraction

effect of anisotropy, by which electromagnetic waves are divided into plane-polarized (3.1.88.1.2) components having mutually perpendicular vibration directions and being propagated with different velocities

Note 1 to entry: Double refraction may be due to structure, orientation of particles, or strain. The quantitative expression of double refraction is birefringence.

3.1.49

excitation

input of energy to matter leading to the emission of radiation (3.1.123)

3.1.50

exposure

total quantity of light (3.1.88) allowed to fall upon a photosensitive emulsion which is measured in lux per second

3.1.50.1

exposure meter

device for determining the required exposure (3.1.50) for photographic materials

3.1.51

extinction

condition in which an optically anisotropic object (3.1.104) appears dark when observed between crossed polars (3.1.118.2)

3.1.52

eyepiece

lens (3.1.87) system in a separate mount, which magnifies the microscope’s (3.1.99) final real image (3.1.75.3) , formed in a viewing tube (3.1.144.6) , and projects it to infinity or to a distance comfortable for viewing by the human eye

3.1.52.1

compensating eyepiece

eyepiece (3.1.52) designed to correct residual aberrations of the objective (3.1.106) ,

EXAMPLE:

Compensation of chromatic difference of magnification (3.1.4.2.2) or astigmatism (3.1.4.1) .

3.1.52.2

external-diaphragm eyepiece

eyepiece (3.1.52) in which the field diaphragm (3.1.38.4) is located in front of the lenses (3.1.87)

Note 1 to entry: This type of eyepiece is suitable for the insertion of graticules.

3.1.52.3

filar eyepiece

micrometer-screw eyepiece

micrometer eyepiece (3.1.52.9) in which reference marks in the primary image plane (3.1.117.4) may be adjusted by means of a micrometer screw and the resultant indicated displacement is used to derive dimensions

3.1.52.4

focusable eyepiece

eyepiece (3.1.52) with a mechanism to focus on a graticule (3.1.70) or field diaphragm (3.1.38.4) mounted within it

3.1.52.5

high-eyepoint eyepiece

eyepiece (3.1.52) computed so that the exit pupil of the microscope (3.1.122.2) is sufficiently far from the eye lens (3.1.87.3.) to facilitate use of the microscope (3.1.99) by wearers of spectacles and/or for special applications

3.1.52.6

Huygens eyepiece

term originally used for an eyepiece (3.1.52) consisting of two planoconvex lenses (3.1.87) (the field lens (3.1.87.4) and the eye lens (3.1.87.3) ) mounted with their convex sides facing the objective (3.1.106) and with the field diaphragm (3.1.38.4) between them

3.1.52.7

internal-diaphragm eyepiece

eyepiece (3.1.52) in which the field diaphragm (3.1.38.4) is located between the field lens (3.1.87.4) and the eye lens (3.1.87.3)

3.1.52.8

Kellner eyepiece

improved type of Ramsden eyepiece (3.1.52.11) in which the distances between the field lens (3.1.87.4) and the diaphragm (3.1.38) , and from the eye lens (3.1.87.3) to the exit pupil of the microscope (3.1.122.2) , are both increased

3.1.52.9

micrometer eyepiece

focusable eyepiece (3.1.52.4) used for measuring

Note 1 to entry: In its most common form, a measuring graticule is fitted in the primary image plane. It is calibrated against a stage micrometer.

3.1.52.10

pointer eyepiece

eyepiece (3.1.52) containing a pointer in its primary image plane (3.1.117.4)

3.1.52.11

Ramsden eyepiece

eyepiece (3.1.52) consisting of two planoconvex lenses (3.1.87) of the same focal length (3.1.61) [the field lens (3.1.87.4) and the eye lens (3.1.87.3) ], mounted with their convex sides together and separated by a distance equal to the focal length of the lenses

3.1.52.12

widefield eyepiece

eyepiece (3.1.52) specially computed to provide a field (3.1.54) of view greater than that of a normal eyepiece of the same magnification (3.1.90)

3.1.53

eyepoint height

eye relief

distance measured along the optical axis (3.1.107) from the last surface of the eyepiece (3.1.52) to the exit pupil of the microscope (3.1.122.2) where the eye is located

Note 1 to entry: Its value may be affected by optical systems which are inserted between objective and eyepiece.

3.1.54

field

area in the object plane (3.1.117.5) or any other plane conjugate (3.1.29) with it

Note 1 to entry: The term may be qualified by its location (e.g. object field, image field) or its function (e.g. illuminated field, photometric field).

3.1.54.1

eyepiece field of view

part of the primary image (3.1.75.2) which is defined by the field diaphragm (3.1.38.4) of the eyepiece (3.1.52)

3.1.54.2

field-of-view number

field number

FN

number which specifies the eyepiece field of view (3.1.54.1) and which is the actual diameter in millimetres of the field diaphragm (3.1.38.4) in an external-diaphragm eyepiece (3.1.52.2) or the apparent diameter of the virtual image (3.1.75.4) of the field diaphragm (3.1.38.4) in an internal-diaphragm eyepiece (3.1.52.7)

Note 1 to entry: The field-of-view number is now one of the standard markings of the eyepiece and may be used to calculate the diameter of the microscope field of view (object field).

3.1.54.3

illuminated field

part of the object field (3.1.54.5) which receives illumination (3.1.73)

3.1.54.4

image field

any field (3.1.54) in which an image (3.1.75) of the object (3.1.104) is formed

3.1.54.5

object field

microscope field of view

FOV

part of the object (3.1.104) which is reproduced in the final image (3.1.75) which is defined by
  • a) the field diaphragm (3.1.38.4) of the eyepiece (3.1.52) , or
  • b) the dimensions of the receiving device,
together with the total magnification (3.1.90) of the optical elements lying between the object and a) or b)

3.1.54.6

objective field number

OFN

maximum field-of-view number (3.1.54.2) of the eyepiece (3.1.52) for which the objective (3.1.106) is designed to be used

3.1.55

filter

optical device designed to control selectively the wavelengths, colour temperature, vibration direction, and/or intensity (3.1.79) of the radiation (3.1.123) which it transmits or reflects

3.1.55.1

barrier filter

filter (3.1.55) used in fluorescence microscopy which is designed to prevent the passage towards the image (3.1.75) of those wavelengths of light (3.1.88) used for excitation (3.1.49) but to allow the light produced by fluorescence (3.1.58) of the object (3.1.104) to pass

3.1.55.2

broad-band-pass filter

broad-band filter

filter (3.1.55) which allows the passage of radiation (3.1.123) with a broad wavelength band (greater than about 50 nm) around a given central wavelength

Note 1 to entry: The concept of a “broad” band is arbitrary.

3.1.55.3

colour filter

filter (3.1.55) which allows the passage of light (3.1.88) of selected colour (chromaticity) or wavelength characteristics

3.1.55.4

colour-conversion filter

conversion filter

filter (3.1.55) used to change the colour temperature of light (3.1.88) received from a source (3.1.135)

3.1.55.5

contrast filter

filter (3.1.55) used to adjust the contrast (3.1.32) in an image (3.1.75) between features of an object (3.1.104) or between the object and the background

3.1.55.6

exciter filter

filter (3.1.55) used in fluorescence microscopy designed (ideally) to pass only those wavelengths which excite fluorescence (3.1.58)

3.1.55.7

heat filter

heat protection filter

filter (3.1.55) designed to prevent the passage of radiation (3.1.123) in the infrared or near infrared ranges

3.1.55.8

interference filter

filter (3.1.55) designed to transmit or reflect selectively a limited part of the spectrum by multiple-beam interference (3.1.81.3)

3.1.55.9

long-wave-pass filter

long-pass filter

filter (3.1.55) designed to allow the passage of radiation (3.1.123) of wavelengths longer than a given limit

3.1.55.10

narrow-band-pass filter

narrow-band filter

filter (3.1.55) (often an interference filter (3.1.55.8) ) which allows the passage of radiation (3.1.123) only within a very narrow wavelength band around a given central wavelength

Note 1 to entry: The concept of a “narrow” band is arbitrary.

3.1.55.11

neutral-density filter

ND filter

neutral filter

filter (3.1.55) designed to reduce as equally as possible the intensity (3.1.79) of radiation (3.1.123) across the whole visible spectrum

3.1.55.12

polarizing filter

filter (3.1.55) acting as a polar (3.1.118) by total or partial absorption of light (3.1.88) vibrating in certain directions

3.1.55.13

short-wave-pass filter

short-pass filter

filter (3.1.55) designed to allow the passage of radiation (3.1.123) of wavelengths shorter than a given limit

3.1.56

fine adjustment

focusing mechanism (3.1.68) designed to make small and precise alterations in the relative positions along the optical axis (3.1.107) between the object (3.1.104) and the objective (3.1.106)

Note 1 to entry: The precision of positioning which it provides should be better than the depth of field of the objective.

3.1.57

first-order red

sensitive tint

characteristic reddish-violet interference colour (3.1.82) selected from light (3.1.88) of a continuous spectrum by the extinction (3.1.51) of other wavelengths

3.1.58

fluorescence

phenomenon of selective absorption of radiation (3.1.123) of relatively short wavelength (i.e. of relatively high energy) by matter, resulting in the emission of radiation of longer wavelengths (i.e. of lower energy), persisting for only a very short time after the cessation of the excitation (3.1.49)

Note 1 to entry: In the special case of multiple-photon excitation, longer wavelength (lower energy) radiation may excite fluorescence with the effect of radiation of shorter wavelength.

3.1.58.1

primary fluorescence

autofluorescence

fluorescence (3.1.58) exhibited by virtue of the inherent properties of an object (3.1.104)

3.1.58.2

secondary fluorescence

fluorescence (3.1.58) exhibited by an object (3.1.104) after treatment with a fluorochrome (3.1.60)

3.1.58.3

excitation wavelength

specific wavelength of light (3.1.88) required to excite a fluorochrome (3.1.60) , such as a fluorescent antibody or fluorescent protein, to emit light at emission wavelengths

3.1.58.3.1

excitation wavelength band

specific wavelength range of light (3.1.88) used to excite a fluorochrome (3.1.60)

3.1.58.4

detection wavelength band

specific wavelength range of light (3.1.88) collected by the photo detector

3.1.59

fluorite

crystalline calcium fluoride (CaF2)

Note 1 to entry: This material, or others with similar optical properties, is used as an additional lens material for the correction of chromatic aberration and improvement in light transmission in some microscope objectives of the higher correction classes.

3.1.60

fluorochrome

substance used to impart fluorescence (3.1.58) to structures within a specimen for subsequent examination by fluorescence microscopy (3.1.99.5)

3.1.61

focal length

forf'

distance measured along the optical axis from the principal plane (3.1.117) of a lens (3.1.87) to the appropriate focal plane (3.1.62)

3.1.62

focal plane

surface in which bundles of parallel rays are brought to a point by an ideal lens (3.1.87)

EXAMPLE:

The focal plane is the surface at right angles to the optical axis of a lens (or mirror) in which the image of an object lying at infinity is formed.

3.1.62.1

back focal plane

<converging lens> focal plane (3.1.62) of a lens (3.1.87) which lies behind it when viewed in the direction of passage of light (3.1.88)

3.1.62.2

front focal plane

<converging lens> focal plane (3.1.62) of a lens (3.1.87) which lies in front of it when viewed in the direction of the passage of light (3.1.88)

3.1.63

focal point

ForF'

point of intersection of the focal plane (3.1.62) with the optical axis (3.1.107) , and where rays entering an ideal lens (3.1.87) parallel to the optical axis cross the optical axis (converging lens) or appear to originate from (diverging lens)

3.1.64

focus

<lens> focal point (3.1.63) of a lens (3.1.87)

3.1.65

focus

<imaging> state of sharpest imaging

3.1.66

focus

<ray tracing> point in the object plane (3.1.117.5) at which those rays intersect which, after refraction and/or reflection in an optical system also intersect in the image plane (3.1.117.3) to give rise to a sharp image (3.1.75) of the conjugate point

3.1.67

focusing

<control> act of bringing the optical system into focus (3.1.65) , i.e. bringing it to the position at which it forms an image (3.1.75) of the utmost sharpness in the proper image plane (3.1.117.3)

Note 1 to entry: In accordance with the character of the focusing mechanism used for this, the word may be qualified by the adjective “coarse” or “fine”.

3.1.68

focusing mechanism

mechanism used to change the distance between the object (3.1.104) and the optical system forming an image (3.1.75) , with the purpose of obtaining maximum sharpness in that image

Note 1 to entry: In the case of the microscope, the focusing mechanism (3.1.68) is often mediated by a rack and pinion and converts the rotary motion of a knob into linear motion along the optical axis (3.1.107) of either the objective (3.1.106) (with or without the tube (3.1.144) ) or the stage (3.1.136) .

3.1.69

free working distance

working distance

WD

distance in air, or in the specified immersion liquid (3.1.78) , between the front of the objective (3.1.106) and the surface of the cover glass (3.1.34) , or of the object (3.1.104) if uncovered, under normal operating conditions

3.1.70

graticule

reticle

pattern such as a scale or grid, together with its support, placed in an object plane (3.1.117.5) or an image plane (3.1.117.3) which is used for measurement, reference, alignment, location, counting or stereological analysis

3.1.71

ground glass

glass whose surface is roughened by mechanical or chemical means, used in microscopy to provide scattering or diffusion of the light (3.1.88) passing through or falling on it

Note 1 to entry: It may be used as a screen for the visualization of a real image.

3.1.72

halo

phenomenon in phase contrast (3.1.32.4) microscopy by which a feature in the image (3.1.75) is surrounded by a dark or light rim

3.1.73

illumination

application of light (3.1.88) to an object (3.1.104)

3.1.73.1

axial illumination

illumination (3.1.73) with a ray bundle whose axis coincides with the optical axis (3.1.107) of the microscope (3.1.99)

3.1.73.2

epi-illumination

coaxial light

reflected light

incident light

vertical illumination

illumination (3.1.73) which falls on the object field (3.1.54.5) from the same side as that from which the object field is observed

3.1.73.3

Köhler illumination

method of illuminating microscopical objects (3.1.104) , providing a uniformly illuminated field (3.1.54.3) from a non-uniform source (3.1.135)

Note 1 to entry: An image of the source is projected by a collector into the plane of the aperture diaphragm in the front focal plane of the condenser. The condenser, in turn, projects an image of an illuminated field diaphragm at the opening of the collector into the object plane. In the reflected-light microscope, where the objective serves as its own condenser, an aperture diaphragm is imaged by a relay lens into the back focal plane of the objective and the illuminated field diaphragm is arranged to be in a plane conjugate with that of the collector.

3.1.73.4

oblique illumination

illumination (3.1.73) using a ray bundle whose axis makes an angle with the optical axis (3.1.107) of the microscope (3.1.99)

3.1.73.5

source-focused illumination

critical illumination

method of illumination (3.1.73) in which an image (3.1.75) of the source (3.1.135) , which may carry an illuminated field diaphragm (3.1.38.5) , is projected by the condenser (3.1.28) into the object plane (3.1.117.5)

Note 1 to entry: Even illumination is obtained from a homogeneous source.

3.1.73.6

transmitted-light illumination

trans-illumination

diascopic illumination

illumination (3.1.73) which passes through the object field (3.1.54.5) from the opposite side to that from which the object field is observed

3.1.74

illuminator

device designed to provide illumination (3.1.73)

3.1.74.1

epi-illuminator

part of the illuminating system of the reflected-light microscope (3.1.99.11) placed between the objective (3.1.106) [which serves as its own condenser (3.1.28) ] and the lamp fitting

Note 1 to entry: The epi-illuminator is attached to or is inserted into the body tube, thus forming a section of this tube. A reflector, or a set of interchangeable reflectors, is included in the illuminator.

3.1.74.2

fibre optic illuminator

illuminating system in which the light (3.1.88) is delivered by a fibre optic

3.1.75

image

collection of points formed by a lens (3.1.87) or other imaging system, corresponding to points in the object (3.1.104)

Note 1 to entry: The image is a structural representation of those properties of the object which cause modulation of light. All parameters which describe the spatial and the temporal state of light can be modulated. Because of these modulations, the light in an encoded form carries the information about the object. In microscopy with the compound microscope, a primary image and a secondary image are formed, the latter being produced on the retina of the observer’s eye, on photographic material or on another surface.

3.1.75.1

aerial image

real image (3.1.75.3) existing in a plane (3.1.117) in space and not normally visible to the naked eye

3.1.75.2

primary image

usually magnified real image (3.1.75.3) of the object (3.1.104) formed by the objective (3.1.106) or, in infinity-corrected systems, by the objective together with its tube lens (3.1.87.10)

Note 1 to entry: The “primary image” is not to be confused with the “primary interference image” as described by Abbe.

3.1.75.3

real image

image (3.1.75) which can be received on a surface

EXAMPLE:

The surface can be a screen (3.1.132) .

3.1.75.4

virtual image

image (3.1.75) which cannot be received on a surface but which may be converted into a real image (3.1.75.3) by the optical system of the eye or other converging lens (3.1.87) system

3.1.76

image space

space on that side of an optical system where the image (3.1.75) is located

Note 1 to entry: In reflection or formation of a virtual image, this space may coincide with the object space.

3.1.77

immersion

use of an immersion liquid (3.1.78)

3.1.77.1

homogeneous immersion

immersion (3.1.77) in which the immersion liquid (3.1.78) and the adjacent optical components have the same refractive index (3.1.125) and dispersion (3.1.47) (or Abbe number) so that neither refraction nor reflection occurs between the liquid and the optical components

Note 1 to entry: In modern microscope design, refractive index differences between objective front lens, the immersion liquid and the cover glass may be deliberately introduced in order to assist in the correction of the system, so that the immersion is not truly homogeneous.

3.1.77.2

oil immersion

immersion (3.1.77) in which the immersion liquid (3.1.78) is immersion oil (3.1.78.1)

3.1.78

immersion liquid

liquid specified as suitable for use in the space between the front of an immersion lens (3.1.87.6) and the object (3.1.104)

Note 1 to entry: Because the immersion liquid is considered in the computing of corrections to be part of the lens, its refractive index and dispersion (or Abbe number) are critical.

EXAMPLE:

Commonly used immersion liquids are immersion oil (3.1.78.1) , water, glycerol or silicone.

3.1.78.1

immersion oil

synthetic immersion liquid (3.1.78)

Note 1 to entry: The term was formerly applied to naturally occurring immersion liquids such as cedar-wood oil.

Note 2 to entry: Immersion oil is according to ISO 8036.

3.1.79

intensity

general term for the strength of a radiation (3.1.123) , which is proportional to the square of the amplitude of the electromagnetic wave

Note 1 to entry: For measurement, this term should be replaced by the most suitable photometric or radiometric quantity.

3.1.80

interfacing dimensions

mechanical or opto-mechanical distances measured from reference planes (3.1.117.6) , on which the calculation of microscope (3.1.99) lenses (3.1.87) and the design of microscopes are based, and which facilitate the interchange of certain components

Note 1 to entry: There are two categories of dimensions: those which are standardized internationally and others which are taken as internal standards by individual manufacturers.

3.1.80.1

mechanical interfacing dimensions of the microscope

distances between several mechanical locating surfaces (3.1.89) or flanges

3.1.80.2

optical interfacing dimensions of the microscope

distances of focal points (3.1.63) , or object planes (3.1.117.5) or image planes (3.1.117.3) , from mechanical locating surfaces (3.1.89) or flanges

3.1.80.2.1

objective to primary image distance

distance in air between the objective locating surface of the nosepiece (3.1.89.3) and the primary image plane (3.1.117.4)

Note 1 to entry: The objective to primary image distance is one of the optical interfacing dimensions and commonly has a value of either 150 mm or infinity. The latter is a hypothetical value applied to microscopes designed for infinity-corrected objectives.

3.1.80.2.2

object to primary image distance

distance in air between the object plane (3.1.117.5) and the primary image plane (3.1.117.4)

Note 1 to entry: The object to primary image distance is the fundamental optical interfacing dimension used in microscope design and commonly has a value of either 195 mm or infinity. The latter is a hypothetical value applied to microscopes designed for infinity-corrected objectives.

3.1.80.2.3

parfocalizing distance of the eyepiece

distance between the locating flange of the eyepiece (3.1.89.1) and the plane (3.1.117) upon which the eyepiece (3.1.52) is focused

Note 1 to entry: The plane upon which the eyepiece is focused is coincident with the plane of the final real image of the microscope when the eyepiece is mounted in the viewing tube. The parfocalizing distance of the eyepiеce is one of the optical interfacing dimensions, and is commonly 10 mm.

3.1.80.2.4

parfocalizing distance of the objective

distance in air between the object plane (3.1.117.5) [i.e. the uncovered surface of the object (3.1.104) ] and the locating flange of the objective (3.1.89.4) , when the microscope (3.1.99) is in its working position

Note 1 to entry: The parfocalizing distance of the objective is one of the optical interfacing dimensions.

3.1.81

interference

mutual interaction between two or more coherent wave trains

Note 1 to entry: The phenomenon may be used to convert optical path length differences in the object into intensity variations in the image so providing contrast.

3.1.81.1

double-beam interference

interference between wave trains from two coherent light (3.1.88) beams

3.1.81.2

double-focus interference

double-beam interference (3.1.81.1) in which the two light (3.1.88) beams have different levels of focus (3.1.65) and in which one beam is focused in the object plane (3.1.117.5) , the other above or below that plane

3.1.81.3

multiple-beam interference

interference between wave trains from more than two coherent light (3.1.88) beams

3.1.81.4

polarizing interference

double-beam interference (3.1.81.1) in which the two light (3.1.88) beams arise from one plane-polarized (3.1.88.1.2) beam as the result of double refraction (3.1.48) , are plane-polarized in mutually perpendicular vibration directions and are recombined by the analyser (3.1.118.1)

3.1.81.5

shearing interference

double-beam interference (3.1.81.1) in which the two light (3.1.88) beams falling upon the object plane (3.1.117.5) or image plane (3.1.117.3) are separated laterally from one another

Note 1 to entry: This separation limits the size of features which can be studied.

3.1.82

interference colour

mixed colour resulting from extinction (3.1.51) or partial extinction, caused by interference, of one or several parts of the spectrum

3.1.83

interferometry

interference phenomena applied to the measurement of optical path length differences (3.1.108.1) , from which refractive indices and thickness can also be derived

3.1.84

interpupillary distance

distance in millimetres between the centres of the pupils of a person's eyes when viewing with parallel fixation lines

Note 1 to entry: Binocular microscopes and binocular tubes are provided with an adjustment to allow for the variable interpupillary distances of different people.

3.1.85

lamp

source of radiation (3.1.123)

3.1.85.1

filament lamp

lamp (3.1.85) from which radiation (3.1.123) is emitted from a filament, usually of tungsten, heated by the passage of an electric current

Note 1 to entry: The emitted spectrum is continuous and approximates to that of a black-body radiator.

3.1.85.2

halogen lamp

filament lamp (3.1.85.1) whose envelope contains halogen vapour

Note 1 to entry: A cyclical process in which the halogen reduces loss of tungsten from the filament and its deposition on the envelope. This permits a high filament temperature and consequent higher luminance, higher colour temperature and longer operating life than a conventional filament lamp of the same input power.

3.1.85.3

mercury arc lamp

discharge lamp (3.1.85) containing mercury vapour, often at a high pressure when the lamp is operating

Note 1 to entry: At low pressure the lamp emits a characteristic line spectrum but when it heats up there is a strong continuous spectrum forming the background. This type of lamp is frequently used in fluorescence microscopy and also, with a suitable filter, as a source of monochromatic radiation or ultraviolet radiation.

3.1.85.4

microscope lamp

lamp (3.1.85) together with its collector (3.1.26) , mirror, housing and fittings

Note 1 to entry: The microscope lamp may be incorporated into the microscope stand itself, or be a separate unit.

3.1.85.5

xenon arc lamp

discharge lamp (3.1.85) containing xenon, often at a high pressure when the lamp is operating

Note 1 to entry: The lamp emits light of high luminance, high colour temperature and with an almost continuous spectrum distributed from the ultraviolet to the infrared.

3.1.86

laser

source which emits coherent radiation (3.1.123) of high spectral concentration of radiance and an extremely small solid angle

Note 1 to entry: Acronym for Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation.

3.1.87

lens

piece of transparent material with one or more curved surfaces, which is used to alter systematically the direction of rays of light (3.1.88)

Note 1 to entry: The term may also be used for a system of lenses which, in principle, acts as a single lens.

3.1.87.1

aspherical lens

lens (3.1.87) made with an aspherical (3.1.14) surface

3.1.87.2

Bertrand lens

Amici-Bertrand lens

intermediate lens (3.1.87.7) which transfers an image (3.1.75) of the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) into the primary image plane (3.1.117.4)

Note 1 to entry: The Bertrand lens is used for conoscopic observation in polarized-light microscopy and for adjustment of the microscope illuminating system, especially in phase-contrast and modulation-contrast microscopy.

3.1.87.3

eye lens

lens (3.1.87) or group of lenses of an eyepiece (3.1.52) nearest to the observer's eye

3.1.87.4

field lens

lens (3.1.87) positioned in or close to a field plane (3.1.117.2) in order to adapt the exit pupil (3.1.122) of the preceding lenses to the entrance pupil of subsequent lenses

Note 1 to entry: Use of field lenses suppresses vignetting in the image and, more generally, provides homogeneous illumination of the field to which it relates. The term is often used without qualification to describe the field lens of the eyepiece.

3.1.87.5

gradient-index lens

lens (3.1.87) in which some or all of the refractive power results from axial, radial or spherical variation in refractive index (3.1.125)

3.1.87.6

immersion lens

objective (3.1.106) or condenser (3.1.28) designed to work with an immersion liquid (3.1.78)

3.1.87.7

intermediate lens

lens (3.1.87) located between the objective (3.1.106) and the primary image (3.1.75.2) which serves to control the position and/or lateral magnification (3.1.90.8) of the primary image, and/or to ensure the conditions for correct optical imaging if the actual optical interfacing dimensions (3.1.80.2) are different from the standard ones

3.1.87.8

photographic projection lens

projection lens (3.1.121) specially designed for photomicrography (3.1.115)

3.1.87.9

relay lens

lens (3.1.87) for transferring an image (3.1.75) into another plane (3.1.117)

3.1.87.10

tube lens

intermediate lens (3.1.87.7) designed to operate as an essential component of infinity-corrected objectives (3.1.106.3) , and which should be regarded as part of the objective lens system when magnification and correction (3.1.33) are considered

3.1.87.10.1

normal tube lens

particular tube lens (3.1.87.10) with which an infinity-corrected objective (3.1.106.3) is designed to operate

3.1.87.10.2

focal length of the normal tube lens

fNTL

focal length(3.1.61) related to the magnification (3.1.90) and the focal length of the objectives (3.1.106) which are designed to operate with this tube lens (3.1.87.10)

3.1.87.11

tubelength correction lens

intermediate lens (3.1.87.7) used to correct optically any deviation of mechanical tubelength from its nominal value

3.1.88

light

electromagnetic radiation (3.1.123) directly capable of causing a visual sensation

3.1.88.1

polarized light

light (3.1.88) in which the vibrations are partially or completely suppressed in certain directions at any given instant

Note 1 to entry: The vector of vibration may describe a linear, circular or elliptical shape.

3.1.88.1.1

elliptically-polarized light

polarized light (3.1.88.1) in which the vector of vibration describes an elliptical shape

3.1.88.1.2

plane-polarized light

linear-polarized light

polarized light (3.1.88.1) in which the vector of vibration describes a linear shape

3.1.88.2

stray light

light (3.1.88) which arises from scatter or reflection by the object (3.1.104) , in lenses (3.1.87) , or by obstacles in the light path, and which does not contribute to image (3.1.75) formation and reduces the contrast (3.1.32) in the image

3.1.89

locating surface

locating flange

surface at which two interchangeable components fit together

Note 1 to entry: These surfaces are perpendicular to the optical axis and are responsible for setting the correct axial location and centration of the optical and mechanical elements. They may coincide with reference planes for optical interfacing dimensions.

3.1.89.1

locating flange of eyepiece

flange on the eyepiece (3.1.52) which locates it at a given level which is the eyepiece-locating surface of viewing tube (3.1.89.2)

Note 1 to entry: The locating flange of eyepiece is one of the reference planes for the parfocalizing distance of the eyepiece.

3.1.89.2

eyepiece-locating surface of viewing tube

surface at the upper end of the viewing tube (3.1.144.6) which sets the level of the locating flange of eyepiece (3.1.89.1)

Note 1 to entry: The eyepiece-locating surface of viewing tube is one of the reference planes which determines the mechanical tube length.

3.1.89.3

objective-locating surface of the nosepiece

surface of the nosepiece (3.1.103) which locates the objective (3.1.106) at a given level and is coincident with the locating flange of the objective (3.1.89.4)

Note 1 to entry: The objective-locating surface is one of the reference planes determining the mechanical tube length, the parfocalizing distance of the objective, and the objective to primary image distance.

3.1.89.4

locating flange of the objective

objective shoulder

surface of an objective (3.1.106) which locates it at a given level which is the objective-locating surface of the nosepiece (3.1.89.3)

Note 1 to entry: The locating flange of the objective is one of the reference planes determining the mechanical tube length and parfocalizing distance of the objective.

3.1.90

magnification

process of changing the apparent dimensions of an object (3.1.104) by optical techniques, or the numerical expression of the result of this

Note 1 to entry: The type of magnification such as visual or lateral should always be specified.

Note 2 to entry: The more general term magnifying power as a measure of the ability of an optical system to produce visual magnification and lateral magnification under specified operating conditions has been replaced in this document by “magnification”, due to the more established use of this term in practical work.

3.1.90.1

magnification of an eyepiece

ME

visual magnification (3.1.90.10) at the virtual image (3.1.75.4) formed from the primary image (3.1.75.2) by the eyepiece (3.1.52)

Note 1 to entry: The value of the magnification of an eyepiece is the ratio of the reference viewing distance to the focal length of the eyepiece, i.e.

where
MEis the visual magnification of the eyepiece;
fEis the focal length of the eyepiece in millimetres;
250is the reference viewing distance in millimetres.

3.1.90.2

total magnification of a microscope used to produce a real image

MTOT PROJ

lateral magnification (3.1.90.8) at the real image (3.1.75.3)

Note 1 to entry: The value of the total magnification of a microscope used to produce a real image using a normal eyepiece intended for visual observation, or a photographic projection lens, whose projection factor has been calculated, is given by the product of the magnification of the objective, the total tube factor, the magnification of the eyepiece and the projection factor, i.e.

where
MTOT PROJis the total (lateral) magnification of the microscope;
MOis the magnification of the objective;
Qis the total tube factor;
MEis the (visual) magnification of the eyepiece;
Pis the projection factor.
Note 2 to entry: The value of the total magnification of a microscope used to produce a real image using a specially designed photographic lens is given by the product of the magnification of the objective, the total tube factor and the magnification of the photographic projection lens, i.e.

where
MTOT PROJis the total (lateral) magnification of the microscope;
MOis the magnification of the objective;
Qis the total tube factor;
MPHOTis the (lateral) magnification of the photographic projection lens.

3.1.90.3

total visual magnification of a microscope used for visual observation

MTOT VIS

visual magnification (3.1.90.10) at the virtual image (3.1.75.4) formed by the microscope (3.1.99)

Note 1 to entry: The value of the visual magnification of a microscope is given by the product of the magnification of the objective, the total tube factor and the visual magnification of the eyepiece, i.e.

where
MTOT VISis the total (visual) magnification of the microscope;
MOis the magnification of the objective;
qis the total tube factor;
MEis the (visual) magnification of the eyepiece.

3.1.90.4

magnification of an objective with finite primary image distance

MO

lateral magnification (3.1.90.8) at the primary image (3.1.75.2) formed at the distance from the objective (3.1.106) specified in the design of the objective

Note 1 to entry:MO should be expressed in proportional form, e.g. 10:1.

3.1.90.5

magnification of an objective with infinite primary image distance, in combination with the normal tube lens

MO∞

lateral magnification (3.1.90.8) at the real image (3.1.75.3) produced by the combination of the objective (3.1.106) and the normal tube lens (3.1.87.10.1) (the tube lens with which the objective is designed to operate)

Note 1 to entry: The value of the magnification of an objective corrected for an infinite primary image distance is given by the ratio of the focal length of the normal tube lens to that of the objective, i.e.

where
MO∞is the magnification of the objective corrected for an infinite primary image distance;
fNTLis the focal length of the normal tube lens in millimetres;
fO∞is the focal length of the objective in millimetres;
MO∞should be expressed in numerical form with the multiplication sign, e.g. ×10.

3.1.90.6

axial magnification

ratio between a given axial distance in image space (3.1.76) and the corresponding distance in object space (3.1.105)

3.1.90.7

empty magnification

magnification (3.1.90) greater than the useful range of magnification (3.1.90.9)

Note 1 to entry: Exceeding the range of useful magnification gives no further information about the object, but sharpness and contrast appear to decrease.

3.1.90.8

lateral magnification

ratio of a given distance in the real image (3.1.75.3) normal to the optical axis (3.1.107) to the corresponding distance in the object (3.1.104)

Note 1 to entry: This ratio should be expressed in proportional form, e.g. 10:1.

3.1.90.9

useful range of magnification for visual observation

range of total visual magnifications (3.1.90.3) within which details in the object (3.1.104) are clearly seen in the image (3.1.75)

Note 1 to entry: The value of this range is usually taken to lie between 500 and 1 000 times the numerical aperture of the objective. When the total visual magnification is less than the lower limit, the resolving power of the objective cannot be fully utilized; when the total visual magnification exceeds the upper limit, empty magnification occurs. This phenomenon is due to the resolving properties of the eye, generally assumed to be between 2 and 4 minutes of arc.

3.1.90.10

visual magnification

ratio of the tangent of the viewing angle (3.1.147) of the object (3.1.104) when observed through a magnifying system with the image (3.1.75) at infinity, to that of the object when observed by the naked eye at the reference viewing distance (3.1.124) (250 mm)

Note 1 to entry: This ratio should be expressed in numerical form with the multiplication sign, e.g. ×10.

3.1.91

magnification changer

intermediate lens (3.1.87.7) for changing the lateral magnification (3.1.90.8) of the primary image (3.1.75.2)

Note 1 to entry: The effect of a magnification changer is expressed as a tube factor, which may be varied step by step or continuously. In the case of an infinity-corrected objective, the same effect may be achieved by exchanging the tube lens for another of different focal length.

3.1.92

magnifier

converging lens (3.1.87) used between an object (3.1.104) and the eye to increase the viewing angle (3.1.147) and hence to provide a magnified image (3.1.75) on the retina of the eye

3.1.92.1

focusing magnifier

adjustable magnifier (3.1.92) used to help in the precise focusing (3.1.67) of an image (3.1.75) in photography and photomicrography (3.1.115)

3.1.93

marking of optical components

inscribing of data in the form of characters or colour bands onto optical components in order to indicate their optical properties, values of certain properties and the origin of a component

Note 1 to entry: Details are given in ISO 8578.

3.1.93.1

colour marking of objectives

marking (3.1.93) of objectives (3.1.106) by means of coloured rings and/or engraving to denote properties according to a colour code of objectives (3.1.93.1.1)

3.1.93.1.1

colour code of objectives

system of colour marking of objectives (3.1.93.1) by means of coloured bands applied to the mount of an objective (3.1.106) indicating a range of magnification (3.1.90) and other properties

Note 1 to entry: The colours may be assigned from black, through the spectrum from red to violet, and white to denote increasing magnification, as detailed in ISO 8578.

3.1.94

micrograph

record of an image (3.1.75) formed by a microscope (3.1.99)

3.1.95

micromanipulator

instrument which allows fine manipulation of components of a preparation by means of mechanical reduction of the movements of the hand whilst they are observed with a microscope (3.1.99)

3.1.96

micrometer

device for measuring small lengths

3.1.96.1

stage micrometer

special graticule (3.1.70) in the form of a scale carried at natural size on a microscope (3.1.99) slide (3.1.134) which is used as an absolute standard of length for calibrating microscope measuring systems

3.1.97

microphotography

photography, especially of documents, arranged to produce small images (3.1.75) which cannot be studied without magnification (3.1.90)

Note 1 to entry: Not to be confused with photomicrography.

3.1.98

microprojector

microscope (3.1.99) designed or adapted to project a magnified image (3.1.75) onto a screen (3.1.132) for demonstration or drawing

3.1.99

microscope

instrument designed to extend visual capability, i.e. to make visible minute detail that is not seen with the unaided eye

Note 1 to entry: The word is qualified by prefixes (electron, X-ray, acoustic, field-ion, etc.) unless it is clear from the context that the imaging involved is by means of light.

3.1.99.1

binocular microscope

compound microscope (3.1.99.3) in which a separate image (3.1.75) is presented to each of the observer's eyes simultaneously

Note 1 to entry: There are two types of binocular microscope: those in which, by the use of a special viewing tube and beam splitter, both eyes are presented with identical images, and stereomicroscopes.

3.1.99.2

comparison microscope

system of two microscopes (3.1.99) , optically linked to present their images (3.1.75) into one field (3.1.54)

Note 1 to entry: The image field is usually split so that the image from each microscope is seen in the corresponding half of the field enabling, for example, the fine details of two similar specimens to be compared.

3.1.99.3

compound microscope

microscope (3.1.99) in which the primary image (3.1.75.2) is generated by an objective (3.1.106) , or an objective and a tube lens (3.1.87.10) , and is observed through an eyepiece (3.1.52)

3.1.99.4

dissecting microscope

low-power microscope (3.1.99) of long free working distance (3.1.69) used for dissecting

Note 1 to entry: This is nowadays generally a stereomicroscope.

3.1.99.5

fluorescence microscope

microscope (3.1.99) in which the image (3.1.75) is formed by light (3.1.88) emitted by fluorescence (3.1.58) from the object (3.1.104) itself, and/or from a fluorochrome (3.1.60)

Note 1 to entry: The object may be regarded as self-luminous and the light emitted is not coherent.

3.1.99.6

infrared microscope

microscope (3.1.99) in which the image (3.1.75) is formed with infrared radiation (3.1.123.1) and is displayed by means of a photographic or electronic device

Note 1 to entry: Microscopy using near infrared radiation may be performed with a conventional microscope; microscopy in the far infrared requires special equipment.

3.1.99.7

inverted microscope

microscope (3.1.99) in which the object (3.1.104) is observed from beneath the stage (3.1.136)

3.1.99.8

light microscope

microscope (3.1.99) which uses light (3.1.88) as the illuminating agent

Note 1 to entry: This term is often loosely used to include ultraviolet microscopes and infrared microscopes.

3.1.99.9

monocular microscope

microscope (3.1.99) which presents the image (3.1.75) to only one eye

3.1.99.10

polarized-light microscope

microscope (3.1.99) specially designed or additionally equipped for polarized-light (3.1.88.1) microscopy

Note 1 to entry: In its fullest form it has a polarizer, analyser, strain-free lenses between the polars, a rotating stage equipped with a scale to measure rotation angles, a mechanism for centration of the stage and/or the objectives and a focusable eyepiece with centred and oriented cross lines. There is also a Bertrand lens and a tube slot for the insertion of retardation plates and compensators. A polarized-light microscope for reflected light is sometimes known as an “ore microscope”.

3.1.99.11

reflected-light microscope

microscope (3.1.99) which uses epi-illumination (3.1.73.2)

3.1.99.12

scanning optical microscope

microscope (3.1.99) specially designed to scan the object plane (3.1.117.5) or image plane (3.1.117.3) in a raster pattern

Note 1 to entry: Light signals at discrete and uniform intervals are received from the object by a photoelectric sensor and displayed on a screen or stored for further processing. The image is thus built up serially. There are two techniques of scanning: one is based on movement of the illuminating beam with the object remaining stationary, the other on the movement of the object, the beam remaining stationary. The instrument may be operated in the confocal imaging mode.

3.1.99.13

simple microscope

microscope (3.1.99) consisting of only one lens (3.1.87) , the objective (3.1.106)

3.1.99.14

stereomicroscope

binocular microscope (3.1.99.1) in which the object (3.1.104) is observed by each eye from a slightly different angle, such that disparate image (3.1.75) points will be imaged on corresponding points of the retina and thus cause stereoscopic perception

Note 1 to entry: The Greenough microscope has two completely separate optical systems inclined at a particular convergence angle with respect to each other with prisms and/or mirrors to give an erect image. More recent systems use a common main objective whereby the convergence angle of both paths of rays is achieved by dividing the pupil in the back focal plane of the objective.

3.1.99.14.1

Greenough microscope

original design of low-power stereomicroscope (3.1.99.14) due to Greenough, consisting of two separate compound microscope (3.1.99.3) systems mounted with their axes converging at an angle of between 10° and 15°, so that they observe a common object field (3.1.54.4) and in which prisms (3.1.119) and/or mirrors are fitted to erect the image (3.1.75) and usually to incline the viewing tubes (3.1.144.6)

3.1.99.15

ultraviolet microscope

microscope (3.1.99) in which the image (3.1.75) is formed with ultraviolet radiation (3.1.123.3) and is displayed and recorded by means of a photographic or electronic device

Note 1 to entry: The well-corrected conventional microscope with high transmittance in ultraviolet region may perform microscopy using the near ultraviolet; microscopy in the far ultraviolet requires special equipment.

3.1.100

microscope base

part of the microscope (3.1.99) stand which rests on the work table and to which the other parts of the instrument are attached

Note 1 to entry: In modern instruments, the base may contain parts of the illuminating system.

3.1.101

monochromat

lens (3.1.87) in which the change of focal length (3.1.61) with wavelength is uncorrected, and aberrations (3.1.4) are minimized for only one wavelength

Note 1 to entry: The term is usually used to describe an objective made of fused silica and designed to operate at a specific wavelength in the ultraviolet.

3.1.102

mounting medium

liquid, synthetic resin or other medium in which the object (3.1.104) or objects are placed for investigation with the microscope (3.1.99)

Note 1 to entry: For transmitted-light microscopy, this medium is transparent, colourless and of specified refractive index, enclosed between the slide and the cover glass. For reflected-light microscopy, the mounting medium is normally a resin with which the sample is impregnated so that a polished section may be made.

3.1.103

nosepiece

part of the body tube (3.1.144.2) which carries the objective (3.1.106)

3.1.103.1

centring nosepiece

nosepiece (3.1.103) equipped with a centring mechanism which allows the position of the objective (3.1.106) to be adjusted laterally until its optical axis (3.1.107) coincides with the rotation axis of a rotating stage (3.1.136.7)

3.1.103.2

revolving nosepiece

nosepiece (3.1.103) with a rotating turret which facilitates changing objectives (3.1.106)

3.1.104

object

anything from which an image (3.1.75) is formed

3.1.104.1

object marker

accessory which may be fitted to the nosepiece (3.1.103) which, when moved to replace the objective (3.1.106) , will mark an area of interest on an object (3.1.104) or preparation

3.1.105

object space

space on that side of an optical system where the object (3.1.104) is located

Note 1 to entry: In reflection or formation of a virtual image, this space may coincide with the image space.

3.1.106

objective

first part of the imaging system, consisting of a lens (3.1.87) , its mount and any associated parts, which forms a primary image (3.1.75.2) of the object (3.1.104) , either alone or in conjunction with a tube lens (3.1.87.10)

3.1.106.1

dry objective

objective (3.1.106) where the medium between the front lens (3.1.87) and the cover glass (3.1.34) , or an uncovered object (3.1.104) , is air

3.1.106.2

finite primary image distance objective

objective (3.1.106) corrected for a finite object to primary image distance (3.1.80.2.2) and which alone is capable of forming the primary image (3.1.75.2)

3.1.106.3

infinity-corrected objective

objective (3.1.106) corrected for an infinite object to primary image distance (3.1.80.2.2) and which, therefore is used with a tube lens (3.1.87.10)

Note 1 to entry: When combined with its normal tube lens of appropriate focal length, such an objective obtains its nominal magnification.

3.1.106.4

long-working-distance objective

objective (3.1.106) designed to have a longer free working distance (3.1.69) than a conventional objective of the same magnification (3.1.90)

3.1.106.5

plan objective

flat-field objective

objective (3.1.106) so corrected that the flattening of the curvature of the image field (3.1.4.4) in the primary image plane (3.1.117.4) is emphasized in addition to the correction (3.1.33) of other aberrations (3.1.4)

Note 1 to entry: This term does not imply any degree of correction for other aberrations.

3.1.106.6

spring-loaded objective

objective (3.1.106) so constructed that the front lens (3.1.87) and its mount will retract against a spring when brought into contact with the object (3.1.104) or an obstruction, thus preventing damage to either object or objective

3.1.106.7

screw thread for objective

screw thread for connecting a microscope (3.1.99) objective (3.1.106) to the nosepiece (3.1.103)

Note 1 to entry: Dimensions are given in ISO 9345.

3.1.106.7.1

RMS thread

screw thread for objective (3.1.106.7) , originally standardized by the Royal Microscopical Society

3.1.106.8

objective spectral transmittance by design

OSTD

spectral transmittance calculated under the following conditions:
  • a) on-axis light (3.1.88) path;
  • b) internal absorption of transparent materials according to specifications by the materials manufacturer is included;
  • c) reflectance of thin film coatings on optical surfaces (3.1.25) according to their nominal value is included;
  • d) internal absorption and surface reflectance of immersion media and specimen covering is neglected

Note 1 to entry: For more information on spectral transmittance see ISO 19012-3.

3.1.107

optical axis

imaginary line joining the centres of curvature of lens (3.1.87) surfaces of an optical system or sub-system

3.1.108

optical path length

optical distance

product of the geometrical length of an optical path in a homogeneous medium and the refractive index (3.1.125) of the medium containing that path

Note 1 to entry: The optical path length is expressed either in length units or as a fraction or multiple of a given wavelength. When the medium is inhomogeneous it is the sum or integral of the product of the geometrical lengths and refractive indices of the parts.

3.1.108.1

optical path length difference

OPD

difference in optical path length (3.1.108) between two optical paths due to differences in geometrical length, refractive index (3.1.125) , or both. The OPD is expressed in length units or wavelengths

3.1.109

parfocal

having the state that once any lens (3.1.87) of a set which can be an objective (3.1.106) , a tube lens (3.1.87.10) or an eyepiece (3.1.52) , has been focused on to the object (3.1.104) or adjusted so that the image (3.1.75) lies at its correct level, if this lens is exchanged for any others in that set at a constant setting of the microscope (3.1.99) , only minimal readjustment of focus (3.1.65) may be necessary to restore sharpness

Note 1 to entry: A small readjustment may be needed, however, because of the accommodation which may take place in the eyes of an observer. Tolerances for parfocality are given in ISO 9345.

3.1.110

phase

relative position in a cyclical or wave motion which is expressed as an angle, one cycle corresponding to 2π radians or 360°

Note 1 to entry: The term “in phase” corresponds to phase angles between the two occurrences of 0 and 2π radians (360°) or a whole number multiple of these.

3.1.110.1

phase difference

phase (3.1.110) angle or fraction or number of wavelengths by which one periodic disturbance or wave lags behind or precedes another in time or space

Note 1 to entry: The phase difference is related to the optical path length difference OPD and the wavelength, λ, by the formula:
phase difference = 2π LOPD/λ
where
LOPDis the optical path length difference (OPD) (3.1.108.1) ;
λis the wavelength

3.1.111

phase object

object (3.1.104) which produces a phase difference (3.1.110.1) between the direct light (3.1.45) and the diffracted light (3.1.40) , but has a small or negligible effect on the amplitude

3.1.112

phase plate

optical device used in phase contrast (3.1.32.4) microscopy which influences differently the phase (3.1.110) and amplitude of the direct light (3.1.45) and diffracted light (3.1.40)

Note 1 to entry: The phase plate is placed in the back focal plane of the objective (or in the plane of a succeeding image of it), where it receives an image of a diaphragm (usually annular) positioned in the front focal plane of the condenser.

3.1.113

photomacrography

production of a photographic image (3.1.75) of an object (3.1.104) with a reproduction ratio in the image between 1:1 to about 15:1

3.1.114

photomicrograph

photographic record of an image (3.1.75) formed by a microscope (3.1.99)

3.1.115

photomicrography

recording by photography of an image (3.1.75) formed by a microscope (3.1.99) ; i.e. photography through a microscope

Note 1 to entry: Not to be confused with microphotography.

3.1.116

pixel

smallest element of the digital image (3.2.13) to which attributes are assigned

3.1.116.1

pixel size

shortest distance from the centre of one pixel (3.1.116) to the centre of an adjacent pixel measured in object space (3.1.105)

3.1.117

plane

imaginary surface normal to the optical axis (3.1.107)

3.1.117.1

aperture plane

pupil plane

plane (3.1.117) containing the pupil (3.1.122) of an optical system and any plane conjugate (3.1.29) with it

Note 1 to entry: A diaphragm inserted in an aperture plane will act as an aperture diaphragm.

3.1.117.2

field plane

object plane (3.1.117.5) and any plane conjugate (3.1.29) with it

Note 1 to entry: A diaphragm inserted in a field plane will act as a field diaphragm.

3.1.117.3

image plane

any field plane (3.1.117.2) in which an image (3.1.75) is situated

3.1.117.4

primary image plane

image plane (3.1.117.3) in which the primary image (3.1.75.2) is formed

Note 1 to entry: The primary image plane is important as one of the reference planes for the optical interfacing dimensions.

3.1.117.5

object plane

that field plane (3.1.117.2) in which the object (3.1.104) is situated

Note 1 to entry: The object plane is important as one of the reference planes for the optical interfacing dimensions.

3.1.117.6

reference plane

surface of a microscope (3.1.99) component or a plane (3.1.117) in the light (3.1.88) path of the microscope, used as a limit for one of the optical interfacing dimensions (3.1.80.2)

3.1.118

polar

device which selects plane-polarized light (3.1.88.1.2) from natural light (3.1.88)

3.1.118.1

analyser

polar (3.1.118) used after the object (3.1.104) to determine optical effects produced by the object on the light (3.1.88) , polarized or otherwise, with which it is illuminated

Note 1 to entry: It is usually positioned between the objective and the primary image plane.

3.1.118.2

crossed polars

state in which the polarization directions of the polars (3.1.118) ( polarizer (3.1.118.4) and analyser (3.1.118.1) ) are mutually perpendicular

3.1.118.3

parallel polars

state in which the polarization directions of the polars (3.1.118) [ polarizer (3.1.118.4) and analyser (3.1.118.1) ] are parallel

3.1.118.4

polarizer

polar (3.1.118) placed in the light (3.1.88) path before the object (3.1.104)

3.1.119

prism

block of transparent material limited by at least two intersecting planes, used to disperse light (3.1.88) or deviate it through an angle

3.1.119.1

Nicol prism

type of polarizing prism (3.1.119.3)

3.1.119.2

Nomarski prism

form of Wollaston prism (3.1.119.4) , introduced by Nomarski, in which the crystal axis of one of the wedges is tilted

Note 1 to entry: The Nomarski prism has the effect of shifting the point of intersection of the two beams so that it lies outside the prism. In effect this enables recombination of the beams to occur at the back focal plane of the objective, while the prism itself lies beyond this plane. Prisms of similar design may also be used in the condenser.

3.1.119.3

polarizing prism

double prism (3.1.119) formed from two pieces of double-refracting material, which acts by refraction and total internal reflection or by refraction only

EXAMPLE:

The double refracting material can be calcite, quartz or one of these plus a piece of glass, cemented together.

Note 1 to entry: The polarizing prism splits a beam of natural light into two beams of plane-polarized light having mutually perpendicular vibration directions and being propagated in two different directions. When one of these beams is removed, e.g. by absorption, the prism acts as a polar, otherwise it may be used as a beam-splitter. Many types of polarizing prism exist, most known by the name of their originator, e.g. Glan-Thompson, Nicol.

3.1.119.4

Wollaston prism

double prism (3.1.119) formed from two pieces of double-refracting material, which can be calcite or quartz, which acts by refraction and splits one beam of plane-polarized light (3.1.88.1.2) into two beams of plane-polarized light having mutually perpendicular vibration directions, propagated in two different directions

3.1.120

projection factor

p

factor by which the total magnification of a microscope (3.1.90.2) is changed when forming a real image (3.1.75.3) of the object (3.1.104) onto a detecting device such as a photographic emulsion in a camera

Note 1 to entry: The image can be formed in different ways:
  • a) Using a normal eyepiece intended for visual observation, together with an infinity-corrected camera lens focused at infinity, the value of the projection factor is given by:

where
pis the projection factor;
fPROJis the focal length of the camera lens in millimetres;
250is the reference viewing distance.
  • b) Using only a normal eyepiece intended for visual observation, the value of the projection factor is given by:

where
pis the projection factor;
ais the distance from the back focal plane of the eyepiece to the projected image in millimetres;
250is the reference viewing distance.
  • c) Using a projection lens. A projection lens can be assigned a magnification for producing a real image in a given plane. The value of the magnification of the projection lens, MPHOT, is used to calculate the total magnification of the microscope used to produce the real image.

3.1.121

projection lens

lens (3.1.87) which forms a real image (3.1.75.3) , at a finite distance, of the microscope’s (3.1.99) primary image (3.1.75.2) and which is used for projection, drawing, photomicrography (3.1.115) and video purposes

Note 1 to entry: A projection lens may take the form of a
  • positive or converging lens positioned between the primary image and the projected image,
  • positive or converging lens positioned in front of both images,
  • negative or diverging lens positioned in front of both images.

3.1.122

pupil

minimum common cross-section of all ray bundles both in object space (3.1.105) (the entrance pupil) and in image space (3.1.76) (the exit pupil) of a lens (3.1.87)

Note 1 to entry: This term may indicate an aperture or the image of an aperture.

3.1.122.1

entrance pupil of the microscope

image (3.1.75) of the objective’s (3.1.106) aperture diaphragm (3.1.38.1) at infinity (except in the case of certain low-magnification objectives) in object space (3.1.105)

Note 1 to entry: If the microscope has an illuminating system, any plane conjugate with the microscope entrance pupil can also be called the entrance pupil of the entire microscope.

3.1.122.2

exit pupil of the microscope

eyepoint

area lying in a plane (3.1.117) several millimetres after the eyepiece (3.1.52) on the observer's side where an image (3.1.75) of the objective’s (3.1.106) exit pupil (3.1.122) is formed by the eyepiece together with any intermediate lenses (3.1.87.7)

Note 1 to entry: The exit pupil of the microscope is important because its position and size dictate the position of the pupil of the observer's eye and the nature of other succeeding optical systems such as cameras.

3.1.123

radiation

energy in the form of electromagnetic waves or particles

3.1.123.1

infrared radiation

radiation (3.1.123) in which the wavelengths of its components are longer than those for visible light (3.1.88) and less than about 1 mm

3.1.123.2

monochromatic radiation

radiation (3.1.123) consisting of only a single wavelength, or of only a very narrow band of wavelengths of which the central wavelength is quoted

3.1.123.3

ultraviolet radiation

radiation (3.1.123) in which the wavelengths of its components are shorter than those of visible light (3.1.88) and longer than about 100 nm

3.1.124

reference viewing distance

internationally agreed standardized distance of 250 mm between an object (3.1.104) and the vertex of the cornea of the eye

Note 1 to entry: This term supersedes the older “nearest distance of distinct vision” in optical calculations.

3.1.125

refractive index

norn '

ratio of the speed of light (3.1.88) (more exactly, the phase velocity) in a vacuum to that in a given medium

3.1.126

relief

<surface> differences in height of a surface, e.g. of a flat sculpture

Note 1 to entry: When illuminated from one side, such an object shows a characteristic distribution of light and shadow which enables the observer to recognize the three-dimensional form of the object.

3.1.127

relief

<contrast techniques> light (3.1.88) distribution appearing in microscopy using azimuthal methods like oblique illumination (3.1.73.4) , relief contrast (3.1.32.5) , differential interference contrast (3.1.32.2.1) or modulation contrast (3.1.32.3) at the interfaces of object (3.1.104) elements with different optical path length (3.1.108) , even when no geometrical relief (3.1.126) exists

Note 1 to entry: In this case, the light distribution appears similar to that produced by a genuine relief. Take care to avoid misinterpreting optical path length differences as being geometrical ones. A further misinterpretation of relief may be caused by inversion.

3.1.128

resolution

result of displaying fine details in an image (3.1.75)

Note 1 to entry: The term “resolution” sometimes refers to its quantitative expression, the resolved distance.

Note 2 to entry: When used without any qualification, this term refers to distances at right angles to the optical axis.

3.1.128.1

lateral resolution

resolution (3.1.128) perpendicular to the optical axis (3.1.107)

3.1.128.2

minimum resolvable distance

smallest separation of points in an object (3.1.104) which can be recognized as distinct in an image (3.1.75)

Note 1 to entry: In microscopy this is normally expressed in units of length (µm or nm).

3.1.128.3

resolved distance

distance equal to or greater than the minimum resolvable distance (3.1.128.2)

3.1.128.4

resolving power

ability to make points or lines which are closely adjacent in an object (3.1.104) distinguishable in an image (3.1.75)

Note 1 to entry: High resolving power implies that the resolved distance is small.

3.1.128.5

axial resolution

resolution (3.1.128) in the direction of the optical axis (3.1.107)

3.1.128.4.1

diffraction limit of resolving power

diffraction limit

fundamental limitation imposed upon the resolving power (3.1.128.4) of a system by the phenomenon of diffraction (3.1.41) alone and not by aberrations (3.1.4)

3.1.129

retardation

difference in optical path length (3.1.108) expressed in wavelengths, length units or phase angles between two mutually perpendicular plane-polarized light (3.1.88.1.2) waves

3.1.130

retardation plate

compensator

piece, or pieces, of optically anisotropic (3.1.8) material with plane faces, inserted between crossed polars (3.1.118.2) in a diagonal position to produce a specific optical path length difference (3.1.108.1) between mutually perpendicular plane-polarized light (3.1.88.1.2) waves

3.1.131

scale bar

line of calculated length drawn on a micrograph (3.1.94) to indicate the length in the micrograph of a stated length in the object (3.1.104)

3.1.132

screen

reflecting or translucent surface on which a real image (3.1.75.3) may be formed and observed

3.1.133

semi-apochromat

fluorite objective

objective (3.1.106) intermediate in its correction (3.1.33) and complexity of construction between achromats (3.1.6) and apochromats (3.1.13)

3.1.134

slide

flat rectangular plate of glass on which an object (3.1.104) is mounted for microscopical examination

Note 1 to entry: For calculation and correction of the condenser, it is regarded as part of the condenser, so that its thickness, refractive index and dispersion must be adapted to the demands of the condenser. These parameters together with its length and width are defined by ISO 8037-1.

3.1.135

source

source of radiation (3.1.123)

3.1.135.1

point source

source whose dimensions are sufficiently small to cause the emitted radiation (3.1.123) to have a very high degree of coherence

3.1.136

stage

microscope stage

platform, at right angles to the optical axis (3.1.107) of the microscope (3.1.99) , which carries the object (3.1.104) and which is often fitted with mechanical movements [as in a mechanical stage (3.1.136.6) ] to allow easy positioning of the object in the x- and y-axes, and movement along, and rotation about, the z-axis

3.1.136.1

centring stage

rotating stage (3.1.136.7) fitted with provision for bringing its axis of rotation into coincidence with the optical axis (3.1.107) of the microscope (3.1.99)

3.1.136.2

cooling stage

stage (3.1.136) fitted with means for lowering the temperature of the object (3.1.104)

3.1.136.3

gliding stage

movable stage (3.1.136) consisting of two flat plates, the upper of which can be moved smoothly in all directions in the x-y plane over the lower one, which is fixed to the stand (3.1.138)

Note 1 to entry: The ease of movement is regulated by the viscosity of the layer of grease which is used to connect the two plates.

3.1.136.4

heating stage

stage (3.1.136) fitted with means for raising the temperature of the object (3.1.104)

3.1.136.5

levelling stage

stage (3.1.136) designed to hold a polished section so that its surface is normal to the optical axis (3.1.107) of the microscope (3.1.99)

3.1.136.6

mechanical stage

stage (3.1.136) fitted with screw or rack mechanisms to assist in precise translational movement of the object (3.1.104) in the x and y directions

Note 1 to entry: The stage may be manually or motor operated, attachable, or built into the microscope stand. In computer-controlled microscopes, motors are used to drive the stage.

3.1.136.7

rotating stage

stage (3.1.136) fitted with means for rotating the object (3.1.104) with respect to the optical axis (3.1.107) of the microscope (3.1.99) which may or may not be centrable and/or calibrated for measuring angles of rotation

3.1.136.8

scanning stage

mechanical stage (3.1.136.6) electronically or electrically controlled to move the object (3.1.104) in steps or continuously in a raster fashion

3.1.136.9

universal stage

device mounted on a rotating stage (3.1.136.7) and equipped with a gimbal mechanism for movement of the object (3.1.104) , which enables the effect of optical anisotropy to be investigated at any direction of illumination (3.1.73) or observation

Note 1 to entry: The movements comprise calibrated tilting and rotation around three or four axes (according to the type of stage) in addition to the usual movements of the microscope stage.

3.1.137

stage clip

flat spring used to hold a slide (3.1.134) in contact with the microscope (3.1.99) stage (3.1.136)

Note 1 to entry: The use of stage clips facilitates the precise movement of a slide with the fingers.

3.1.138

stand

microscope stand

chassis on which the mechanical and optical parts of the microscope (3.1.99) are carried

3.1.139

stop

diaphragm (3.1.38) , usually of fixed size

Note 1 to entry: This term is often used loosely.

3.1.140

strain-free

property of a lens (3.1.87) intended for use with the polarized-light microscope (3.1.99.10) , manufactured by careful selection and mounting of its component parts so that double refraction (3.1.48) due to strain is minimized

3.1.141

substage

assembly of mechanical and opto-mechanical parts attached to the stand (3.1.138) of a transmitted-light microscope (3.1.99) before the stage (3.1.136) , consisting of the condenser (3.1.28) with its carrier and, optionally, a filter (3.1.55) tray, a polarizer (3.1.118.4) with its carrier and/or auxiliary lenses (3.1.87) with their carriers

3.1.142

temporal resolution

smallest time interval between sequential digital (3.2.13) or electronic images (3.2.14) from which independent information can be obtained

3.1.143

test object

object (3.1.104) designed to assess the performance of a microscope (3.1.99) system, e.g. Abbe test plate (3.1.1) , diatom preparation

3.1.144

tube

part of the microscope (3.1.99) which connects the objective (3.1.106) and the eyepiece (3.1.52)

Note 1 to entry: In early microscopes, the tube was in the form of a hollow cylinder carrying at one end the objective-locating surface and at the other the eyepiece -locating surface. In microscopes of more recent design, the tube may be divided into two or more sections or housings, one or more being attached to the stand. The housings may not be cylindrical but shaped to offer the most convenient manipulation of the included opto-mechanical elements. In the case of a reflected-light microscope, that part of the epi-illuminator, which is situated between the nosepiece and the primary image plane, is considered to be part of the tube.

3.1.144.1

binocular tube

viewing tube (3.1.144.6) designed to accept two eyepiece (3.1.52) for binocular viewing

3.1.144.2

body tube

part of the tube (3.1.144) , fixed to or incorporated into the stand (3.1.138) , containing the nosepiece (3.1.103) on one side and carrying the intermediate tube (3.1.144.3) or viewing tube (3.1.144.6) on the other

Note 1 to entry: For certain purposes, the body tube may contain optical or opto-mechanical elements, e.g. intermediate lenses, beamsplitter, magnification changer, reflector or epi-illuminator, Bertrand lens, mechanisms for operating filters, retardation plates, etc. For work with infinity-corrected objectives, it may contain the tube lens.

3.1.144.3

intermediate tube

optional part of the tube (3.1.144) which is a housing, either integral with the stand (3.1.138) or exchangeable, forming part of the tube and containing some opto-mechanical elements

EXAMPLE:

Magnification changer, filter tray, Bertrand lens, analyser, slots for holding retardation plates, beamsplitter, etc.

3.1.144.4

monocular tube

viewing tube (3.1.144.6) designed to accept only one eyepiece (3.1.52)

3.1.144.5

trinocular tube

viewing tube (3.1.144.6) designed to accept two eyepieces (3.1.52) for binocular viewing, together with a third eyepiece or other lens (3.1.87) to enable simultaneous and/or alternate viewing and other use of the image (3.1.75)

3.1.144.6

viewing tube

part of the tube (3.1.144) equipped to carry one or more eyepieces (3.1.52) , limited at one end by the eyepiece-locating surface (3.1.89.2) and at the other by the body tube (3.1.144.2) locating surface (3.1.89)

Note 1 to entry: For use with infinity-corrected objectives, it may contain the tube lens.

3.1.145

tube length

distance between mechanical and/or optical surfaces or planes (3.1.117) in the tube (3.1.144) of a microscope (3.1.99)

3.1.145.1

mechanical tube length

distance in air between the objective-locating surface of the nosepiece and the eyepiece-locating surface of the viewing tube

Note 1 to entry: It is the length of the tube in its simplest form without any intermediate lenses for objectives corrected for a finite primary image distance.

Note 2 to entry: It commonly has a value of 160 mm. See ISO 9345.

Note 3 to entry: For infinity-corrected objectives, the mechanical tube length is hypothetically considered to be infinite.

3.1.145.2

optical tube length

distance between the back focal plane (3.1.62.1) of the objective (3.1.106) and the primary image plane (3.1.117.4)

Note 1 to entry: This distance is not one of the optical interfacing dimensions of the microscope and is relevant only to tubes fitted with finite primary image distance objectives.

3.1.146

tube factor

q

factor by which the lateral magnification (3.1.90.8) at the primary image (3.1.75.2) is changed by an intermediate lens (3.1.87.7) or lens (3.1.87) system inserted between the objective (3.1.106) and the primary image

Note 1 to entry: Intermediate lenses can be fixed, interchangeable, or associated with accessories having their own tube factors. The total tube factor is the product of individual factors of the intermediate lenses. In the case of objectives corrected for infinite primary image distance, the value of the tube factor of a tube lens used instead of the normal tube lens, with which the objective is designed to operate, is given by the ratio of its focal length to that of the normal tube lens, i.e.

where
qis the total tube factor;
ftlis the focal length of the tube lens in millimetres;
fNTLis the focal length of the normal tube lens in millimetres.

3.1.147

viewing angle

angle subtended by an object (3.1.104) or a field (3.1.54) at the eye

3.1.147.1

angle of view

<eyepiece> angle between two principal rays coming from opposite points on the margin of the visual field diaphragm (3.1.38.8) of the eyepiece (3.1.52) and passing through the centre of the exit pupil of the microscope (3.1.122.2)

Note 1 to entry: The extent of the retina covered by the image is governed by this angle.

3.1.148

zoom

property of an optical system signifying that its focal length (3.1.61) and magnification (3.1.90) can be changed continuously between limits by moving a single lens (3.1.87) or group of lenses without altering the positions of the object planes (3.1.117.5) or image planes (3.1.117.3)

3.2 Terms and definitions relating to advanced techniques in light microscopy

3.2.1

acousto-optical modulator

electronically-tunable device used to control the direction and/or intensity (3.1.79) of a laser (3.1.86) by an acoustically-induced diffraction grating (3.1.42) in a crystal

3.2.2

acousto-optical tunable filter

AOTF

electronically-tunable filter (3.1.55) for selection of wavelengths by an acoustically-induced diffraction grating (3.1.42) in a crystal

3.2.3

aliasing

phenomenon caused by sampling at too low a frequency (i.e. lower than the Nyquist frequency) resulting in the loss of information and/or the creation of spurious information

3.2.4

autofocus

method of bringing an object (3.1.104) automatically into focus (3.1.65) , controlled by an imaging software algorithm and/or a hardware device that detects the object position

3.2.5

background subtraction

removal of that part of the signal that is present in the absence of the object (3.1.104) , to reveal underlying image (3.1.75) information

3.2.6

binning

mode of operation of an image sensor where the charge of adjacent pixels (3.1.116) is accumulated and is read out as a single value

3.2.7

confocal

microscopy state in which, ideally, a point in the object field (3.1.54.5) is illuminated by a diffraction-limited spot of light (3.1.88) , and light emanating from this point is focused upon and detected from an area smaller than the central area of the diffraction disc (3.1.7.1) situated in the corresponding position in a subsequent field plane (3.1.117.2)

3.2.8

channel

particular signal path containing one type of image (3.1.75) information

3.2.9

co-localization

overlay of digital images (3.2.13) with coincidence of pixels (3.1.116) corresponding to the same object (3.1.104) points containing different information

3.2.10

confocal microscopy

microscopic technique in which, ideally, a point in the object plane (3.1.117.5) is illuminated by a diffraction-limited spot of light (3.1.88) , and light emanating from this point is focused upon and detected from an area smaller than the central area of the diffraction disc (3.1.7.1) situated in the corresponding position in a subsequent field plane (3.1.117.2)

Note 1 to entry: An image of an extended area is formed either by scanning the object, or by scanning the illuminated and detected spots simultaneously.

Note 2 to entry: The confocal principle leads to improved axial resolution by suppression of light from out-of-focus planes.

3.2.10.1

laser-scanning confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) in which the light (3.1.88) source is a laser (3.1.86)

3.2.10.2

multiple-beam confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) using more than one illuminated and detected spot simultaneously

3.2.10.3

Nipkow disc confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) in which the scanning (3.2.41) of the illuminated and detected spots is performed using a Nipkow disc (3.2.10.3.1)

3.2.10.3.1

Nipkow disc

opaque disc with many small holes, ideally identical, arranged in Archimedean spirals

3.2.10.3.2

tandem-scanning confocal microscopy

Nipkow disc confocal microscopy (3.2.10.3) in which the illuminating light (3.1.88) and the detected light pass through separate holes

3.2.10.4

spectral confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) in which a spectrum is recorded corresponding to spatial positions in an object (3.1.104)

3.2.10.5

theta confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) in which two objectives (3.1.106) positioned at an angle, θ, with respect to one another, and with focal points (3.1.63) coincident in the object (3.1.104) , are used for excitation (3.1.49) and collection respectively

3.2.10.6

white-light confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) using an illumination (3.1.73) source (3.1.135) and a detector operating throughout the visible spectrum

3.2.10.7

confocal point spread function

product of the point spread functions (3.2.34) of the illuminating and detecting optical systems in confocal microscopy (3.2.10)

3.2.10.8

confocal volume

effective volume around each point in the object (3.1.104) which gives rise to the image (3.1.75) in confocal microscopy (3.2.10)

3.2.10.9

4 pi confocal microscopy

confocal microscopy (3.2.10) in which two opposing objective (3.1.106) lenses with focal points (3.1.63) coincident in the object (3.1.104) are used to produce interference in the focal region from which an image (3.1.75) signal is derived, and with further processing produces an digital (3.2.13) or electronic image (3.2.15) with enhanced axial resolution (3.1.128.5)

3.2.11

deconvolution

<microscopy> mathematical technique for reducing blur, performed either in the spatial domain, or in the frequency domain by inverse filtering techniques

Note 1 to entry: If the deconvolution is based solely on theoretical as opposed to measured values it is known as blind deconvolution.

3.2.12

digitally enhanced contrast

contrast (3.1.32) enhanced by manipulation of the intensity and/or colour values in a digital image (3.2.13)

3.2.13

digital image

image (3.1.75) in which the information is in the form of binary or another machine code

3.2.14

electronic image

image (3.1.75) in which the information is in the form of electrical signals

3.2.15

extended depth of field microscopy

microscopy in which the point spread function (3.2.34) is modified in a known fashion such that it becomes substantially invariant over an extended focal range, and by further processing results in an digital (3.2.13) or electronic image (3.2.14) with extended depth of field (3.1.36)

3.2.16

extended focus image

<image processing> two-dimensional digital image (3.2.13) derived by summing the pixel (3.1.116) intensity values in a projection through an image stack (3.2.27.1)

3.2.17

fluorescence correlation microscopy

microscopy in which time-dependant intensity (3.1.79) fluctuations occurring within a confocal volume (3.2.10.8) are used to calculate the mobility of fluorescent molecules

3.2.18

fluorescence in-situ hybridisation microscopy

FISH

microscopy in which chromosomes or specific positions within chromosomes can be fluorescently labelled by in-situ hybridisation

3.2.19

fluorescence life-time imaging microscopy

FLIM

imaging technique based on discriminating characteristic fluorescence (3.1.58) decay rates

3.2.20

fluorescence recovery after photobleaching

FRAP

technique in which a region in the object (3.1.104) is irradiated to deplete its fluorescence (3.1.58) , the subsequent recovery of fluorescence in the irradiated region being measured

3.2.21

fluorescence resonance energy transfer

Förster resonance energy transfer

FRET

non-radiative transfer of energy between two fluorophores in close proximity

3.2.22

frame averaging

averaging the pixel (3.1.116) values from sequential digital (3.2.13) or electronic images (3.2.14) recorded under identical conditions

Note 1 to entry: Used to increase signal-to-noise ratio.

3.2.23

image intensifier

device which increases the dynamic range of a signal to match the range of the detector

3.2.24

linear array sensor

detector in the form of a line of sensitive elements

3.2.25

maximum intensity image

<image processing> two-dimensional digital (3.2.13) or electronic image (3.2.14) derived from the maximum pixel (3.1.116) intensity values in a projection through an image stack (3.2.27.1)

3.2.26

microchannel plate

device positioned in front of a detector array to multiply incoming photon flux by secondary emission

3.2.27

multidimensional image data set

digital (3.2.13) or electronic image (3.2.14) data generated by recording data from a sample using several parameters, e.g., three-space dimensions, wavelength, time, polarization

3.2.27.1

image stack

multidimensional image data set (3.2.27) acquired from a three-dimensional region of an object (3.1.104)

3.2.27.2

focus series

Z stack

image stack (3.2.27.1) acquired at different focal positions

3.2.28

multi-mode fibre

optical fibre that can sustain more than one transverse electromagnetic mode

3.2.29

multi-photon fluorescence

fluorescence (3.1.58) excitation (3.1.49) by the simultaneous absorption of multiple coherent photons

3.2.29.1

multi-photon fluorescence microscopy

microscopy in which the image (3.1.75) is formed by multi-photon fluorescence (3.2.29)

Note 1 to entry: Since sufficient excitation intensity is achieved only in a limited focal volume, multi-photon fluorescence results in optical sectioning without the need for a confocal pinhole. It also permits excitation by longer wavelengths.

3.2.29.1.1

two-photon fluorescence

fluorescence excited by pairs of coherent photons

3.2.30

optical section

image (3.1.75) from a thin region whose thickness within a thick object (3.1.104) is defined by the axial resolution (3.1.128.5) of the optical system

3.2.31

photobleaching

destruction of fluorescing properties of molecules by light (3.1.88) , resulting in reduced fluorescence (3.1.58) of the sample

3.2.32

pinhole

<confocal microscopy> diaphragm (3.1.38) situated in a plane conjugate (3.1.29) with the object (3.1.104) , which restricts the area in the object plane (3.1.117.5) that is illuminated and/or from which light (3.1.88) is collected

3.2.33

point detection

detection of light (3.1.88) collected from a restricted point-like area of an image (3.1.75)

3.2.34

point spread function

PSF

<microscope system> mathematical expression of the distribution of the light (3.1.88) amplitude or intensity (3.1.79) in the image (3.1.75) of a point source (3.1.135.1)

3.2.34.1

intensity point spread function

mathematical expression of the distribution of the light (3.1.88) intensity (3.1.79) in the image (3.1.75) of a point source (3.1.135.1)

3.2.34.2

amplitude point spread function

mathematical expression of the distribution of the light (3.1.88) amplitude in the image (3.1.75) of a point source (3.1.135.1)

3.2.35

Raman microscopy

microscopy utilizing Raman scattering as the source of image (3.1.75) information

3.2.35.1

coherent anti-stokes Raman scattering microscopy

CARS microscopy

microscopy technique that employs multiple photons to induce the molecular vibrations and produces a coherent signal to form an image (3.1.75)

Note 1 to entry: One of the attributes is that the signal is orders of magnitude stronger than spontaneous Raman emission.

3.2.35.2

stimulated Raman scattering microscopy

SRS microscopy

microscopy technique that detects intensity (3.1.79) modulation of an excitation (3.1.49) beam caused by stimulated Raman excitation of the vibrational transition

Note 1 to entry: The key attribute of SRS microscopy is that it provides higher contrast imaging without non-resonant background signals.

3.2.36

ratio imaging

forming a digital image (3.2.13) in which the pixel (3.1.116) values are obtained by dividing the corresponding pixel values of two images (3.1.75)

3.2.37

real time imaging

displaying or analysing images at the same rate as that at which they are collected

Note 1 to entry: This rate is normally also commensurate with the dynamics of the processes to be observed within the specimen and perceived to be continuous by the eye.

3.2.38

region of interest

ROI

parts of an image (3.1.75) to which discrete observations are applied

3.2.39

scan rate

number of scan cycles completed per unit time

3.2.40

scanned field

dimensions of the scanned area in object space (3.1.105)

3.2.41

scanning

sequential illumination (3.1.73) of or detection from regions in an object (3.1.104)

Note 1 to entry: Scanning may be accomplished by moving the object, illuminating beam(s), objective or detector(s).

3.2.41.1

descanning

process by which an imaging beam retraces the path of the illuminating beam through the scanning (3.2.41) mechanism to produce a stationary beam

3.2.41.2

line scanning

scanning (3.2.41) along a single line

3.2.41.3

non-descanned detection

NDD

technique of obtaining an image (3.1.75) signal in a scanning microscope (3.2.42) without descanning (3.2.41.1)

Note 1 to entry: Widely used in multiphoton fluorescence microscopy.

3.2.41.4

point scanning

scanning (3.2.41) an area using a spot of light (3.1.88)

3.2.41.5

raster scanning

scanning (3.2.41) an area by a pattern of lines

3.2.41.6

slit scanning

scanning (3.2.41) an area with a bar of light (3.1.88)

3.2.41.7

stage scanning

scanning (3.2.41) performed by moving the stage (3.1.136) and hence the object (3.1.104)

3.2.42

scanning microscope

microscope (3.1.99) in which the image (3.1.75) is formed by scanning (3.2.41)

3.2.42.1

disc scanning microscope

scanning microscope (3.2.42) in which scanning is achieved by means of a perforated disc rotated in the illumination (3.1.73) and/or observation paths

3.2.42.2

laser-scanning microscope

scanning microscope (3.2.42) in which the object (3.1.104) is scanned by a laser (3.1.86) beam

3.2.42.3

scanning near-field microscope

scanning microscope (3.2.42) in which a small light-emitting probe is scanned across the object (3.1.104) (or vice versa) at a close distance

Note 1 to entry: When the probe diameter is smaller than the Airy disc, super-resolution may be achieved.

3.2.43

second harmonic generation microscopy

SHG-microscopy

microscopy in which the second harmonic of the excitation (3.1.49) light (3.1.88) is used to provide additional image (3.1.75) information

3.2.44

shading correction

method for adjusting intensity levels in a digital (3.2.13) or electronic image (3.2.14) , caused by non-uniformities in the illuminating or detecting systems

3.2.45

single-mode fibre

optical fibre that can sustain only a single transverse electromagnetic mode

3.2.46

spectral imaging microscopy

microscopy in which a spectrum is recorded corresponding to spatial positions in an object (3.1.104)

3.2.47

structured illumination microscopy

SIM

microscopic technique in which the object (3.1.104) is illuminated by a spatially varying pattern so as to produce a composite image (3.1.75) from which digital images (3.2.13) with enhanced lateral and axial resolution (3.1.128.5) may be produced

3.2.47.1

grating image microscopy

structured illumination microscopy (3.2.47) in which the object (3.1.104) is illuminated by the pattern of a grating

3.2.48

super-resolution microscopy

microscopy technique achieving resolving power higher than given by the diffraction limit (3.1.128.1)

3.2.48.1

localization microscopy

technique to create a super-resolution microscopy (3.2.48) digital (3.2.13) or electronic image (3.2.14) of a marked specimen by localizing the positions of individual markers and generating a graphical representation of their determined spatial distribution

Note 1 to entry: The lateral resolution of this image is only limited by the precision of the localization process for each marker.

Note 2 to entry: Markers are typically photoactivatable or photoswitchable fluorescent probes. In order to generate the graphical representation, typically multiple images are captured sequentially.

3.2.48.2

stimulated emission depletion microscopy

STED-microscopy

super-resolution technique in fluorescence microscopy, where the resolution (3.1.128) enhancement is achieved by stimulated emission of excited molecules in the outer region of the spatial distribution of the excitation (3.1.49) focus (3.1.65) reducing the fluorescent volume

Note 1 to entry: In order to achieve higher resolutions, the stimulated emission process needs to be as complete as possible; i.e. the stimulated emission needs to be saturated.

3.2.48.3

super-resolution structured illumination microscopy

super resolution

super-resolution-SIM

structured illumination microscopy (3.2.47) in which the pattern resolution is close to the diffraction limit (3.1.128.1) of the optical system in order to compute digital images (3.2.13) with resolving power higher than given by the diffraction limit (3.1.128.1)

Note 1 to entry: SIM using linear responses may achieve twice the resolution limit at maximum where using non-linear responses may achieve more than twice the resolution limit.

3.2.49

time lapse imaging

imaging based on acquiring images (3.1.75) at intervals over a period of time

3.2.50

total internal reflection fluorescence microscopy

TIRFM

microscopy in which fluorescence (3.1.58) is excited in a thin layer by an evanescent wave produced by total internal reflection

3.2.51

white balancing

adjustment of colour levels in a digital (3.2.13) or electronic image (3.2.14) in order to display white regions of the object (3.1.104) as white in the image

3.2.52

3D reconstruction

processing and display of two-dimensional digital (3.2.13) or electronic images (3.2.14) to represent the three-dimensional structure of an object (3.1.104)

3.2.53

light sheet microscopy

microscopy technique where illumination (3.1.73) is only realized within the plane of observation

Note 1 to entry: Light sheet microscopy has the capability to produce 3D images with intrinsic optical sectioning by moving the light sheet and the specimen relative to each other. An advantage is the reduced light exposure of the specimen.

3.2.54

digital holographic microscopy

DHM

microscopy technique where the wavefront information originating from the object (3.1.104) is digitally recorded as a hologram, from which the object image is calculated by using a numerical reconstruction algorithm

Note 1 to entry: Usually, interference between the signal wave and a reference wave is used to obtain amplitude and phase information and thus a hologram.

3.2.55

optical coherence microscopy

OCM

optical interferometric measurement technique for obtaining cross-sectional images of a target object (3.1.104) , using a partially coherent narrow scanning (3.2.41) beam to determine the relative depths of reflective surfaces within the object

Note 1 to entry: The lateral resolution is a property of the optics in the scanning beam path. It is decoupled from the axial resolution.

Note 2 to entry: Cross sectional images are generally acquired by scanning a focused beam laterally across the sample. Volumetric images are generally acquired by a series of cross sectional images.

[SOURCE: ISO 16971:2015, 3.1, modified to add Notes 1 and 2 to entry and add the abbreviation OCM.]

Bibliography

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[2]ISO 8037-1, Optics and optical instruments — Microscopes — Slides — Part 1: Dimensions, optical properties and marking
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[4]ISO 8255-1, Microscopes — Cover glasses — Part 1: Dimensional tolerances, thickness and optical properties
[5]ISO 8578, Microscopes — Marking of objectives and eyepieces
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[7]ISO 16971, Ophthalmic instruments — Optical coherence tomograph for the posterior segment of the human eye
[8]ISO 19012-1, Microscopes — Designation of microscope objectives — Part 1: Flatness of field/Plan
[9]ISO 19012-2, Microscopes — Designation of microscope objectives — Part 2: Chromatic correction
[10]ISO 19012-3, Microscopes — Designation of microscope objectives — Part 3: Spectral transmittance
[11]Bradbury S., Evennett P.J., Haselmann H., Piller H., RMS Dictionary of Light Microscopy. Oxford University Press and Royal Microscopical Society, 1989
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[13]Inoue Shinya, Spring Kenneth R., Video Microscopy, the Fundamentals, 1997 Plenum Press, New York, NY 10013. ISBN 0-306-45531-5
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