ISO 12715:2014 非破壊検査—超音波検査—コンタクトプローブサウンドビームの特性評価のためのリファレンスブロックとテスト手順

この規格プレビューページの目次

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

4 記号と略語

このドキュメントでは、次の記号が適用されます。

シンボル	指定	単位
A	ピークエコー振幅	dB
f _w	焦点距離でのビーム幅	んん
F _D	焦点距離	んん
_L	焦点距離	んん
_i	プローブ指標点からi番目の穴までの試験面に沿っ^a距離	んん
_x_z_yLL	プローブの軸	—
R	8 つの横穴の半径^b	んん
t_{_}	ヘミステップ面1からの時間	s
t₂	ヘミステップ面からの時間 2	s
t_d	時間遅延	s
_lv	試験対象の縦（圧縮）波速度	mm/秒
v_s	試験対象の横（せん断）波速度	mm/秒
v_w	くさび材料の縦 (圧縮) 波速度	mm/秒
x, y, z	参照ブロックの軸 ( xyの平面、表面; z 、表面に垂直で表面の下)	んん
_i	i番目の穴からピークエコー振幅^cのプローブ位置までのy軸に沿った距離	んん
y _i₁ 、 y _i₂	2 つの 6 dB ドロップポイントのy軸に沿った位置	—
_i	i番目の穴の中心から SDH ブロックの側面の 1 つまでの深さ^d^c	んん
z_{_}	斜角プローブのビーム縦軸	—
z_β_i	プローブ指標点からi番目の穴の中心までのビーム軸に沿った距離^c	んん
z_{_}	斜角プローブの横ビーム軸	—
α_w	入射角（くさび角）	°
	屈折角（ビーム角）	°
β_l	試験対象の屈折した縦 (圧縮) 波の角度	°
βs_s	試験対象の屈折横（せん断）波角度	°
	スキュー (または目を細める) 角度^e	°

^ai = 1, 2, 3…

^b直径は 1.5 mm です。

^ci = 2, 3…

^d T, B, R, および L 面。

^e ISO 10375:1997 の図 4 を参照してください。

[1]	ISO 2400, 非破壊検査 — 超音波検査 — 校正ブロック番号の仕様。 1
[2]	ISO 10375:1997, 非破壊検査 — 超音波検査 — 検索ユニットと音場の特性評価
[3]	EN 1330-4, 非破壊検査 - 用語 - Part 4: 超音波検査で使用される用語
[4]	EN 12668-2, 非破壊検査 — 超音波検査装置の特性評価と検証 — Part 2: プローブ
[5]	Tsao MC, 固体内の超音波ビームプロファイルの測定と解析。評価します。 1998, 56 pp. 636–644

For the purposes of this document, the following symbols apply.

Symbol	Designation	Unit
A	peak echo amplitude	dB
F_w	beam width at focal distance	mm
F_D	focal distance	mm
F_L	focal length	mm
H_i	distance along the test surface from the probe index point to the ith hole^a	mm
L_x , L_y, L_z	axes of probe	—
R	radius of the eight side-drilled holes^b	mm
t₁	time from hemi-step surface 1	s
t₂	time from hemi-step surface 2	s
t_d	time delay	s
v_l	longitudinal (compressional) wave velocity in the test object	mm/s
v_s	transverse (shear) wave velocity in the test object	mm/s
v_w	longitudinal (compressional) wave velocity in the wedge material	mm/s
x, y, z	axes of the reference block (plane of x-y, surface; z, perpendicular to and below the surface)	mm
y_i	distance along y-axis from the ith hole to the probe location of the peak echo amplitude^c	mm
y_i₁, y_i₂	locations along y-axis of the two 6 dB drop points	—
z_i	depth of the ith hole centre to one of the side surfaces^d of the SDH block^c	mm
z_β	longitudinal beam axis of the angle-beam probe	—
z_β_i	distance along the beam axis from the probe index point to the ith hole centre^c	mm
z_βL	lateral beam axis of the angle-beam probe	—
α_w	incident angle (wedge angle)	°
	angle of refraction (beam angle)	°
β_l	refracted longitudinal (compressional) wave angle in the test object	°
β_s	refracted transverse (shear) wave angle in the test object	°
	skew (or squint) angle^e	°

^ai = 1, 2, 3…

^b Diameter is 1,5 mm.

^ci = 2, 3…

^d T-, B-, R-, and L-, surfaces.

^e See ISO 10375:1997, Figure 4.

FSH	full screen height of display graticule
HS	hemicylindrical-stepped
IP	initial pulse
P	probes
P _i	probe position on the reference block
R	receiver connector
SDH	side-drilled hole
SDH _i	ith side-drilled hole
B-surface	bottom surface of the SDH block
F-surface	front surface of the SDH block
L-surface	left surface of the SDH block
R-surface	right surface of the SDH block
T-surface	top surface of the SDH block
T	transmitter connector

[1]	ISO 2400, Non-destructive testing — Ultrasonic testing — Specification for calibration block No. 1
[2]	ISO 10375:1997, Non-destructive testing — Ultrasonic inspection — Characterization of search unit and sound field
[3]	EN 1330-4, Non-destructive testing — Terminology — Part 4: Terms used in ultrasonic testing
[4]	EN 12668-2, Non-destructive testing — Characterization and verification of ultrasonic examination equipment — Part 2: Probes
[5]	Tsao M.C., Measurement and analysis of ultrasonic beam profiles in a solid. Mater. Eval. 1998, 56 pp. 636–644