この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
1 スコープ
この国際規格では、2 つの金属基準ブロック、半円筒ステップ (HS) ブロックとサイド ドリル穴 (SDH) ブロックが導入されています。この国際規格は、試験対象物と接触するプローブによって生成される音響ビーム プロファイルを測定するための手順を確立します。プローブには、ストレート ビーム、アングル ビーム (屈折圧縮および屈折せん断波)、集束ビーム、およびデュアル エレメント プローブが含まれます。プローブの側面寸法は 25 mm 以下である必要があります。
この国際規格の方法論は、鍛造または圧延鋼、アルミニウム、またはチタン合金製品を含むさまざまな金属に使用されるプローブのガイドラインを提供します。この国際規格で使用されるプローブの周波数範囲は 1 MHz から 15 MHz まで拡張されます。1 MHz から 5 MHz は鋼に最適であり、5 MHz から 15 MHz はアルミニウム製品などの微粒子構造の合金に最適です。
この国際規格を鋼以外の材料に使用する場合、これらの材料の波速度は鋼の波速度とは異なる可能性があり、斜角プローブは通常、鋼の用途に基づいて設計されるという事実に注意する必要があります。スネルの屈折の法則は、この国際規格で説明されているため、他の均一で細かい粒子の材料の正しい屈折角を計算できます。この国際規格は、すべての実用的な角度 (0° から 70°) の斜角ビーム プローブ、および集束プローブとデュアル エレメント プローブに適用されます。この国際規格は、表面 (レイリー) 波プローブの使用には対応していません。
この国際規格は、平底の穴を持つ参照ブロックを必要とする同等の欠陥サイズの推定には対応していません。この国際規格は受け入れ基準を確立していませんが、ユーザーが定義できる基準の技術的基礎を確立しています。
1 Scope
This International Standard introduces two metal reference blocks, the hemicylindrical-stepped (HS) block and the side-drilled-hole (SDH) block. This International Standard establishes procedures for measuring the sound beam profiles generated by probes in contact with the test object. The probes include straight-beam, angle-beam (refracted compressional and refracted shear wave), focused beam, and dual-element probes. The side dimension of the probe has to be no greater than 25 mm.
The methodology of this International Standard provides guidelines for probes to be used for different metals including forged or rolled steel, aluminium, or titanium alloy products. The frequency range of the probes used in this International Standard extends from 1 MHz to 15 MHz, where 1 MHz to 5 MHz is best suited for steels and 5 MHz to 15 MHz is best for fine grain structured alloys such as aluminium products.
If this International Standard is to be used for materials other than steels, users should be aware of the fact that the wave velocities in these materials can be different from that of steels and the angle-beam probes are normally designed based on the steel applications. Snell’s law of refraction is described in this International Standard so that correct angles of refraction in other homogeneous and fine-grained materials can be calculated. This International Standard applies to angle-beam probes of all practical angles (0° to 70°) and to focused and dual-element probes. This International Standard does not address the use of surface (Rayleigh) wave probes.
This International Standard does not address the estimation of equivalent defect sizes which requires reference blocks with flat-bottomed holes. This International Standard establishes no acceptance criteria, but does establish the technical basis for criteria that can be defined by users.